CN112711504B - 测试系统和测试方法 - Google Patents

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Abstract

本公开提供了一种测试系统和测试方法，属于测试技术领域。测试系统包括信号转接装置、通信性能测试平台和自动化测试平台，信号转接装置，与待测板卡的待测接口连接，用于获取待测板卡发送的待测信号，并将待测信号发送至自动化测试平台；自动化测试平台，用于测量接收到的待测信号的电气特性和信号质量；用于向通信性能测试平台发送测试控制信号；通信性能测试平台，用于根据测试控制信号发送测试数据至待测板卡，并测量待测板卡发回的测试数据的通信性能，将测量结果发送至自动化测试平台。采用该测试系统可以同时测量待测信号的电气特性和信号质量、以及数据的通信性能，提高测试效率。

Description

测试系统和测试方法
技术领域
本公开涉及测试技术领域，特别涉及一种测试系统和测试方法。
背景技术
在目前的数据链终端产品设计中，系统采用的硬件模块种类较多，各种定制化测试需求接踵而来。例如，需要待测接口的电气特性、信号质量和通信性能等参数。
现有的测试系统通常都只能待测接口的电气特性、信号质量或通信性能中的其中一种参数，这样，就会导致所需的测试时间较长，无法满足周期紧迫的测试项目的测试需求。
发明内容
本公开实施例提供了一种测试系统和测试方法，可以同时测量待测接口的电气特性和信号质量、以及通信性能，提高测试效率。所述技术方案如下：
本公开实施例提供了一种测试系统，所述测试系统包括信号转接装置、通信性能测试平台和自动化测试平台，
所述信号转接装置，被配置为与待测板卡的待测接口连接，用于获取所述待测板卡发送的待测信号，并将所述待测信号发送至所述自动化测试平台；
所述自动化测试平台，用于测量接收到的所述待测信号的电气特性和信号质量；以及用于向所述通信性能测试平台发送测试控制信号；
所述通信性能测试平台，用于根据所述测试控制信号发送测试数据至所述待测板卡，基于所述待测板卡发回的测试数据测量所述待测接口的通信性能，以及将通信性能的测量结果发送至所述自动化测试平台。
可选地，所述通信性能测试平台包括处理系统和可编程逻辑；
所述处理系统，用于接收所述自动化测试平台发送的测试控制信号，并生成与所述待测板卡的待测接口的通信协议相匹配的测试数据发送至所述可编程逻辑；以及用于将接收到的所述测量结果发送至所述自动化测试平台；
所述可编程逻辑，用于将接收到的所述测试数据发送至所述信号转接装置，基于接收到的测试数据测量所述待测接口的通信性能，以及将通信性能的测量结果发送至所述处理系统。
可选地，所述处理系统通过总线协议接口与所述可编程逻辑通信。
可选地，所述自动化测试平台包括高精度示波器和误码仪中的至少一种。
可选地，所述信号转接装置包括多个插槽和连接器组，所述多个插槽包括第一插槽、第二插槽、第三插槽和第四插槽中的至少两种；
所述第一插槽通过所述连接器组与所述待测板卡上的第一待测接口连接，所述第一待测接口输出高速串行计算机扩展总线标准信号；
所述第二插槽通过所述连接器组与所述待测板卡上的第二待测接口连接，所述第二待测接口输出串行快速输入/输出信号；
所述第三插槽通过所述连接器组与所述待测板卡上的第三待测接口连接，所述第三待测接口输出以太网信号；
所述第四插槽通过所述连接器组与所述待测板卡上的第四待测接口连接，所述第四待测接口输出串行千兆介质独立接口信号。
可选地，所述连接器组包括至少一个高速串行总线连接器。
可选地，所述测试系统还包括转接板，所述转接板内具有多个信号转接单元，所述多个信号转接单元包括第一信号转接单元、第二信号转接单元、第三信号转接单元和第四信号转接单元中的至少两种，且所述多个信号转接单元的类型与所述多个插槽的类型一一对应；
所述第一信号转接单元通过所述连接器组与所述第一插槽连接；
所述第二信号转接单元通过所述连接器组与所述第二插槽连接；
所述第三信号转接单元通过所述连接器组与所述第三插槽连接；
所述第四信号转接单元通过所述连接器组与所述第四插槽连接；
所述多个信号转接单元用于将所述待测信号转换成电压大小符合所述自动化测试平台的输入电压标准的信号。
可选地，所述测试系统还包括测试夹具，所述测试夹具包括转接板安装板和压板，所述转接板安装板和所述压板相对，所述压板的与所述转接板安装板相对的一面上具有多个针，所述多个针的一端用于与所述转接板上的触点电连接，所述多个针的另一端通过连接线与所述自动化测试平台连接。
