CN112887020A - 光模块的环形通量测试设备、方法及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种光模块的环形通量测试设备、方法及存储介质；所述设备包括：控制模组，用于根据待测光纤通道产生控制信号；多路选择模组，包含：控制端、多个输入端和一个输出端；一个所述输入端与一个光纤通道连接；所述输出端与环通量检测设备连接；所述控制端与所述控制模组连接；其中，所述多路选择模组，用于在进行光纤通道测量时，根据所述控制端接收的控制信号，分时导通不同所述输入端和所述输出端的连接。

Description

光模块的环形通量测试设备、方法及存储介质

技术领域

本发明涉及光纤通信技术领域，尤其涉及一种光模块的环形通量测试设备、方法及存储介质。

背景技术

在大数据、云计算、物联网、移动互联网的迅速发展的今天，银行、税务、医院、电商、等各行各业都依赖数据中心的支撑，数据中心的流量与日俱增，在未来数据中心必定是今后社会信息系统的数据仓库和心脏。为应对庞大的数据传输需求，越来越多的企业选择建设多个数据中心。而数据中心的内部互联必然离不开光模块，多模光纤和以垂直腔面发射激光器(VCSEL)为核心器件的光模块得到了广泛应用。和单模传输方案相比，多模方案采用低成本，低功耗的激光器，实现了光纤与激光器之间快速高效的耦合。多模光纤可实现比铜缆更高的传输速率或更远的传输距离，比单模光纤系统更低的成本，所以多模光模块也在数据中心得到了广泛的运用。

多模光模块性能的指标中对环形通量有明确要求，在多模光通信系统中，以VCSEL为光源、以多模光纤为光导介质居多。可以通过模拟计算，得出VCSEL和多模光导介质的带宽关系，用于确定和改善多模光导介质的性能。VCSEL的环形通量(Encircled Flux，EF)用于定义VCSEL发射传输的光特征。VCSEL激射的光斑为圆形光斑，其沿多模光纤传播的近场光强呈圆形状分布，光纤纤芯中心的光强接近等于零。对于一般10Gbps速率的通信系统，小于30％的光能量分布在9um直径的圆圈内，大于86％的光能量分布在38um直接的圆圈内。

受限于EF测试仪一次只能分析一个光斑测试EF值，同一光敏面无法同时收集、分析、矫正多个光斑测试EF值，导致每次每台设备只能测试一个通道EF值。

发明内容

本发明实施例提供一种光模块的环形通量测试设备、方法及存储介质。

本发明实施例的技术方案是这样实现的：

第一方面，本发明实施例提供一种光模块的环形通量测试设备，包括：

控制模组，用于根据待测光纤通道产生控制信号；

多路选择模组，包含：控制端、多个输入端和一个输出端；一个所述输入端与一个光纤通道连接；所述输出端与环通量检测设备连接；所述控制端与所述控制模组连接；

其中，所述多路选择模组，用于在进行光纤通道测量时，根据所述控制端接收的控制信号，分时导通不同所述输入端和所述输出端的连接。

上述方案中，所述控制模组还用于：

接收测量指令；其中，所述测量指令指示：开启测量，和/或所述待测光纤通道的测量顺序；所述开启测量用于指示所述控制模组开始产生控制信号；所述测量顺序用于指示所述控制模组根据所述测量顺序产生与所述测量顺序对应的控制信号。

上述方案中，所述控制模组，具体用于：

确定所述待测光纤通道的发光顺序和/或确定所述待测光纤通道的发光间隔时长；其中，所述发光间隔时长用于指示：所述控制模组控制所述待测光纤通道发光与控制基于所述待测光纤通道的下一个待测光纤通道发光的间隔时长；

根据所述发光顺序和/或所述发光间隔时长，确定用于控制所述待测光纤通道所连接的光源工作的控制信号，其中一个所述光纤通道连接有一个所述光源。上述方案中，所述控制模组具体用于：按照所述发光顺序，基于所述待测光纤通道的第n所述待测光纤通道的发光开始时间点、以及所述发光间隔时长，确定所述第n+1所述待测光纤通道的发光时间点到达时，控制所述光纤通道对应的光源工作，其中，n为自然数。

