JPH06110721A - メモリ制御装置 - Google Patents

メモリ制御装置

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JPH06110721A
JPH06110721A JP4256554A JP25655492A JPH06110721A JP H06110721 A JPH06110721 A JP H06110721A JP 4256554 A JP4256554 A JP 4256554A JP 25655492 A JP25655492 A JP 25655492A JP H06110721 A JPH06110721 A JP H06110721A
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JP
Japan
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data
memory
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error
write
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Application number
JP4256554A
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English (en)
Inventor
Kazuyuki Mitsuishi
和幸 三石
Shigeru Hashimoto
繁 橋本
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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  • Detection And Correction Of Errors (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、メモリ装置へのアクセス時に発生す
るエラーの検出性能を向上させたメモリ制御装置に関
し、エラーが発生した時点でエラー検出することにより
エラー原因の解明を容易にしたメモリ制御装置を提供す
ることを目的とする。 【構成】データを記憶する第1の記憶手段10と、該第
1の記憶手段10に対する所定データの書き込みが指示
された際、該所定データに対応する検査用の冗長コード
を生成する生成手段11と、該生成手段11で生成され
た冗長コードを記憶する第2の記憶手段12とを具備す
るメモリ制御装置において、前記第1の記憶手段10に
対する所定データの書き込みが指示された際、該所定デ
ータと前記生成手段11で生成された冗長コードとをラ
ッチするラッチ手段13と、該ラッチ手段13にラッチ
されたデータに基づき、前記所定データ及び冗長コード
の正当性を検査する検査手段14とを備えて構成され
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント板乗に配置し
た半導体メモリ等のメモリ装置へのアクセス時に発生す
るエラーの検出性能を向上させたメモリ制御装置に関す
る。
【0002】近年、コンピュータシステムの利用分野の
拡大に伴い、システムの高信頼性化が要求されている。
このため、メモリ装置周辺で発生する各種エラーの検出
方法が提供され、実用に供されているが、更なる検出性
能の向上が望まれている。
【0003】
【従来の技術】従来、メモリ制御装置は、例えば図7に
示すように構成されている。
【0004】図において、50はデータ用メモリであ
り、図示しないプロセッサやチャネル装置等が処理する
データを記憶するものである。
【0005】51は診断用メモリであり、データ用メモ
リ50に記憶されるデータの正当性をチェックするため
の冗長コード、例えばパリティビットを記憶するもので
ある。この診断用メモリ51の容量は、一般的に、デー
タ用メモリ50の容量に比して小さい。この診断用メモ
リ51の内容は、診断のためにのみ用いられる。
【0006】52は診断用データ生成/検査器であり、
書き込むべきデータに対応したチェック用の冗長コード
を生成するとともに、読み出したデータの正当性をチェ
ックするものである。
【0007】アドレスバスはデータ用メモリ50及び診
断用メモリ51に接続されており、各メモリ50、51
