JPH04118682U - 接続補助板 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】接続補助板のコンタクトプローブピン間のクロ
ストークを小さくする。 【構成】基板に貫通しかつ千鳥状に配した複数のコンタ
クトプローブピンを備え、かつこれらの各コンタクトプ
ローブピン間にそれぞれ接地ピンを有した接続補助板。 【効果】コンタクトプローブピンを千鳥状に配するので
コンタクトプローブピン間隔が広くなり、このためコン
タクトプローブピン間の特性インピーダンスおよび結合
容量を小さくできる。しかも、これらの各コンタクトプ
ローブピンの間にそれぞれ接地ピンを設けているので、
コンタクトプローブピン間のクロストークを小さくする
ことができる。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、集積回路などを乗せた基板に対する試験装置の端末に用いる接続補 助板に関し、詳しくはコンタクトプローブピン間のクロストークを小さくした接 続補助板に関する。

【０００２】

【従来の技術】

従来、集積回路ＩＣ（ Integrated Circuits ）、大規模集積化回路ＬＳＩ（ Large Scale Integration ）、即時呼出し記憶装置ＲＡＭ（ Random-Access Memory）などを乗せた基板に、実際に通電してその結果を測定することで、これ らの回路の正常作動を確認する試験がある。これには例えば図１のような回路正 常作動確認用試験器を用いる。詳しくは、基板５ｃに複数のコンタクトプローブ ピン６ｃを設けた接続補助板１ｃを用意し、集積回路２などを乗せた回路付基板 ３の端子４にコンタクトプローブピン６ｃにそれぞれ接触させて通電せしめ、次 いでサブボード７、ケーブル８、パホォースマンスボード９を通して自動的に測 定することによる。

【０００３】 従って、回路付基板３と接続補助板１ｃとはコンタクトプローブピン６ｃによ って接触しているだけで通電しているので、複数の回路付基板を取り返しながら 測定することができる。ここで、コンタクトプローブピン６ｃとは例えば図２の ような筒状の部品６ｘの中にコイル状ばね６ｙを入れてさらに棒状の部品６ｚを 入れた構成であって、コイル状ばね６ｙの力によって棒状の部品６ｚが端子４に 接触させているものである。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、このような接続補助板では、コンタクトプローブピンが図３の ように等間隔に一列に配する構成であったので、コンタクトプローブピン間隔が 狭く特性インピーダンスおよび結合容量が大きく、従ってコンタクトプローブピ ン間のクロストークが大きく正確な測定が極めて困難であった。 本考案は上記の問題点に鑑み、コンタクトプローブピン間のクロストークを小 さくする接続補助板を提供しようとするものである。また、回路付基板からの電 波による雑音を防ぐことも目的のひとつである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】

本考案は上記課題を達成するためになされたもので、その要旨は、基板と、こ の基板を貫通しかつ千鳥状に配した複数のコンタクトプローブピンを備え、かつ これらの各コンタクトプローブピン間にそれぞれ接地ピンを有したことを特徴と する接続補助板にある。また、本考案の他の要旨は、この接続補助板は、必要に 応じて、基板の片面に、コンタクトプローブピンとは離間しかつ接地ピンに通電 した導電層を有した構成にある。

【０００６】

【作用】

本考案によれば、まずコンタクトプローブピンは千鳥状に配しているので、図 ３のような従来のコンタクトプローブピン間隔より広くなり、このためコンタク トプローブピン間の特性インピーダンスおよび結合容量を小さくでき、しかも、 これらの各コンタクトプローブピン間にそれぞれ接地ピンを設けているので、コ ンタクトプローブピン間のクロストークを小さくすることができる。 また、この接続補助板において、基板の片面に、コンタクトプローブピンとは 離間しかつ接地ピンに通電した導電層を有した構成では、回路付基板からの電波 を導電層が受け止め各コンタクトプローブピンへの雑音を少なくする。