上述方案中，所述控制模组还具体用于：当所述光源工作持续时长大于等于所述发光间隔时长时，控制所述光源停止工作。

上述方案中，所述控制模组，还具体用于：

根据所待测述光纤通道发光间隔时长和发光顺序，确定所述多路选择模组的每个所述输入端和所述输出端的连接处于导通状态的导通顺序和导通时长；

根据所述导通顺序和导通时长，确定用于控制所述多路选择器的控制信号；

所述多路选择模组，具体用于按照所述导通顺序和所述导通时长，依次导通待测光纤通道对应的输入端和所述输出端的连接。

第二方面，本发明实施例还提供一种光模块的环形通量测试方法，包括：

根据待测光纤通道，确定控制信号；

根据所述控制信号，分时导通不同的光纤通道与环通量检测设备的连接。

上述方案中，接收测量指令，启动所述待测光纤通道的测量。

上述方案中，所述根据待测光纤通道，确定控制信号，包括：

根据测试指令携带的测量顺序，依次产生测量对应所述待测光纤通道的所述控制信号。

上述方案中，所述根据待测光纤通道，确定控制信号，包括：

根据待测光纤通道，确定光纤通道的发光顺序和/或确定光纤通道的发光间隔时长；其中，所述发光间隔时长指示：所述待测光纤开始发光的时间点与基于所述待测光纤通道的下一个待测光纤通道开始发光的时间点之间的间隔时长；

根据所述发光顺序和所述发光间隔时长，确定用于控制所述待测光纤通道连接的光源工作的控制信号；其中一个所待测述光纤通道连接有一个所述光源。

上述方案中，根据所述发光顺序和所述发光间隔时长，控制所述待测光纤通道连接的所述光源工作，包括：

按照所述发光顺序，基于所述待测光纤通道的第n所述待测光纤通道的发光开始时间点、以及所述发光间隔时长，确定所述第n+1所述待测光纤通道的发光时间点到达时，控制所述光纤通道对应的光源工作，其中，n为自然数。

上述方案中，所述方法还包括：当所述光源工作持续时长大于等于所述发光间隔时长时，控制所述光源停止工作。

上述方案中，所述根据待测光纤通道，确定控制信号，还包括：

根据所述发光间隔时长和所述发光顺序，确定所述控制信号；其中所述控制信号指示：每个所述待测光纤通道与环通量检测设备的连接处于导通状态的导通时长和导通顺序；

所述根据所述控制信号，分时导通不同的光纤通道与环通量检测设备的连接，包括：

按照所述导通顺序和所述导通时长，依次分时导通对应的光纤通道与环通量检测设备的连接。

第三方面，本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，存储有可执行指令，所述可执行指令被处理器执行时，实现本发明实施例提供的一种光模块的环形通量测试方法。

本发明实施例在光模块测试时，采用具有多个输入端、一个输出端和控制端的多路选择模组，一个所述输入端与一个光纤通道连接，输出端与环通量检测设备连接，使所述多路选择模组的控制端接收根据光模块的待测光纤通道产生的控制信号，分时导通不同所述输入端和所述输出端的连接。本发明实施例通过根据待测光纤通道产生控制信号，分时导通不同的光纤通道与环通量检测设备的连接，一方面、实现了在测试多个光纤通道时，环通量检测设备检测的光纤通道的自动切换，简化了用户操作。另一方面、实现一台环通量检测设备一次检测多个光纤通道的环形通量值，提高了光模块的环形通量的检测效率。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种光模块的环形通量测试设备的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的一种多通道光路连接器件的工作原理示意图；

图3是本发明实施例提供的一种光模块的环形通量测试方法的流程示意图；

图4是本发明实施例提供的一种传统的光纤通道的环形通量测试的原理示意图；

图5是本发明实施例提供的一种光模块的环形通量测试方法的原理示意图；

图6是本发明实施例提供的一种光模块的环形通量测试方法的流程示意图；

图7是本发明实施例提供的一种元器件的结构示意图；

图8是本发明实施例提供的另一种元器件的结构示意图；

图9是本发明实施例提供的另一种元器件的结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述，所描述的实施例不应视为对本发明的限制，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

本领域的技术人员能够理解，尽管以下的说明涉及到有关本发明的实施例的很多技术细节，但这仅为用来说明本发明的原理的示例、而不意味着任何限制。本发明能够适用于不同于以下例举的技术细节之外的场合，只要它们不背离本发明的原理和精神即可。

