CN214154518U - 一种基于400g光模块的测试电路 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种基于400G光模块的测试电路，其中：包括，生产测试板；待测光模块；插接入所述生产测试板的第一预定位置处；校准光模块，插接入所述生产测试板的第二预定位置处，控制所述校准光模块工作于伪随机码产生和误码检测模式；其中第一预定位置设置于第二预定位置的背部；高速光纤线组，连接于所述待测光模块和所述校准光模块之间。

Description

一种基于400G光模块的测试电路

技术领域

本实用新型涉及光电测试领域，具体涉及一种基于400G光模块的测试电路。

背景技术

随着数据中心规模的扩大和升级，400G QSFP-DD/OSFP光模块越来越普及。400G光模块的生产测试需要专业的高端误码仪，如图1所示，将400G光模块待测模块插装于400G生产测试板上，然后通过16根射频线接收高端误码仪发送的差分信号，400G光模块接收该差分信号，同时对该差分信号做电光转化，转化完成后再通过16根射频线发送至高端误码仪，高端误码仪根据接收的信号做分析处理以得到一个测试结构。目前一台高端误码仪通常需要几十万到上百万元，同时测试板需要有32路昂贵的射频连接线，每路射频连接线需要近千元人民币，测试板的光模块连接器有一定的插拔次数寿命限制，生产测试过程中需要定期不断更换测试板，成本非常高。

实用新型内容

基于上述技术缺点，本实用新型提供一种基于400G光模块的测试电路，其中：包括，

生产测试板；

待测光模块；插接入所述生产测试板的第一预定位置处；

校准光模块，插接入所述生产测试板的第二预定位置处，控制所述校准光模块工作于伪随机码产生和误码检测模式；其中第一预定位置设置于第二预定位置的背部。

高速光纤线组，连接于所述待测光模块和所述校准光模块之间。

优选地，上述的基于400G光模块的测试电路，其中：所述校准光模块由一个标准的400G光模块形成。

优选地，上述的基于400G光模块的测试电路，其中：还包括电源单元，所述电源单元分别连接所述待测光模块和所述校准光模块。

优选地，上述的基于400G光模块的测试电路，其中：所述高速光纤线组包括8根8*50G的发射信号高速光纤线和8根8*50G的接收信号高速光纤线。

优选地，上述的基于400G光模块的测试电路，其中：所述校准光模块产生8路差分测试信号通过8根8*50G的发射信号高速光纤线发送至所述待测光模块。

优选地，上述的基于400G光模块的测试电路，其中：所述待测光模块产生8路差分测试信号通过8根8*50G的接收信号高速光纤线发送至所述校准光模块。

与现有技术相比，本实用新型的优点在于：

可以利用400G光模块内部的DSP芯片中集成的伪随机码发射和误码检测功能，将400G光模块设置为工作于伪随机码产生和误码检测模式以形成校准光模块，通过校准光模块替代高端误码仪，同时校准光模块和待测光模块均设置于同一个生产测试板上，采用16根高速光纤线组即可连接，无需32个昂贵的射频连接线，通过上述连接方式，实现对400G光模块的生产测试，既节省了高端误码仪、32个昂贵的射频连接线，也大大降低了测试板的更换成本。

附图说明

图1为现有技术中400G光模块的生产测试电路连接图；

图2为本实用新型中提供的一种基于400G光模块的测试电路连接图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图2所示，一种基于400G光模块的测试电路，其中：包括，

生产测试板1；所述生产测试板1为高速电路板，可支持50G高速信号再测试板传输，并保证良好的信号质量。

待测光模块2；插接入所述生产测试板1的第一预定位置处；其中第一预定位置设置于第二预定位置的背部。

校准光模块3，插接入所述生产测试板1的第二预定位置处，控制所述校准光模块3工作于伪随机码产生和误码检测模式；其中所述校准光模块3由一个标准的400G光模块形成。

高速光纤线组4，连接于所述待测光模块2和所述校准光模块3之间。

待测光模块2、或校准光模块3均为400G光模块，其中待测光模块2为尚未检测通过的400G光模块，而校准光模块3为已经经过检测、并通过检测的400G光模块。400G光模块中均内置有DSP芯片，通过将已经过检测校验通的400G光模块中的DSP芯片设置为伪随机码产生和误码监测模式即可形成校准光模块3。当校准光模块3工作于伪随机码和误码监测模式产生模式下，可形成8路差分8x50Gbps伪随机码信号，另可接收8路差分8x50Gbps伪随机码信号，并对接收的伪随机码信号做误码分析处理。

