JPH05333078A - 自己診断機能付電子装置 - Google Patents
自己診断機能付電子装置Info
- Publication number
- JPH05333078A JPH05333078A JP13920092A JP13920092A JPH05333078A JP H05333078 A JPH05333078 A JP H05333078A JP 13920092 A JP13920092 A JP 13920092A JP 13920092 A JP13920092 A JP 13920092A JP H05333078 A JPH05333078 A JP H05333078A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- average voltage
- self
- signal
- diagnosis
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 わずかなコスト・アップで自己診断率を上げ
る。 【構成】 周波数測定装置は、測定部3の信号ラインが
順に接続された端子21〜26と、端子21〜26の信
号の平均電圧を検出し、出力する平均電圧検出回路11
と、端子21〜26を平均電圧検出回路11に切替接続
するスイッチ15と、平均電圧検出回路11の出力をデ
ィジタル化して出力するA/D変換器10と、A/D変
換器10の出力とこの出力に対応してあらかじめ記憶さ
れている正常値とを比較して測定部3の診断を行なうC
PU4とを備える。
る。 【構成】 周波数測定装置は、測定部3の信号ラインが
順に接続された端子21〜26と、端子21〜26の信
号の平均電圧を検出し、出力する平均電圧検出回路11
と、端子21〜26を平均電圧検出回路11に切替接続
するスイッチ15と、平均電圧検出回路11の出力をデ
ィジタル化して出力するA/D変換器10と、A/D変
換器10の出力とこの出力に対応してあらかじめ記憶さ
れている正常値とを比較して測定部3の診断を行なうC
PU4とを備える。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、自己診断機能を有する
電子装置(例えば電子計測器)に関する。
電子装置(例えば電子計測器)に関する。
【0002】
【従来の技術】図6は自己診断機能付電子装置の従来例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【0003】本従来例は周波数測定装置である。スイッ
チ61は、被測定信号を出力する図示しない被測定装置
またはクロック発生器62を、後述する10進計数器6
3Aを内蔵する診断対象である周波数測定部63に切替
接続する。この測定部63は、データ・バス69を介し
てCPU64、ROM65、RAM66、操作部67お
よび表示部68に接続されている。
チ61は、被測定信号を出力する図示しない被測定装置
またはクロック発生器62を、後述する10進計数器6
3Aを内蔵する診断対象である周波数測定部63に切替
接続する。この測定部63は、データ・バス69を介し
てCPU64、ROM65、RAM66、操作部67お
よび表示部68に接続されている。
【0004】通常の測定時には、スイッチ61は被測定
信号側の端子61bに接続される。自己診断時には、ス
イッチ61はクロック発生器62側の端子61aに接続
され、クロック信号(周波数は既知)が測定部63に入
力される。測定部63からは、測定のシーケンスをCP
U64に認識させるために、シーケンスの進行状況を示
す信号がフラグとしてデータ・バス69を介してCPU
64に送られる。
信号側の端子61bに接続される。自己診断時には、ス
イッチ61はクロック発生器62側の端子61aに接続
され、クロック信号(周波数は既知)が測定部63に入
力される。測定部63からは、測定のシーケンスをCP
U64に認識させるために、シーケンスの進行状況を示
す信号がフラグとしてデータ・バス69を介してCPU
64に送られる。
【0005】CPU64の本来の動作は以下のようであ
る。 1.操作部67から指示された設定内容をデータ・バス
69を通して受取り、それを解読し判断して、再びデー
タ・バス69を介して測定部63の条件設定をしたり、
