CN114401041A - 一种高速光模块简便测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种高速光模块简便测试方法，涉及高速光模块技术领域。本发明包括连接安装：将标准光模块、待测光模块分别插入到测试板上的插座内；测试发射性能：配置DSP芯片发出电信号，借助眼图仪完成对待测光模块发射性能的测试；测试接收性能：待测光模块连接8通道衰减器自发自收，配置DSP芯片进行高速测电回环，监控电自环回路的误码率，完成对待测光模块接收性能的测试。本发明通过标准光模块中DSP芯片高速测电自环功能完成高速电信号的产生和误码率监测，节省误码仪的成本，通过PCB走线，使高速电信号走线尽可能短，减少对高速电缆线使用的同时，提高测试的可靠性。
Description
技术领域
本发明属于高速光模块技术领域，特别是涉及一种高速光模块简便测试方法。
背景技术
高速光模块是应用于数据中心的主流光模块产品，随着人们生活娱乐工作方式的转变带来的网络流量的爆发式增长和各种云计算应用的普及，其背后更是需要强大的数据中心的支撑，而高速光模块的市场需求量也将会与日俱增，传统高速光模块测试需搭建专门的测试系统，测试系统主要包含：多通道高速误码仪、高速测试电缆、高速测试板、眼图仪等设备，比如要完成一个8通道光模块400G SR8测试系统的搭建，需准备两块测试板(一块用于发射端性能测试、一块用于接收端性能测试)、至少32根高速电缆线，将多通道高速误码仪上的8路电信号与测试板进行电气连接。
现有的高速光模块测试为了保证高速电信号的信号完整性，测试板尺寸通常做得尽可能小，因此电缆线都会布置的很紧密，相互之间间隙很小，当电缆线有一根性能不合格或与测试板接触不到位时，就会导致整个测试系统不能正常工作，此时要想更换那些不合格的电缆线将会相当困难，另外多通道高速误码仪、高速测试电缆价格都很昂贵，因此传统的高速光模块测试方法不仅结构复杂、可靠性不高，而且造价昂贵。
发明内容
本发明的目的在于提供一种高速光模块简便测试方法，解决了现有的高速光模块测试为了保证高速电信号的信号完整性，测试板尺寸通常做得尽可能小，因此电缆线都会布置的很紧密，相互之间间隙很小，当电缆线有一根性能不合格或与测试板接触不到位时，就会导致整个测试系统不能正常工作，此时要想更换那些不合格的电缆线将会相当困难，另外多通道高速误码仪、高速测试电缆价格都很昂贵，因此传统的高速光模块测试方法不仅结构复杂、可靠性不高，而且造价昂贵技术问题。
为达上述目的，本发明是通过以下技术方案实现的：
一种高速光模块简便测试方法，包括连接安装：将标准光模块、待测光模块分别插入到测试板上的插座内；
测试发射性能：配置DSP芯片发出电信号，借助眼图仪完成对待测光模块发射性能的测试；
测试接收性能：待测光模块连接8通道衰减器自发自收，配置DSP芯片进行高速测电回环，监控电自环回路的误码率，完成对待测光模块接收性能的测试。
可选的，DSP芯片型号为：IN015050-CD02的芯片，DSP芯片具有高速测电自环诊断功能。
可选的，标准光模块内装设有两颗DSP芯片，可提供8路电信号，标准光模块中的DSP芯片提供的8路高速电信号通过测试板的PCB内部走线直接与待测光模块的插座相连接，完成电信号传输，电信号传输过程中，DSP芯片发出的PRBS信号经过待测光模块后再返回到DSP芯片。
可选的，测试发射性能过程中，对标准光模块中的DSP芯片进行配置，使DSP芯片发出53Gbps速率的PRBS电信号，高速侧接收端能够将发射出的PRBS电信号进行接收并对误码率进行判断。
可选的，眼图仪与待测光模块通过光纤连接，插座位于测试板的一侧，测试板位于标准光模块、待测光模块之间。
本发明的实施例具有以下有益效果：
本发明的一个实施例通过标准光模块中DSP芯片高速测电自环功能完成高速电信号的产生和误码率监测，节省误码仪的成本，通过PCB走线，使高速电信号走线尽可能短，减少对高速电缆线使用的同时，提高测试的可靠性，通过测试板同时完成对待测光模块发射、接收性能的测试，提高测试装置的小巧轻便性，便于随身携带。
当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。
附图说明
构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1为本发明一实施例的流程示意图；
图2为本发明一实施例的高速光模块发射端简便测试结构示意图；
图3为本发明一实施例的高速光模块接收端简便测试结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。
为了保持本发明实施例的以下说明清楚且简明，本发明省略了已知功能和已知部件的详细说明。
请参阅图1-3所示，在本实施例中提供了一种高速光模块简便测试方法，包括：连接安装：将标准光模块、待测光模块分别插入到测试板上的插座内；
测试发射性能：配置DSP芯片发出电信号，借助眼图仪完成对待测光模块发射性能的测试；
测试接收性能：待测光模块连接8通道衰减器自发自收，配置DSP芯片进行高速测电回环，监控电自环回路的误码率，完成对待测光模块接收性能的测试。
本实施例一个方面的应用为：先将标准光模块、待测光模块分别插入到测试板上的插座内，然后将眼图仪与待测光模块连接，再对标准光模块中的DSP芯片进行配置，使DSP芯片发出电信号，借助眼图仪完成对待测光模块发射性能的测试，测试完成后断开眼图仪与待测光模块的连接，然后将待测光模块连接8通道衰减器进行自发自收，配置DSP芯片进行高速测电回环，监控电自环回路的误码率，完成对待测光模块接收性能的测试。需要注意的是，本申请中所涉及的用电设备均可通过蓄电池供电或外接电源。
