CN211878587U - 通讯模块pcie信号的测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种通讯模块PCIE信号的测试装置,包括:测试板,测试板包括时钟使能开关、时钟发生器以及PCIE接口;其中:PCIE接口包括发送通道和接收通道;时钟发生器用于与接收通道接口电连接;时钟使能开关的一端用于与时钟发生器电连接,另一端用于接地;当测试板经由发送通道与通讯模块电连接时:时钟使能开关用于在被触发时向时钟发生器发送时钟使能信号;时钟发生器用于根据时钟使能信号向接收通道发送时钟信号以切换PCIE接口发送通道的传输速率。如此,本实用新型可以测试到PCIE接口发送通道在所有传输速率下的信号波形。
Description
技术领域
本实用新型涉及通讯技术领域,特别涉及一种通讯模块PCIE(PeripheralComponent Interconnect Express,一种高速串行计算机扩展总线标准)信号的测试装置。
背景技术
现有的通讯模块PCIE信号的测试装置中,PCIE接口与PCIE外设是一一连接的,由于PCIE外设可能仅支持唯一传输速率,如此,使得测试装置无法测试到PCIE接口所有传输速率的信号波形,测试不够全面。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是为了克服现有技术中无法测试到PCIE接口所有传输速率的信号波形的缺陷,提供一种通讯模块PCIE信号的测试装置。
本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题:
一种通讯模块PCIE信号的测试装置,所述测试装置包括测试板,所述测试板包括时钟使能开关、时钟发生器以及PCIE接口;其中:
所述PCIE接口包括发送通道和接收通道;
所述时钟发生器用于与所述接收通道电连接;
所述时钟使能开关的一端用于与所述时钟发生器电连接,另一端用于接地;
当所述测试板经由所述发送通道与通讯模块电连接时:
所述时钟使能开关用于在被触发时向所述时钟发生器发送时钟使能信号;
所述时钟发生器用于根据所述时钟使能信号向所述接收通道发送时钟信号,所述时钟信号用于切换所述发送通道的传输速率。
较佳地,所述测试板还包括若干测试通道;
所述测试通道的一端用于与所述PCIE接口电连接,另一端用于与外部测试仪器电连接。
较佳地,所述测试通道的一端具体用于与所述发送通道电连接;
和/或,
所述PCIE接口还包括参考时钟通道,所述测试通道的一端具体用于与所述参考时钟通道电连接。
较佳地,所述测试通道采用SMA连接器。
较佳地,所述测试通道与所述PCIE接口之间的走线长度为0.18inch。
较佳地,所述测试装置还包括定位治具,所述定位治具包括定位槽以及若干顶针;其中:
所述定位槽用于放置所述通讯模块;
所述顶针的一端用于与所述PCIE接口电连接,另一端用于与所述通讯模块电连接。
较佳地,所述定位治具还包括定位网格;
所述定位网格设于所述顶针和所述定位槽之间;
所述顶针可拆卸地设于所述定位网格中。
较佳地,所述测试装置还包括:
按压模块,用于沿着朝向所述测试板的方向按压所述通讯模块。
本实用新型的积极进步效果在于:在本实用新型中,PCIE接收通道与时钟发生器电连接,通过触发时钟发生器发送时钟信号,可以实现PCIE发送通道的传输速率的切换,如此,可以测试到PCIE发送通道在所有传输速率下的信号波形。
附图说明
图1为根据本实用新型较佳实施例的通讯模块PCIE信号的测试装置的模块示意图。
图2为根据本实用新型较佳实施例的通讯模块PCIE信号的测试装置中测试板的电路连接示意图。
具体实施方式
下面举个较佳实施例,并结合附图来更清楚完整地说明本实用新型。
本实施例提供一种通讯模块PCIE信号的测试装置,图1示出了本实施例的模块示意图。参照图1,本实施例的测试装置可以包括:测试板1、定位治具2以及按压模块3。
具体地,在本实施例中,定位治具2可以包括定位槽以及若干顶针,其中,定位槽用于放置通讯模块,顶针的一端用于与测试板1上的PCIE接口电连接,另一端用于与通讯模块的通讯接口电连接,按压模块3用于沿着朝向测试板1的方向按压通讯模块,使得通讯模块可以与测试板1之间产生稳定的电连接,进而使得对通讯模块PCIE信号的测试稳定进行。