表示部68にデータを送ったりする。 2.条件設定が終わった後、測定部63をスタートさ
せ、測定が終了したら測定データをデータ・バス69を
介して受取り、加工処理して最終結果をデータ・バス6
9を介して表示部68に送る。 3.ROM65にストアされているプログラムに従って
動作し、また一時的に記憶が必要なデータ等はRAM6
6に記憶する。
る。 1.操作部67から指示された設定内容をデータ・バス
69を通して受取り、それを解読し判断して、再びデー
タ・バス69を介して測定部63の条件設定をしたり、
表示部68にデータを送ったりする。 2.条件設定が終わった後、測定部63をスタートさ
せ、測定が終了したら測定データをデータ・バス69を
介して受取り、加工処理して最終結果をデータ・バス6
9を介して表示部68に送る。 3.ROM65にストアされているプログラムに従って
動作し、また一時的に記憶が必要なデータ等はRAM6
6に記憶する。
【0006】近年、こうした測定装置にCPUが使われ
るのはごく普通のこととなったが、その反面、装置の故
障解析が難しくなってきた。その理由は、主に以下の通
りである。 1.LSIの集積度向上の傾向と相まって、測定部の規
模が拡大している。 2.CPUと周辺部との通信は主にデータ・バスを介し
て行なわれるが、このバスは4→8→16→32ライン
と拡大される傾向にあり、こうしたパラレル・データの
増加というのは故障解析を難しくする方向である(例え
ばオシロスコープ等のみでは故障解析は困難で、多チャ
ンネル入力のロジック・アナライザ等が必要になる)。
その結果、判断能力を持つCPUに可能な限りの自己故
障診断(セルフ・テストまたはダイアグノーシス)能力
を持たせることが便法として採用されてきた。しかし、
測定装置としては例えCPUが用いられたとしても、基
本的には測定の目的とする最終結果を得るための最少構
成と最少の手続き(すなわちCPUとのやり取り)が追
及される。このような事情との相剋があり、コストが見
合う範囲でのレベルに診断能力が制限される。
るのはごく普通のこととなったが、その反面、装置の故
障解析が難しくなってきた。その理由は、主に以下の通
りである。 1.LSIの集積度向上の傾向と相まって、測定部の規
模が拡大している。 2.CPUと周辺部との通信は主にデータ・バスを介し
て行なわれるが、このバスは4→8→16→32ライン
と拡大される傾向にあり、こうしたパラレル・データの
増加というのは故障解析を難しくする方向である(例え
ばオシロスコープ等のみでは故障解析は困難で、多チャ
ンネル入力のロジック・アナライザ等が必要になる)。
その結果、判断能力を持つCPUに可能な限りの自己故
障診断(セルフ・テストまたはダイアグノーシス)能力
を持たせることが便法として採用されてきた。しかし、
測定装置としては例えCPUが用いられたとしても、基
本的には測定の目的とする最終結果を得るための最少構
成と最少の手続き(すなわちCPUとのやり取り)が追
及される。このような事情との相剋があり、コストが見
合う範囲でのレベルに診断能力が制限される。
【0007】例えば図6に示す測定部63の中に図2に
示すようなTフリップフロップ31,33,36、JK
フリップフロップ32、アンドゲート34およびオアゲ
ート35からなる10進計数器63Aが使われていたと
する。正常時の動作は図7のようになり、もしTフリッ
プフロップ33が故障していたとすると図8のようにな
る。この10進計数器63Aの故障診断をCPU64が
行なうためには下記の事項を考慮することが必要とな
る。 1.第1に、最も望ましいリアルタイムでの診断は不可
能か困難である。そのためには入力信号I1,I2をC
PU64がコントロールし、期待すべきタイミングで4
本の出力信号O1,O2,O3,O4を監視しなければ
ならないが、その回路追加によるコスト・アップは非常
に大きいものとなる。 2.従って次善の方法として、入力信号I1に個数のわ
かった信号を入れ、計数が終了した時点で出力信号O1
〜O4の内容を読む。 3.出力信号O1〜O4の内容を読むためには、出力信
号O1〜O4の信号ラインをデータ・バス69につなげ
るためのバス・バッファが4個必要である。 4.CPU64が出力信号O1〜O4のデータを取り込
