JPH04115339A - メモリエラー処理システム - Google Patents

メモリエラー処理システム

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Publication number
JPH04115339A
JPH04115339A JP2235325A JP23532590A JPH04115339A JP H04115339 A JPH04115339 A JP H04115339A JP 2235325 A JP2235325 A JP 2235325A JP 23532590 A JP23532590 A JP 23532590A JP H04115339 A JPH04115339 A JP H04115339A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
error
data
register
address
storage device
Prior art date
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Pending
Application number
JP2235325A
Other languages
English (en)
Inventor
Akihisa Makita
牧田 明久
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Computertechno Ltd
Original Assignee
NEC Computertechno Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Computertechno Ltd filed Critical NEC Computertechno Ltd
Priority to JP2235325A priority Critical patent/JPH04115339A/ja
Publication of JPH04115339A publication Critical patent/JPH04115339A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Memory System Of A Hierarchy Structure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明はメモリエラー処理システムに関し、特に緩衝記
憶装置の読出しデータのエラー処理方式%式% 従来、緩衝記憶装置からの読出しデータにエラーが発生
したとき、そのエラー発生原因となる障害がソフトエラ
ーである確率が高いことから、緩衝記憶装置をクリアし
てリトライを行う方法が採用されている。他の方法とし
ては、例えば緩衝記憶装置のコンパートメントが複数あ
る場合には、1部のコンパートメントを切離してリトラ
イ処理、を行う方法もある。
上述した従来の緩衝記憶装置のメモリエラー処理方式で
は、エラーがあるとそのままリトライするか、一部のコ
ンパートメントを切離してリトライ処理を行うようにな
っている。したがって、そのままリトライすると固定障
害の場合でも、コンハートメントが複数あるときには、
リトライが成功して後、少し時間がたってからエラーに
なっているコンパートメントが使われた時に、再度エラ
ーが発生することがある。この時は、必ずしもリトライ
可能状態とはならないため、ジョブアボートしたり、シ
ステムクラッシュが発生する欠点がある。
また、一部のコンパートメントをハードウェア的に切離
してしまうと、確率の高いソフトエラーでも性能低下が
生ずるという欠点がある。
発明の目的 本発明の目的は、ソフト(間欠)エラーか固定障害かの
チェックを可能として、開度の高いソフトエラー時には
性能低下を引起さず、固定障害時にはジョブアボートや
クラッシュを生ずる可能性をなくすことができるメモリ
エラー処理システムを提供することである。
発明の構成 本発明によれば、主記憶装置から読出したデータを一時
格納する緩衝記憶装置のメモリエラー処理システムであ
って、前記緩衝記憶装置からの読出しデータのエラーを
チェックするエラー検出手段と、このエラー検出手段に
よりエラーが検出されたときのアドレスを保持するエラ
ーアドレスレジスタと、前記エラー検出時の読出しデー
タを保持するエラーデータレジスタと、前記エラーアド
レスレジスタの保持アドレスにより前記主記憶装置から
データフェッチするデータフェッチ手段と、このフェッ
チされたデータを前記緩衝記憶装置の対応アドレスへ格
納する書込み手段と、この書込み後の該当データを前記
緩衝記憶装置がら読出して前記エラーデータレジスタの
格納データと比較する比較手段とを含むことを特徴とす
るメモリエラー処理システムが得られる。
実施例 次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本発明の一実施例を適用した緩衝記憶装置のブ
ロック図である。データ記憶アレイ1−1〜1−4は4
つのコンパートメントD^0〜D^3から構成されてい
る。アドレス記憶アレイ2−1〜2−4はコンパートメ
ントD^0〜DA3に夫々対応して4つのアドレスアレ
イ八AO〜AA3から構成されている。
比較回路3−1〜3−4は夫々アドレスアレイ八^0〜
AA3の出力をアドレスレジスタ10の出力の1部分と
比較する回路である。
エンコーダ4は比較回路8−1〜3−4の出力を受けて
コンパートメントDAO〜DA3のどの出力を選択する
かをセレクタ5へ指示するための信号を生成する回路で
ある。
リードデータレジスタ6はセレクタ5の出力を受けて要
求元にデータを送るためのレジスタである。エラーデー
