CN111650537A - 辅助检测电路、装置、主板和终端设备 - Google Patents

辅助检测电路、装置、主板和终端设备 Download PDF

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Abstract

本申请提供了一种辅助检测电路、装置、主板和终端设备。此辅助检测电路应用于终端设备,包括:信号切换模块、卡座状态检测模块和卡座;所述信号切换模块分别与所述卡座状态检测模块和所述卡座连接;所述卡座状态检测模块与所述卡座连接;所述卡座状态检测模块检测到所述卡座内没有外接卡插入时,向所述信号切换模块发送第一信号;所述信号切换模块接收到第一信号后,向所述卡座输出用于对所述终端设备进行测试的测试信号。将终端设备内部的探测点引出至设备接口,使得可以在不拆机的情况下对终端设备进行检测,以便快速定位故障原因。

Description

辅助检测电路、装置、主板和终端设备
技术领域
本申请涉及电路技术,尤其涉及一种辅助检测电路、装置、主板和终端设备。
背景技术
随着电子技术的发展,终端设备集成化程度越来越高,不断朝着轻薄小型化发展。终端设备一旦发生故障,维修过程也变得复杂。特便是面对一些比较隐蔽的问题,无法直观确定故障原因时,就需要对设备进行一系列的检测。
相关技术中,可供维修人员对终端设备的故障问题进行检测和分析的探测点,一般都设置在PCB电路板上。当需要进行测试时,一般需要进行拆机,然后从探测点引出调测接口,再基于调测接口进行后续的测试过程。
但终端设备的高集成度使得拆机难度较大。同时,由于拆机不善造成部件损坏而产生的物料损耗成本也较高。拆机也可能会对设备造成影响,使故障原因难以发现。
发明内容
本申请提供一种辅助检测电路、装置、主板和终端设备,将终端设备内部的探测点引出至设备接口,使得可以在不拆机的情况下对终端设备进行检测,以便快速定位故障原因。
第一方面,本申请提供一种辅助检测电路,应用于终端设备,所述辅助检测电路包括:所述信号切换模块分别与所述卡座状态检测模块和所述卡座连接;所述卡座状态检测模块与所述卡座连接;所述卡座状态检测模块检测到所述卡座内没有外接卡插入时,向所述信号切换模块发送第一信号;所述信号切换模块接收到第一信号后,向所述卡座输出用于对所述终端设备进行测试的测试信号。
可选的,所述信号切换模块包括用于传输卡片信号的卡片信号输入端、用于传输测试信号的测试信号输入端、信号输出端、信号选择控制端;所述信号切换模块的信号输出端与所述卡座相连;所述信号切换模块的信号选择控制端与所述卡座状态检测模块相连;所述卡座状态检测模块设置在所述卡座内,具体用于检测卡座内是否有外接卡插入,并在确定所述卡座内无外接卡插入时,向所述信号切换模块的信号选择控制端输出第一信号,使所述信号切换模块的信号输出端与测试信号输入端相连,以通过所述卡座输出测试信号。
可选的,所述卡座状态检测模块在确定所述卡座内有外接卡插入时,向所述信号切换模块的信号选择控制端输出第二信号,使所述信号切换模块的信号输出端与卡片信号输入端相连,以通过所述卡座输出卡片信号。
可选的,所述卡座包括:SIM卡座、SD卡座、SIM/SD多合一卡座。
第二方面,本申请提供一种辅助检测装置,用于安装于第一方面所述的辅助检测电路的卡座中,所述辅助检测装置包括:信号输入端子和信号测试点;所述信号输入端子与所述的卡座上的信号输出端子对应设置,用于从所述卡座获取测试信号并发送给所述信号测试点。
可选的,所述辅助检测装置还包括:板对板连接器,用于连接检测设备。
可选的,所述辅助检测装置还包括:转接卡座,用于插入外接卡。
可选的,所述转接卡座包括:SIM卡座、SD卡座、SIM/SD多合一卡座。
第三方面,本申请提供一种主板,包括:如第一方面所述的辅助检测电路。
第四方面,本申请提供一种终端设备,包括:如第三方面所述的主板。