んだ後は、それらの内容を元に、10進計数器63Aが
故障か否かを判断するが、判断するのは単純ではない。
もし10進計数器63AのTフリップフロップ33が故
障していて、図8のような動作になったとしても、途中
までは正常にカウントしているので、予め入力信号I1
の個数が4以上に設定されていないと、10進計数器6
3Aは「故障」と判定されない。さらに、入力信号I1
が4個以上入力されたとしても、「故障」であることは
解析されるが、どの部品が故障したかまでの判断は非常
に困難であり、それを実施しようとすると、ぼう大なプ
ログラムが必要となる。
示すようなTフリップフロップ31,33,36、JK
フリップフロップ32、アンドゲート34およびオアゲ
ート35からなる10進計数器63Aが使われていたと
する。正常時の動作は図7のようになり、もしTフリッ
プフロップ33が故障していたとすると図8のようにな
る。この10進計数器63Aの故障診断をCPU64が
行なうためには下記の事項を考慮することが必要とな
る。 1.第1に、最も望ましいリアルタイムでの診断は不可
能か困難である。そのためには入力信号I1,I2をC
PU64がコントロールし、期待すべきタイミングで4
本の出力信号O1,O2,O3,O4を監視しなければ
ならないが、その回路追加によるコスト・アップは非常
に大きいものとなる。 2.従って次善の方法として、入力信号I1に個数のわ
かった信号を入れ、計数が終了した時点で出力信号O1
〜O4の内容を読む。 3.出力信号O1〜O4の内容を読むためには、出力信
号O1〜O4の信号ラインをデータ・バス69につなげ
るためのバス・バッファが4個必要である。 4.CPU64が出力信号O1〜O4のデータを取り込
んだ後は、それらの内容を元に、10進計数器63Aが
故障か否かを判断するが、判断するのは単純ではない。
もし10進計数器63AのTフリップフロップ33が故
障していて、図8のような動作になったとしても、途中
までは正常にカウントしているので、予め入力信号I1
の個数が4以上に設定されていないと、10進計数器6
3Aは「故障」と判定されない。さらに、入力信号I1
が4個以上入力されたとしても、「故障」であることは
解析されるが、どの部品が故障したかまでの判断は非常
に困難であり、それを実施しようとすると、ぼう大なプ
ログラムが必要となる。
【0008】以上の事情から、自己診断は可能な範囲
で、すなわち自己診断のためにコスト・アップにならな
い範囲で実施されているに過ぎない。図6に示す従来例
で通常採られる各部診断を説明する。
で、すなわち自己診断のためにコスト・アップにならな
い範囲で実施されているに過ぎない。図6に示す従来例
で通常採られる各部診断を説明する。
【0009】測定部63の診断では、既知の信号を入力
して、シーケンスやデータが期待通りであるかが見られ
る。故障部位の特定は、精々ボード単位と言った大まか
な単位である。ROM65の診断では、書込まれたプロ
グラムが総和チェック等で判定される。故障部品の特定
まで可能だが、診断用のプログラムが記憶されているR
OMが故障の場合は正常な判定ができない。RAM66
の診断では、CPU64が特定のデータを書き込んでそ
の後読み出す方法で判定される。故障部品の特定までほ
ぼ完全に判定できる。操作部67の診断では、特定のス
イッチから正しく入力されるかどうかが見られるが、ス
イッチの設定には人間が関与する場合が多い。表示部6
8の診断では、各種の表示器が正しく動作するかどうか
が見られるが、人間が見て判定を下すことが多い。
して、シーケンスやデータが期待通りであるかが見られ
る。故障部位の特定は、精々ボード単位と言った大まか
な単位である。ROM65の診断では、書込まれたプロ
グラムが総和チェック等で判定される。故障部品の特定
まで可能だが、診断用のプログラムが記憶されているR
OMが故障の場合は正常な判定ができない。RAM66
の診断では、CPU64が特定のデータを書き込んでそ
の後読み出す方法で判定される。故障部品の特定までほ
ぼ完全に判定できる。操作部67の診断では、特定のス
イッチから正しく入力されるかどうかが見られるが、ス
イッチの設定には人間が関与する場合が多い。表示部6
8の診断では、各種の表示器が正しく動作するかどうか