另外，为了避免使本说明书的描述限于冗繁，在本说明书中的描述中，可能对可在现有技术资料中获得的部分技术细节进行了省略、简化、变通等处理，这对于本领域的技术人员来说是可以理解的，并且这不会影响本说明书的公开充分性。

在以下的描述中，涉及到“一些实施例”，其描述了所有可能实施例的子集，但是可以理解,“一些实施例”可以是所有可能实施例的相同子集或不同子集，并且可以在不冲突的情况下相互结合。

在以下的描述中，所涉及的术语“第一\第二\第三”仅仅是是区别类似的对象，不代表针对对象的特定排序，可以理解地，“第一\第二\第三”在允许的情况下可以互换特定的顺序或先后次序，以使这里描述的本发明实施例能够以除了在这里图示或描述的以外的顺序实施。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的术语只是为了描述本发明实施例的目的，不是旨在限制本发明。

下面说明本发明实施例提供的一种光模块的环形通量测试设备100，参见图1，图1是本发明实施例提供的一种光模块的环形通量测试设备100的结构示意图，本发明实施例提供的一种光模块的环形通量测试设备100包括：

控制模组110，用于根据待测光纤通道产生控制信号；

多路选择模组120，包含：控制端、多个输入端和一个输出端；一个所述输入端与一个光纤通道连接；所述输出端与环通量检测设备连接；所述控制端与所述控制模组连接；

其中，所述多路选择模组120，用于在进行光纤通道测量时，根据所述控制端接收的控制信号，分时导通不同所述输入端和所述输出端的连接。

光纤通道(Fibre Channel，FC)是一种高吞吐量、低延时、包交换及面向连接的网络互联技术(光纤通道通常的运行速率有2Gbps、4Gbps、8Gbps和16Gbps)。光纤通道的信号在光纤上运行，也能在光纤之外的双绞线上运行。

光模块(optical module)由光电子器件、功能电路和光接口等组成。光模块的作用就是发送端把电信号转换成光信号，通过光纤传送后，接收端再把光信号转换成电信号。光模块能兼容至少一个光纤通道，产生的光信号通过光纤通道传输到其他电子设备。

在一实施例中，所述多路选择模组120为多通道光路连接器件，图2为一种多通道光路连接器件的工作原理示意图。所述多通道光路连接器件包括但不限于：耦合器、光开关、光波导等。

在一实施例中，所述控制模组至少包括：处理器和通信模块。处理器用于根据待测光纤通道产生控制信号，通信模块用于发送处理器产生的控制信号。环通量检测设备用于根据接收的光信号检测出环形通量值。

所述通信模块可为无线通信模块或者有线通信模块。

在一实施例中，所述控制模组还包括：存储器。所述存储器用于存储处理器执行的控制指令，所述存储器包括但不限于：可编程只读存储器、随机存取存储器等。

在一实施例中，多路选择模组的输入端的数量不少于待测光模块的光纤通道数量，待测光模块的每个光纤通道有唯一的多路选择模组的输入端与该光纤通道相连。在进行环形通量的检测时，多路选择模组根据接收的控制信号所指示导通的输入端和输出端的连接，将该输入端对应的光纤通道与环通量检测设备的连接导通，从而将该光纤通道的光信号输送到环通量检测设备，使环通量检测设备在同一时刻只接收一个光纤通道的光信号。在另一实施例中，多路选择模组的输入端的数量与所述光模块的待测光纤通道数量相适配，一个光纤通道与一个输入端相连，通过分时导通不同的输入端与输出端的连接，实现对多条光路的自动选择。

本实施例，在光模块测试时，采用具有多个输入端、一个输出端和控制端的多路选择模组，一个所述输入端与一个光纤通道连接，输出端与环通量检测设备连接，使所述多路选择模组的控制端接收根据光模块的待测光纤通道产生控的制信号，分时导通不同所述输入端和所述输出端的连接。本发明实施例通过根据待测光纤通道，分时导通各个光纤通道与环通量检测设备的连接，一方面、实现了在测试多个光纤通道时，环通量检测设备检测的光纤通道的自动切换，简化了用户操作。另一方面、实现一台环通量检测设备一次检测多个光纤通道的环形通量值，提高了光模块的环形通量的检测效率。

