JPH05333078A - 自己診断機能付電子装置 - Google Patents
自己診断機能付電子装置Info
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- JPH05333078A JPH05333078A JP13920092A JP13920092A JPH05333078A JP H05333078 A JPH05333078 A JP H05333078A JP 13920092 A JP13920092 A JP 13920092A JP 13920092 A JP13920092 A JP 13920092A JP H05333078 A JPH05333078 A JP H05333078A
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- JP
- Japan
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- average voltage
- self
- signal
- diagnosis
- output
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- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 わずかなコスト・アップで自己診断率を上げ
る。 【構成】 周波数測定装置は、測定部３の信号ラインが
順に接続された端子２１〜２６と、端子２１〜２６の信
号の平均電圧を検出し、出力する平均電圧検出回路１１
と、端子２１〜２６を平均電圧検出回路１１に切替接続
するスイッチ１５と、平均電圧検出回路１１の出力をデ
ィジタル化して出力するＡ／Ｄ変換器１０と、Ａ／Ｄ変
換器１０の出力とこの出力に対応してあらかじめ記憶さ
れている正常値とを比較して測定部３の診断を行なうＣ
ＰＵ４とを備える。
る。 【構成】 周波数測定装置は、測定部３の信号ラインが
順に接続された端子２１〜２６と、端子２１〜２６の信
号の平均電圧を検出し、出力する平均電圧検出回路１１
と、端子２１〜２６を平均電圧検出回路１１に切替接続
するスイッチ１５と、平均電圧検出回路１１の出力をデ
ィジタル化して出力するＡ／Ｄ変換器１０と、Ａ／Ｄ変
換器１０の出力とこの出力に対応してあらかじめ記憶さ
れている正常値とを比較して測定部３の診断を行なうＣ
ＰＵ４とを備える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、自己診断機能を有する
電子装置（例えば電子計測器）に関する。
電子装置（例えば電子計測器）に関する。
【０００２】
【従来の技術】図６は自己診断機能付電子装置の従来例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【０００３】本従来例は周波数測定装置である。スイッ
チ６１は、被測定信号を出力する図示しない被測定装置
またはクロック発生器６２を、後述する１０進計数器６
３Ａを内蔵する診断対象である周波数測定部６３に切替
接続する。この測定部６３は、データ・バス６９を介し
てＣＰＵ６４、ＲＯＭ６５、ＲＡＭ６６、操作部６７お
よび表示部６８に接続されている。
チ６１は、被測定信号を出力する図示しない被測定装置
またはクロック発生器６２を、後述する１０進計数器６
３Ａを内蔵する診断対象である周波数測定部６３に切替
接続する。この測定部６３は、データ・バス６９を介し
てＣＰＵ６４、ＲＯＭ６５、ＲＡＭ６６、操作部６７お
よび表示部６８に接続されている。
【０００４】通常の測定時には、スイッチ６１は被測定
信号側の端子６１ｂに接続される。自己診断時には、ス
イッチ６１はクロック発生器６２側の端子６１ａに接続
され、クロック信号（周波数は既知）が測定部６３に入
力される。測定部６３からは、測定のシーケンスをＣＰ
Ｕ６４に認識させるために、シーケンスの進行状況を示
す信号がフラグとしてデータ・バス６９を介してＣＰＵ
６４に送られる。
信号側の端子６１ｂに接続される。自己診断時には、ス
イッチ６１はクロック発生器６２側の端子６１ａに接続
され、クロック信号（周波数は既知）が測定部６３に入
力される。測定部６３からは、測定のシーケンスをＣＰ
Ｕ６４に認識させるために、シーケンスの進行状況を示
