CN216930022U - 一种改进的并行多通道光模块测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种改进的并行多通道光模块测试系统，涉及光模块测试技术领域。本实用新型包括误码仪测试单元，误码仪测试单元连接有高速连接单元，高速连接单元连接有测试单元，测试单元连接有光眼图仪单元，误码仪测试单元与光眼图仪单元相连接，且误码仪测试单元与测试单元之间并联有衰减器单元；误码仪测试单元包括与高速连接单元相连接的第一误码测试模块和第二误码测试模块、与第二误码测试模块相连接的插座连接模块，测试单元包括插头连接模块，插头连接模块与高速连接单元和衰减器单元相连接。本实用新型通过设置的高速连接单元，能使并行多通道光模块测试系统减少线缆来连接，提高了生产测试效率。

Description

一种改进的并行多通道光模块测试系统

技术领域

本实用新型属于光模块测试技术领域，特别是涉及一种改进的并行多通道光模块测试系统。

背景技术

随着光纤通信在光模块测试领域推广应用，市场对小型化、高速率、多通道的嵌入式光模块需求越来越多，通道数从4通道到8通道、12通道、24通道，甚至48通道收发光模块需求。由于普通商用误码仪一般为单通道收发、4通道收发、最多为12通道收发，标准高频接口为SMA或2.92mmK头，连接线缆选用18GHz带宽，长度1米的差分配相高频线缆。

由于军品小批量多批次订单需求，所以测试平台搭建需要反复连接高频线缆，连接头数量多，连接空间狭小，操作难度大，连接可靠性差。一般每次换线需要耗费2个小时才能完成，并且线缆连接问题多，需要多次调试才能稳定工作。这给并行多通道高速光模块产品生产测试带来较大困难，需要进行技术改进克服现有问题。另外，测试线缆数量多，频繁切换高频测试指标容易造成不良，相位造成失配，严重影响测试指标，需要经常批量更换测试线缆，造成测试成本增加。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种改进的并行多通道光模块测试系统，解决了现有技术中的需要反复连接高频线缆，连接头数量多的技术问题。

为达上述目的，本实用新型是通过以下技术方案实现的：

一种改进的并行多通道光模块测试系统，包括误码仪测试单元，误码仪测试单元连接有高速连接单元，高速连接单元连接有测试单元，测试单元连接有光眼图仪单元，误码仪测试单元与光眼图仪单元相连接，且误码仪测试单元与测试单元之间并联有衰减器单元；

误码仪测试单元包括与高速连接单元相连接的第一误码测试模块和第二误码测试模块、与第二误码测试模块相连接的插座连接模块，测试单元包括插头连接模块，插头连接模块与高速连接单元和衰减器单元相连接。

可选的，测试单元与光眼图仪单元之间连接有路光开关单元，用于实现单通道出光选择。

可选的，插头连接模块与高速连接单元之间连接有标准光源模块，标准光源模块，用于对高速电信号进行光电转换输出，从而调制光信号，用于光电转换输出调制光信号。

可选的，插头连接模块与高速连接单元之间连接有待测光模块，用于对高速电信号进行光电转换输出，从而调制光信号，用于光电转换输出调制光信号。

可选的，第一误码测试模块与高速连接单元之间连接有信号发生模块，用于发送向高速连接单元高速差分电信号。

可选的，第二误码测试模块与高速连接单元之间连接有信号检测模块，用于向标准光源模块发送高速差分电信号。

本实用新型的实施例具有以下有益效果：

本实用新型的一个实施例通过设置的误码仪测试单元，能使测试占用空间大幅减少，通过设置的高速连接单元，一方面，能使并行多通道光模块测试系统减少线缆来连接，节省了高频线缆连接工序，节约系统搭建时间，提高了生产测试效率，另一方面，能使误码仪测试单元和测试单元通过高速电连接单元插拔连接，便于高速电连接单元的插拔。

当然，实施本实用新型的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为本实用新型一实施例的并行多通道光模块测试系统结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本实用新型及其应用或使用的任何限制。

为了保持本实用新型实施例的以下说明清楚且简明，本实用新型省略了已知功能和已知部件的详细说明。

请参阅图1所示，在本实施例中提供了一种改进的并行多通道光模块测试系统，包括：误码仪测试单元，误码仪测试单元连接有高速连接单元，高速连接单元连接有测试单元，测试单元连接有光眼图仪单元，误码仪测试单元与光眼图仪单元相连接，且误码仪测试单元与测试单元之间并联有衰减器单元；

误码仪测试单元包括与高速连接单元相连接的第一误码测试模块和第二误码测试模块、与第二误码测试模块相连接的插座连接模块，测试单元包括插头连接模块，插头连接模块与高速连接单元和衰减器单元相连接；

其中，第一误码测试模块和第二误码测试模块可选用集成12路可产生PRBS码型的信号发生模块和12路可进行误码检测单元功能的集成电路，如SEMTECH误码仪芯片GT1704，高速电连接单元选用工作速率18GHZ高密度插拔连接器，如航天电器、中航光电200PIN高速高密度小型化MVPX系列连接器，光衰减器单元选用12通道带标准通信接口，可程控衰减量并监控输出光功率大小衰减器，眼图仪单元选用测试速率大于10Gbps设备，带标准的网口和USB口，带远程控制功能，如安捷伦86100D+86105D。