可选地，所述测试系统还包括交换板，所述交换板包括第一路由、第二路由和第三路由；
所述第一路由用于为所述通信性能测试平台和待测板卡之间提供点对点或星型互连高速串行计算机扩展总线标准数据交换；
所述第二路由用于为所述通信性能测试平台和待测板卡之间提供点对点或星型互连串行快速输入/输出数据交换；
所述第三路由用于为所述通信性能测试平台和待测板卡之间提供点对点或星型互连以太网数据交换。
第二方面，提供了一种测试方法，所述测试方法适用于如第一方面所述的测试系统，所述测试方法包括：
接收待测板卡发送的待测信号；
测量接收到的所述待测信号的电气特性和信号质量；
向所述通信性能测试平台发送测试控制信号，所述测试控制信号用于指示所述通信性能测试平台向所述待测板卡发送测试数据；
接收所述通信性能测试平台发送的通信性能的测量结果，所述测量结果是基于接收到的待测板卡发回给所述通信性能测试平台的测试数据测量的。
本公开实施例提供的技术方案带来的有益效果是：
通过设置一种测试系统，该测试系统的信号转接装置可以与待测板卡的待测接口连接，用于获取待测板卡发送的待测信号，并将待测信号发送至自动化测试平台。一方面，自动化测试平台接收到待测信号后，可以测量接收到的待测信号的电气特性和信号质量。另一方面，自动化测试平台还可以向通信性能测试平台发送测试控制信号，通信性能测试平台在接收到测试控制信号后，可以发送测试数据到待测板卡，然后接收待测板卡发回的测试数据，实现与待测板卡之间的通信。此时自动化测试平台可以基于接收到的测试数据测量待测接口的通信性能，并将测量结果发送至自动化测试平台。因此，采用上述测试系统，可以同时对待测接口的电气特性、信号质量以及通信性能进行测试，提高测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本公开实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本公开实施例提供的一种测试系统的结构框图；
图2是本公开实施例提供的一种信号转接装置的结构框图；
图3是本公开实施例提供的一种通信性能测试平台的结构框图；
图4是本公开实施例提供的一种转接板的结构框图；
图5是本公开实施例提供的一种交换板的结构框图；
图6是本公开实施例提供的一种自动化测试平台的结构框图；
图7是本公开实施例提供的一种测试系统测试PCIe接口的电气特性和信号质量连接图；
图8是本公开实施例提供的一种测试系统测试SRIO接口的通信性能连接图；
图9是本公开实施例提供的一种测试方法的流程图。
具体实施方式
为使本公开的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本公开实施方式作进一步地详细描述。
图1是本公开实施例提供的一种测试系统的结构框图，如图1所示，测试系统包括信号转接装置10、通信性能测试平台20和自动化测试平台60。
信号转接装置10，被配置为与待测板卡70的待测接口连接，用于获取待测板卡70发送的待测信号，并将待测信号发送至自动化测试平台60。自动化测试平台60，用于测量接收到的待测信号的电气特性和信号质量；以及用于向通信性能测试平台20发送测试控制信号。通信性能测试平台20，用于根据测试控制信号发送测试数据至待测板卡70，基于待测板卡70发回的测试数据测量待测接口的通信性能，以及将测量结果发送至自动化测试平台60。
本公开实施例通过设置一种测试系统，该测试系统的信号转接装置可以与待测板卡的待测接口连接，用于获取待测板卡发送的待测信号，并将待测信号发送至自动化测试平台。一方面，自动化测试平台接收到待测信号后，可以测量接收到的待测信号的电气特性和信号质量。另一方面，自动化测试平台还可以向通信性能测试平台发送测试控制信号，通信性能测试平台在接收到测试控制信号后，可以发送测试数据到待测板卡，然后接收待测板卡发回的测试数据，实现与待测板卡之间的通信。此时自动化测试平台可以基于接收到的测试数据测量待测接口的通信性能，并将测量结果发送至自动化测试平台。因此，采用上述测试系统，可以同时对待测接口的电气特性、信号质量以及通信性能进行测试，提高测试效率。
其中，电气特性包括待测接口的电压、电流和导电性能等方面所具有的特性。信号质量包括待测接口的眼图、抖动和一致性。待测接口的通信性能至少包括：1.数据传输速率(比特率)或波形调制速率(波特率)；2.吞吐率；3.误码率。