タレジスタ7はリードデータレジスタ6の出力を受け、
このレジスタ6にエラーがあるときデータをホールドす
るためのレジスタである。パリティチェック回路8はリ
ードデータレジスタ6のデータをチェックし、エラーが
あるとエラー表示F/F 9を点灯させる。
アドレスレジスタ10はアドレス変換部13から出力さ
れる絶対アドレスを保持するレジスタである。エラーア
ドレスレジスタ11はアドレスレジスタ10の出力をI
T(マシンサイクル)期間保持するレジスタである。エ
ラーアドレスレジスタ12はエラー表示P/F 9が点
灯した時にエラーアドレスを保持するレジスタである。
データ書込み制御部14はコンパートメントD^0〜3
に主記憶装置50からフェッチしたデータを記憶する制
御を行う回路である。アドレス変換部13は論理アドレ
スを絶対アドレスに変換する回路である。レジスタ15
はエンコーダ4のエンコードデータ(どのコンパートメ
ントのデータにエラー発生したかを示すデータ)を保持
するレジスタである。
第2図はシステム構成図である。中央処理装置40は、
演算制御部(EXU ) 42、制御記憶部(C8U 
) 4 B、先行制御部(PFU)44、メモリアクセ
ス制御部(MBU ) 45、障害処理装置インタフェ
ース制御部(ERIC) 41から構成される。
他に主記憶装置(MMU)50と、システム制御装置(
SCU)51と、障害処理装置(ERP)52と、入出
カプロセッサ(IOP)5Bとて構成される。
次に、本発明の動作の詳細を第1図、第2図を参照して
説明する。緩衝記憶装置に主記憶装置50内のデータ写
しが格納されているいわゆるキャッシュにデータがヒツ
トする場合には、緩衝記憶装置20内の各コンパートメ
ントであるデータアレイDAO〜3  (1−1〜1−
4)から読出されたデータが、エンコーダ4の出力によ
りセレクタ5て選択され、リードデータレジスタ6に一
時保持され、レジスタ6から要求元(EMU C8U 
PFU )へデータが送出される。
しかし、レジスタ6にエラーがあると、パリティチェッ
ク回路8でチェックアウトされ、エラー表示F/F 9
がセットされ、その時の読出しアドレスがエラーアドレ
スレジスタ12に、また読出しデータがエラーデータレ
ジスタ7に夫々ホールドされる。同時に、エンコーダ4
によるエンコード出力(エラー発生のコンパートメント
を特定するデータ)もレジスタ15を介してレジスタ7
の1部にホールドされる。
F/F 9の出力は障害処理装置インタフェース制御部
41に伝達され、さらに障害処理装置52に通知される
。障害処理装a[52は本図には示されていないが既知
の方法でクロックを停止され、エラーアドレスレジスタ
12およびエラーデータレジスタ7の値をスキャンパス
を用いて読出す。この後、障害処理装置52はシステム
制御装置51を経由して、主記憶装置50をエラーアド
レスレジスタ]2から読出したアドレスでアクセスし正
解データをフェッチする。
障害処理装置52はフェッチしたデータをスキャンパス
およびクロック制御を用いて、レジスタ7の1部に保持
しているエンコードデータを用いて、判断した疑わしい
コンパートメント(DAO〜8のいずれかの)該当アド
レスに書込む。尚、これらの各動作は既に公知の技術で
あるのでここでは記述しない。
その後、障害処理装置52はスキャンパスおよびクロッ
ク制御を用いて該当コンパートメントの該当データを読
出し、最初にレジスタ7から読出したデータと比較する
この時、データがエラーした時と同じデータの場合は、
該当コンパートメントか、セレクタ5か、リードデータ
レジスタ6かが固定エラーであることを示している。そ
こで、他のアドレスのデータを読出してエラーが起きる
かをテストしてエラーがなければ、該当コンパートメン
トを切離して、再試行処理を行う。
データが正しくパリティエラーがないときは、ソフトエ
ラーと判断して、切離しを行わずに再試行処理を行う。
他の場合には、複数とットエラーが発生しているか緩衝
記憶装置全体にかかわるエラーが考えられるため、全コ
ンパートメントを切離して再試行処理を行う。
どのビットがエラーしているかを知る手段を持っている
のは、修理を行うときのLSIチップを特定するためで
あり、この手段によって保守コストを減することができ
る。
第2図において、障害処理装置52がスキャンパスおよ
びクロック制御を使用して、緩衝記憶装置20に書込み
をせずに、制御記憶部43に格納されているファームウ
ェアによって、正解データのフェッチおよび書込みを行
うことによって、障害処理のスピードを速くする方法も
ある。この時には、ファームウェアコマンドによる緩衝
記憶装置20へのアクセス機能が必要となる。
発明の効果 以上、説明したように本発明によれば、緩衝記憶装置の
メモリ部の固定障害かどうかをチェックアウトする手段
を持ち、固定障害時には、該当コンパートメントを切離
し、間欠障害(ソフトエラー)時には、切離しをせずに
再試行を行うことにより、頻度の高い間欠(ソフト)エ
ラー時には、・性能低下を引起さず、固定障害時には、
ジョブアボートやクラッシュを引起す可能性を除くこと
ができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例のブロック図、第2図は本発明
を適用した情報処理装置のシステム構成図である。 主要部分の符号の説明 1−1〜1−4・・・・・・データ記憶アレイ2−1〜
2−4・・・・・・アドレス記憶アレイ3−1〜3−4
・・・・・・比較回路 7・・・・・・エラーデータレジスタ 8・・・・・・パリティチェック回路 11.12・・・・・・エラーアドレスレジスタ14・
・・・・・データ書込み制御部 20・・・・・・緩衝記憶装置 50・・・・・・主記憶装置 52・・・・・・障害処理装置