在一些实施例中，所述控制模组还用于：

接收测量指令；其中，所述测量指令指示：开启测量，和/或所述待测光纤通道的测量顺序；所述开启测量用于指示所述控制模组开始产生控制信号；所述测量顺序用于指示所述控制模组根据所述测量顺序产生与所述测量顺序对应的控制信号。

在一实施例中，所述控制模组外接有控制面板，所述控制面板包括但不限于具有显示和触控功能的液晶显示屏。用户可对控制面板操作，产生测量指令。具体的，用户可根据测试需求，通过控制面板设置在进行光纤通道测量时，待测光纤通道的测量顺序，还可以通过控制面板设置需要进行测试的光纤通道，进行部分光纤通道的环形通量的测量。

在一实施例中，控制模组能接收远程设备发送的测量指令，所述远程设备包括但不限于电脑等具有控制和通信功能的电子设备。

在另一实施例中，所述光纤通道的测量顺序为保存在控制模组中的预设测量顺序。控制模组接收到测量指令后，根据控制模组中存储的预设测量顺序，根据预设测量顺序，产生光纤通道对应的控制信号，并按照预设测量顺序依次向多路选择模组发送对应的控制信号。

在一些实施例中，所述控制模组，具体用于：

确定所述待测光纤通道的发光顺序和/或确定所述待测光纤通道的发光间隔时长；其中，所述发光间隔时长用于指示：所述控制模组控制所述待测光纤通道发光与控制基于所述待测光纤通道的下一个待测光纤通道发光的间隔时长；

根据所述发光顺序和/或所述发光间隔时长，确定用于控制所述待测光纤通道所连接的光源工作的控制信号，其中一个所述光纤通道连接有一个所述光源。

在一实施例中，待测光纤通道的发光顺序是根据接收的测量指令中携带的光纤通道的测量顺序确定的。在另一实施例中，控制模组根据控制模组存储的预设测量顺序确定待测光纤通道的发光顺序。

在一实施例中，控制模组根据环通量测量检测设备的检测时长，确定发光间隔时长，可选的，所述发光间隔时长大于检测时长，从而确保在环通量检测设备在进行一个光纤通道测量时，不会接收到第二个光纤通道的光信号。

在一些实施例中，所述控制模组具体用于：按照所述发光顺序，基于所述待测光纤通道的第n所述待测光纤通道的发光开始时间点、以及所述发光间隔时长，确定所述第n+1所述待测光纤通道的发光时间点到达时，控制所述光纤通道对应的光源工作，其中，n为自然数。

在本实施例中，所述光源为能将电信号转换为光信号的电子设备，包括但不限于：VCSEL和发光二极管等。控制模组按照发光顺序，向光源的控制模组发送控制信号，控制与第一个待测光纤通道相连接的光源发光，使第一个待测光纤通道发光，经过一个发光间隔时长后，再控制与第二个待测光纤通道相连的光源发光，使第二个待测光纤通道发光，根据前述方法，按照发光顺序，依次使待测光纤通道发光。

在一些实施例中，所述控制模组还具体用于：当所述光源工作持续时长大于等于所述发光间隔时长时，控制所述光源停止工作。

在本实施例中，控制模组在光源发光时长大于发光间隔时长时，控制光源停止发光，从而确保在进行待测光纤通道环形通量的测量时，只有一个光纤通道发光，减少了其他发光光纤通道对正在测量的光纤通道的影响，提升环形通量测量的准确性。

在一些实施例中，所述控制模组，还具体用于：

根据所待测述光纤通道发光间隔时长和发光顺序，确定所述多路选择模组的每个所述输入端和所述输出端的连接处于导通状态的导通顺序和导通时长；

根据所述导通顺序和导通时长，确定用于控制所述多路选择器的控制信号；

所述多路选择模组，具体用于按照所述导通顺序和所述导通时长，依次导通待测光纤通道对应的输入端和所述输出端的连接。

在一实施例中，多路选择模组的导通顺序是根据光纤通道发光顺序确定的，且导通时长也与所述发光间隔时长保持一致，从而实现在光纤通道发光的同时导通该光纤通道对应的输入端和输出端的连接。

在一实施例中，多路选择模组的导通时长，需要结合环通量检测设备的测量速度和光纤通道发光间隔时长一起进行调整。考虑在实际测量过程中，多路选择模组切换连接通道的速率和环通量检测设备的测量速度，对导通时长和发光间隔时长进行调整，确定导通时长和发光间隔时长，使测试得到所有待测光纤通道的环形通量值的时间最短。