本申请提供了一种辅助检测电路、装置、主板和终端设备。此辅助检测电路应用于终端设备,包括:信号切换模块、卡座状态检测模块和卡座;所述信号切换模块分别与所述卡座状态检测模块和所述卡座连接;所述卡座状态检测模块与所述卡座连接;所述卡座状态检测模块检测到所述卡座内没有外接卡插入时,向所述信号切换模块发送第一信号;所述信号切换模块接收到第一信号后,向所述卡座输出用于对所述终端设备进行测试的测试信号。将终端设备内部的探测点引出至设备接口,使得可以在不拆机的情况下对终端设备进行检测,以便快速定位故障原因。
附图说明
为了更清楚地说明本申请或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请一种应用场景的示意图;
图2为本申请一实施例提供的一种辅助检测电路的结构示意图;
图3为本申请一实施例提供的一种辅助检测电路的结构示意图;
图4为本申请一实施例提供的一种辅助检测电路的结构示意图;
图5为本申请一实施例提供的一种辅助检测装置的结构示意图;
图6A为本申请一实施例提供的一种辅助检测装置的A面的结构示意图;
图6B为本申请一实施例提供的一种辅助检测装置的B面的结构示意图;
图7为本申请一实施例提供的一种主板的结构示意图;
图8为本申请一实施例提供的一种终端设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请中的附图,对本申请中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
现在,电子设备的集成度越来越高,不断朝着轻薄小型化发展。外形更加简约美观,使用更加方便。但也因为其高度集成化,终端设备一旦发生故障,维修过程也变得复杂。特便是面对一些比较隐蔽的问题,无法直观确定故障原因时,还需要对设备进行一系列的检测。
一般会在PCB电路板上设置可供维修人员对终端设备的故障问题进行检测和分析的探测点。当需要进行测试时,一般需要进行拆机,然后从探测点引出调测接口,再基于调测接口进行后续的测试过程。
探测点也称为调测接口,包括:联合测试工作组(Joint Test Action Group,JTAG)、通用异步收发传输器(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter,UART)等。
但是,高集成度越高的设备,其拆机难度也越大。同时,由于拆机不善造成部件损坏而产生的物料损耗成本也较高。拆机也可能会对设备造成影响,使故障原因难以发现。例如很多智能手机,外壳密封,电池与主板部件贴合紧密,拆机难度就比较高。一旦操作不慎,可能损坏电池等部件,其更换成本也较高。另外拆机过程中,虽然最终将主板暴露出来,但操作过程中可能因为触动了接线等原因而造成其它问题。
发明人在实现本申请的过程中发现,终端设备,特别是具有与外部设备通信功能的设备,一般都会有一些接口可供外部设备与其进行连接。可以依托于这些接口,将主板上的探测点引出。
基于此,本申请提供一种辅助检测电路、装置、主板和终端设备,将终端设备内部的探测点引出至设备接口,使得可以在不拆机的情况下对终端设备进行检测,以便快速定位故障原因。
图1为本申请一种应用场景的示意图。如图1所示,利用检测设备101对终端设备102进行检测。终端设备102内部设置有本申请提供的辅助检测电路,可以将内部设置的探测点的信号引出至卡座上。所以无需拆机,直接用检测设备101对终端设备102的卡座上的信号进行检测即可。其中,终端设备102可以为智能手机、计算机等电子设备。具体的实现方式可以参考以下各实施例。
图2为本申请一实施例提供的一种辅助检测电路的结构示意图。如图2所示,本实施例的辅助检测电路可以应用于终端设备。辅助检测电路包括:信号切换模块201、卡座状态检测模块202和卡座203;卡座状态检测模块202用于检测卡座203内是否有外接卡插入;信号切换模块201用于在卡座状态检测模块202确定卡座203内没有外接卡插入时,向卡座203输出用于对终端设备进行测试的测试信号。
