JP2010015921A - マルチプレクサスイッチの試験方法とその装置および多点測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 全入力端子にテスト電圧を印加し、マルチプレクサスイッチ内の全スイッチをオフにしてその出力電圧が規定値でないことを確認した後、個々のスイッチを順番にオンにして出力電圧が規定値内であることをチェックする。全てのスイッチをオフにしたときにオフになっていないスイッチがあると、このスイッチを経由してテスト電圧が出力されるので、出力電圧が規定値内にないことで全スイッチのオフを確認できる。
【選択図】 図2
Description
スイッチを内蔵し、少なくとも2つの入力端子と1つの出力端子を具備して、前記入力端子に印可された信号の1つを選択して前記出力端子に出力するマルチプレクサスイッチを試験する試験方法であって、
信号源から前記マルチプレクサスイッチの全ての入力端子に電圧信号を与える工程と、
前記マルチプレクサスイッチ内のスイッチを全てオフにして、このマルチプレクサスイッチの出力電圧が第1の規定値内に入っていないことをチェックする工程と、
前記マルチプレクサスイッチを操作して前記入力端子を順番に選択し、このマルチプレクサスイッチの出力信号が第2の規定値内に入っていることをチェックする工程と、
を具備したものである。短時間でマルチプレクサスイッチ内のスイッチが正常にオン、オフされることを試験できる。
スイッチを内蔵し、複数の入力端子と1つの出力端子を具備して、前記複数の入力端子に印可された信号の1つを選択して出力するマルチプレクサスイッチを試験する試験装置であって、
前記マルチプレクサスイッチの全ての入力端子に電圧信号を与える信号源と、
前記マルチプレクサスイッチの出力信号の電圧を測定する電圧測定部と、
前記電圧測定部の出力が入力され、前記マルチプレクサスイッチ内の全てのスイッチをオフにして前記電圧測定部の出力が第1の規定値内に入っていないかどうかをチェックし、その後前記入力端子を順番に選択して、前記電圧測定部の出力が第2の規定値内に入っているかどうかをチェックする制御部と、
を具備したものである。短時間でマルチプレクサスイッチ内のスイッチが正常にオン、オフされることを試験できる。
前記マルチプレクサスイッチ内のスイッチのオフ抵抗と、前記電圧測定部の入力抵抗、および前記信号源の出力信号の電圧に基づいて、前記第1および/または第2の規定値を決定するようにしたものである。正常であるオフ抵抗の範囲を選択できる。
スイッチが内蔵され、複数の入力端子と1つの出力端子を具備して、これらの入力端子に印可された信号の1つを選択して出力端子に出力するマルチプレクサスイッチと、
物理量を測定して電圧信号に変換し、その出力端子が前記マルチプレクサスイッチの入力端子の各々に接続される複数の測定部と、
前記マルチプレクサスイッチが選択した信号が入力され、その電圧を測定する電圧測定部と、
前記電圧測定部が測定した測定値が入力され、この測定値を処理するデータ処理部と、
前記電圧測定部の出力が入力され、前記マルチプレクサスイッチ内の全てのスイッチをオフにして前記電圧測定部の出力が第1の規定値内に入っていないかどうかをチェックし、その後前記入力端子を順番に選択して、前記電圧測定部の出力が第2の規定値内に入っているかどうかをチェックする制御部と、
を具備したものである。短時間でマルチプレクサスイッチ内のスイッチが正常にオン、オフされることを試験できる。
前記マルチプレクサスイッチ内のスイッチのオフ抵抗と、前記電圧測定部の入力抵抗、および前記マルチプレクサスイッチに入力する信号の電圧に基づいて、前記第1および/または第2の規定値を決定するようにしたものである。正常であるオフ抵抗の範囲を選択できる。
前記マルチプレクサスイッチを試験する際に、信号源から前記マルチプレクサスイッチの全ての入力端子に電圧信号を与えるようにしたものである。正確な試験ができる。
前記測定部の出力信号を用いて前記マルチプレクサスイッチを試験するようにしたものである。信号源が不要であり、かつマルチプレクサスイッチの入力信号を切り替える必要がない。
請求項1,2、3、4、5、6および7の発明によれば、マルチプレクサスイッチの全入力端子に信号を与え、このマルチプレクサスイッチ内の全スイッチをオフにしてその出力電圧が第1の規定値に入っていないことをチェックし、その後順番に入力端子を選択して、その出力電圧が第2の規定値に入っていることを確認するようにした。
Vin=Vo×Rin/(Rin+Roff) ・・・・・・ (1)
この(1)式を考慮して、許容できるオフ抵抗RoffからVinを算出し、規定値を決定する。例えば、Rin=1MΩ、許容できるオフ抵抗Roff=9MΩとすると、
Vin=0.9×Vo
となる。従って、規定値としてVo〜0.9Voを用いればよい。通常、分圧器30の入力抵抗は1MΩ程度なので、Roffが10〜100MΩとなる中途半端な故障であっても、確実に検出することができる。
20 マルチプレクサスイッチ
21a1〜21n1、21a2〜21n2、31〜34 スイッチ
30 分圧器
35、36 抵抗