可选地，测试系统还可以包括测试夹具50，测试夹具50包括转接板安装板和压板，转接板安装板和压板相对，压板的与转接板安装板相对的一面上具有多个针，用于与转接板30上的触点电连接，多个针的另一端通过连接线与自动化测试平台60连接。
通过设置测试夹具50可以将待测信号借助插拔或压入等机械件形式快速方便的更换接入待测信号，不必焊接或旋钮等更耗时方式。
图2是本公开实施例提供的一种信号转接装置的结构框图，如图2所示，信号转接装置10包括多个插槽和连接器组17，多个插槽包括第一插槽13、第二插槽14、第三插槽15和第四插槽16中的至少两种。
第一插槽13通过连接器组17与待测板卡上的第一待测接口连接，第一待测接口输出高速串行计算机扩展总线标准信号。第二插槽14通过连接器组17与待测板卡上的第二待测接口连接，第二待测接口输出串行快速输入/输出信号。第三插槽15通过连接器组17与待测板卡上的第三待测接口连接，第三待测接口输出以太网信号。第四插槽16通过连接器组17与待测板卡上的第四待测接口连接，第四待测接口输出高速串行信号。
通过设置多个插槽，可以与待测板卡上的多个待测接口点对点连接，使得测试系统可以同时测试多个待测信号，提高测试效率。
示例性地，第一插槽为PCIe(peripheral component interconnect express，高速串行计算机扩展总线标准)插槽，第一待测接口为PCIe接口。第二插槽为SRIO(SerialRapid I/O，串行快速输入/输出)插槽，第二待测接口为SRIO接口。第三插槽为1000BASE-T插槽，第三待测接口为1000BASE-T接口。第四插槽为SGMII(Serial Gigabit MediaIndependent Interface，串行千兆介质独立接口)
在本公开实施例中，多个插槽均为周边元件扩展插槽(slot插槽)。
示例性地，信号转接装置10可以包括三个PCIe插槽和两个SRIO插槽，三个PCIe插槽分别表示PCIe×1、PCIe×4、PCIe×8三种局域网模式的PCIe通信链路的一端。两个SRIO插槽分别表示SRIO×1、SRIO×4两种SRIO通信链路的一端。
可选地，连接器组17包括至少一个高速串行总线(以下简称VPX)连接器。VPX连接器具有电压幅度和极性转换的功能，可以将待测板卡70输出的待测信号的电压转换成符合对应的插槽的电压输入标准的电压。VPX连接器是符合VPX总线标准的连接器。采用VPX连接器连接多个插槽和待测接口，能够有效降低串扰，提高传输质量。
可选地，信号转接装置10还包括电源模块11，电源模块11用于为测试系统中的用电设备供电。例如，可以为通信性能测试平台20供电(参见图1)。
可选地，信号转接装置10还包括通用接口模块12，通用接口模块12用于与待测板卡70上的RS232串口及多通道输入/输出口连接，提供通用RS232串口及多通道输入/输出口控制。
图3是本公开实施例提供的一种通信性能测试平台的结构框图，如图3所示，通信性能测试平台20包括处理系统21和可编程逻辑22。
处理系统21，用于接收自动化测试平台60发送的测试控制信号，并生成与待测板卡70的待测接口输出的待测信号类型相同的测试数据发送至可编程逻辑22；用于将接收到的测量结果发送至自动化测试平台60。
可编程逻辑22，用于将接收到的测试数据发送至信号转接装置10，基于接收到的测试数据测量待测板卡70的通信性能，以及将通信性能的测量结果发送至所述处理系统21。
其中，通信性能测试平台20为Zynq7000 SoC系列的可编程平台。处理系统21为PS处理系统，可编程逻辑22为PL可编程逻辑。
可选地，PS处理系统21通过高级可扩展接口(Advanced eXtensible Interface，AXI)与可编程逻辑22通信。
其中，PS处理系统21与处理器内部结构相似，包括中央处理器核、图形加速、浮点运算、存储控制器、各种通信接口外设以及输入输出外设，而PL可编程逻辑22部分就是传统的可编程逻辑和支持多种标准的输入输出。
在本公开实施例中，当待测信号为PCIe信号、SRIO信号和以太网信号时，PL可编程逻辑22可以根据测试数据的传输时间t和数据字节长度L，计算数据传输的速率(即比特率)，例如比特率＝(L×8)/t。当待测信号为串口信号时，PL可编程逻辑22可以根据测试数据的传输时间和数据字节，计算数据传输的波特率。PL可编程逻辑22可以根据单位时间内收发测试数据的平均速率计算吞吐率。PL可编程逻辑22可以根据测试数据传输过程中的误码数M1和所传输的总码数M计算误码率，例如误码率＝(M1/M)*100％。