す信号がフラグとしてデータ・バス６９を介してＣＰＵ
６４に送られる。
【０００５】ＣＰＵ６４の本来の動作は以下のようであ
る。 １．操作部６７から指示された設定内容をデータ・バス
６９を通して受取り、それを解読し判断して、再びデー
タ・バス６９を介して測定部６３の条件設定をしたり、
表示部６８にデータを送ったりする。 ２．条件設定が終わった後、測定部６３をスタートさ
せ、測定が終了したら測定データをデータ・バス６９を
介して受取り、加工処理して最終結果をデータ・バス６
９を介して表示部６８に送る。 ３．ＲＯＭ６５にストアされているプログラムに従って
動作し、また一時的に記憶が必要なデータ等はＲＡＭ６
６に記憶する。
る。 １．操作部６７から指示された設定内容をデータ・バス
６９を通して受取り、それを解読し判断して、再びデー
タ・バス６９を介して測定部６３の条件設定をしたり、
表示部６８にデータを送ったりする。 ２．条件設定が終わった後、測定部６３をスタートさ
せ、測定が終了したら測定データをデータ・バス６９を
介して受取り、加工処理して最終結果をデータ・バス６
９を介して表示部６８に送る。 ３．ＲＯＭ６５にストアされているプログラムに従って
動作し、また一時的に記憶が必要なデータ等はＲＡＭ６
６に記憶する。
【０００６】近年、こうした測定装置にＣＰＵが使われ
るのはごく普通のこととなったが、その反面、装置の故
障解析が難しくなってきた。その理由は、主に以下の通
りである。 １．ＬＳＩの集積度向上の傾向と相まって、測定部の規
模が拡大している。 ２．ＣＰＵと周辺部との通信は主にデータ・バスを介し
て行なわれるが、このバスは４→８→１６→３２ライン
と拡大される傾向にあり、こうしたパラレル・データの
増加というのは故障解析を難しくする方向である（例え
ばオシロスコープ等のみでは故障解析は困難で、多チャ
ンネル入力のロジック・アナライザ等が必要になる）。
その結果、判断能力を持つＣＰＵに可能な限りの自己故
障診断（セルフ・テストまたはダイアグノーシス）能力
を持たせることが便法として採用されてきた。しかし、
測定装置としては例えＣＰＵが用いられたとしても、基
本的には測定の目的とする最終結果を得るための最少構
成と最少の手続き（すなわちＣＰＵとのやり取り）が追
及される。このような事情との相剋があり、コストが見
合う範囲でのレベルに診断能力が制限される。
るのはごく普通のこととなったが、その反面、装置の故
障解析が難しくなってきた。その理由は、主に以下の通
りである。 １．ＬＳＩの集積度向上の傾向と相まって、測定部の規
模が拡大している。 ２．ＣＰＵと周辺部との通信は主にデータ・バスを介し
て行なわれるが、このバスは４→８→１６→３２ライン
と拡大される傾向にあり、こうしたパラレル・データの
増加というのは故障解析を難しくする方向である（例え
ばオシロスコープ等のみでは故障解析は困難で、多チャ
ンネル入力のロジック・アナライザ等が必要になる）。
その結果、判断能力を持つＣＰＵに可能な限りの自己故
障診断（セルフ・テストまたはダイアグノーシス）能力
を持たせることが便法として採用されてきた。しかし、
測定装置としては例えＣＰＵが用いられたとしても、基
本的には測定の目的とする最終結果を得るための最少構
成と最少の手続き（すなわちＣＰＵとのやり取り）が追
及される。このような事情との相剋があり、コストが見
合う範囲でのレベルに診断能力が制限される。
【０００７】例えば図６に示す測定部６３の中に図２に
示すようなＴフリップフロップ３１，３３，３６、ＪＫ
フリップフロップ３２、アンドゲート３４およびオアゲ
ート３５からなる１０進計数器６３Ａが使われていたと
する。正常時の動作は図７のようになり、もしＴフリッ
プフロップ３３が故障していたとすると図８のようにな
る。この１０進計数器６３Ａの故障診断をＣＰＵ６４が
行なうためには下記の事項を考慮することが必要とな
る。 １．第１に、最も望ましいリアルタイムでの診断は不可
能か困難である。そのためには入力信号Ｉ１，Ｉ２をＣ
ＰＵ６４がコントロールし、期待すべきタイミングで４
本の出力信号Ｏ１，Ｏ２，Ｏ３，Ｏ４を監視しなければ
ならないが、その回路追加によるコスト・アップは非常
に大きいものとなる。 ２．従って次善の方法として、入力信号Ｉ１に個数のわ
かった信号を入れ、計数が終了した時点で出力信号Ｏ１