卡座203用于插接外接卡,例如用户身份识别卡(Subscriber Identity Module,SIM)、安全数码卡(Secure Digital Memory Card,SD)、闪存卡(Trans-flash Card,TF)等。
相对应的,可选的,卡座203可以包括:SIM卡座、SD卡座、SIM/SD多合一卡座等。
卡座状态检测模块202则用于检测卡座203内是否有外接卡插入。根据卡座203内外接卡插入与否,可以将卡座203的使用状态划分为两种。当有外接卡插入时,卡座203作为终端设备对外接卡进行读写的引脚。当无外接卡插入时,卡座203则作为终端设备中探测点的引出引脚。实际上,两种状态之间,卡座203的结构并未发生改变,只是经由其传输的信号不同。这种信号的切换则是由信号切换模块201实现的。
信号切换模块可以连接测试信号的发生模块和卡片信号的发生模块。当卡座状态监测模块202检测到卡座203内有外接卡插入时,信号切换模块201即将卡片信号输出至卡座203。当卡座状态监测模块202检测到卡座203内无外接卡插入时,信号切换模块201即将测试信号输出至卡座203。这里所说的测试信号的发生模块和卡片信号的发生模块,并不一定是单独的模块,仅仅是对产生测试信号和卡片信号的模块的一种命名方式,并不构成任何限定。
另外,本身请中所说的“输入”和“输出”仅是以相对于各模块本身的信号传递方向的描述。并不意味着各模块就是信号的最初发生模块或最终接收模块。各模块都可能是终端设备与测试设备或外接卡的通信过程中,信号传输的一个节点。
本实施例提供的辅助检测电路,应用于终端设备,辅助检测电路包括:信号切换模块、卡座状态检测模块和卡座;信号切换模块分别与卡座状态检测模块和卡座连接;卡座状态检测模块与卡座连接;卡座状态检测模块检测到卡座内没有外接卡插入时,向信号切换模块发送第一信号;信号切换模块接收到第一信号后,向卡座输出用于对终端设备进行测试的测试信号。利用辅助检测电路将终端设备内部的探测点引出至设备接口,使得可以在不拆机的情况下对终端设备进行检测,简化检测过程,减少对故障现场的破坏,提高检测效率。同时还可以避免拆机损害终端设备的风险。
在一些实施例中,上述的卡座状态检测模块包括:弹片、第一引脚和第二引脚,其中弹片材质为导体。第一引脚与第二引脚之间通过弹片接触性连接。在机械结构上,第一引脚的一端、第二引脚的一端、弹片的一端固定在卡座的本体上。
在无外接卡插入时,弹片处于自然状态,弹片与第一引脚的另一端和第二引脚的另一端连接,第一引脚和第二引脚所在电路被接通。在有外接卡插入时,弹片被挤压处于形变状态,弹片与第一引脚的另一端和第二引脚的另一端不连接,第一引脚和第二引脚所在电路被断路。如此,可以实现对卡座状态进行检测。
需要说明的是,本实施例仅列举了卡座状态检测模块的其中一种实现方式。其它可实现检测功能的实现方式也包含在本申请的范围内,此处不再一一赘述。
图3为本申请一实施例提供的一种辅助检测电路的结构示意图。如图3所示,本实施例的辅助检测电路中各模块的具体结构和模块之间的连接关系如下。信号切换模块201包括用于传输卡片信号的卡片信号输入端301、用于传输测试信号的测试信号输入端302、信号输出端303、信号选择控制端304;信号切换模块201的信号输出端303与卡座203相连;信号切换模块201的信号选择控制端304与卡座状态检测模块202相连;卡座状态检测模块202设置在卡座203内,具体用于检测卡座203内是否有外接卡插入,并在确定卡座203内无外接卡插入时,向信号切换模块201的信号选择控制端304输出第一信号,使信号切换模块201的信号输出端303与测试信号输入端302相连,以通过卡座203输出测试信号。
其中,卡片信号输入端301、测试信号输入端302、信号输出端303、信号选择控制端304,其形态可以为引脚或线端。本申请中并不对其引脚或线端的具体数量做限定,其具体数量需要根据实际的情况设定。例如,卡片信号输入端301可能包含有1-10个引脚,或10个以上数量的引脚。