图4是本公开实施例提供的一种转接板的结构框图，如图4所示，测试系统还包括转接板30，转接板30内具有多个信号转接单元，多个信号转接单元包括第一信号转接单元31、第二信号转接单元32、第三信号转接单元33和第四信号转接单元34中的至少两种，且多个信号转接单元的类型与所述多个插槽的类型一一对应。
第一信号转接单元31通过连接器组17与第一插槽13连接。第二信号转接单元32通过连接器组17与第二插槽14连接。第三信号转接单元33通过连接器组17与第三插槽15连接。第四信号转接单元34通过连接器组17与第四插槽16连接。多个信号转接单元用于将待测信号转换成电压大小符合自动化测试平台60的输入电压标准的信号。
示例性地，第一信号转接单元31中具有信号转换电路，信号转换电路用于实现电压幅度和极性转换中的至少一种。
通过设置多个信号转接单元，可以同时将多个待测信号转换成符合自动化测试平台60的输入电压标准的信号，从而可以提高测量效率。
示例性地，第一信号转接单元31为PCIe信号转接单元，第二信号转接单元32为SRIO信号转接单元，第三信号转接单元33为1000BASE-T信号转接单元，第四信号转接单元34为SGMII信号转接单元。其中第一信号转接单元31包括多个连接端子，多个连接端子分别为PCIe×1、PCIe×4、PCIe×8三种PCIe通信链路的一端。可以通过连接线将连接器组17与多个连接端子连接。则当待测信号通过连接器组17输入至PCIe×1插槽时，信号可以通过连接器组17和连接线输入至PCIe×1通信链路。
图5是本公开实施例提供的一种交换板的结构框图，如图5所示，测试系统还可以包括交换板40，交换板40包括第一路由41、第二路由42和第三路由43。
第一路由41用于为通信性能测试平台20和待测板卡70之间提供点对点或星型互连PCIe数据交换。第二路由42用于为通信性能测试平台20和待测板卡70之间提供点对点或星型互连SRIO数据交换。第三路由43用于为通信性能测试平台20和待测板卡70之间提供点对点或星型互连以太网数据交换。
其中，第一路由为PCIe路由，第二路由为SRIO路由，第三路由为以太网路由。各个路由可以采用对应协议的交换芯片实现。
通过设置交换板40，可以根据测试需要，为通信性能测试平台20和待测板卡70之间提供点对点或星型互连数据交换，以满足不同的测试需求。
图6是本公开实施例提供的一种自动化测试平台的结构框图，如图6所示，自动化测试平台60包括测试仪表62，测试仪表62包括高精度示波器和误码仪中的至少一种。
示例性地，在测试电气特性和信号质量参数时，采用高精度示波器和误码仪即可进行测试。例如，可以采用高精度示波器测试待测接口的眼图、抖动和一致性。
可选地，在测试通信性能参数时，还可以配合计算机和常用测试通信性能的软件进行测试。例如：iperf测试软件。
可选地，自动化测试平台60还包括用于放置、固定各测试仪表62的测试夹具及平台模板63。
可选地，自动化测试平台60还包括测试控制模块61和测试软件模块64，其中测试控制模块61用于向通信性能测试平台20发送测试控制信号，并接收通信性能测试平台20发送的通信性能的测试结果。或者控制测试软件模块64对待测信号的电气特性和信号质量进行测试。
测试软件模块64，用于获取测试仪表的测试结果，对测试结果进行分析，确定所述测试信号的电气特性和信号质量。
为了更好的理解本公开，以下简单说明下本公开实施例提供的测试系统的测试过程：
一、以测试PCIe信号为例，PCIe信号的电气特性和信号质量的具体测试过程如下：
图7是本公开实施例提供的一种测试系统测试PCIe接口的电气特性和信号质量连接图，如图7所示，待测板卡70的待测PCIe接口通过连接器组71与第一插槽13的PCIe×1连接。转接板30的第一信号转换单元31的PCIe×1通过连接器组71与第一插槽13的PCIe×1连接。第一信号转换单元31将待测的PCIe信号引入测试夹具50，测试夹具50通过连接线连接到自动化测试平台60中的示波器测试通道，由测试仪器62进行测试，测试软件模块64进行测试数据收集、自动分析和存储，以实现对PCIe信号的电气特性和信号质量进行测试。
二、以测试SRIO信号为例，SRIO信号的通信性能的具体测试过程如下：