40 ADコンバータ
41 データ処理部
50 信号源
60 制御部
Claims (7)
- スイッチを内蔵し、少なくとも2つの入力端子と1つの出力端子を具備して、前記入力端子に印可された信号の1つを選択して前記出力端子に出力するマルチプレクサスイッチを試験する試験方法であって、
信号源から前記マルチプレクサスイッチの全ての入力端子に電圧信号を与える工程と、
前記マルチプレクサスイッチ内のスイッチを全てオフにして、このマルチプレクサスイッチの出力電圧が第1の規定値内に入っていないことをチェックする工程と、
前記マルチプレクサスイッチを操作して前記入力端子を順番に選択し、このマルチプレクサスイッチの出力信号が第2の規定値内に入っていることをチェックする工程と、
を具備したことを特徴とするマルチプレクサスイッチの試験方法。 - スイッチを内蔵し、複数の入力端子と1つの出力端子を具備して、前記複数の入力端子に印可された信号の1つを選択して出力するマルチプレクサスイッチを試験する試験装置であって、
前記マルチプレクサスイッチの全ての入力端子に電圧信号を与える信号源と、
前記マルチプレクサスイッチの出力信号の電圧を測定する電圧測定部と、
前記電圧測定部の出力が入力され、前記マルチプレクサスイッチ内の全てのスイッチをオフにして前記電圧測定部の出力が第1の規定値内に入っていないかどうかをチェックし、その後前記入力端子を順番に選択して、前記電圧測定部の出力が第2の規定値内に入っているかどうかをチェックする制御部と、
を具備したことを特徴とするマルチプレクサスイッチの試験装置。 - 前記マルチプレクサスイッチ内のスイッチのオフ抵抗と、前記電圧測定部の入力抵抗、および前記信号源の出力信号の電圧に基づいて、前記第1および/または第2の規定値を決定するようにしたことを特徴とする請求項2記載のマルチプレクサスイッチの試験装置。
- スイッチが内蔵され、複数の入力端子と1つの出力端子を具備して、これらの入力端子に印可された信号の1つを選択して出力端子に出力するマルチプレクサスイッチと、
物理量を測定して電圧信号に変換し、その出力端子が前記マルチプレクサスイッチの入力端子の各々に接続される複数の測定部と、
前記マルチプレクサスイッチが選択した信号が入力され、その電圧を測定する電圧測定部と、
前記電圧測定部が測定した測定値が入力され、この測定値を処理するデータ処理部と、
前記電圧測定部の出力が入力され、前記マルチプレクサスイッチ内の全てのスイッチをオフにして前記電圧測定部の出力が第1の規定値内に入っていないかどうかをチェックし、その後前記入力端子を順番に選択して、前記電圧測定部の出力が第2の規定値内に入っているかどうかをチェックする制御部と、
を具備したことを特徴とする多点測定装置。 - 前記マルチプレクサスイッチ内のスイッチのオフ抵抗と、前記電圧測定部の入力抵抗、および前記マルチプレクサスイッチに入力する信号の電圧に基づいて、前記第1および/または第2の規定値を決定するようにしたことを特徴とする請求項4記載の多点測定装置。
- 前記マルチプレクサスイッチを試験する際に、信号源から前記マルチプレクサスイッチの全ての入力端子に電圧信号を与えるようにしたことを特徴とする請求項4若しくは請求項5記載の多点測定装置。
- 前記測定部の出力信号を用いて前記マルチプレクサスイッチを試験するようにしたことを特徴とする請求項4若しくは請求項5記載の多点測定装置。
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JP2008176609A JP2010015921A (ja) | 2008-07-07 | 2008-07-07 | マルチプレクサスイッチの試験方法とその装置および多点測定装置 |
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JP2008176609A JP2010015921A (ja) | 2008-07-07 | 2008-07-07 | マルチプレクサスイッチの試験方法とその装置および多点測定装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2011220698A (ja) * | 2010-04-05 | 2011-11-04 | Yokogawa Electric Corp | 多点切換え型測定装置 |
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CN112887020A (zh) * | 2021-02-24 | 2021-06-01 | 武汉光迅科技股份有限公司 | 光模块的环形通量测试设备、方法及存储介质 |
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-
2008
- 2008-07-07 JP JP2008176609A patent/JP2010015921A/ja active Pending
Patent Citations (2)
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