本实施例提供了一种光模块的环形通量测试设备，第一、通过根据待测光纤通道，分时导通各个光纤通道与环通量检测设备的连接，一方面、实现了在测试多个光纤通道时，环通量检测设备检测的光纤通道的自动切换，简化了用户操作。另一方面、实现一台环通量检测设备一次检测多个光纤通道的环形通量值，提高了光模块的环形通量的检测效率。第二、通过调整和设置光纤通道的发光间隔时长、各个光路与环通量检测设备的导通时长，在确保环通量检测设备正常检测的同时，提升了环通量检测设备的利用率，提升了多个光纤通道的环形通量的检测效率。

下面继续说明本发明实施例提供的一种光模块的环形通量测试方法。参见图3，图3是本发明实施例提供的一种光模块的环形通量测试方法的流程示意图。本发明实施例提供的一种光模块的环形通量测试方法，可以应用于上述实施例提供的光模块的环形通量测试设备，包括：

步骤310：根据待测光纤通道，确定控制信号；

步骤320：根据所述控制信号，分时导通不同的光纤通道与环通量检测设备的连接。

本实施例中，所述控制信号用于指示与环通量检测设备导通的光纤通道。控制信号控制同一时刻只有一条光纤通道与环通量检测设备的连接导通。本实施例，根据待测光纤通道，确定控制信号，分时导通各个光纤通道与环通量检测设备的连接，一方面、实现了在测试多个光纤通道时，环通量检测设备检测的光纤通道的自动切换，简化了用户操作。另一方面、实现一台环通量检测设备一次检测多个光纤通道的环形通量值，提高了光模块的环形通量的检测效率。

在一些实施例中，所述方法还包括：

接收测量指令，启动所述待测光纤通道的测量。

接收测量指令，启动所述待测光纤的测量包括：接收到测量指令后，根据预设测量顺序，依次确定与光纤通道对应的用于导通光纤通道与环通量检测设备的连接的控制信号。

在一些实施例中，所述根据待测光纤通道，确定控制信号，包括：

根据测量指令携带的测量顺序，依次产生测试对应所述待测光纤通道的所述控制信号。

在一实施例中，所述测量指令中携带的测量顺序为用户根据测试需求，确定的光纤通道的测量顺序。

在一些实施例中，根据待测光纤通道，确定控制信号，包括：根据测量指令携带的待测通道信息，启动对所述待测光纤通道的测量。其中所述待测通道信息指示在此次环形通量测量过程中，需要测量的光纤通道。

在一些实施例中，所述根据待测光纤通道，确定控制信号，包括：

根据待测光纤通道，确定光纤通道的发光顺序和/或确定光纤通道的发光间隔时长；其中，所述发光间隔时长指示：所述待测光纤开始发光的时间点与基于所述待测光纤通道的下一个待测光纤通道开始发光的时间点之间的间隔时长；

根据所述发光顺序和所述发光间隔时长，确定用于控制所述待测光纤通道连接的光源工作的控制信号；其中一个所待测述光纤通道连接有一个所述光源。

在一实施例中，待测光纤通道的发光顺序是根据接收的测量指令中携带的光纤通道的测量顺序确定的。在另一实施例中，待测光纤通道的发光顺序是根据预设测量顺序确定的。

在一实施例中，控制模组根据环通量检测设备的检测时长，确定发光间隔时长，可选的，所述发光间隔时长大于等于检测时长，从而确保在环通量检测设备在进行一个光纤通道测量时，不会接收到第二个光纤通道的光信号。

所述光源为能将电信号转换为光信号的电子设备，包括但不限于：VCSEL和发光二极管等。

在一些实施例中，根据所述发光顺序和所述发光间隔时长，控制所述待测光纤通道连接的所述光源工作，包括：

按照所述发光顺序，基于所述待测光纤通道的第n所述待测光纤通道的发光开始时间点、以及所述发光间隔时长，确定所述第n+1所述待测光纤通道的发光时间点到达时，控制所述光纤通道对应的光源工作，其中，n为自然数。