在本实施例中,顶针的使用能够使得封装兼容的通讯模块都可以在测试板1上进行测试。进一步地,定位治具2还可以包括设于顶针和定位槽之间的定位网格,顶针可拆卸地设于定位网格中,从而,定位治具2可以根据待测试的通讯模块通讯接口位置的不同,来更换顶针位置,提高本实施例提供的测试装置的通用性。
较之将通讯模块焊接到转接板,再由转接板经由BTB(Board To Board,板到板)连接板电连接到测试板1的方式,本实施例中采用顶针直接连接测试板1和通讯模块的焊盘接口,不会发生由于转接板与测试板1定义不同的PCIE阻抗所导致的PCIE阻抗匹配不好的情形,也不会发生由于BTB连接器而产生的额外的信号损耗的情形,也即,有效避免了BTB连接器造成的PCIE阻抗不匹配以及额外信号损耗。
在本实施例中,测试板1可以是PCB(Printed Circuit Board,印制电路板)板,图2示出了本实施例中测试板1的电路连接示意图。参照图2,测试板1可以包括时钟使能开关S1、时钟发生器U1、PCIE接口。其中,PCIE接口可以包括发送通道PCIE_TX0_P、PCIE_TX0_N,接收通道PCIE_RX0_P、PCIE_RX0_N,参考时钟通道PCIE_CLK_P、PCIE_CLK_N。
时钟发生器U1可以用于与接收通道PCIE_RX0_P、PCIE_RX0_N电连接,时钟使能开关S1的一端可以用于与时钟发生器U1电连接,另一端用于接地,其中,时钟发生器U1具体为100MHz的时钟发生器。
当测试板1经由发送通道与通讯模块电连接时,具体地,在通讯模块进入PCIE一致性模式时,时钟使能开关S1可以用于在被触发时向时钟发生器U1发送时钟使能信号,时钟发生器U1可以用于根据时钟使能信号向接收通道PCIE_RX0_P、PCIE_RX0_N发送时钟信号,时钟信号用于切换PCIE接口发送通道的传输速率。如此,通过多次触发使能开关S1,可以实现PCIE接口发送通道的传输速率的切换,进而可以测试到PCIE接口发送通道在所有传输速率下的信号波形。
在本实施例中,测试板1还可以包括若干测试通道J1-J4,其中,测试通道的一端用于与测试板1上的PCIE接口电连接,另一端用于与外部测试仪器,例如示波器,电连接。具体地,参照图2,在本实施例中,测试通道J1与发送通道PCIE_TX0_P电连接,测试通道J2与发送通道PCIE_TX0_N电连接,测试通道J3与参考时钟通道PCIE_CLK_P电连接,测试通道J4与参考时钟通道PCIE_CLK_N电连接。
在本实施例中,测试通道可以采用高带宽的SMA连接器,PCIE信号经由SMA连接器、SMA线缆可以直接引入外部测试仪器,并且SMA连接器与SMA线缆拧紧后就可以实现与外部测试仪器的固定连接,较之采用手持差分高速探头点测PCIE测试点容易导致抓取的PCIE信号波形不稳定的方式,本实施例抗干扰能力强,方便测试,还能够有效增加测试的准确性。
具体地,在本实施例中,SMA连接器分别用于与发送通道PCIE_TX0_P、PCIE_TX0_N电连接,当SMA线缆连接J1、J2和示波器通道时,示波器通道可提供50Ohm的端接,以模拟在PCIE_TX0链路连接一个PCIE外设,避免实际PCIE外设对传输速率的限制。
在本实施例中,测试通道与PCIE接口之间走线的长度为0.18inch,以符合PCIBase Specification(基础规范)定义的Transmitter(发射器)到测点线长小于0.2inch。同时0.18inch的长度也能够满足耦合电容C1、C2和SMA连接器J1、J2、J3、J4的贴片。
具体地,参照图2,测试通道J1与发送接口PCIE_TX0_P之间走线的长度为0.18inch,测试通道J2与发送接口PCIE_TX0_N之间走线的长度为0.18inch,测试通道J3与时钟接口PCIE_CLK_P之间走线的长度为0.18inch,测试通道J4与时钟接口PCIE_CLK_N之间走线的长度为0.18inch。