图8是本公开实施例提供的一种测试系统测试SRIO接口的通信性能连接图，如图8所示，此时自动化测试平台60向通信性能测试平台20发送测试控制信号，以发起SRIO通信测试控制。通信性能测试平台20中的处理系统21通过串口或网口接收测试请求，并生成符合SRIO接口通信协议要求的测试数据，发送至可编程逻辑22。可编程逻辑22将测试数据发送至待测板卡70的SRIO待测接口。此时，可以通过信号转接装置10将测试数据发送至待测板卡70的SRIO待测接口，实现SRIO点对点通信。也可以通过交换板40将SRIO信号发送至待测板卡70，实现SRIO星型互连数据通信。待测板卡70的SRIO待测接口接收到测试数据后，再将测试数据重新通过信号转接装置10或交换板40发回至可编程逻辑22。可编程逻辑22即可测量接收到的测试数据的通信性能，将测量结果发送至处理系统21。最后，处理系统21再将接收到的测量结果发送至自动化测试平台60，完成SRIO信号的通信性能的测试。
本公开实施例提供了一种测试方法，该测试方法适用于如上述实施例所述的测试系统。图9是本公开实施例提供的一种测试方法的流程图，如图9所示，测试方法包括：
步骤901、接收待测板卡发送的待测信号。
其中，通过连接器组17与待测板卡70的待测接口连接，以接收待测板卡发送的待测信号。
步骤902、测量接收到的待测信号的电气特性和信号质量。
示例性地，可以由自动化测试平台60测量接收到的待测信号的电气特性和信号质量。
步骤903、向通信性能测试平台发送测试控制信号。
其中，测试控制信号用于指示通信性能测试平台20向待测板卡70发送测试数据。
步骤904、接收通信性能测试平台发送的通信性能的测试结果。
其中，测量结果是通信性能测试平台20基于接收到的待测板卡70发回给通信性能测试平台20的测试数据测量的。
示例性地，由通信性能测试平台20接收待测板卡70发回的测试数据，同时，测量待测板卡70发回的测试数据的通信性能，将测量结果发送至自动化测试平台60。自动化测试平台60可以将通信性能的测试结果进行展示、存储。
本公开实施例提供的测试方法，可以获取待测板卡发送的待测信号，并将待测信号发送至自动化测试平台。一方面，自动化测试平台接收到待测信号后，可以测量接收到的待测信号的电气特性和信号质量。另一方面，自动化测试平台还可以向通信性能测试平台发送测试控制信号，通信性能测试平台在接收到测试控制信号后，可以发送测试数据到待测板卡，然后接收待测板卡发回的测试数据，实现与待测板卡之间的通信。此时自动化测试平台可以基于接收到的测试数据测量待测接口的通信性能，并将测量结果发送至自动化测试平台。因此，采用上述测试系统，可以同时对待测接口的电气特性、信号质量以及通信性能进行测试，提高测试效率。
以上所述仅为本公开的可选实施例，并不用以限制本公开，凡在本公开的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本公开的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种测试系统，其特征在于，所述测试系统包括信号转接装置(10)、通信性能测试平台(20)和自动化测试平台(60)，
所述信号转接装置(10)，被配置为与待测板卡(70)的待测接口连接，用于获取所述待测板卡(70)发送的待测信号，并将所述待测信号发送至所述自动化测试平台(60)；
所述自动化测试平台(60)，用于测量接收到的所述待测信号的电气特性和信号质量；以及用于向所述通信性能测试平台(20)发送测试控制信号；
所述通信性能测试平台(20)，用于根据所述测试控制信号发送测试数据至所述待测板卡(70)，基于所述待测板卡(70)发回的测试数据测量所述待测接口的通信性能，以及将通信性能的测量结果发送至所述自动化测试平台(60)；
所述信号转接装置(10)包括多个插槽和连接器组(17)，所述多个插槽包括第一插槽(13)、第二插槽(14)、第三插槽(15)和第四插槽(16)中的至少两种；
所述第一插槽(13)通过所述连接器组(17)与所述待测板卡上的第一待测接口连接，所述第一待测接口输出高速串行计算机扩展总线标准信号；
所述第二插槽(14)通过所述连接器组(17)与所述待测板卡上的第二待测接口连接，所述第二待测接口输出串行快速输入/输出信号；
所述第三插槽(15)通过所述连接器组(17)与所述待测板卡上的第三待测接口连接，所述第三待测接口输出以太网信号；
所述第四插槽(16)通过所述连接器组(17)与所述待测板卡上的第四待测接口连接，所述第四待测接口输出串行千兆介质独立接口信号；