〜Ｏ４の内容を読む。 ３．出力信号Ｏ１〜Ｏ４の内容を読むためには、出力信
号Ｏ１〜Ｏ４の信号ラインをデータ・バス６９につなげ
るためのバス・バッファが４個必要である。 ４．ＣＰＵ６４が出力信号Ｏ１〜Ｏ４のデータを取り込
んだ後は、それらの内容を元に、１０進計数器６３Ａが
故障か否かを判断するが、判断するのは単純ではない。
もし１０進計数器６３ＡのＴフリップフロップ３３が故
障していて、図８のような動作になったとしても、途中
までは正常にカウントしているので、予め入力信号Ｉ１
の個数が４以上に設定されていないと、１０進計数器６
３Ａは「故障」と判定されない。さらに、入力信号Ｉ１
が４個以上入力されたとしても、「故障」であることは
解析されるが、どの部品が故障したかまでの判断は非常
に困難であり、それを実施しようとすると、ぼう大なプ
ログラムが必要となる。
示すようなＴフリップフロップ３１，３３，３６、ＪＫ
フリップフロップ３２、アンドゲート３４およびオアゲ
ート３５からなる１０進計数器６３Ａが使われていたと
する。正常時の動作は図７のようになり、もしＴフリッ
プフロップ３３が故障していたとすると図８のようにな
る。この１０進計数器６３Ａの故障診断をＣＰＵ６４が
行なうためには下記の事項を考慮することが必要とな
る。 １．第１に、最も望ましいリアルタイムでの診断は不可
能か困難である。そのためには入力信号Ｉ１，Ｉ２をＣ
ＰＵ６４がコントロールし、期待すべきタイミングで４
本の出力信号Ｏ１，Ｏ２，Ｏ３，Ｏ４を監視しなければ
ならないが、その回路追加によるコスト・アップは非常
に大きいものとなる。 ２．従って次善の方法として、入力信号Ｉ１に個数のわ
かった信号を入れ、計数が終了した時点で出力信号Ｏ１
〜Ｏ４の内容を読む。 ３．出力信号Ｏ１〜Ｏ４の内容を読むためには、出力信
号Ｏ１〜Ｏ４の信号ラインをデータ・バス６９につなげ
るためのバス・バッファが４個必要である。 ４．ＣＰＵ６４が出力信号Ｏ１〜Ｏ４のデータを取り込
んだ後は、それらの内容を元に、１０進計数器６３Ａが
故障か否かを判断するが、判断するのは単純ではない。
もし１０進計数器６３ＡのＴフリップフロップ３３が故
障していて、図８のような動作になったとしても、途中
までは正常にカウントしているので、予め入力信号Ｉ１
の個数が４以上に設定されていないと、１０進計数器６
３Ａは「故障」と判定されない。さらに、入力信号Ｉ１
が４個以上入力されたとしても、「故障」であることは
解析されるが、どの部品が故障したかまでの判断は非常
に困難であり、それを実施しようとすると、ぼう大なプ
ログラムが必要となる。
【０００８】以上の事情から、自己診断は可能な範囲
で、すなわち自己診断のためにコスト・アップにならな
い範囲で実施されているに過ぎない。図６に示す従来例
で通常採られる各部診断を説明する。
で、すなわち自己診断のためにコスト・アップにならな
い範囲で実施されているに過ぎない。図６に示す従来例
で通常採られる各部診断を説明する。
【０００９】測定部６３の診断では、既知の信号を入力
して、シーケンスやデータが期待通りであるかが見られ
る。故障部位の特定は、精々ボード単位と言った大まか
な単位である。ＲＯＭ６５の診断では、書込まれたプロ
グラムが総和チェック等で判定される。故障部品の特定
まで可能だが、診断用のプログラムが記憶されているＲ
ＯＭが故障の場合は正常な判定ができない。ＲＡＭ６６
の診断では、ＣＰＵ６４が特定のデータを書き込んでそ
の後読み出す方法で判定される。故障部品の特定までほ
ぼ完全に判定できる。操作部６７の診断では、特定のス
イッチから正しく入力されるかどうかが見られるが、ス
イッチの設定には人間が関与する場合が多い。表示部６
８の診断では、各種の表示器が正しく動作するかどうか
が見られるが、人間が見て判定を下すことが多い。
して、シーケンスやデータが期待通りであるかが見られ
る。故障部位の特定は、精々ボード単位と言った大まか
な単位である。ＲＯＭ６５の診断では、書込まれたプロ
グラムが総和チェック等で判定される。故障部品の特定
まで可能だが、診断用のプログラムが記憶されているＲ
ＯＭが故障の場合は正常な判定ができない。ＲＡＭ６６
の診断では、ＣＰＵ６４が特定のデータを書き込んでそ
の後読み出す方法で判定される。故障部品の特定までほ
ぼ完全に判定できる。操作部６７の診断では、特定のス