具体的，按照发光顺序，向光源的控制模组发送控制信号，控制与第一个光纤通道相连接的光源发光，使第一个光纤通道发光，经过一个发光间隔时长后，再控制与第二个光纤通道相连的光源发光，使第二个光纤通道发光，根据前述方法，按照发光顺序和发光间隔时长，使所有待测光纤通道依次发光。

在一些实施例中，所述方法还包括：当所述光源工作持续时长大于等于所述发光间隔时长时，控制所述光源停止工作。

在本实施例中，在光源发光时长大于发光间隔时长时，控制光源停止发光，从而确保在进行待测光纤通道环形通量的测量时，只有一个光纤通道发光，减少了其他发光光纤通道对正在测量的光纤通道的影响，提升环形通量测量的准确性。

在一些实施例中，所述根据待测光纤通道，确定控制信号，还包括：

根据所述发光间隔时长和所述发光顺序，确定所述控制信号；其中所述控制信号指示：每个所述待测光纤通道与环通量检测设备的连接处于导通状态的导通时长和导通顺序；

所述根据所述控制信号，分时导通不同的光纤通道与环通量检测设备的连接，包括：

按照所述导通顺序和所述导通时长，依次分时导通对应的光纤通道与环通量检测设备的连接。

在一实施例中，所述导通顺序是根据光纤通道发光顺序确定的，且导通时长也与所述发光间隔时长保持一致，从而实现在光纤通道发光的同时导通该光纤通道对应的输入端和输出端的连接。

在一实施例中，所述导通时长，需要结合环通量检测设备的测量速度和光纤通道发光间隔时长一起进行调整。考虑实际切换导通通道的速率和环通量检测设备的测量速度，对导通时长和发光间隔时长进行调整，确定导通时长和发光间隔时长，使测试得到所有待测光纤通道的环形通量值的时间最短。

本实施例提供了一种光模块的环形通量测试方法，第一、通过根据待测光纤通道，分时导通不同的光纤通道与环通量检测设备的连接，一方面、实现了在测试多个光纤通道时，环通量检测设备检测的光纤通道的自动切换，简化了用户操作。另一方面、实现一台环通量检测设备一次检测多个光纤通道的环形通量值，提高了光模块的环形通量的检测效率。第二、通过调整和设置发光间隔时长、导通时长，在确保环通量检测设备正常检测的同时，提升了环通量检测设备的利用率，提升了多个光纤通道的环形通量的检测效率。

结合本发明上述实施例，下面将说明本发明实施例在一个实际的应用场景中的示例性应用。

现在对于40G光模块及以上就已经有4通道了，400G的光模块更是有8通道，要求测试每个通道的环通量，所以随着通道数的增多，如果还是按照原来的测试方式，单通道测试，测试4～8个通道测试时间会增加，切换光纤通道也十分复杂。

如图4所示，传统产品仅一个通道发光，光模块加电，电源芯片控制VCS EL发光，通过光纤连接到环通量仪上，测试EF值。本示例的目的就是克服现有技术的缺点和不足，一次只能测一个通道，多通道需要切换光纤通道一次次的测试，从而设计了一种多通道环形通量测试方案，实现同时测量多个通道的环形通量值。

本示例提供了一种光模块的环形通量测试方法，应用于具有8个通道的高速光模块的环形通量测试场景。图5为本示例提供的方法的原理示意图，高速光模光模块多个通道均要测试EF值，通道依次发光经过元器件依次输送到环通量仪上，软件读出EF值。所述软件可内置于用于控制光纤通道切换的控制设备，所述控制设备包括但不限于电脑、手机等。其中所述元器件为多通道光路连接器件，可以为耦合器、光开关、光波导等等。