が見られるが、人間が見て判定を下すことが多い。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の自己診
断機能付電子装置では、自己診断ができない事項が多
い。すなわち自己診断率が低い。自己診断率を上げよう
とすると、診断のためのソフトウェアおよびハードウェ
アが大規模になり、設計工数が増大してコスト・アップ
になるという問題点がある。
断機能付電子装置では、自己診断ができない事項が多
い。すなわち自己診断率が低い。自己診断率を上げよう
とすると、診断のためのソフトウェアおよびハードウェ
アが大規模になり、設計工数が増大してコスト・アップ
になるという問題点がある。
【0011】本発明の目的は、わずかなコスト・アップ
で自己診断率を上げることができる自己診断機能付電子
装置を提供することにある。
で自己診断率を上げることができる自己診断機能付電子
装置を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の自己診断機能付
電子装置は、自己診断機能を有する電子装置において、
診断対象の信号ラインが順に接続された端子と、信号の
平均電圧を検出し、出力する平均電圧検出回路と、前記
端子を前記平均電圧検出回路に切替接続するスイッチ
と、前記平均電圧検出回路の出力をディジタル化して出
力するA/D変換器と、前記A/D変換器の出力とこの
出力に対応してあらかじめ記憶されている正常値とを比
較して前記診断対象の信号が正常か否かを判定する診断
手段を有することを特徴とする自己診断機能付電子装
置。
電子装置は、自己診断機能を有する電子装置において、
診断対象の信号ラインが順に接続された端子と、信号の
平均電圧を検出し、出力する平均電圧検出回路と、前記
端子を前記平均電圧検出回路に切替接続するスイッチ
と、前記平均電圧検出回路の出力をディジタル化して出
力するA/D変換器と、前記A/D変換器の出力とこの
出力に対応してあらかじめ記憶されている正常値とを比
較して前記診断対象の信号が正常か否かを判定する診断
手段を有することを特徴とする自己診断機能付電子装
置。
【0013】
【作用】電子装置の信号ラインから入力した信号の平均
電圧は、信号のデューティ比、波形またはレベルが正常
なものであれば、あらかじめ定められた正常値と等しい
値となる。したがって、平均電圧を検出することにより
自己診断率が上がる。
電圧は、信号のデューティ比、波形またはレベルが正常
なものであれば、あらかじめ定められた正常値と等しい
値となる。したがって、平均電圧を検出することにより
自己診断率が上がる。
【0014】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【0015】図1は本発明の自己診断機能付電子装置の
一実施例を示すブロック図、図2は図1中の10進計数
器3Aを示す回路図、図3は図1中の平均電圧検出回路
11のデューティ比と平均電圧の関係を示す説明図であ
る。
一実施例を示すブロック図、図2は図1中の10進計数
器3Aを示す回路図、図3は図1中の平均電圧検出回路
11のデューティ比と平均電圧の関係を示す説明図であ
る。
【0016】本実施例は図6に示す従来例と同様周波数
測定装置である。スイッチ1は、被測定信号を出力する
図示しない被測定装置かクロック発生器2のいずれか一
方を、図2に示す10進計数器3Aを内蔵する周波数測
定部3に接続する。この測定部3は、データ・バス9を
介して診断手段であるCPU4(マイクロプロセッ
サ)、ROM5、RAM6、操作部7、表示部8および
A/D変換器10に接続されている。
測定装置である。スイッチ1は、被測定信号を出力する
図示しない被測定装置かクロック発生器2のいずれか一
方を、図2に示す10進計数器3Aを内蔵する周波数測
定部3に接続する。この測定部3は、データ・バス9を
介して診断手段であるCPU4(マイクロプロセッ
サ)、ROM5、RAM6、操作部7、表示部8および
A/D変換器10に接続されている。
【0017】測定部3は、内部の10進計数器3Aを入
出力する入力信号I1,I2および出力信号O1,O
2,O3,O4の信号ラインがそれぞれ順に接続された
端子21,22,23,24,25,26を備えてい
る。スイッチ15はこれら端子21〜26を抵抗12を
介して演算増幅器14の非反転入力端に切替接続する。