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)主記憶装置から読出したデータを一時格納する緩
    衝記憶装置のメモリエラー処理システムであって、前記
    緩衝記憶装置からの読出しデータのエラーをチェックす
    るエラー検出手段と、このエラー検出手段によりエラー
    が検出されたときのアドレスを保持するエラーアドレス
    レジスタと、前記エラー検出時の読出しデータを保持す
    るエラーデータレジスタと、前記エラーアドレスレジス
    タの保持アドレスにより前記主記憶装置からデータフェ
    ッチするデータフェッチ手段と、このフェッチされたデ
    ータを前記緩衝記憶装置の対応アドレスへ格納する書込
    み手段と、この書込み後の該当データを前記緩衝記憶装
    置から読出して前記エラーデータレジスタの格納データ
    と比較する比較手段とを含むことを特徴とするメモリエ
    ラー処理システム。
JP2235325A 1990-09-05 1990-09-05 メモリエラー処理システム Pending JPH04115339A (ja)

Priority Applications (1)

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JP2235325A JPH04115339A (ja) 1990-09-05 1990-09-05 メモリエラー処理システム

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ID=16984437

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JP (1) JPH04115339A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011113404A (ja) * 2009-11-27 2011-06-09 Fujitsu Ltd バッファメモリ装置、及び、バッファリング方法
JP2013037631A (ja) * 2011-08-10 2013-02-21 Nec Computertechno Ltd 診断装置、診断方法および診断プログラム診断方法
JP2014081865A (ja) * 2012-10-18 2014-05-08 Nec Computertechno Ltd キャッシュメモリ、キャッシュメモリ障害制御方法および情報処理システム

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2011113404A (ja) * 2009-11-27 2011-06-09 Fujitsu Ltd バッファメモリ装置、及び、バッファリング方法
JP2013037631A (ja) * 2011-08-10 2013-02-21 Nec Computertechno Ltd 診断装置、診断方法および診断プログラム診断方法
JP2014081865A (ja) * 2012-10-18 2014-05-08 Nec Computertechno Ltd キャッシュメモリ、キャッシュメモリ障害制御方法および情報処理システム

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