如图6所示，所述方法包括：

步骤610：确定待测光纤通道的测试顺序。

具体的，用户可通过软件操作设置光纤通道的测试顺序，确定光纤通道的测试顺序。当用户不进行测试顺序的设置操作时，则直接采用软件预设的测试顺序进行光纤通道的测试。

步骤620：确定光纤通道的发光顺序和发光间隔时长以及光纤通道的切换顺序和切换时长。

具体的，控制光模块的8路VCSEL芯片间隔t1依次发光，当VCSEL1发光时，其他7个VCSEL均不发光，VCSEL1发出的光经过光纤通道Ch1到达元器件，元器件经过时间t2，将光纤通道Ch1的光输送到环通量仪，经过t3测试输出环通量值EF1；VCSEL2在VCSEL1发光后，经过时间t1开始发光，V CSEL2发出的光经过光纤通道Ch2到达元器件，元器件经过时间t2，将光纤通道Ch2的光输送到环通量仪，经过环通量仪t3测试输出环通量值EF3，根据上述方式，依次VCSEL1至VCSEL8的光输送到环通量仪。将环通量仪依次测出EF1，EF2，EF3，EF4，EF5，EF6，EF7，EF8值，根据t1、t2、t3时间，通过软件优化控制时间t1(发光时长)、t2(切换时长)、t3(测量时长)，实现同时测量8个通道的EF值，提升多通道环通量值测量的效率。

步骤630：开始测试，根据确定的发光间隔时间、发光顺序、切换时间和切换顺序，控制光模块的电源芯片依次发光，通过与电源芯片相连的光纤通道经过元器件依次输送到环通量仪。

具体的，光模块上电后，所有光模块的光纤通道均发光，点击软件开始EF测试，控制光模块电源芯片点亮VCSEL1，关闭其他VCSEL发光，同时控制元器件将光纤通道CH1的光输送到环通量仪，测试EF1，按照VCSEL1至VCSE L8的顺序依次点亮电源芯片关闭其他电源芯片，同时控制元器件将该光纤通道的光输送到环通量仪，测试输出EF。

示例的，如图7所示，当元器件为耦合器时，在本示例中VCSEL1发出的光通过CH1到达CH-X进入环通量测试，测试EF1。软件控制电源芯片依次控制VCSEL发光，在将VCSEL的光依次连到CH-X进行对应EF-X光的测试，得到对应的EF-X值。光纤耦合器用于实现光信号分路/合路，或用于延长光纤链路的元件。

如图8所示，当元器件为光开关时，软件控制电源芯片使光模块中的各个VCSEL芯片依次发光，同时在VCSEL芯片发光的同时切换光开关连接，使该发光VCSEL的光连接到CH-X输入环通量仪，测试对应的EF-X(环形通量)值。

如图9所示，当元器件为AWG芯片时，软件控制电源芯片使VCSEL芯片依次发光，光经过AWG芯片分时序经过CH-X输入环通量仪，测试得到对应的EF-X值。

步骤640：环通量仪依次输出光模块各个光纤通道的EF值。

本示例通过采用软件控制多通道光路连接器件，自动切换与环通量仪连接的光纤通道，将光模块中的各个通道输出的光分时依次输入到环通量仪，使环通量仪依次输出光模块通道对应的环形通量值，一方面，在光模块测试过程中，实现多个VCSEL芯片分时序工作，光通信链路分时序连接到环通量设备，实现实现一台环通量测试仪同时测试多个光纤通道，克服了现有技术一次只能测一个通道，多通道需要切换光纤通道一次次的测试的缺点和不足，第二方面，通过根据环通量仪的测量时长，调整光纤通道发光间隔时长和多通道光路连接器件切换连通的切换时长，使环通量仪能实现光模块各个通道对应的环形通量值的同时输出，提升了多通道环形通量测试的效率。

在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，如：多个单元或组件可以结合，或可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直接耦合、或通信连接可以是通过一些接口，设备或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性的、机械的或其它形式的。上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是、或也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，也可以分布到多个网络单元上；可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本实施例方案的目的。另外，在本发明各实施例中的各功能单元可以全部集成在一个处理单元中，也可以是各单元分别单独作为一个单元，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中；上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。

本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，存储有可执行指令，所述可执行指令被处理器执行时，实现本发明上述实施例提供的光模块的环形通量测试方法。

在一些实施例中，计算机可读存储介质可以是FRAM(随机存取存储器，Ferroelectric RAM)、ROM(Read Only Memory，只读存储器)、PROM(Pro grammable Read-Only Memory，可编程只读存储器)、EPROM(Erasable Prog rammable Read-Only Memory，可擦除可编程只读存储器)、EEPROM(Electri cally Erasable Programmable Read-OnlyMemory，电可擦除可编程只读存储器)、闪存、磁表面存储器、光盘、或CD-ROM(Compact DiscRead-Only Me mory，只读光盘)等存储器；也可以是包括上述存储器之一或任意组合的各种设备。计算机可以是包括智能终端和服务器在内的各种计算设备。

