CN203872175U - 用于光模块测试的测试板子 - Google Patents

用于光模块测试的测试板子 Download PDF

Info

Publication number
CN203872175U
CN203872175U CN201420310062.8U CN201420310062U CN203872175U CN 203872175 U CN203872175 U CN 203872175U CN 201420310062 U CN201420310062 U CN 201420310062U CN 203872175 U CN203872175 U CN 203872175U
Authority
CN
China
Prior art keywords
signal line
digital signal
wiring
signal
optical module
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
CN201420310062.8U
Other languages
English (en)
Inventor
海来勇布
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Source Photonics Chengdu Co Ltd
Original Assignee
Source Photonics Chengdu Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Source Photonics Chengdu Co Ltd filed Critical Source Photonics Chengdu Co Ltd
Priority to CN201420310062.8U priority Critical patent/CN203872175U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN203872175U publication Critical patent/CN203872175U/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Communication System (AREA)

Abstract

本实用新型公开了一种用于光模块测试的测试板子,该测试板包括固定在测试板PCB上的待调测试光模块,发射端数字信号线负端布线,发射端数字信号线正端布线,收端数字信号线负端布线,收端数字信号线正端布线和自环芯片CDR,其中,发射端数字信号线负端布线TD-,发射端数字信号线正端布线TD+,收端数字信号线负端布线RD-,收端数字信号线正端布线RD+的四条布线的一端与自环芯片CDR连接,另一端通过PCB上的布线分别连接到待测试模块的收端RD-,RD+,TD-,TD+,从而收发端以自环的形式得到通信。测试板由光纤跳线替代传统的同轴电缆线进行通信,且无同轴电缆线连接头,可以大幅减少测试板制造成本,同时使得发端引脚接受到的调制信号更加稳定可靠。