演算増幅器14は、非反転入力端がコンデンサ13に接
続されており、出力端が反転増幅端に接続されていると
ともに、A/D変換器10のアナログ信号入力端に接続
されている。ここで、抵抗12、コンデンサ13および
演算増幅器14は平均電圧検出回路11を構成してい
る。
出力する入力信号I1,I2および出力信号O1,O
2,O3,O4の信号ラインがそれぞれ順に接続された
端子21,22,23,24,25,26を備えてい
る。スイッチ15はこれら端子21〜26を抵抗12を
介して演算増幅器14の非反転入力端に切替接続する。
演算増幅器14は、非反転入力端がコンデンサ13に接
続されており、出力端が反転増幅端に接続されていると
ともに、A/D変換器10のアナログ信号入力端に接続
されている。ここで、抵抗12、コンデンサ13および
演算増幅器14は平均電圧検出回路11を構成してい
る。
【0018】平均電圧検出回路11の時定数は、診断す
べき信号の周波数より十分大きな値が使用される。A/
D変換器10の精度は10ビット(1024ポイント)
程度で十分である。スイッチ1およびスイッチ15の切
換えはCPU4によりなされる。平均電圧検出回路11
は、図3に示すような、各端子21〜26の信号のデュ
ーティ比Dr に応じた平均電圧VM を検出して出力する
ように動作する。ここで、論理レベルはECLレベルを
モデル化(ローレベルVL =−1.6V、ハイレベルV
H =−0.8V)したものを使用している。なお、平均
電圧VMとデューティ比Drの関係は、 VM=(VH−VL)・Dr+VL で与えられる。CPU4には信号I1〜O4の平均電圧
VM の正常値があらかじめ記憶されている。それらを表
1の上段に示す。入力信号I2についてはデューティ比
Dr を5%と仮定している。各信号I1〜04の検出値
(平均電圧VM )の例を上記正常値の次の段に示す。個
別判定(各信号I1〜04の正常/異常の判定)は次の
3段階で行なわれる。
べき信号の周波数より十分大きな値が使用される。A/
D変換器10の精度は10ビット(1024ポイント)
程度で十分である。スイッチ1およびスイッチ15の切
換えはCPU4によりなされる。平均電圧検出回路11
は、図3に示すような、各端子21〜26の信号のデュ
ーティ比Dr に応じた平均電圧VM を検出して出力する
ように動作する。ここで、論理レベルはECLレベルを
モデル化(ローレベルVL =−1.6V、ハイレベルV
H =−0.8V)したものを使用している。なお、平均
電圧VMとデューティ比Drの関係は、 VM=(VH−VL)・Dr+VL で与えられる。CPU4には信号I1〜O4の平均電圧
VM の正常値があらかじめ記憶されている。それらを表
1の上段に示す。入力信号I2についてはデューティ比
Dr を5%と仮定している。各信号I1〜04の検出値
(平均電圧VM )の例を上記正常値の次の段に示す。個
別判定(各信号I1〜04の正常/異常の判定)は次の
3段階で行なわれる。
【0019】○:検出値が正常値と等しい、△:検出値
が正常値と若干異なる、×:検出値が正常値と大きく異
なる。
が正常値と若干異なる、×:検出値が正常値と大きく異
なる。
【0020】
【表1】 ただし、上記判定では、「正常」と判定するための値が
デバイスの種類(ECL、TTL、CMOS等)や動作
速度等の条件により異なるが、通常、正常値と検出値と
の差異が論理振幅値の±5%以内であれば「正常」と判
定する。
デバイスの種類(ECL、TTL、CMOS等)や動作
速度等の条件により異なるが、通常、正常値と検出値と
の差異が論理振幅値の±5%以内であれば「正常」と判
定する。
【0021】総合判定は、△と×がどちらかひとつ以上
あると「故障」とされ、その信号ラインが表示部8に表
示される。このとき、各信号ラインと10進計数器3A
の構成図との対応付けがなされているなら、10進計数
器3Aの構成部品の名称を表示部8に表示することも可
能である。
あると「故障」とされ、その信号ラインが表示部8に表
示される。このとき、各信号ラインと10進計数器3A
の構成図との対応付けがなされているなら、10進計数
器3Aの構成部品の名称を表示部8に表示することも可
能である。
【0022】本実施例の利点を以下に列挙する。 1.ハイレベル、ローレベルのようなスタティック・レ