所述测试系统还包括转接板(30)，所述转接板(30)内具有多个信号转接单元，所述多个信号转接单元包括第一信号转接单元(31)、第二信号转接单元(32)、第三信号转接单元(33)和第四信号转接单元(34)中的至少两种，且所述多个信号转接单元的类型与所述多个插槽的类型一一对应；
所述第一信号转接单元(31)通过所述连接器组(17)与所述第一插槽(13)连接；
所述第二信号转接单元(32)通过所述连接器组(17)与所述第二插槽(14)连接；
所述第三信号转接单元(33)通过所述连接器组(17)与所述第三插槽(15)连接；
所述第四信号转接单元(34)通过所述连接器组(17)与所述第四插槽(16)连接；
所述多个信号转接单元用于将所述待测信号转换成电压大小符合所述自动化测试平台(60)的输入电压标准的信号；
所述连接器组(17)包括至少一个高速串行总线连接器，所述高速串行总线连接器具有电压幅度和极性转换的功能，将所述待测板卡输出的待测信号的电压转换成符合对应的插槽的电压输入标准的电压；
所述第一插槽(13)为高速串行计算机扩展总线标准插槽，所述第二插槽(14)为串行快速输入/输出插槽，所述信号转接装置(10)包括三个高速串行计算机扩展总线标准插槽和两个串行快速输入/输出插槽，所述三个高速串行计算机扩展总线标准插槽分别表示PCIe×1、PCIe×4、PCIe×8三种局域网模式的高速串行计算机扩展总线标准通信链路的一端，所述两个串行快速输入/输出插槽分别表示SRIO×1、SRIO×4两种串行快速输入/输出通信链路的一端。
2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述通信性能测试平台(20)包括处理系统(21)和可编程逻辑(22)；
所述处理系统(21)，用于接收所述自动化测试平台(60)发送的测试控制信号，并生成与所述待测板卡(70)的待测接口的通信协议相匹配的测试数据发送至所述可编程逻辑(22)；以及用于将接收到的所述测量结果发送至所述自动化测试平台(60)；
所述可编程逻辑(22)，用于将接收到的所述测试数据发送至所述信号转接装置(10)，基于接收到的测试数据测量所述待测接口的通信性能，以及将通信性能的测量结果发送至所述处理系统(21)。
3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述处理系统(21)通过高级可扩展接口与所述可编程逻辑(22)通信。
4.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述自动化测试平台(60)包括测试仪表(62)，所述测试仪表(62)包括高精度示波器和误码仪中的至少一种。
5.根据权利要求1至4任一项所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括测试夹具(50)，所述测试夹具(50)包括转接板安装板和压板，所述转接板安装板和所述压板相对，所述压板的与所述转接板安装板相对的一面上具有多个针，所述多个针的一端用于与所述转接板(30)上的触点电连接，所述多个针的另一端通过连接线与所述自动化测试平台(60)连接。
6.根据权利要求1至4任一项所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括交换板(40)，所述交换板(40)包括第一路由(41)、第二路由(42)和第三路由(43)；
所述第一路由(41)用于为所述通信性能测试平台(20)和待测板卡(70)之间提供点对点或星型互连高速串行计算机扩展总线标准数据交换；
所述第二路由(42)用于为所述通信性能测试平台(20)和待测板卡(70)之间提供点对点或星型互连串行快速输入/输出数据交换；
所述第三路由(43)用于为所述通信性能测试平台(20)和待测板卡(70)之间提供点对点或星型互连以太网数据交换。
7.一种测试方法，其特征在于，所述测试方法适用于如权利要求1～6任一项所述的测试系统，所述测试方法包括：
接收待测板卡(70)发送的待测信号；
测量接收到的所述待测信号的电气特性和信号质量；
向所述通信性能测试平台(20)发送测试控制信号，所述测试控制信号用于指示所述通信性能测试平台(20)向所述待测板卡(70)发送测试数据；
接收所述通信性能测试平台(20)发送的通信性能的测量结果，所述测量结果是基于接收到的待测板卡(70)发回给所述通信性能测试平台(20)的测试数据测量的。
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