イッチから正しく入力されるかどうかが見られるが、ス
イッチの設定には人間が関与する場合が多い。表示部６
８の診断では、各種の表示器が正しく動作するかどうか
が見られるが、人間が見て判定を下すことが多い。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の自己診
断機能付電子装置では、自己診断ができない事項が多
い。すなわち自己診断率が低い。自己診断率を上げよう
とすると、診断のためのソフトウェアおよびハードウェ
アが大規模になり、設計工数が増大してコスト・アップ
になるという問題点がある。
断機能付電子装置では、自己診断ができない事項が多
い。すなわち自己診断率が低い。自己診断率を上げよう
とすると、診断のためのソフトウェアおよびハードウェ
アが大規模になり、設計工数が増大してコスト・アップ
になるという問題点がある。
【００１１】本発明の目的は、わずかなコスト・アップ
で自己診断率を上げることができる自己診断機能付電子
装置を提供することにある。
で自己診断率を上げることができる自己診断機能付電子
装置を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明の自己診断機能付
電子装置は、自己診断機能を有する電子装置において、
診断対象の信号ラインが順に接続された端子と、信号の
平均電圧を検出し、出力する平均電圧検出回路と、前記
端子を前記平均電圧検出回路に切替接続するスイッチ
と、前記平均電圧検出回路の出力をディジタル化して出
力するＡ／Ｄ変換器と、前記Ａ／Ｄ変換器の出力とこの
出力に対応してあらかじめ記憶されている正常値とを比
較して前記診断対象の信号が正常か否かを判定する診断
手段を有することを特徴とする自己診断機能付電子装
置。
電子装置は、自己診断機能を有する電子装置において、
診断対象の信号ラインが順に接続された端子と、信号の
平均電圧を検出し、出力する平均電圧検出回路と、前記
端子を前記平均電圧検出回路に切替接続するスイッチ
と、前記平均電圧検出回路の出力をディジタル化して出
力するＡ／Ｄ変換器と、前記Ａ／Ｄ変換器の出力とこの
出力に対応してあらかじめ記憶されている正常値とを比
較して前記診断対象の信号が正常か否かを判定する診断
手段を有することを特徴とする自己診断機能付電子装
置。
【００１３】
【作用】電子装置の信号ラインから入力した信号の平均
電圧は、信号のデューティ比、波形またはレベルが正常
なものであれば、あらかじめ定められた正常値と等しい
値となる。したがって、平均電圧を検出することにより
自己診断率が上がる。
電圧は、信号のデューティ比、波形またはレベルが正常
なものであれば、あらかじめ定められた正常値と等しい
値となる。したがって、平均電圧を検出することにより
自己診断率が上がる。
【００１４】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【００１５】図１は本発明の自己診断機能付電子装置の
一実施例を示すブロック図、図２は図１中の１０進計数
器３Ａを示す回路図、図３は図１中の平均電圧検出回路
１１のデューティ比と平均電圧の関係を示す説明図であ
る。
一実施例を示すブロック図、図２は図１中の１０進計数
器３Ａを示す回路図、図３は図１中の平均電圧検出回路
１１のデューティ比と平均電圧の関係を示す説明図であ
る。
【００１６】本実施例は図６に示す従来例と同様周波数
測定装置である。スイッチ１は、被測定信号を出力する
図示しない被測定装置かクロック発生器２のいずれか一
方を、図２に示す１０進計数器３Ａを内蔵する周波数測
定部３に接続する。この測定部３は、データ・バス９を
介して診断手段であるＣＰＵ４（マイクロプロセッ
サ）、ＲＯＭ５、ＲＡＭ６、操作部７、表示部８および
Ａ／Ｄ変換器１０に接続されている。
測定装置である。スイッチ１は、被測定信号を出力する
図示しない被測定装置かクロック発生器２のいずれか一
方を、図２に示す１０進計数器３Ａを内蔵する周波数測
定部３に接続する。この測定部３は、データ・バス９を
介して診断手段であるＣＰＵ４（マイクロプロセッ
サ）、ＲＯＭ５、ＲＡＭ６、操作部７、表示部８および
Ａ／Ｄ変換器１０に接続されている。
【００１７】測定部３は、内部の１０進計数器３Ａを入
出力する入力信号Ｉ１，Ｉ２および出力信号Ｏ１，Ｏ
２，Ｏ３，Ｏ４の信号ラインがそれぞれ順に接続された