ベルも検出でき、図6に示す従来例のような使い方も可
能である。 2.ロジック信号、アナログ信号を問わず自己診断対象
とすることができる。交流結合(Cカップル)された信
号については、平均電圧検出回路11の前段にダイオー
ドを挿入することで検出できる。 3.ダイナミック(サイクリック)に動作している信号
に対して、その平均値電圧を通してデューティ比を監視
するものであり、リアル・タイムでの試験が容易に実施
できる。 4.10進計数器の例で示したように、出力信号の状態
だけでなく、入力信号の状態も簡単に診断できる。この
ことは、特に規模の大きいLSI等の診断にも有利であ
る。 5.表1に示したように、個別判定および総合判定は直
感的でかつ具体的であり、従来例のように、データ不足
のために不良部品割り出しのプログラムが難しくなるな
どということはない。
ベルも検出でき、図6に示す従来例のような使い方も可
能である。 2.ロジック信号、アナログ信号を問わず自己診断対象
とすることができる。交流結合(Cカップル)された信
号については、平均電圧検出回路11の前段にダイオー
ドを挿入することで検出できる。 3.ダイナミック(サイクリック)に動作している信号
に対して、その平均値電圧を通してデューティ比を監視
するものであり、リアル・タイムでの試験が容易に実施
できる。 4.10進計数器の例で示したように、出力信号の状態
だけでなく、入力信号の状態も簡単に診断できる。この
ことは、特に規模の大きいLSI等の診断にも有利であ
る。 5.表1に示したように、個別判定および総合判定は直
感的でかつ具体的であり、従来例のように、データ不足
のために不良部品割り出しのプログラムが難しくなるな
どということはない。
【0023】通常、信号ラインを1ケ所(例えばスイッ
チ15に)に集めようとすると、負荷容量の増加や各信
号ライン間のクロストークで予期せぬトラブルが生じ
る。しかし、これは下記のようにすれば容易に防ぐこと
ができる。すなわち、図4に示すように、抵抗41およ
びコンデンサ42を信号ラインの近くで個別に付けれ
ば、それらは直流信号となるからである。抵抗41はカ
ーボン抵抗、コンデンサ42はセラミック・コンデンサ
と言った安価なもので良いので、それ程コスト・アップ
はしない。
チ15に)に集めようとすると、負荷容量の増加や各信
号ライン間のクロストークで予期せぬトラブルが生じ
る。しかし、これは下記のようにすれば容易に防ぐこと
ができる。すなわち、図4に示すように、抵抗41およ
びコンデンサ42を信号ラインの近くで個別に付けれ
ば、それらは直流信号となるからである。抵抗41はカ
ーボン抵抗、コンデンサ42はセラミック・コンデンサ
と言った安価なもので良いので、それ程コスト・アップ
はしない。
【0024】大規模装置の場合で好ましい実施例として
は、図5に示すように、各ボード51毎に、平均電圧検
出回路とA/D変換器を含む検出器52を持つことであ
る。こうすれば、診断データはデータ・バス53上を通
るだけとなり、システムの構成が容易となる。
は、図5に示すように、各ボード51毎に、平均電圧検
出回路とA/D変換器を含む検出器52を持つことであ
る。こうすれば、診断データはデータ・バス53上を通
るだけとなり、システムの構成が容易となる。
【0025】ロジック・レベルの温度変動等が問題にな
る場合は、診断値を平均値VM ではなく、デューティ比
Dr にまで加工すると、その影響は除去することができ
る。すなわち、 Dr=(VM −VL )/(VH −VL ) とすればよい。
る場合は、診断値を平均値VM ではなく、デューティ比
Dr にまで加工すると、その影響は除去することができ
る。すなわち、 Dr=(VM −VL )/(VH −VL ) とすればよい。
【0026】なお、本発明は、測定装置以外の電子装置
にも適用できることは言うまでもない。
にも適用できることは言うまでもない。
【0027】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、電気信号
の平均電圧を基準として自己診断を行なうことにより、
以下に示す効果がある。 1.ロジック信号およびアナログ信号を問わず診断対象
とすることができる。 2.リアル・タイムでの診断が容易になる。出力信号の
