CN217063744U - 一种光器件串扰测试一体设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种光器件串扰测试一体设备，包括控制板、光源模块、光衰减器、波分、光开关、LIV测试模块及误码仪；所述控制板用于接收上位机的控制信号，并下发给机内各模块；所述光源模块用于输出接收光信号和串扰光信号；光衰减器用于衰减接收光信号的强度，并输送给光开关；所述光开关用于接收串扰光信号和衰减后的接收光信号，并将其中一种光信号输送至波分；波分用于接收来自光开关的光信号，并将光信号输送至被测器件，还可以用于接收来自被测器件的光信号，并将光信号输送至LIV测试模块；优点在于：将发射和接收测试的设备一体化，解决了发射和接收分开测试的问题，利于产线布置和测试环境优化，同时加测了串扰光源的测试，堵住了漏洞。
Description
技术领域
本实用新型涉及光模块测试领域，尤其涉及一种光器件串扰测试一体设备。
背景技术
现有的ONU BOSA测试存在以下缺陷：
1. 发射测试和接收测试需要分成两步，即先给器件发射端上电，测试光功率，再进行接收端的灵敏度测试，两步发的测试方式使得测试设备分散，接线比较乱，浪费人工，如图1所示为现有ONU 测试设备的接收测试框图，如图2所示为现有ONU 测试设备的发射测试框图；
2. 市面上PON的常规组网是使用GPON ONU和GPON OLT进行互联互通，现在为了提高网速和设备的集成度，OLT端采用了Combo PON的光模块，Combo PON OLT光模块集成了GPON OLT的1490nm光和XGSPON OLT的1577nm光，比如GPON ONU BOSA的光隔离度不够，在现场使用中有1577nm的光进入GPON ONU，那么GPON ONU的接收端就会收到1490nm和1577nm两种光，两种光相互之间会有串扰，造成接收端不能正常工作，若是在ONU BOSA测试时能进行相应的串扰测试，选用光隔离度符合条件的光器件，就可防止在使用中出现上述串扰问题，但现有的ONU BOSA测试并没有进行串扰光源的测试。
基于此，本案由此提出。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种光器件串扰测试一体设备，以实现发射和接收的一体化测试，同时增加串扰光源的测试。
为了实现上述目的，本实用新型的技术方案如下：
一种光器件串扰测试一体设备，包括控制板、光源模块、光衰减器、波分、光开关、LIV测试模块及误码仪；
所述控制板用于接收上位机的控制信号，并将控制信号输送至光源模块、光衰减器、光开关、LIV测试模块、误码仪；
所述光源模块内设有接收光源和串扰光源，用于输出接收光信号和串扰光信号；
所述光衰减器用于衰减接收光信号的强度，并输送给光开关；
所述光开关用于接收串扰光信号和衰减后的接收光信号，并将其中一种光信号输送至波分；
所述波分用于接收来自光开关的光信号，并将光信号输送至被测器件，还可以用于接收来自被测器件的光信号，并将光信号输送至LIV测试模块；
所述LIV测试模块用于被测器件的发射测试；
所述误码仪用于被测器件的接收测试。
进一步的，所述光开关采用1X2光开关。
本实用新型的优点在于：将发射和接收测试的设备一体化，解决了发射和接收分开测试的问题，利于产线布置和测试环境优化，同时加测了串扰光源的测试，堵住了漏洞。
附图说明
图1为现有ONU 测试设备的接收测试框图；
图2为现有ONU 测试设备的发射测试框图；
图3为本实用新型在实施例中的构造框图。
具体实施方式
以下结合实施例对本发明作进一步详细描述。
本实施例提出一种光器件串扰测试一体设备，可参考图3，包括控制板、光源板、光衰减器、波分、光开关、LIV测试板及误码仪，其中控制板用于接收上位机的控制信号，并将控制信号输送至光源模块、光衰减器、光开关、LIV测试板、误码仪；所述光源模块内设有接收光源和串扰光源，用于输出接收光信号和串扰光信号；所述光衰减器用于衰减接收光信号的强度，并输送给光开关；所述光开关采用1X2光开关，用于接收串扰光信号和衰减后的接收光信号，并将其中一种光信号输送至波分；所述波分用于接收来自光开关的光信号，并将光信号输送至被测器件，还可以用于接收来自被测器件的光信号，并将光信号输送至LIV测试板；所述LIV测试板用于给光器件的发射端上电，并采集光器件发射端的前端电压和光功率；所述误码仪用于采集来自光器件接收端的电信号，并生成光器件接收端的灵敏度信息。
光器件测试时，将电脑与一体机的控制板连接，用于下发控制信号；将待测器件的接收管脚插入测试板，测试板与一体机的误码仪通过接收信号线连接，待测器件的发射管脚与LIV测试板之间通过发射测试线连接，待测器件的光线端与一体机的波分之间通过测试跳线连接，测试板与光源板之间通过APD电压线连接，以此实现器件接收和发射的同步测试。通过控制光开关，向待测器件输入串扰光源，还可以测试器件接收端的隔离度，实现串扰测试。
上述实施例仅用于解释说明本发明的构思，而非对本发明权利保护的限定，凡利用此构思对本发明进行非实质性的改动，均应落入本发明的保护范围。
Claims (2)
1.一种光器件串扰测试一体设备，其特征在于：包括控制板、光源模块、光衰减器、波分、光开关、LIV测试模块及误码仪；
所述控制板用于接收上位机的控制信号，并将控制信号输送至光源模块、光衰减器、光开关、LIV测试模块、误码仪；
所述光源模块内设有接收光源和串扰光源，用于输出接收光信号和串扰光信号；
所述光衰减器用于衰减接收光信号的强度，并输送给光开关；
所述光开关用于接收串扰光信号和衰减后的接收光信号，并将其中一种光信号输送至波分；
所述波分用于接收来自光开关的光信号，并将光信号输送至被测器件，还可以用于接收来自被测器件的光信号，并将光信号输送至LIV测试模块；
所述LIV测试模块用于被测器件的发射测试；
所述误码仪用于被测器件的接收测试。
2.如权利要求1所述的一种光器件串扰测试一体设备，其特征在于：所述光开关采用1X2光开关。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202220819019.9U CN217063744U (zh) | 2022-04-11 | 2022-04-11 | 一种光器件串扰测试一体设备 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202220819019.9U CN217063744U (zh) | 2022-04-11 | 2022-04-11 | 一种光器件串扰测试一体设备 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN217063744U true CN217063744U (zh) | 2022-07-26 |
Family
ID=82471199
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202220819019.9U Active CN217063744U (zh) | 2022-04-11 | 2022-04-11 | 一种光器件串扰测试一体设备 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN217063744U (zh) |
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2022
- 2022-04-11 CN CN202220819019.9U patent/CN217063744U/zh active Active
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