Description

用于光模块测试的测试板子
技术领域
本实用新型涉及光纤通信测试领域,特别是光模块调试和测试的测试板设计领域。
背景技术
在目前的光纤信号通信测试领域中,通常用于发端的调制信号是直接来自于BERT(误码率测试仪Bit Error Ratio Tester)。在发射端接收到光信号后,把光信号转化成电信号,再通过测试板子上的SMA(同轴线缆/天线连接头-A型SUB-MINIATURE-A)连接头,用同轴电缆线把信号返回到BERT。这样经常需要通过多个SMA转接头连接,这种设计会出现多种问题:一是测试板子本身的设计成本比较高;二是信号经过同轴电缆线和多次SMA转接头转接后,信号质量变差,特别是同轴电缆线比较长的时候,信号质量下降的情况尤其明显;三是在转接中带来各种不确定的因素会影响信号的质量,比如同轴电缆线松动、SMA连接匹配阻抗不佳、外部信号干扰等,特别是对于高速率如4G及其以上速率的信号,多次经过SMA连接头转接或者把一路调制信号经过IC(仪表芯片Instrument Chip)分成多路调制信号后,会不同程度的影响信号质量。
发明内容
本实用新型的目的在于解决传统调测试系统中信号链路光纤和同轴电缆线混用转接,信号质量变差,以及一路调制信号经过IC分成多路调制信号后,影响信号质量的问题,本实用新型提供了以下的技术方案:
一种用于光模块测试的测试板子,该测试板包括:发射端数字信号线负端布线TD-(1),发射端数字信号线正端布线TD+(2),收端数字信号线正端布线RD+(3),收端数字信号线负端布线RD-(4)和自环芯片CDR(7),其中,发射端数字信号线负端布线TD-(1),发射端数字信号线正端布线TD+(2),收端数字信号线正端布线RD+(3),收端数字信号线负端布线RD-(4)的四条布线的一端与自环芯片CDR(7)连接,另一端通过PCB上的布线分别连接到待测试模块的收端RD-,RD+,TD-,TD+,从而收发端以自环的形式得到通信。
进一步的,收发信号通过自环连接,测试板子无需通过同同轴电缆线连接,收发回路全部由光纤跳线替代传统的同轴电缆线进行通信。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果为:
(1)减少测试板的成本,由于本测试板只有光路,无同轴电缆线连接头和同轴电缆线,而同轴电缆线SMA连接头是比较昂贵的,因此可以较大幅度地减少测试板的成本;
(2)提高发端调制信号的质量。由于在系统链路中用光纤替代了同轴电缆线,根据光纤线缆传输信号的稳定特性,发端引脚接受到的调制信号更加稳定、可靠。
附图说明
图1当前通用的测试板子布线及构成图。
图2本实用新型的测试板子布线及构成图。
具体实施方式
下面结合试验案列及具体实施方式对本实用新型作进一步的详细描述。但不应将此理解为本实用新型上述主题的范围仅限于以下的实施例,凡基于本发明内容所实现的技术均属于本实用新型的范围。
本实用新型公开了一种用于光模块测试的测试板子,包括测试板子上调制信号的自布线方案,调测试所需要的发射端调制信号通过自环芯片CDR从发射端信号获得,通过在测试板子上直接将误码仪调制光源发出的光信号由测试板子上待测光模块的发射端所接收,发射端光信号转化成电信号后,直接从印刷电路板上布线连接到发端的调制信号接收引脚,从而使待测光模块获得调制信号。并且收发信号通过自环连接,测试板子无需通过同同轴电缆线连接,收发回路全部由光纤跳线替代传统的同轴电缆线进行通信。
结合图1,是当前通用的测试板子布线及构成,其中,(1)是来自Bert的发射端调制信号差分信号负端布线;(2)是来自BERT的发射端调制信号差分信号正端布线;(3)是模块发射端光转化成电后从PCBA(印刷电路板Printed Circuit Board Assembly)上的返回BERT发射端的差分信号正端布线;(4)是模块发射端光转化成电后从PCBA上的返回BERT发射端的差分信号负端布线;(5)-(8)是同轴电缆线;(9)是发端光信号光纤连接线;(10)是收端光信号光纤连接线;(11)是发射端差分信号负端SMA 转接头;(12)是发射端差分信号正端SMA 转接头;(13)是返回BERT发射端的差分信号正端SMA 转接头;(14)是返回BERT发射端的差分信号负端SMA 转接头;(15)待测模块发端TOSA(Transmitter Optical Subassembly,光发射组件);(16)为待测模块收端ROSA(Receiver Optical Subassembly,光接收组件);(17)为待测试模光模块。
其中,待测的光模块(17)包括TOSA模块(15)和ROSA模块(16),光信号通过收端光纤(10)进入待调测试光模块(17),光模块(17)将光信号转化为电信号,电信号经过PCBA上的布线(3)和(4),通过SMA转接头(13)和(14),用同轴电缆(7)和(8)把信号返回到BERT;BERT将电信号进行检测之后,将调制后的电信号用同轴电缆(5)和(6)通过SMA转接头(11)和(12),经过PCBA上的布线(1)和(2)进入光模块中,在光模块中将电信号转化为光信号,传送到发端的光纤(9)中。
结合图2,是本实用新型的测试板子布线及构成图,其中:(1)TD-(发射端数字信号线-Transmit Data-);(2)TD+(发射端数字信号线+Transmit Data+);(3)RD+(收端信号线+Received Data+);(4)RD-(收端信号线-Received Data-);(5)TX Fiber(连接发射端的光纤线);(6)RX Fiber(连接接收端的光纤线);(7)自环芯片CDR(时钟数字信号恢复芯片Clock Data Recover Chip),注意:此芯片根据实际信号质量的要求,可有可无;(8)待测模块TOSA;(9)为待测试模光模块;(10)为待测模块ROSA。
在进行测试的过程中,将待调测试光模块(9)固定在测试板PCB上,待测试光模块(9)包括TOSA(8)和ROSA(10)模块;连接发射端的光纤线(5)和连接收端的光纤线(6)连接在待测试光模块(9)之上。
在PCB测试板子上设计有:发射端数字信号线负端布线(1),发射端数字信号线正端布线(2),收端数字信号线负端布线(4),收端数字信号线正端布线(3)和自环芯片CDR(7),其中,发射端数字信号线负端布线(1),发射端数字信号线正端布线(2),收端数字信号线负端布线(4),收端数字信号线正端布线(3)的一端与自环芯片CDR(7)连接,另一端通过PCB上的布线分别连接到待测试模块的收端RD-,RD+,TD-,TD+,从而收发端以自环的形式得到通信。 
其中,光信号通过收端光纤(6)进入待调测试光模块(9),光模块(9)将光信号转化为电信号,电信号经过PCBA上的布线(3)和(4),通过自环芯片CDR(7)直接将电信号经过PCBA上的布线(1)和(2)进入返回到光模块(10)中,在光模块(9)中将电信号转化为光信号,传送到发端的光纤(5)中。
从以上实施例比较中,可以看出本实用新型由于测试板只有光路,无同轴电缆线连接头和同轴电缆线,从而也不需要同轴电缆线SMA连接头,可以较大幅度地减少测试板的成本。同时,由于在系统链路中用光纤替代了同轴电缆线,根据光纤线缆传输信号的稳定特性,发端引脚接受到的调制信号更加稳定、可靠。
同时,本发明也可以解决因为调制信号被IC一路分成多路信号后,信号发生失真、信号质量恶化,信号受EMI(电磁干扰 Electromagnetic Interference)影响,信号随着同轴电缆线的长度变长而变差等若干问题。另外,由于测试板子上无同轴电缆线和SMA连接头和IC芯片,因此,测试板子的成本得到大幅度地降低,性能更加可靠。 