状態だけでなく、入力信号の状態も診断できる。 3.したがって、わずかなコスト・アップで自己診断率
を上げることができる。
の平均電圧を基準として自己診断を行なうことにより、
以下に示す効果がある。 1.ロジック信号およびアナログ信号を問わず診断対象
とすることができる。 2.リアル・タイムでの診断が容易になる。出力信号の
状態だけでなく、入力信号の状態も診断できる。 3.したがって、わずかなコスト・アップで自己診断率
を上げることができる。
【図1】本発明の自己診断機能付電子装置の一実施例を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図2】図1中の10進計数器3Aを示す回路図であ
る。
る。
【図3】図1中の平均電圧検出回路11のデューティ比
と平均電圧の関係を示す説明図である。
と平均電圧の関係を示す説明図である。
【図4】本実施例のトラブルを防止するための回路を示
す回路図である。
す回路図である。
【図5】本発明の大規模装置に好ましい実施例を示す説
明図である。
明図である。
【図6】自己診断機能付電子装置の従来例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図7】図6に示す10進計数器3Aの正常時の動作を
示すタイミングチャートである。
示すタイミングチャートである。
【図8】図6に示す10進計数器3Aの異常時の動作を
示すタイミングチャートである。
示すタイミングチャートである。
1,15 スイッチ 2 クロック発生器 3 測定部 3A 10進計数器 4 CPU 5 ROM 6 RAM 7 操作部 8 表示部 9,53 データ・バス 10 A/D変換器 11 平均電圧検出回路 12,41 抵抗 13,42 コンデンサ 14 演算増幅器 21,22,23,24,25,26 端子 31,33,36 Tフリップフロップ 32 JKフリップフロップ 34 アンドゲート 35 オアゲート 51 ボード 52 検出器
Claims (1)
- 【請求項1】 自己診断機能を有する電子装置におい
て、 診断対象の信号ラインが順に接続された端子と、 信号の平均電圧を検出し、出力する平均電圧検出回路
と、 前記端子を前記平均電圧検出回路に切替接続するスイッ
チと、 前記平均電圧検出回路の出力をディジタル化して出力す
るA/D変換器と、 前記A/D変換器の出力とこの出力に対応してあらかじ
め記憶されている正常値とを比較して前記診断対象の信
号が正常か否かを判定する診断手段とを有することを特
徴とする自己診断機能付電子装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13920092A JPH05333078A (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 自己診断機能付電子装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13920092A JPH05333078A (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 自己診断機能付電子装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05333078A true JPH05333078A (ja) | 1993-12-17 |
Family
ID=15239891
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13920092A Pending JPH05333078A (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 自己診断機能付電子装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05333078A (ja) |
-
1992
- 1992-05-29 JP JP13920092A patent/JPH05333078A/ja active Pending
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20010221 |