在一些实施例中，可执行指令可以采用程序、软件、软件模块、脚本或代码的形式，按任意形式的编程语言(包括编译或解释语言，或者声明性或过程性语言)来编写，并且其可按任意形式部署，包括被部署为独立的程序或者被部署为模块、组件、子例程或者适合在计算环境中使用的其它单元。

作为示例，可执行指令可以但不一定对应于文件系统中的文件，可以可被存储在保存其它程序或数据的文件的一部分，例如，存储在超文本标记语言(H TML，Hyper TextMarkup Language)文档中的一个或多个脚本中，存储在专用于所讨论的程序的单个文件中，或者，存储在多个协同文件(例如，存储一个或多个模块、子程序或代码部分的文件)中。

作为示例，可执行指令可被部署为在一个计算设备上执行，或者在位于一个地点的多个计算设备上执行，又或者，在分布在多个地点且通过通信网络互连的多个计算设备上执行。

以上所述，仅为本发明的实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和范围之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种光模块的环形通量测试设备，其特征在于，所述设备包括：

控制模组，用于根据待测光纤通道产生控制信号；

多路选择模组，包含：控制端、多个输入端和一个输出端；一个所述输入端与一个光纤通道连接；所述输出端与环通量检测设备连接；所述控制端与所述控制模组连接；

其中，所述多路选择模组，用于在进行光纤通道测量时，根据所述控制端接收的控制信号，分时导通不同所述输入端和所述输出端的连接。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述控制模组还用于：

接收测量指令；其中，所述测量指令指示：开启测量，和/或所述待测光纤通道的测量顺序；所述开启测量用于指示所述控制模组开始产生控制信号；所述测量顺序用于指示所述控制模组根据所述测量顺序产生与所述测量顺序对应的控制信号。

3.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述控制模组，具体用于：确定所述待测光纤通道的发光顺序和/或确定所述待测光纤通道的发光间隔时长；其中，所述发光间隔时长用于指示：所述控制模组控制所述待测光纤通道发光与控制基于所述待测光纤通道的下一个待测光纤通道发光的间隔时长；

根据所述发光顺序和/或所述发光间隔时长，确定用于控制所述待测光纤通道所连接的光源工作的控制信号，其中一个所述光纤通道连接有一个所述光源。

4.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述控制模组，还具体用于：

根据所待测述光纤通道发光间隔时长和发光顺序，确定所述多路选择模组的每个所述输入端和所述输出端的连接处于导通状态的导通顺序和导通时长；

根据所述导通顺序和导通时长，确定用于控制所述多路选择器的控制信号；

所述多路选择模组，具体用于按照所述导通顺序和所述导通时长，依次导通待测光纤通道对应的输入端和所述输出端的连接。

5.一种光模块的环形通量测试方法，其特征在于，包括：

根据待测光纤通道，确定控制信号；

根据所述控制信号，分时导通不同的光纤通道与环通量检测设备的连接。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

接收测量指令，启动所述待测光纤通道的测量。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据待测光纤通道，确定控制信号，包括：

根据测试指令携带的测量顺序，依次产生测量对应所述待测光纤通道的所述控制信号。

8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据待测光纤通道，确定控制信号，包括：

根据待测光纤通道，确定光纤通道的发光顺序和/或确定光纤通道的发光间隔时长；其中，所述发光间隔时长指示：所述待测光纤开始发光的时间点与基于所述待测光纤通道的下一个待测光纤通道开始发光的时间点之间的间隔时长；

根据所述发光顺序和所述发光间隔时长，确定用于控制所述待测光纤通道连接的光源工作的控制信号；其中一个所待测述光纤通道连接有一个所述光源。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述根据待测光纤通道，确定控制信号，还包括：

根据所述发光间隔时长和所述发光顺序，确定所述控制信号；其中所述控制信号指示：每个所述待测光纤通道与环通量检测设备的连接处于导通状态的导通时长和导通顺序；

所述根据所述控制信号，分时导通不同的光纤通道与环通量检测设备的连接，包括：

按照所述导通顺序和所述导通时长，依次分时导通对应的光纤通道与环通量检测设备的连接。

10.一种计算机可读存储介质，存储有可执行指令，所述可执行指令被处理器执行时，实现权利要求5-9任一项所述的方法。

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