【０００７】

【実施例】

図４は本考案による一実施例の接続補助板の平面図である。 これを説明すると、基板５ａと、この基板５ａを貫通しかつ千鳥状に配した複 数のコンタクトプローブピン６ａを備え、かつこれらの各コンタクトプローブピ ン６ａ間にそれぞれ接地ピン１０ａを有したことを特徴とする接続補助板１ａを 示す。また、コンタクトプローブピン６ａの構成は、前記のコンタクトプローブ ピン６ｃと同じである。

【０００８】 これは図３のコンタクトプローブピン６ｃの間隔Ｌｃと比べて、この接続補助 板１ａのコンタクトプローブピン６ａの間隔Ｌａが、図示のように直角三角形の 斜辺になっているので明らかに広く、従って特性インピーダンスおよび結合容量 を小さくできるとが分かる。 それに加えて、コンタクトプローブピン６ｃ間にそれぞれ接地ピン１０ａを設 けているので、コンタクトプローブピン６ｃ間のクロストークを小さくすること ができる。

【０００９】 実際に、図３と図４との接続補助板を、Ｌｃを２．５４ｍｍとし、Ｌａを３． ９ｍｍとして製作したところ、接続補助板１ｃは近端クロストークが２３．１％ 、遠端クロストークが１３．１％であったのに対して、接続補助板１ａは近端ク ロストークが９．０％、遠端クロストークが２．４％に著しく低下した。

【００１０】 図５は本考案による別の接続補助板の平面図である。 これを説明すると、基板５ｂと、この基板５ｂを貫通しかつ千鳥状に配した複 数のコンタクトプローブピン６ｂを備え、これらの各コンタクトプローブピン６ ｂ間にそれぞれ接地ピン１０ｂを設け、基板５ｂの片面に、コンタクトプローブ ピン６ｂとは離間しかつ接地ピン１０ｂに通電した導電層１１を設けた接続補助 板１ｂを示す。また、コンタクトプローブピン６ｂの構成は、前記のコンタクト プローブピン６ｃと同じである。 この接続補助板１ｂでは、回路付基板３からの電波を導電層１１が受け止める ので各コンタクトプローブピン６ｂへの雑音が少なくなる。

【００１１】 なお、本考案は上記実施例に限定されるものではなく、本考案の技術思想内で 様々の変更はもちろん可能である。

【００１２】

【考案の効果】 以上説明したように、本考案によれば、基板と、この基板を貫通しかつ千鳥状 に配した複数のコンタクトプローブピンを備え、かつこれらの各コンタクトプロ ーブピン間にそれぞれ接地ピンを有したことを特徴とする接続補助板を構成する ので、コンタクトプローブピン間隔が広くなるとともにコンタクトプローブピン の間の接地ピンの存在により、クロストークを小さくすることができる。 また、この接続補助板において、基板の片面に、コンタクトプローブピンとは 離間しかつ接地ピンに通電した導電層を有した構成では、回路付基板からの電波 を導電層が受け止め各コンタクトプローブピンへの雑音を少なくすることができ る。

【図面の簡単な説明】

【図１】回路正常作動確認用試験器の正面図

【図２】コンタクトプローブピンの断面図

【図３】従来の接続補助板の平面図

【図４】本考案による一実施例の接続補助板の平面図

【図５】本考案による別の接続補助板の平面図

【符号の説明】

１ａ，１ｂ，１ｃ 接続補助板 ５ａ，５ｂ，５ｃ 基板 ６ａ，６ｂ，６ｃ コンタクトプローブピン １０ａ，１０ｂ，１０ｃ 接地ピン １１ 導電層

Claims (2)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】基板と、この基板を貫通しかつ千鳥状に配
   した複数のコンタクトプローブピンを備え、かつこれら
   の各コンタクトプローブピン間にそれぞれ接地ピンを有
   したことを特徴とする接続補助板。
2. 【請求項２】前記基板の片面に、前記コンタクトプロー
   ブピンとは離間しかつ前記接地ピンに通電した導電層を
   有したことを特徴とする実用新案登録請求の範囲第１項
   に記載の接続補助板。