のアクセス位置を指定するアドレスを供給するようにな
っている。
【0008】データバスは、データ用メモリ50及び診
断用データ生成/検査器52に接続されている。データ
バスは、データ用メモリ50に書き込むデータ及び読み
出すデータを送受するために使用される。また、診断用
データ生成/検査器52にデータを与えるために使用さ
れる。
【0009】また、診断用データ生成/検査器52と診
断用メモリ51との間は、冗長コードの送受ができるよ
うに接続されている。
【0010】リード制御信号は、データ用メモリ50及
び診断用メモリ51に供給され、データの読み出しタイ
ミングを与えるために使用される。ライト制御信号も、
データ用メモリ50及び診断用メモリ51に供給され、
データの書き込みタイミングを与えるために使用され
る。
【0011】以上の構成において、データの書き込みは
次のように行われる。即ち、図示しないプロセッサやチ
ャネル装置等のアクセス要求元は、書き込み位置を示す
アドレスをアドレスバスに出力するとともに、書き込み
データをデータバスに出力する。この際、診断用データ
生成/検査器52は、診断用データ生成器として動作す
る。即ち、データバスから与えられたデータに基づき、
例えばパリティコード等の冗長コードを生成し、診断用
メモリ51に供給する。
【0012】かかる状態でライト制御信号がアクティブ
にされると、データ用メモリ50にはデータバスの内容
が、診断用メモリ51には診断用データ生成/検査器5
2の出力、つまり冗長コードが、それぞれ書き込まれ
る。
【0013】一方、データの読み出しは次のように行わ
れる。即ち、読み出し位置を示すアドレスをアドレスバ
スに出力し、リード制御信号をアクティブにする。これ
により、データ用メモリ50から読み出されたデータは
データバスに出力され、アクセス要求元に供給されると
ともに、診断用データ生成/検査器52に与えられる。
【0014】また、同時に診断用メモリ51から読み出
されたデータは、診断用データ生成/検査器52に与え
られる。
【0015】診断用データ生成/検査器52では、デー
タ用メモリ50から読み出したデータと診断用メモリ5
1から読み出したデータとを用いて、例えばパリティチ
ェック等の正当性チェックを行い、エラーがあればその
旨を示すエラー信号を発生し、エラー通知を行う。
【0016】従来のメモリ装置におけるエラーチェック
は、上述したように、データの読み出し時にのみ行って
いる。従って、メモリに正常に書き込まれたデータが、
その後、例えばα線等により破壊される等といった態様
で発生するエラー、所謂ソフトエラーに対しては効果が
ある。
【0017】しかしながら、書き込み時の誤動作(例え
ばクロストークノイズ、ハードウエア障害等)による書
き込みデータの異常に対しては、効果的であるとは言え
ない。即ち、エラーが発生した時点でエラー検出を行う
ことができず、同一アドレスを読み出した時にエラー検
出を行うことになるため、エラー原因の解明が困難であ
るという欠点があった。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記事情に
鑑みてなされたもので、エラーが発生した時点でエラー
検出することによりエラー原因の解明を容易にしたメモ
リ制御装置を提供することを目的とする。
【0019】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
上記目的を達成するために、データを記憶する第1の記
憶手段10と、該第1の記憶手段10に対する所定デー
タの書き込みが指示された際、該所定データに対応する
検査用の冗長コードを生成する生成手段11と、該生成
手段11で生成された冗長コードを記憶する第2の記憶
手段12とを具備するメモリ制御装置において、前記第
1の記憶手段10に対する所定データの書き込みが指示
された際、該所定データと前記生成手段11で生成され
た冗長コードとをラッチするラッチ手段13と、該ラッ
チ手段13にラッチされたデータに基づき、前記所定デ
ータ及び冗長コードの正当性を検査する検査手段14と
を備えたことを特徴とする。
【0020】また、同様の目的で、請求項2記載の発明
は、データを記憶する第1の記憶手段10と、該第1の
記憶手段10に対する所定データの書き込みが指示され
た際、該所定データに対応する検査用の冗長コードを生
成する生成手段11と、該生成手段11で生成された冗