端子２１，２２，２３，２４，２５，２６を備えてい
る。スイッチ１５はこれら端子２１〜２６を抵抗１２を
介して演算増幅器１４の非反転入力端に切替接続する。
演算増幅器１４は、非反転入力端がコンデンサ１３に接
続されており、出力端が反転増幅端に接続されていると
ともに、Ａ／Ｄ変換器１０のアナログ信号入力端に接続
されている。ここで、抵抗１２、コンデンサ１３および
演算増幅器１４は平均電圧検出回路１１を構成してい
る。
出力する入力信号Ｉ１，Ｉ２および出力信号Ｏ１，Ｏ
２，Ｏ３，Ｏ４の信号ラインがそれぞれ順に接続された
端子２１，２２，２３，２４，２５，２６を備えてい
る。スイッチ１５はこれら端子２１〜２６を抵抗１２を
介して演算増幅器１４の非反転入力端に切替接続する。
演算増幅器１４は、非反転入力端がコンデンサ１３に接
続されており、出力端が反転増幅端に接続されていると
ともに、Ａ／Ｄ変換器１０のアナログ信号入力端に接続
されている。ここで、抵抗１２、コンデンサ１３および
演算増幅器１４は平均電圧検出回路１１を構成してい
る。
【００１８】平均電圧検出回路１１の時定数は、診断す
べき信号の周波数より十分大きな値が使用される。Ａ／
Ｄ変換器１０の精度は１０ビット（１０２４ポイント）
程度で十分である。スイッチ１およびスイッチ１５の切
換えはＣＰＵ４によりなされる。平均電圧検出回路１１
は、図３に示すような、各端子２１〜２６の信号のデュ
ーティ比Ｄr に応じた平均電圧ＶM を検出して出力する
ように動作する。ここで、論理レベルはＥＣＬレベルを
モデル化（ローレベルＶL ＝−１．６Ｖ、ハイレベルＶ
H ＝−０．８Ｖ）したものを使用している。なお、平均
電圧ＶMとデューティ比Ｄrの関係は、 ＶM＝（ＶH−ＶL）・Ｄr＋ＶL で与えられる。ＣＰＵ４には信号Ｉ１〜Ｏ４の平均電圧
ＶM の正常値があらかじめ記憶されている。それらを表
１の上段に示す。入力信号Ｉ２についてはデューティ比
Ｄr を５％と仮定している。各信号Ｉ１〜０４の検出値
（平均電圧ＶM ）の例を上記正常値の次の段に示す。個
別判定（各信号Ｉ１〜０４の正常／異常の判定）は次の
３段階で行なわれる。
べき信号の周波数より十分大きな値が使用される。Ａ／
Ｄ変換器１０の精度は１０ビット（１０２４ポイント）
程度で十分である。スイッチ１およびスイッチ１５の切
換えはＣＰＵ４によりなされる。平均電圧検出回路１１
は、図３に示すような、各端子２１〜２６の信号のデュ
ーティ比Ｄr に応じた平均電圧ＶM を検出して出力する
ように動作する。ここで、論理レベルはＥＣＬレベルを
モデル化（ローレベルＶL ＝−１．６Ｖ、ハイレベルＶ
H ＝−０．８Ｖ）したものを使用している。なお、平均
電圧ＶMとデューティ比Ｄrの関係は、 ＶM＝（ＶH−ＶL）・Ｄr＋ＶL で与えられる。ＣＰＵ４には信号Ｉ１〜Ｏ４の平均電圧
ＶM の正常値があらかじめ記憶されている。それらを表
１の上段に示す。入力信号Ｉ２についてはデューティ比
Ｄr を５％と仮定している。各信号Ｉ１〜０４の検出値
（平均電圧ＶM ）の例を上記正常値の次の段に示す。個
別判定（各信号Ｉ１〜０４の正常／異常の判定）は次の
３段階で行なわれる。
【００１９】○：検出値が正常値と等しい、△：検出値
が正常値と若干異なる、×：検出値が正常値と大きく異
なる。
が正常値と若干異なる、×：検出値が正常値と大きく異
なる。
【００２０】
【表１】 ただし、上記判定では、「正常」と判定するための値が
デバイスの種類（ＥＣＬ、ＴＴＬ、ＣＭＯＳ等）や動作
速度等の条件により異なるが、通常、正常値と検出値と
の差異が論理振幅値の±５％以内であれば「正常」と判
定する。
デバイスの種類（ＥＣＬ、ＴＴＬ、ＣＭＯＳ等）や動作
速度等の条件により異なるが、通常、正常値と検出値と
の差異が論理振幅値の±５％以内であれば「正常」と判
定する。
【００２１】総合判定は、△と×がどちらかひとつ以上
あると「故障」とされ、その信号ラインが表示部８に表
示される。このとき、各信号ラインと１０進計数器３Ａ
の構成図との対応付けがなされているなら、１０進計数
器３Ａの構成部品の名称を表示部８に表示することも可
能である。
あると「故障」とされ、その信号ラインが表示部８に表
示される。このとき、各信号ラインと１０進計数器３Ａ
の構成図との対応付けがなされているなら、１０進計数