上述的基于400G光模块的测试电路，其中：还包括电源单元5，所述电源单元5分别连接所述待测光模块2和所述校准光模块3。所述电源单元5输出3.3V电压，所述待测光模块2、所述校准光模块3于3.3V电压信号的供给之下实现光电转换的功能。

作为进一步优选实施方案，上述的基于400G光模块的测试电路，其中：所述高速光纤线组4包括8根8*50G的发射信号高速光纤线和8根8*50G的接收信号高速光纤线。

作为进一步优选实施方案，上述的基于400G光模块的测试电路，其中：所述校准光模块3产生8路差分测试信号通过8根8*50G的发射信号高速光纤线发送至所述待测光模块2，所述待测光模块产生8路差分测试信号通过8根8*50G的接收信号高速光纤线发送至所述校准光模块。

上述的一种基于400G光模块的测试电路，其具体工作原理是：控制校准光模块3工作于伪随机码产生和误码检测模式；于校准光模块3工作于随机码产生和误码检测状态下，校准光模块3形成8路差分8x50Gbps伪随机码信号至所述待测光模块2，所述待测光模块2接收所述8路差分8x50Gbps伪随机码信号，并将所述8路差分8x50Gbps伪随机码信号通过电光转化，通过测试仪表对待测模块进行转化后的光信号做校准和测试，光信号通过光跳线环回到待测光模块2的接收端，待测光模块2会把光信号转换为电信号，做电光转化形成8路差分8x50Gbps伪随机码信号输出至所述校准光模块3，校准光模块3对接收的信号做误码分析以形成一校准结果输出，根据该校准结果确定待测光模块2的接收端性能。

可以利用400G光模块内部的DSP芯片中集成的伪随机码(PRBS)发射和误码检测功能，将400G光模块设置为工作于伪随机码产生和误码检测模式以形成校准光模块3，通过校准光模块3替代高端误码仪，同时校准光模块3和待测光模块2均设置于同一个生产测试板1上，采用16根高速光纤线组4即可连接，无需32个昂贵的射频连接线，通过上述连接方式，实现对400G光模块的生产测试，既节省了高端误码仪，也大大降低了测试板的更换成本。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种基于400G光模块的测试电路，其特征在于：包括，

生产测试板；

待测光模块；插接入所述生产测试板的第一预定位置处；

校准光模块，插接入所述生产测试板的第二预定位置处，控制所述校准光模块工作于伪随机码产生和误码检测模式；其中第一预定位置设置于第二预定位置的背部；

高速光纤线组，连接于所述待测光模块和所述校准光模块之间。

2.根据权利要求1所述的基于400G光模块的测试电路，其特征在于：所述校准光模块由一个标准的400G光模块形成。

3.根据权利要求1所述的基于400G光模块的测试电路，其特征在于：还包括电源单元，所述电源单元分别连接所述待测光模块和所述校准光模块。

4.根据权利要求1所述的基于400G光模块的测试电路，其特征在于：所述高速光纤线组包括8根8*50G的发射信号高速光纤线和8根8*50G的接收信号高速光纤线。

5.根据权利要求4所述的基于400G光模块的测试电路，其特征在于：所述校准光模块产生8路差分测试信号通过8根8*50G的发射信号高速光纤线发送至所述待测光模块。

6.根据权利要求4所述的基于400G光模块的测试电路，其特征在于：所述待测光模块产生8路差分测试信号通过8根8*50G的接收信号高速光纤线发送至所述校准光模块。

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