通过标准光模块中DSP芯片高速测电自环功能完成高速电信号的产生和误码率监测，节省误码仪的成本，通过PCB走线，使高速电信号走线尽可能短，减少对高速电缆线使用的同时，提高测试的可靠性，通过测试板同时完成对待测光模块发射、接收性能的测试，提高测试装置的小巧轻便性，便于随身携带。
如图2、3所示，本实施例的眼图仪与待测光模块通过光纤连接，提高传输速率。插座位于测试板的一侧，测试板位于标准光模块、待测光模块之间，通过对测试板进行合理布局布线，将DSP芯片高速测电信号连接到待测光模块侧插座对应的端口上，并保证了高速电信号良好的信号完整性，比较高速电缆线进行电信号连接更加方便可靠。
如图2、3所示，本实施例的DSP芯片型号为：IN015050-CD02的芯片。DSP芯片具有高速测电自环诊断功能，该芯片可提供4路53Gbps速率的PRBS电信号。
如图2、3所示，本实施例的标准光模块内装设有两颗DSP芯片，可提供8路电信号，因此一个标准光模块可完全替代一台8通道高速误码仪。标准光模块中的DSP芯片提供的8路高速电信号通过测试板的PCB内部走线直接与待测光模块的插座相连接，完成电信号传输，代替了传统的高速测试电缆，通过PCB内部走线使高速电信号走线尽可能的短，不仅提高了电信号的信号完整性，而且省去了高速电缆线的成本。电信号传输过程中，DSP芯片发出的PRBS信号经过待测光模块后再返回到DSP芯片。
如图1所示，本实施例的测试发射性能过程中，对标准光模块中的DSP芯片进行配置，使DSP芯片发出53Gbps速率的PRBS电信号。高速侧接收端能够将发射出的PRBS电信号进行接收并对误码率进行判断，省去了误码仪的成本。
上述实施例可以相互结合。
需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施方式能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。
在本发明的描述中，需要理解的是，方位词如“前、后、上、下、左、右”、“横向、竖向、垂直、水平”和“顶、底”等所指示的方位或位置关系通常是基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，在未作相反说明的情况下，这些方位词并不指示和暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位或者以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明保护范围的限制；方位词“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内外。
Claims (10)
1.一种高速光模块简便测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
连接安装：将标准光模块、待测光模块分别插入到测试板上的插座内；
测试发射性能：配置DSP芯片发出电信号，借助眼图仪完成对待测光模块发射性能的测试；
测试接收性能：待测光模块连接8通道衰减器自发自收，配置DSP芯片进行高速测电回环，监控电自环回路的误码率，完成对待测光模块接收性能的测试。
2.如权利要求1所述的一种高速光模块简便测试方法，其特征在于，眼图仪与待测光模块通过光纤连接。
3.如权利要求1所述的一种高速光模块简便测试方法，其特征在于，插座位于测试板的一侧，测试板位于标准光模块、待测光模块之间。
4.如权利要求1所述的一种高速光模块简便测试方法，其特征在于，DSP芯片型号为：IN015050-CD02的芯片。
5.如权利要求4所述的一种高速光模块简便测试方法，其特征在于，DSP芯片具有高速测电自环诊断功能。
6.如权利要求1所述的一种高速光模块简便测试方法，其特征在于，标准光模块内装设有两颗DSP芯片，可提供8路电信号。
7.如权利要求6所述的一种高速光模块简便测试方法，其特征在于，标准光模块中的DSP芯片提供的8路高速电信号通过测试板的PCB内部走线直接与待测光模块的插座相连接，完成电信号传输。
8.如权利要求7所述的一种高速光模块简便测试方法，其特征在于，电信号传输过程中，DSP芯片发出的PRBS信号经过待测光模块后再返回到DSP芯片。
9.如权利要求4所述的一种高速光模块简便测试方法，其特征在于，测试发射性能过程中，对标准光模块中的DSP芯片进行配置，使DSP芯片发出53Gbps速率的PRBS电信号。
10.如权利要求9所述的一种高速光模块简便测试方法，其特征在于，高速侧接收端能够将发射出的PRBS电信号进行接收并对误码率进行判断。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20120051735A1 (en) * | 2010-08-26 | 2012-03-01 | Cisco Technology, Inc. | Scalable high speed gigabit active bundle link and tester |
| CN214154518U (zh) * | 2020-12-28 | 2021-09-07 | 上海剑桥科技股份有限公司 | 一种基于400g光模块的测试电路 |
| CN113242089A (zh) * | 2021-05-10 | 2021-08-10 | 上海剑桥科技股份有限公司 | 一种基于400g光模块的测试方法及测试电路 |
| CN113872682A (zh) * | 2021-09-16 | 2021-12-31 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种光模块的引入测试方法及系统 |
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