Claims (2)

1.一种用于光模块测试的测试板子,其特征在于,该测试板包括:发射端数字信号线负端布线TD-(1),发射端数字信号线正端布线TD+(2),收端数字信号线正端布线RD+(3),收端数字信号线负端布线RD-(4)和自环芯片CDR(7),其中,发射端数字信号线负端布线TD-(1),发射端数字信号线正端布线TD+(2),收端数字信号线正端布线RD+(3),收端数字信号线负端布线RD-(4)的四条布线的一端与自环芯片CDR(7)连接,另一端通过PCB上的布线分别连接到待测试模块的收端RD-,RD+,TD-,TD+,从而收发端以自环的形式得到通信。
2.根据权利要求1所述的光模块测试的测试板子,其特征在于,收发信号通过自环连接,测试板子无需通过同同轴电缆线连接,收发回路全部由光纤跳线替代传统的同轴电缆线进行通信。
CN201420310062.8U 2014-06-12 2014-06-12 用于光模块测试的测试板子 Expired - Lifetime CN203872175U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201420310062.8U CN203872175U (zh) 2014-06-12 2014-06-12 用于光模块测试的测试板子

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201420310062.8U CN203872175U (zh) 2014-06-12 2014-06-12 用于光模块测试的测试板子

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN203872175U true CN203872175U (zh) 2014-10-08

Family

ID=51653094

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201420310062.8U Expired - Lifetime CN203872175U (zh) 2014-06-12 2014-06-12 用于光模块测试的测试板子

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN203872175U (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105703824A (zh) * 2016-04-29 2016-06-22 武汉光迅科技股份有限公司 一种高速光模块的接收测试装置及方法
CN106768857A (zh) * 2016-11-28 2017-05-31 黄山市光锐通信有限公司 一种光模块的智能测试方法
CN115801118A (zh) * 2022-10-31 2023-03-14 国家电网有限公司 一种接口补偿参数设定方法和通信单板

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105703824A (zh) * 2016-04-29 2016-06-22 武汉光迅科技股份有限公司 一种高速光模块的接收测试装置及方法
CN106768857A (zh) * 2016-11-28 2017-05-31 黄山市光锐通信有限公司 一种光模块的智能测试方法
CN106768857B (zh) * 2016-11-28 2023-06-16 倍测通电子科技(上海)有限公司 一种光模块的智能测试方法
CN115801118A (zh) * 2022-10-31 2023-03-14 国家电网有限公司 一种接口补偿参数设定方法和通信单板

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101442385B (zh) 数字通信误码率的测试装置
CN102346222B (zh) 测试光接口输出电信号的测试装置及测试系统、方法
GB2482381A (en) Converting voltage doublet electrical pulses to unipolar electrical pulses for input to a laser driver
CN203872175U (zh) 用于光模块测试的测试板子
CN108923850B (zh) 用于40Gbs、100Gbs、120Gbs的并行多通道光模块测试装置
CN110784259B (zh) 一种基于pam4的一体化光模块误码测试仪
CN104253695A (zh) 直连式介质转换器
CN105703824A (zh) 一种高速光模块的接收测试装置及方法
US20230008442A1 (en) Active optical cable connector and active optical cable assembly
CN111682886B (zh) 一种采用同轴线缆进行数据传输的光纤航电网络系统
CN103391137A (zh) 一种带ddm功能的1×9低速率光模块
CN104993863A (zh) 网络通讯设备测试用的光模块
CN103580748A (zh) 一种具有otdr功能的光线路终端及其光模块
CN110441744A (zh) 一种新型的毫米波雷达芯片量产测试方法及装置
US20090220245A1 (en) Circuit topologies for high speed, low cost optical transceiver components
CN205176333U (zh) 六信道光信号传输模块
CN219420769U (zh) 一种不同距离光模块的光传输通道代价测试装置
US6880078B2 (en) Xaui extender card
CN103983821A (zh) 一种可插拔光模块连接器的高频性能测试结构
CN202721677U (zh) 用于光收发模块的多通道测试装置
CN102647229B (zh) 一种xfp接口光模块自环方法及装置
CN204031181U (zh) 一种光模块
CN207218705U (zh) 一种USB Type C信号远距离传输装置
CN203377886U (zh) 一种带ddm功能的1×9低速率光模块
CN202856737U (zh) 一种10g epon olt光模块测试仪

Legal Events

Date Code Title Description
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CX01 Expiry of patent term

Granted publication date: 20141008

CX01 Expiry of patent term