長コードを記憶する第2の記憶手段12とを具備するメ
モリ制御装置において、前記第1の記憶手段10に対す
る所定データの書き込みが指示された際、該所定データ
と前記生成手段11で生成された冗長コードとをラッチ
するラッチ手段13と、該ラッチ手段13にラッチされ
たデータに基づき、前記所定データ及び冗長コードの正
当性を検査する検査手段14と該検査手段14の検査結
果に応じて前記第1の記憶手段10及び第2の記憶手段
12へのデータの書き込みを抑止する抑止手段15とを
備えたことを特徴とする。
【0021】さらに同様の目的で、請求項3記載の発明
は、上記請求項1又は2に記載のメモリ制御装置におい
て、前記ラッチ手段13は、前記第1の記憶手段10及
び第2の記憶手段12の電気特性に近い電気特性を有
し、前記第1の記憶手段10及び第2の記憶手段12の
近傍に配置されることを特徴とする。
【0022】
【作用】請求項1に記載の発明は、第1の記憶手段10
に所定データを書き込むべきことが指示された際、該所
定データと、生成手段で生成された検査用の冗長コード
とをラッチ手段13にラッチし、このラッチされた内容
に基づき直ちに、上記所定データ及び冗長コードの正当
性の検査を行うようにしたものである。
【0023】これにより、書き込み時にエラーが発生し
ても直ちに、つまり該所定データが読み出されるまで待
つことなく、該エラーを検出することができるので、エ
ラー原因の解明が容易にできるものとなっている。
【0024】また、請求項2記載の発明は、上記請求項
1記載の構成に加えて、上記検査手段14の検査結果に
応じて、上記第1の記憶手段10、第2の記憶手段12
への書き込みを抑止する抑止手段を設け、例えば検査手
段14でエラーが検出された際は、上記第1の記憶手段
10、第2の記憶手段12への書き込みを抑止するよう
にしている。
【0025】これにより、異常なデータがメモリに記憶
されることを防止できるので、信頼性を向上できるもの
となっている。
【0026】さらに、請求項3記載の発明は、上記請求
項1又は2記載の発明において、前記ラッチ手段13と
して、前記第1の記憶手段10及び第2の記憶手段12
の電気特性に近い電気特性を有するものを使用し、か
つ、該ラッチ手段13を前記第1の記憶手段10及び第
2の記憶手段12の近傍に配置するようにしたものであ
る。
【0027】これにより、ラッチ手段13にラッチする
際の電気的条件を、上記第1の記憶手段10又は第2の
記憶手段12に記憶する際の電気的条件に近づけること
ができ、検出されたエラーの妥当性を確保できるものと
なっている。
【0028】
【実施例】以下、本発明のメモリ制御装置の実施例につ
き図面を参照しながら説明する。なお、図1と同一又は
相当部分には同一符号を付して説明する。
【0029】図2は、本発明に係るメモリ制御装置の第
1の実施例の構成を示すブロック図である。以下の実施
例では、冗長コードとしてパリティコードを用いる場合
について説明する。
【0030】図において、10はデータ用メモリであ
り、図示しないプロセッサやチャネル装置等が処理する
データを記憶するものである。
【0031】12は診断用メモリであり、データ用メモ
リ10に記憶されるデータの正当性をチェックするため
の冗長コード、つまり本実施例ではパリティビットを記
憶するものである。この診断用メモリ12は、上記デー
タ用メモリ10に対応する記憶位置を有し、同一のアド
レスでアドレッシングされるようになっている。
【0032】この診断用メモリ12の記憶容量は、一般
的に、データ用メモリ10の記憶容量に比して小さく、
その記憶内容は診断のためにのみ用いられる。
【0033】11はパリティジェネレータ/チェッカで
あり、データ用メモリ10に書き込むべきデータに対応
したパリティビットを生成するとともに、読み出したデ
ータに対してパリティチェックを行うものである。
【0034】13はデータレジスタであり、データバス
から送られてくるデータ及びパリティジェネレータ/チ
ェッカ11で生成されたパリティビットを、ライト制御
信号に応じて一時記憶するものである。このデータレジ
スタ13の内容はエラー検出回路14に送られる。
【0035】このデータレジスタ13は、データ用メモ
リ10及び診断用メモリ12を構成する記憶素子の電気
的な入出力特性と同じ種類の入出力特性を有する素子で
構成される。例えば、上記メモリ10、12がTTL又