在本实施例中,一方面,PCIE发送通道通过SMA线缆与示波器通道电连接,得到示波器通道的50Ohm端接以模拟PCIE接口端接,从而未限制PCIE的传输速率,另一方面,PCIE接收通道与时钟发生器电连接,通过触发时钟发生器发送时钟信号,可以实现PCIE发送通道的传输速率的切换,如此,可以测试到PCIE发送通道在所有传输速率下的信号波形。此外,还可以有效避免BTB连接器造成的PCIE阻抗不匹配与额外信号损耗,还能够在稳定连接的情况下实现标准化测试。
虽然以上描述了本实用新型的具体实施方式,但是本领域的技术人员应当理解,这仅是举例说明,本实用新型的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本实用新型的原理和实质的前提下,可以对这些实施方式做出多种变更或修改,但这些变更和修改均落入本实用新型的保护范围。
Claims (8)
1.一种通讯模块PCIE信号的测试装置,其特征在于,所述测试装置包括测试板,所述测试板包括时钟使能开关、时钟发生器以及PCIE接口;其中:
所述PCIE接口包括发送通道和接收通道;
所述时钟发生器用于与所述接收通道电连接;
所述时钟使能开关的一端用于与所述时钟发生器电连接,另一端用于接地;
当所述测试板经由所述发送通道与通讯模块电连接时:
所述时钟使能开关用于在被触发时向所述时钟发生器发送时钟使能信号;
所述时钟发生器用于根据所述时钟使能信号向所述接收通道发送时钟信号,所述时钟信号用于切换所述发送通道的传输速率。
2.如权利要求1所述的通讯模块PCIE信号的测试装置,其特征在于,所述测试板还包括若干测试通道;
所述测试通道的一端用于与所述PCIE接口电连接,另一端用于与外部测试仪器电连接。
3.如权利要求2所述的通讯模块PCIE信号的测试装置,其特征在于,所述测试通道的一端具体用于与所述发送通道电连接;
和/或,
所述PCIE接口还包括参考时钟通道,所述测试通道的一端具体用于与所述参考时钟通道电连接。
4.如权利要求2所述的通讯模块PCIE信号的测试装置,其特征在于,所述测试通道采用SMA连接器。
5.如权利要求2所述的通讯模块PCIE信号的测试装置,其特征在于,所述测试通道与所述PCIE接口之间的走线长度为0.18inch。
6.如权利要求1所述的通讯模块PCIE信号的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括定位治具,所述定位治具包括定位槽以及若干顶针;其中:
所述定位槽用于放置所述通讯模块;
所述顶针的一端用于与所述PCIE接口电连接,另一端用于与所述通讯模块电连接。
7.如权利要求6所述的通讯模块PCIE信号的测试装置,其特征在于,所述定位治具还包括定位网格;
所述定位网格设于所述顶针和所述定位槽之间;
所述顶针可拆卸地设于所述定位网格中。
8.如权利要求6所述的通讯模块PCIE信号的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括:
按压模块,用于沿着朝向所述测试板的方向按压所述通讯模块。
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CN202020684754.4U CN211878587U (zh) | 2020-04-28 | 2020-04-28 | 通讯模块pcie信号的测试装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN113295946A (zh) * | 2021-05-11 | 2021-08-24 | 深圳市精泰达科技有限公司 | PCIe测试治具码型自动切换方法及其装置 |
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- 2020-04-28 CN CN202020684754.4U patent/CN211878587U/zh active Active
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