CN210867698U - 四通道光模块并行测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及光通讯领域，具体涉及一种低成本的四通道光模块并行测试系统，包括DUT测试板、待测四通道光模块、接收端测试单元；所述DUT测试板具有第一处理器，待测四通道光模块与第一处理器电连接；所述接收端测试单元包括至少八个通道的电口误码仪、光源模块、多通道光衰减器、合波器，电口误码仪中的其中四个通道分别与第一处理器双工通信连接，光源模块包括第二处理器、至少四个激光器，电口误码仪中的另外四个通道分别通信第二处理器，第二处理器分别驱动各个TO激光器，各个TO激光器输出的激光分别经多通道光衰减器的各个通道后送入至合波器，合波器的输出端经光纤连接至待测四通道光模块的接收端。
Description
技术领域
本实用新型涉及光通讯领域，具体涉及一种四通道光模块并行测试系统。
背景技术
现有的光模块测试方案为提高测试速率，研发有并行测试系统，常见如文献CN201810322741所示，一般一次性可对四个单通道光模块进行并行测试，测试时，四个光模块插接在DUT测试板的四个金手指插座(即工位)上，然后分发送端测试(Transmitter)和接收端测试(Receiver)两部分进行测试。
发送端测试中，DUT测试板驱动四个光模块的发送端发出激光，四个激光分别经光纤接入光分路器，由光分路器择一输出至示波器(DCA)，用示波器(DCA)实现光眼图、OMA、消光比等发送端测试。
接收端测试中，用四个光口误码仪(BERT)分别输出激光至四个光模块的接收端，DUT测试板与各光口误码仪通信，实现接收灵敏度测试、RSSI(DDM监视光功率)、SD/SDA(告警/去告警)等收端测试。
上述并行测试系统的缺陷是：
(1)只针对单通道光模块，无法适用于四通道光模块测试；
(2)系统整体架构复杂，需采用多台光口误码仪及电口误码仪搭配使用，光纤线路众多，连接不便且成本高昂。
实用新型内容
本实用新型的目的在于针对现有技术中的不足，而提供一种低成本的四通道光模块并行测试系统。
本实用新型的目的通过以下技术方案实现：
提供一种四通道光模块并行测试系统，包括DUT测试板、待测四通道光模块、接收端测试单元；
所述DUT测试板具有第一处理器，待测四通道光模块与第一处理器电连接；
所述接收端测试单元包括至少八个通道的电口误码仪、光源模块、多通道光衰减器、合波器，电口误码仪中的其中四个通道分别与第一处理器双工通信连接，光源模块包括第二处理器、至少四个激光器，电口误码仪中的另外四个通道分别通信第二处理器，第二处理器分别驱动各个TO激光器，各个TO激光器输出的激光分别经多通道光衰减器的各个通道后送入至合波器，合波器的输出端经光纤连接至待测四通道光模块的接收端。
进一步地，所述发送端测试单元包括第一波分器、光分路器、示波器，待测四通道光模块的发送端经光纤连接至第一波分器，由第一波分器分出四路激光分别送入光分路器，光分路器的输出端连接至示波器。
进一步地，所述接收端测试单元还包括多芯光纤连接器、第二波分器，所述各个激光器的发送端分别连接多芯光纤连接器的各条输入线芯，多芯光纤连接器的输出线芯连接至第二波分器的输入端，第二波分器的输出端分出多路激光分别送入多通道光衰减器。
进一步地，所述激光器是TO激光器。
进一步地，DUT测试板具有适配于四通道光模块的金手指插座，待测四通道光模块插接于金手指插座上，经金手指插座与第一处理器电连接。
本实用新型的有益效果：
(1)适用于四通道光模块，能一次性并行测完四通道光模块的四个通道；
(2)系统只采用一台多通道电口误码仪，搭配光源模块实现四路激光输出同时兼顾通信，简化系统架构的复杂度，降低成本。
附图说明
利用附图对本实用新型作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本实用新型的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。
图1为实施例的四通道光模块并行测试系统的硬件架构示意图。
具体实施方式
结合以下实施例对本实用新型作进一步描述。
本实施例的四通道光模块并行测试系统的硬件架构如图1所示，包括DUT测试板1、待测四通道光模块2以及发送端测试单元、接收端测试单元。
发送端测试单元包括第一波分器31、光分路器32、示波器33，接收端测试单元包括八通道电口误码仪41、光源模块42、多芯光纤连接器43、第二波分器44、四通道光衰减器45、合波器46。
DUT测试板1由图中未示出的第一处理器和适配于四通道光模块的金手指插座组成，待测四通道光模块2插接于金手指插座上，经金手指插座与第一处理器电连接。
待测四通道光模块2的发送端经光纤连接至第一波分器31，由第一波分器31分出四路激光分别送入光分路器32，光分路器32的输出端连接至示波器33。