另外,卡座状态检测模块202还用于:在确定卡座203内有外接卡插入时,向信号切换模块201的信号选择控制端304输出第二信号,使信号切换模块201的信号输出端303与卡片信号输入端301相连,以通过卡座203输出卡片信号。
当卡座状态检测模块202检测到卡座203内无外接卡插入时,向信号切换模块201的信号选择控制端304输出第一信号,使信号切换模块201的信号输出端303与测试信号输入端302相连,以通过卡座203输出测试信号。
当卡座状态检测模块202检测到卡座203内有外接卡插入时,向信号切换模块201的信号选择控制端304输出第二信号,使信号切换模块201的信号输出端303与卡片信号输入端301相连,以通过卡座203输出卡片信号。
在一些实施例中,卡座203上设置有信号输出端子,与外接卡上的触电对应设置,可以进行卡片信号的传输。
本申请中所说的“卡片信号”指的是,终端设备与外接卡实现信息交互时传输的信号。它既包括终端设备通过卡座203发送到外接卡的信号,也包括终端设备通过卡座203获取的外接卡的信号。因此,本申请中作为实现效果描述的“通过卡座203输出卡片信号”并不能成为对信号传输方式的限定。所有信号的传输过程,都可能有与其对应的相反过程。但具体的信号传输方向与内容,并非本申请的方案所要求的重点。所以对对应传输过程的描述仅一笔带过,不做赘述。
本申请中所说的“第一信号”“第二信号”,仅是对两个触发效果不同的信号的区分。实际上,它们都是电信号。可能一个为高电平信号,另一个为低电平信号。
图4为本申请一实施例提供的一种辅助检测电路的结构示意图。如图4所示,本实施例展示了辅助检测电路中各模块的内部电路结构。
其中,信号切换模块201上的卡片信号输入端301包括引脚00(SD_n1)、01(SD_n2)、02(SD_n3)、03(SD_n4)、04(SD_n5)、05(SD_n6)、06(SIM_n1)、07(SIM_n2)、08(SIM_n3)、09(SIM_n4),分别用于连接终端设备内部的SD卡接口信号、SIM卡接口信号。测试信号输入端302包括引脚10(JTAG_n1)、11(JTAG_n2)、12(JTAG_n3)、13(JTAG_n4)、14(JTAG_n5)、15(JTAG_n6)、16(UART_Rx)、17(UART_Tx)、18(Forceboot)、19(Power_1V8),用于连接终端设备内部的硬件调测接口信号。信号输出端303包括引脚20(CARD_n1)、21(CARD_n2)、22(CARD_n3)、23(CARD_n4)、24(CARD_n5)、25(CARD_n6)、26(CARD_n7)、27(CARD_n8)、28(CARD_n9)、29(CARD_n10),分别用于连接SIM/SD卡座上对应管脚。卡片信号输入端301、测试信号输入端302与信号输出端303之间可以通过双向开关连接。
信号选择控制端304为引脚30(SEL)。
预先设定触发逻辑为,当SEL输入为低电平时,测试信号输入端302与信号输出端303连通;SEL输入为高电平时,卡片信号输入端301与信号输出端303连通。
401为AP处理器,402为电源VDDIO,403为电阻R。
卡座状态检测模块202包括检测管脚31(SW/CD)和接地管脚32(S/GND)。检测管脚SW/CD与SEL、AP处理器401的引脚33(GPIO)输入口连接,并通过电阻403上拉到电源VDDIO402。外接卡未插入状态下,检测管脚SW/CD与接地管脚S/GND连通;外接卡插入状态下,检测管脚SW/CD与接地管脚S/GND断开。
在外接卡未插入状态下,检测管脚SW/CD与接地管脚S/GND连通,SEL输入低电平,测试信号输入端302与信号输出端303连通。终端设备内部的硬件调测接口信号经由输出端303引出到卡座的对应管脚。