はMOS又はECLインタフェースを有する記憶素子で
構成される場合は、データレジスタ13もTTL又はM
OS又はECLインタフェースを有する素子で、それぞ
れ構成される。
【0036】また、データレジスタ13は、例えば図6
に示すように、印刷配線基板上において、物理的にデー
タ用メモリ10、診断用メモリ12の近傍に配置され
る。
【0037】以上のデータレジスタ13の電気的入出力
特性の一致及び印刷配線基板上の配置により、データレ
ジスタ13にデータ及びパリティビットをセットする際
の電気的条件は、データ用メモリ10にデータを書き込
み、また、診断用メモリ12にパリティビットを書き込
む際の電気的条件と同様のものになる。
【0038】例えば、データ用メモリ10にデータを書
き込む時に所定のノイズが発生するとすれば、データレ
ジスタ13に該データをセットする際にも同様のノイズ
が発生し、該ノイズによる影響はデータ用メモリ10の
みならずデータレジスタ13にも及ぶものとなる。従っ
て、データレジスタ13にセットされたデータをチェッ
クすることにより、データ用メモリ10に記憶されたデ
ータをチェックするのと等価の効果を奏する。
【0039】上記エラー検出回路14は、データレジス
タ13から送られてくるデータ及びパリティビットに基
づきパリティチェックを行うものである。このエラー検
出回路14でパリティエラーが検出されたら、その旨を
示すエラー検出信号が出力され、アクセス要求元に通知
されるようになっている。
【0040】アドレスバスはデータ用メモリ10及び診
断用メモリ12に接続されており、各メモリ10、12
のアクセス位置を指定するアドレスを供給するようにな
っている。
【0041】データバスは、データ用メモリ10、パリ
ティジェネレータ/チェッカ11及びデータレジスタ1
3に接続されている。データバスは、データ用メモリ1
0に書き込むデータ及び読み出すデータを送受するため
に使用される。また、パリティジェネレータ/チェッカ
11及びデータレジスタ13にデータを与えるために使
用される。
【0042】また、上記パリティジェネレータ/チェッ
カ11と診断用メモリ12との間は、パリティビットの
送受ができるように接続されている。
【0043】リード制御信号は、データ用メモリ10及
び診断用メモリ12に供給され、データの読み出しタイ
ミングを与えるために使用される。ライト制御信号は、
データ用メモリ10、診断用メモリ12及びデータレジ
スタ13に供給され、それぞれデータの書き込みタイミ
ングを与えるために使用される。
【0044】以上の構成において、図3のタイミングチ
ャートを参照しながらデータの書き込み時の動作につき
説明する。
【0045】データの書き込み時においては、図3
(a)及び(b)に示すように、アクセス要求元は、ア
ドレスバスに書き込み先のアドレスを出力するととも
に、データバスに書き込みデータを出力する。
【0046】この際、パリティジェネレータ/チェッカ
11は、パリティジェネレータとして動作するように制
御される。即ち、図3(c)に示すように、パリティジ
ェネレータ/チェッカ11は、データバスに出力されて
いる書き込みデータを取込み、当該データに対応するパ
リティビットを生成する。このパリティビットは、診断
用メモリ12に供給される。
【0047】かかる状態で、図3(d)に示すように、
ライト制御信号がアクティブ(Lレベル)にされると、
データ用メモリ10にはデータバスの内容が、診断用メ
モリ12にはパリティジェネレータ/チェッカ11が出
力するパリティビットが、それぞれ書き込まれ、また、
データレジスタ13には、データバスの内容及びパリテ
ィビットがセットされる。
【0048】データレジスタ13にセットされたデータ
がエラー検出回路14に供給されると、エラー検出回路
14ではパリティチェックが行われる。そして、パリテ
ィエラーが検出されると、その旨を示すエラー検出信号
が出力され、アクセス要求元にエラー通知が行われる。
【0049】なお、データの読み出しは次のように行わ
れる。即ち、読み出し位置を示すアドレスをアドレスバ
スに出力し、リード制御信号をアクティブにする。これ
により、データ用メモリ10から読み出されたデータは
データバスに出力され、アクセス要求元に供給されると
ともに、パリティジェネレータ/チェッカ11に与えら
れる。この際、パリティジェネレータ/チェッカ11は
パリティチェッカとして動作するように制御される。