器３Ａの構成部品の名称を表示部８に表示することも可
能である。
【００２２】本実施例の利点を以下に列挙する。 １．ハイレベル、ローレベルのようなスタティック・レ
ベルも検出でき、図６に示す従来例のような使い方も可
能である。 ２．ロジック信号、アナログ信号を問わず自己診断対象
とすることができる。交流結合（Ｃカップル）された信
号については、平均電圧検出回路１１の前段にダイオー
ドを挿入することで検出できる。 ３．ダイナミック（サイクリック）に動作している信号
に対して、その平均値電圧を通してデューティ比を監視
するものであり、リアル・タイムでの試験が容易に実施
できる。 ４．１０進計数器の例で示したように、出力信号の状態
だけでなく、入力信号の状態も簡単に診断できる。この
ことは、特に規模の大きいＬＳＩ等の診断にも有利であ
る。 ５．表１に示したように、個別判定および総合判定は直
感的でかつ具体的であり、従来例のように、データ不足
のために不良部品割り出しのプログラムが難しくなるな
どということはない。
ベルも検出でき、図６に示す従来例のような使い方も可
能である。 ２．ロジック信号、アナログ信号を問わず自己診断対象
とすることができる。交流結合（Ｃカップル）された信
号については、平均電圧検出回路１１の前段にダイオー
ドを挿入することで検出できる。 ３．ダイナミック（サイクリック）に動作している信号
に対して、その平均値電圧を通してデューティ比を監視
するものであり、リアル・タイムでの試験が容易に実施
できる。 ４．１０進計数器の例で示したように、出力信号の状態
だけでなく、入力信号の状態も簡単に診断できる。この
ことは、特に規模の大きいＬＳＩ等の診断にも有利であ
る。 ５．表１に示したように、個別判定および総合判定は直
感的でかつ具体的であり、従来例のように、データ不足
のために不良部品割り出しのプログラムが難しくなるな
どということはない。
【００２３】通常、信号ラインを１ケ所（例えばスイッ
チ１５に）に集めようとすると、負荷容量の増加や各信
号ライン間のクロストークで予期せぬトラブルが生じ
る。しかし、これは下記のようにすれば容易に防ぐこと
ができる。すなわち、図４に示すように、抵抗４１およ
びコンデンサ４２を信号ラインの近くで個別に付けれ
ば、それらは直流信号となるからである。抵抗４１はカ
ーボン抵抗、コンデンサ４２はセラミック・コンデンサ
と言った安価なもので良いので、それ程コスト・アップ
はしない。
チ１５に）に集めようとすると、負荷容量の増加や各信
号ライン間のクロストークで予期せぬトラブルが生じ
る。しかし、これは下記のようにすれば容易に防ぐこと
ができる。すなわち、図４に示すように、抵抗４１およ
びコンデンサ４２を信号ラインの近くで個別に付けれ
ば、それらは直流信号となるからである。抵抗４１はカ
ーボン抵抗、コンデンサ４２はセラミック・コンデンサ
と言った安価なもので良いので、それ程コスト・アップ
はしない。
【００２４】大規模装置の場合で好ましい実施例として
は、図５に示すように、各ボード５１毎に、平均電圧検
出回路とＡ／Ｄ変換器を含む検出器５２を持つことであ
る。こうすれば、診断データはデータ・バス５３上を通
るだけとなり、システムの構成が容易となる。
は、図５に示すように、各ボード５１毎に、平均電圧検
出回路とＡ／Ｄ変換器を含む検出器５２を持つことであ
る。こうすれば、診断データはデータ・バス５３上を通
るだけとなり、システムの構成が容易となる。
【００２５】ロジック・レベルの温度変動等が問題にな
る場合は、診断値を平均値ＶM ではなく、デューティ比
Ｄr にまで加工すると、その影響は除去することができ
る。すなわち、 Ｄr＝（ＶM −ＶL ）／（ＶH −ＶL ） とすればよい。
る場合は、診断値を平均値ＶM ではなく、デューティ比
Ｄr にまで加工すると、その影響は除去することができ
る。すなわち、 Ｄr＝（ＶM −ＶL ）／（ＶH −ＶL ） とすればよい。
【００２６】なお、本発明は、測定装置以外の電子装置
にも適用できることは言うまでもない。
にも適用できることは言うまでもない。
【００２７】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、電気信号
の平均電圧を基準として自己診断を行なうことにより、
以下に示す効果がある。 １．ロジック信号およびアナログ信号を問わず診断対象