一般,SIM卡或SD卡会被安装在卡托上插入卡座,检测管脚SW/CD与接地管脚S/GND断开,SW/CD通过电阻R上拉到VDDIO电源,AP处理器可以检测到GPIO口为高电平,SEL输入高电平,卡片信号输入端301与信号输出端303连通。终端设备内部的SD卡接口信号、SIM卡接口信号经由输出端303引出到卡座的对应管脚。
需要说明的是,本实施例仅提供其中一种具体的电路实现方式。还可以采用其它电路实现方式,这里不做限定。
图5为本申请一实施例提供的一种辅助检测装置的结构示意图。如图5所示,本申请的辅助检测装置用于安装于上述实施例中的辅助检测电路的卡座203中。辅助检测装置包括:信号输入端子501和信号测试点502;信号输入端子501与卡座203上的信号输出端子对应设置,用于从卡座203获取测试信号并发送给信号测试点502。
辅助检测装置配合上述实施例中的辅助检测电路,可以将引出至卡座的探测点引至辅助检测装置上。可以更便于对终端设备进行检测。
在一些实施例中,辅助检测装置上还可以设置有:板对板连接器,用于连接检测设备。
板对板连接器相当于辅助检测装置上引出的引脚,可以更便于与检测设备连接进行检测过程。
在一些实施例中,辅助检测装置还包括:转接卡座,用于插入外接卡。转接卡座可以包括:SIM卡座、SD卡座、SIM/SD多合一卡座等。
图6A为本申请一实施例提供的一种辅助检测装置的A面的结构示意图。图6B为本申请一实施例提供的一种辅助检测装置的B面的结构示意图。
本实施例的辅助检测装置本体采用FPC柔性板。
如图6A所示,本实施例的辅助检测装置A面上包括:补强钢片601,信号测试点502,板对板连接器503,开槽602。补强钢片601设置在插入卡座的部分的FPC柔性板上。如图6B所示,本实施例的辅助检测装置B面上包括:SIM卡位触点区603,SD卡位触点区604,开槽602。其中,SIM卡位触点区603和SD卡位触点区604即上述实施例中信号输入端子501的一种具体设置结构。从终端设备输出的信号将从此位置输入辅助检测装置,故称之为信号输入端子。开槽602的位置对应于上述实施例中的卡座状态检测模块中的弹片。SIM卡位触点区603,SD卡位触点区604的位置对应于上述实施例中的卡座中的触点位置。
在实际的使用过程中,将本实施例的辅助检测装置插入卡座后,SIM卡位触点区603,SD卡位触点区604与卡座中的触点对应连接。由于对应卡座内弹片的位置有开槽602,弹片的状态不会发生改变。弹片仍处于自然状态,卡座状态检测装置确定无外接卡插入。信号切换模块的测试信号输入端与信号输出端连通,终端设备内的探测点辅助检测电路和此辅助检测装置引出至信号测试点502和板对板连接器503。利用信号测试点502和板对板连接器503即可实现研发调测工作。
除了对调测接口的检测,辅助检测装置还可以用于测试终端设备与外接卡之间的通信状况。具体的实现方式如下,因采用了图6A和图6B的类似结构,所以依然基于图6A和图6B进行描述。
在另一些实施例中,辅助检测装置的A面还设置有SIM卡座605,可用于插接SIM卡。B面还设置有SD卡座606,可用于插接SD卡。
在使用此辅助检测装置对卡片信号进行测试时,用一可拆卸部件将开槽602补平。再将此辅助检测装置插入卡座后,SIM卡位触点区603,SD卡位触点区604与卡座中的触点对应连接。由于对应卡座内弹片的位置的开槽602被补平,弹片的状态会发生改变。弹片处于形变状态,卡座状态检测装置确定有外接卡插入。信号切换模块的卡片信号输入端与信号输出端连通,终端设备可与辅助检测装置上的卡座中插入的外接卡通信。相当于将SIM卡、SD卡信号由终端设备内引出。把SIM卡和/或SD卡对应插入到A面的SIM卡座605和/或B面的SD卡座606中,即可利用信号测试点502和板对板连接器503对SIM卡和/或SD卡信号质量、时序进行调测。最多可一次性实现2张SIM卡和1张SD卡的测试工作。