【0050】また、同時に診断用メモリ12から読み出
されたデータは、パリティジェネレータ/チェッカ11
に与えられる。
【0051】パリティジェネレータ/チェッカ11で
は、データ用メモリ10から読み出したデータと診断用
メモリ12から読み出したデータとを用いて、パリティ
チェックを行い、エラーがあればその旨を示すエラー信
号を発生し、アクセス要求元にエラー通知を行う。
【0052】以上説明したように、この実施例によれ
ば、データの書き込み時にも、該書き込みデータの妥当
性をチェックするので、データの信頼性が向上するとと
もに、データ書き込み時のエラーを、そのエラーが発生
した時点で検出することができるので、エラー原因の解
明が容易に行えるものとなっている。
【0053】次に、第2の実施例につき説明する。
【0054】図4は、本発明に係るメモリ制御装置の第
2の実施例の構成を示すブロック図である。
【0055】この第2の実施例は、上記第1の実施例の
構成に、ライト禁止制御回路15を加え、かつライト制
御信号の出力タイミングを変更したものである。従っ
て、上記第1の実施例と同一の構成部分の説明は省略
し、相違する部分についてのみ説明する。
【0056】ライト制御信号の出力タイミングは、図5
(e)に示すように、パリティジェネレータ/チェッカ
11が出力するパリティビットのデータが充分安定した
時点であって、且つ、第1の実施例におけるデータ書き
込みタイミングより早いタイミングでアクティブ(Lレ
ベル)にされる。
【0057】このライト制御信号は、データレジスタ1
3及びライト禁止制御回路15に供給されるようになっ
ている。従って、エラー検出回路14で検出されたエラ
ー検出信号も、上記第1の実施例の場合より早いタイミ
ングで出力されることになる。
【0058】ライト禁止制御回路15は、エラー検出回
路14から出力されるエラー検出信号及びライト制御信
号を入力し、実際にデータ用メモリ10及び診断用メモ
リ12にデータを書き込むメモリライト信号を生成して
出力するものである。
【0059】このライト禁止制御回路15は、エラー検
出回路14からのエラー検出信号が、エラーがあった旨
を示していればメモリライト信号の出力を抑止し、エラ
ーがなかった旨を示していればメモリライト信号を、第
1の実施例におけるライト制御出力と同じ位置まで遅延
させて出力する。
【0060】以上の構成において、図5のタイミングチ
ャートを参照しながらデータの書き込み時の動作につき
説明する。
【0061】データの書き込み時においては、図5
(a)及び(b)に示すように、アクセス要求元は、ア
ドレスバスに書き込み先のアドレスを出力するととも
に、データバスに書き込みデータを出力する。
【0062】この際、パリティジェネレータ/チェッカ
11は、パリティジェネレータとして動作するように制
御される。即ち、図5(c)に示すように、パリティジ
ェネレータ/チェッカ11は、データバスに出力されて
いる書き込みデータを取込み、当該データに対応するパ
リティビットを生成する。このパリティビットは、診断
用メモリ12に供給される。
【0063】かかる状態で、図5(e)に示すように、
ライト制御信号がアクティブ(Lレベル)にされると、
データレジスタ13にデータバスの内容及びパリティビ
ットがセットされる。
【0064】データレジスタ13にセットされたデータ
がエラー検出回路14に供給されると、エラー検出回路
14ではパリティチェックが行われる。そして、パリテ
ィエラーが検出されると、その旨を示すエラー検出信号
が出力され、アクセス要求元にエラー通知が行われると
共に、ライト禁止制御回路15に供給される。
【0065】ライト禁止制御回路15では、データ用メ
モリ10及び診断用メモリ12にデータの書き込みを指
示するメモリライト信号の出力を抑止する。従って、エ
ラーが検出された際は、データ用メモリ10及び診断用
メモリ12へのデータの書き込みは行われないことにな
る。
【0066】一方、エラー検出回路14でパリティエラ
ーが検出されない場合は、ライト禁止制御回路15は、
ライト制御出力を所定時間(第1の実施例のライト制御
信号と同一のタイミングになるまで)遅延させて出力す
る。これにより、上述した第1の実施例と同様に、デー
タの書き込みが行われることになる。
【0067】なお、データの読み出しについては、上記
第1の実施例の場合と同じであるので、説明は省略す
る。
【0068】以上説明したように、この実施例によれ