とすることができる。 ２．リアル・タイムでの診断が容易になる。出力信号の
状態だけでなく、入力信号の状態も診断できる。 ３．したがって、わずかなコスト・アップで自己診断率
を上げることができる。
の平均電圧を基準として自己診断を行なうことにより、
以下に示す効果がある。 １．ロジック信号およびアナログ信号を問わず診断対象
とすることができる。 ２．リアル・タイムでの診断が容易になる。出力信号の
状態だけでなく、入力信号の状態も診断できる。 ３．したがって、わずかなコスト・アップで自己診断率
を上げることができる。
【図１】本発明の自己診断機能付電子装置の一実施例を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図２】図１中の１０進計数器３Ａを示す回路図であ
る。
る。
【図３】図１中の平均電圧検出回路１１のデューティ比
と平均電圧の関係を示す説明図である。
と平均電圧の関係を示す説明図である。
【図４】本実施例のトラブルを防止するための回路を示
す回路図である。
す回路図である。
【図５】本発明の大規模装置に好ましい実施例を示す説
明図である。
明図である。
【図６】自己診断機能付電子装置の従来例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図７】図６に示す１０進計数器３Ａの正常時の動作を
示すタイミングチャートである。
示すタイミングチャートである。
【図８】図６に示す１０進計数器３Ａの異常時の動作を
示すタイミングチャートである。
示すタイミングチャートである。
１，１５ スイッチ ２ クロック発生器 ３ 測定部 ３Ａ １０進計数器 ４ ＣＰＵ ５ ＲＯＭ ６ ＲＡＭ ７ 操作部 ８ 表示部 ９，５３ データ・バス １０ Ａ／Ｄ変換器 １１ 平均電圧検出回路 １２，４１ 抵抗 １３，４２ コンデンサ １４ 演算増幅器 ２１，２２，２３，２４，２５，２６ 端子 ３１，３３，３６ Ｔフリップフロップ ３２ ＪＫフリップフロップ ３４ アンドゲート ３５ オアゲート ５１ ボード ５２ 検出器
Claims (1)
- 【請求項１】 自己診断機能を有する電子装置におい
て、 診断対象の信号ラインが順に接続された端子と、 信号の平均電圧を検出し、出力する平均電圧検出回路
と、 前記端子を前記平均電圧検出回路に切替接続するスイッ
チと、 前記平均電圧検出回路の出力をディジタル化して出力す
るＡ／Ｄ変換器と、 前記Ａ／Ｄ変換器の出力とこの出力に対応してあらかじ
め記憶されている正常値とを比較して前記診断対象の信
号が正常か否かを判定する診断手段とを有することを特
徴とする自己診断機能付電子装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13920092A JPH05333078A (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 自己診断機能付電子装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13920092A JPH05333078A (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 自己診断機能付電子装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05333078A true JPH05333078A (ja) | 1993-12-17 |
Family
ID=15239891
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13920092A Pending JPH05333078A (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 自己診断機能付電子装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05333078A (ja) |
-
1992
- 1992-05-29 JP JP13920092A patent/JPH05333078A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20010221 |