需要说明的是,在对外接卡信号进行测试时,此辅助检测装置可与单独使用,并不必须配合终端装置内的辅助检测电路。即此辅助检测设备可直接应用于一般终端装置的检测。
在另一种实施例中,辅助检测装置的A面不设置有补强钢片,而是在与B面相同的位置设置有SIM卡位触点区,SD卡位触点区。这样的设置方式,可与支持此辅助检测装置A面和B面都可以与卡座上的触点区连接。
B面与卡座上的触点区连接时,实现过程与图6A对应的实施例相同。A面与卡座上的触点区连接时,开槽的位置与卡座内弹片的位置不再对应,弹片的状态会发生改变。达到与上述的补平开槽的方式同样的使用效果,即可利用信号测试点和板对板连接器对SIM卡和/或SD卡信号质量、时序进行调测。
图7为本申请一实施例提供的一种主板的结构示意图。如图7所示,本实施例的主板700,包括:辅助检测电路701。
辅助检测电路701的结构可以采用如图2-5对应实施例中的结构。
图8为本申请一实施例提供的一种终端设备的结构示意图。如图8所示,本实施例的终端设备800,包括:主板801。
主板801可以采用如图7对应实施例中的结构。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本申请的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种辅助检测电路,其特征在于,应用于终端设备,所述辅助检测电路包括:信号切换模块、卡座状态检测模块和卡座;
所述信号切换模块分别与所述卡座状态检测模块和所述卡座连接;所述卡座状态检测模块与所述卡座连接;
所述卡座状态检测模块检测到所述卡座内没有外接卡插入时,向所述信号切换模块发送第一信号;
所述信号切换模块接收到第一信号后,向所述卡座输出用于对所述终端设备进行测试的测试信号。
2.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述信号切换模块包括用于传输卡片信号的卡片信号输入端、用于传输测试信号的测试信号输入端、信号输出端、信号选择控制端;
所述信号切换模块的信号输出端与所述卡座相连;
所述信号切换模块的信号选择控制端与所述卡座状态检测模块相连;
所述卡座状态检测模块设置在所述卡座内,具体用于检测卡座内是否有外接卡插入,并在确定所述卡座内无外接卡插入时,向所述信号切换模块的信号选择控制端输出第一信号,使所述信号切换模块的信号输出端与测试信号输入端相连,以通过所述卡座输出测试信号。
3.根据权利要求2所述的电路,其特征在于,所述卡座状态检测模块在确定所述卡座内有外接卡插入时,向所述信号切换模块的信号选择控制端输出第二信号,使所述信号切换模块的信号输出端与卡片信号输入端相连,以通过所述卡座输出卡片信号。
4.根据权利要求1-3任一项所述的电路,其特征在于,所述卡座包括:SIM卡座、SD卡座、SIM/SD多合一卡座。
5.一种辅助检测装置,其特征在于,用于安装于权利要求1-4任一项所述的辅助检测电路的卡座中,所述辅助检测装置包括:信号输入端子和信号测试点;
所述信号输入端子与所述的卡座上的信号输出端子对应设置,用于从所述卡座获取测试信号并发送给所述信号测试点。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,还包括:板对板连接器,用于连接检测设备。
7.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,还包括:转接卡座,用于插入外接卡。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述转接卡座包括:SIM卡座、SD卡座、SIM/SD多合一卡座。
9.一种主板,其特征在于,包括:如权利要求1-4任一项所述的辅助检测电路。
10.一种终端设备,其特征在于,包括:如权利要求9所述的主板。
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