本实施例一个方面的应用为：在需要对光眼图指标测试时，第一误码测试模块通过待测光模块高速差分电信号到高速连接单元，通过高速连接单元传输高速电信号到测试单元上的待测光模块；待测光模块通过光电转换输出调制光信号到光开关单元，通过测试软件程控切换依次输出光模块每通道光信号到眼图仪单元进行光眼图指标测试，即可完成对光眼图指标的测试；在需要对待测光模块的灵敏度指标进行测试时，第二误码测试模块高速差分电信号到标准光源模块，通过标准光源模块转换输出调制光信号到程控光衰减单元，通过衰减单元调整12路光信号到测试灵敏度指标，衰减好的调制光信号通过并行光缆输入到测试单元上的待测光模块，待测光模块接收到光信号通过光电转换输出12路并行高速电信号到高速电连接单元，通过高速电连接单元传输高速电信号到第二误码测试模块接收分析，实现待测光模块的灵敏度指标测试，即可完成对待测光模块灵敏度指标的测试。需要注意的是，本申请中所涉及的所有用电设备均可通过蓄电池供电或外接电源。

通过在设置的误码仪测试单元，能使测试占用空间大幅减少，通过设置的高速连接单元，一方面，能使并行多通道光模块测试系统减少线缆来连接，节省了高频线缆连接工序，节约系统搭建时间，提高了生产测试效率，另一方面，能使误码仪测试单元和测试单元通过高速电连接单元插拔连接，便于高速电连接单元的插拔。

本实施例的测试单元与光眼图仪单元之间连接有路光开关单元，其中，光开关单元选用普通多模带标准通信接口，可程控12路对1路光开关。用于实现单通道出光选择。

本实施例的插头连接模块与高速连接单元之间连接有标准光源模块，标准光源模块，用于对高速电信号进行光电转换输出，从而调制光信号，用于光电转换输出调制光信号。

本实施例的插头连接模块与高速连接单元之间连接有待测光模块。用于对高速电信号进行光电转换输出，从而调制光信号，用于光电转换输出调制光信号，标准光源模块和待测光模块并联设置。

本实施例的第一误码测试模块与高速连接单元之间连接有信号发生模块。用于发送向高速连接单元高速差分电信号；第二误码测试模块与高速连接单元之间连接有信号检测模块。用于向标准光源模块发送高速差分电信号。

具体的：第一误码测试模块通过待测光模块高速差分电信号到高速连接单元，通过高速连接单元传输高速电信号到测试单元上的待测光模块；待测光模块通过光电转换输出调制光信号到光开关单元，通过测试软件程控切换依次输出光模块每通道光信号到眼图仪单元进行光眼图指标测试，第二误码测试模块高速差分电信号到标准光源模块，通过标准光源模块转换输出调制光信号到程控光衰减单元，通过衰减单元调整12路光信号到测试灵敏度指标，衰减好的调制光信号通过并行光缆输入到测试单元上的待测光模块，待测光模块接收到光信号通过光电转换输出12路并行高速电信号到高速电连接单元，通过高速电连接单元传输高速电信号到第二误码测试模块接收分析，实现待测光模块的灵敏度指标测试。

本发明创造具有以下优点：测试平台改进常规分立式误码仪(BERT)组合为误码仪测试单元，设备成本节约百分之八十以上，测试占用空间也大幅减少，测试平台改进常规分立误码仪组合所用的高频线缆连接信号为直接在PCB上高速布线连接，节省72根高频线缆采购成本，节省了高频线缆连接工序，节约系统搭建时间，提高了生产测试效率，同时，在PCB上走线大大缩短了高速走线距离，减少高速信号插损，提高了高速测试信号完整性，降低测试系统故障率，保证测试质量，原来的测试系统为测试板加误码仪组合结构，每次更换产品线都需要全部更换重新搭建测试系统，非常麻烦，浪费工时，效率低，改进测试系统采用子母板架构设计，误码仪测试单元和测试单元通过高速电连接单元插拔连接，维修更换方便。针对不同的产品型号测试只需要增加和更换测试单元，随时插拔更换测试产品板，省时省力，方便便捷，可扩展性强，操作效率高

上述实施例可以相互结合。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施方式能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，方位词如“前、后、上、下、左、右”、“横向、竖向、垂直、水平”和“顶、底”等所指示的方位或位置关系通常是基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，在未作相反说明的情况下，这些方位词并不指示和暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位或者以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型保护范围的限制；方位词“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内外。

Claims (6)

1.一种改进的并行多通道光模块测试系统，其特征在于，包括：

误码仪测试单元，误码仪测试单元连接有高速连接单元，高速连接单元连接有测试单元，测试单元连接有光眼图仪单元，误码仪测试单元与光眼图仪单元相连接，且误码仪测试单元与测试单元之间并联有衰减器单元；

误码仪测试单元包括与高速连接单元相连接的第一误码测试模块和第二误码测试模块、与第二误码测试模块相连接的插座连接模块，测试单元包括插头连接模块，插头连接模块与高速连接单元和衰减器单元相连接。

2.如权利要求1所述的一种改进的并行多通道光模块测试系统，其特征在于，测试单元与光眼图仪单元之间连接有路光开关单元。

3.如权利要求1所述的一种改进的并行多通道光模块测试系统，其特征在于，插头连接模块与高速连接单元之间连接有标准光源模块，标准光源模块。

4.如权利要求3所述的一种改进的并行多通道光模块测试系统，其特征在于，插头连接模块与高速连接单元之间连接有待测光模块。

5.如权利要求1所述的一种改进的并行多通道光模块测试系统，其特征在于，第一误码测试模块与高速连接单元之间连接有信号发生模块。

6.如权利要求1所述的一种改进的并行多通道光模块测试系统，其特征在于，第二误码测试模块与高速连接单元之间连接有信号检测模块。

Images