DUT测试板1上具有分别电连接第一处理器的四路串行通信接口11，分别与八通道电口误码仪41中的其中四个通道双工通信连接。
光源模块42包括第二处理器421、四个TO激光器422、四路串行通信接口423，八通道电口误码仪41的另外四个通道分别经四路串行通信接口423单向电连接至第二处理器421，从而单向输送信号给第二处理器421，第二处理器421分别驱动四个TO激光器422发射激光。
四个TO激光器422的四个发送端分别连接多芯光纤连接器43的四条输入线芯，多芯光纤连接器43的输出线芯连接至第二波分器44的输入端，由第二波分器44的输出端分出四路激光分别送入四通道光衰减器45，四通道光衰减器45的四个通道分配对应四个激光波长，将相应激光进行光衰减后，由四通道光衰减器45将四路激光分别送入合波器46的输入端，由合波器46的输出端经光纤连接至待测四通道光模块2的接收端。
发送端测试时，第一处理器驱动待测四通道光模块2的四个通道同步发出四路激光，待测四通道光模块2只有一个发送端(接收端亦然)，四路激光经该发送端同步输出至第一波分器31、光分路器32，由光分路器32择一输出至示波器，实现一次性并行测完四通道光模块2的四个通道的光眼图、OMA、消光比。
接收端测试时，八通道电口误码仪41向第二处理器421单向传输数字量，由第二处理器421根据数字量驱动四个TO激光器422发出四路波长的激光，四路激光经多芯光纤连接器43传输至第二波分器44分波，再输入到四通道光衰减器45，最后输出到合波器46合成一路光输入到待测四通道光模块2，待测四通道光模块2进行光电转换后输出数字量至第一处理器，第一处理器与八通道电口误码仪41进行通信，从而一次性并行测完四通道光模块2的四个通道的灵敏度、RSSI(DDM接收上报功率)SD/SDA(告警/去告警)。
本实施例的四通道光模块并行测试系统较之现有技术而言，具有如下优势：
(1)适用于四通道光模块，能一次性并行测完四通道光模块2的四个通道；
(2)系统只采用一台八通道电口误码仪，搭配光源模块实现四路激光输出同时兼顾通信，简化系统架构的复杂度，降低成本；
(3)四个TO激光器422与第二波分器44之间采用多芯光纤连接器43连接，简化光纤线路，提供测试连接的便捷性。
最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对本实用新型保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。
Claims (5)
1.四通道光模块并行测试系统，其特征在于：
包括DUT测试板、待测四通道光模块、接收端测试单元；
所述DUT测试板具有第一处理器，待测四通道光模块与第一处理器电连接；
所述接收端测试单元包括至少八个通道的电口误码仪、光源模块、多通道光衰减器、合波器，电口误码仪中的其中四个通道分别与第一处理器双工通信连接，光源模块包括第二处理器、至少四个激光器，电口误码仪中的另外四个通道分别通信第二处理器，第二处理器分别驱动各个TO激光器，各个TO激光器输出的激光分别经多通道光衰减器的各个通道后送入至合波器，合波器的输出端经光纤连接至待测四通道光模块的接收端。
2.根据权利要求1所述的四通道光模块并行测试系统，其特征在于：还包括发送端测试单元，所述发送端测试单元包括第一波分器、光分路器、示波器，待测四通道光模块的发送端经光纤连接至第一波分器，由第一波分器分出四路激光分别送入光分路器，光分路器的输出端连接至示波器。
3.根据权利要求1所述的四通道光模块并行测试系统，其特征在于：所述接收端测试单元还包括多芯光纤连接器、第二波分器，所述各个激光器的发送端分别连接多芯光纤连接器的各条输入线芯，多芯光纤连接器的输出线芯连接至第二波分器的输入端，第二波分器的输出端分出多路激光分别送入多通道光衰减器。
4.根据权利要求1或3所述的四通道光模块并行测试系统，其特征在于：所述激光器是TO激光器。
5.根据权利要求1所述的四通道光模块并行测试系统，其特征在于：DUT测试板具有适配于四通道光模块的金手指插座，待测四通道光模块插接于金手指插座上，经金手指插座与第一处理器电连接。
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| CN113411124A (zh) * | 2021-05-27 | 2021-09-17 | 深圳市埃尔法光电科技有限公司 | 一种光路耦合测试系统 |
| CN117375710A (zh) * | 2023-12-07 | 2024-01-09 | 成都光创联科技有限公司 | 接收光器件的性能测试方法 |
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