ば、データの書き込み時にエラーが発生したことを検出
するとメモリへの書き込みを抑止するので、データの信
頼性が向上するという効果がある。
【0069】なお、上記実施例では、冗長コードとして
パリティコードを用いた場合について説明したが、冗長
コードとしてはこれに限定されるものではない。例え
ば、各種のエラーチェックコレクションコードに対して
も同様に適用できるものであり、上記実施例と同様の効
果を奏する。
【0070】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によればエ
ラーが発生した時点でエラー検出することによりエラー
原因の解明を容易にしたメモリ制御装置を提供すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理説明図である。
【図2】本発明のメモリ制御装置の第1の実施例の構成
を示すブロック図である。
【図3】本発明のメモリ制御装置の第1の実施例の動作
を示すタイミングチャートである。
【図4】本発明のメモリ制御装置の第2の実施例の構成
を示すブロック図である。
【図5】本発明のメモリ制御装置の第2の実施例の動作
を示すタイミングチャートである。
【図6】本発明のメモリ制御装置の実施例のおける印刷
配線基板上での配置を説明するための図である。
【図7】従来のメモリ制御装置を説明するための図であ
る。
【符号の説明】
10 第1の記憶手段(データ用メモリ) 11 生成手段(パリティジェネレータ/チェッカ) 12 第2の記憶手段(診断用メモリ) 13 ラッチ手段(データレジスタ) 14 検査手段(エラー検出回路) 15 抑止手段(ライト禁止制御回路)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 データを記憶する第1の記憶手段(10)
    と、 該第1の記憶手段(10)に対する所定データの書き込みが
    指示された際、該所定データに対応する検査用の冗長コ
    ードを生成する生成手段(11)と、 該生成手段(11)で生成された冗長コードを記憶する第2
    の記憶手段(12)とを具備するメモリ制御装置において、 前記第1の記憶手段(10)に対する所定データの書き込み
    が指示された際、該所定データと前記生成手段(11)で生
    成された冗長コードとをラッチするラッチ手段(13)と、 該ラッチ手段(13)にラッチされたデータに基づき、前記
    所定データ及び冗長コードの正当性を検査する検査手段
    (14)とを具備したことを特徴とするメモリ制御装置。
  2. 【請求項2】 データを記憶する第1の記憶手段(10)
    と、 該第1の記憶手段(10)に対する所定データの書き込みが
    指示された際、該所定データに対応する検査用の冗長コ
    ードを生成する生成手段(11)と、 該生成手段(11)で生成された冗長コードを記憶する第2
    の記憶手段(12)とを具備するメモリ制御装置において、 前記第1の記憶手段(10)に対する所定データの書き込み
    が指示された際、該所定データと前記生成手段(11)で生
    成された冗長コードとをラッチするラッチ手段(13)と、 該ラッチ手段(13)にラッチされたデータに基づき、前記
    所定データ及び冗長コードの正当性を検査する検査手段
    (14)と、 該検査手段(14)の検査結果に応じて前記第1の記憶手段
    (10)及び第2の記憶手段(12)へのデータの書き込みを抑
    止する抑止手段(15)とを具備したことを特徴とするメモ
    リ制御装置。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2において、前記ラッチ手
    段(13)は、前記第1の記憶手段(10)及び第2の記憶手段
    (12)の電気特性に近い電気特性を有し、前記第1の記憶
    手段(10)及び第2の記憶手段(12)の近傍に配置されるこ
    とを特徴とするメモリ制御装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006031434A (ja) * 2004-07-16 2006-02-02 Yamaha Corp 半導体集積回路
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