JPH04113239A - 複合機能形センサ - Google Patents
複合機能形センサInfo
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- JPH04113239A JPH04113239A JP23068890A JP23068890A JPH04113239A JP H04113239 A JPH04113239 A JP H04113239A JP 23068890 A JP23068890 A JP 23068890A JP 23068890 A JP23068890 A JP 23068890A JP H04113239 A JPH04113239 A JP H04113239A
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Landscapes
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は複合機能形の差圧、圧力等を検出するセンサに
係り、特に高精度、高出力の差圧、静圧信号を得ること
ができる複合機能形センサに関する。
係り、特に高精度、高出力の差圧、静圧信号を得ること
ができる複合機能形センサに関する。
圧力、差圧を計測する差圧、圧力センサにおいて、差圧
、圧力信号と静圧、温度信号を同時に検出できる複合機
能形の差圧、圧力センサには多くの開示例があり1例え
ば、特開昭61−240134号または平2−9704
号などがある。いずれの開示例においてもダイアフラム
と呼ばれる薄肉部上に差圧。
、圧力信号と静圧、温度信号を同時に検出できる複合機
能形の差圧、圧力センサには多くの開示例があり1例え
ば、特開昭61−240134号または平2−9704
号などがある。いずれの開示例においてもダイアフラム
と呼ばれる薄肉部上に差圧。
圧力に感応する半導体の差圧、圧力の抵抗群がある。ま
たダイアフラム以外の厚肉部には静圧、温度に感応する
静圧、温度の抵抗群があり、これらは半導体の拡散法又
はイオンプランティージョン法により、同時に基板上に
形成されており、固着台に固着接合されている。
たダイアフラム以外の厚肉部には静圧、温度に感応する
静圧、温度の抵抗群があり、これらは半導体の拡散法又
はイオンプランティージョン法により、同時に基板上に
形成されており、固着台に固着接合されている。
上述したこの種の複合機能形センサは、温度や静圧(ラ
イン圧)による生じる差圧、圧力センサ(主センサ)の
零点変化を、同センサ上に具備された静圧センサ、温度
センサ(補助センサ)の信号をもとに、積極的に補償し
、高精度な差圧又は圧力信号を得るものであった。
イン圧)による生じる差圧、圧力センサ(主センサ)の
零点変化を、同センサ上に具備された静圧センサ、温度
センサ(補助センサ)の信号をもとに、積極的に補償し
、高精度な差圧又は圧力信号を得るものであった。
しかしながら、上記開示例特に平2−9704号におけ
る静圧信号は、静圧印加時に半導体基板と固定台の縦弾
性係数の相違から生じる曲げ歪を利用しているため、非
常に小さい信号しか得られない。
る静圧信号は、静圧印加時に半導体基板と固定台の縦弾
性係数の相違から生じる曲げ歪を利用しているため、非
常に小さい信号しか得られない。
したがって、差圧又は圧力信号を高精度に補償できない
。また、静圧信号のみを取出してプロセス圧用の圧力セ
ンサとしても利用できない。
。また、静圧信号のみを取出してプロセス圧用の圧力セ
ンサとしても利用できない。
一方、昭61−240134号公報においては、被検出
圧力である差圧又は圧力と静圧とを、それぞれの感圧部
を形成して検出しているため、静圧信号は前者と比べる
とかなり大きくとれる。しかしながら、この開示的では
、高出力の静圧信号を得るために、静圧信号感圧部の裏
面に基準圧を導入する導入管路を設ける必要があった。
圧力である差圧又は圧力と静圧とを、それぞれの感圧部
を形成して検出しているため、静圧信号は前者と比べる
とかなり大きくとれる。しかしながら、この開示的では
、高出力の静圧信号を得るために、静圧信号感圧部の裏
面に基準圧を導入する導入管路を設ける必要があった。
このような構成は、基本的には別個の静圧センサを新た
に設けることと全く同じであり、構成法、製造法が複雑
になるので、信頼性に欠ける。できるなら、前者の開示
例の如くシンプルな構成法の方が望ましい。
に設けることと全く同じであり、構成法、製造法が複雑
になるので、信頼性に欠ける。できるなら、前者の開示
例の如くシンプルな構成法の方が望ましい。
本発明は上記欠点を鑑みてなされたもので、その目的と
するところは、静圧信号を高出力化し、高精度の補正さ
れた差圧信号を得るとともに、静圧信号をプロセスライ
ン圧力用センサとしても適用できるようにし、さらに、
静圧信号を得るための起歪部を容易に具備させる構成法
を提供することである。
するところは、静圧信号を高出力化し、高精度の補正さ
れた差圧信号を得るとともに、静圧信号をプロセスライ
ン圧力用センサとしても適用できるようにし、さらに、
静圧信号を得るための起歪部を容易に具備させる構成法
を提供することである。
上記目的を達成するために、本発明においては、複合セ
ンサの差圧又は圧力抵抗群を配置している薄肉の起歪部
以外の厚肉部に温度に感応する感温抵抗と、静圧に感応
する薄肉の起歪部を少なくとも2つ以上設け、その起歪
部上に少なくとも1つ以上の静圧抵抗群を形成し、薄肉
の起歪部と固定台間に形成される空間を封止し基準圧室
したものである。さらに、静圧抵抗群を形成している起
歪部の肉厚は前記差圧又は圧力抵抗群を形成している起
歪部の肉厚と、全く同じ肉厚で形成したものである。
ンサの差圧又は圧力抵抗群を配置している薄肉の起歪部
以外の厚肉部に温度に感応する感温抵抗と、静圧に感応
する薄肉の起歪部を少なくとも2つ以上設け、その起歪
部上に少なくとも1つ以上の静圧抵抗群を形成し、薄肉
の起歪部と固定台間に形成される空間を封止し基準圧室
したものである。さらに、静圧抵抗群を形成している起
歪部の肉厚は前記差圧又は圧力抵抗群を形成している起
歪部の肉厚と、全く同じ肉厚で形成したものである。
半導体チップのほぼ中央に形成された薄肉の起歪体は差
圧又は圧力差に感応する感圧ダイアフラムとなる。半導
体チップと同−又は別の材料からなる中空の固定台の一
方の面と前記感圧ダイアフラムの一方の面と接合されて
凹部を形成する。この凹部は感圧ダイアフラムに圧力を
導く。感圧ダイアフラム上に形成された4個の差圧又は
圧力抵抗群は感圧ダイアフラム上に印加される差圧又は
圧力差に応じて抵抗が変化する。このため、感圧ダイア
フラムにかかる差圧又は圧力差を表わす信号を圧力する
。
圧又は圧力差に感応する感圧ダイアフラムとなる。半導
体チップと同−又は別の材料からなる中空の固定台の一
方の面と前記感圧ダイアフラムの一方の面と接合されて
凹部を形成する。この凹部は感圧ダイアフラムに圧力を
導く。感圧ダイアフラム上に形成された4個の差圧又は
圧力抵抗群は感圧ダイアフラム上に印加される差圧又は
圧力差に応じて抵抗が変化する。このため、感圧ダイア
フラムにかかる差圧又は圧力差を表わす信号を圧力する
。
前記半導体チップの感圧ダイアフラム以外の厚肉部には
温度のみに感応する(圧力には感応しない)感温抵抗が
形成される。このため、半導体チップの温度変化に応じ
て抵抗が変化し、温度信号を出力する。一方、厚肉部に
は同時に、前記感温抵抗と同様に4個の静圧抵抗群が形
成される。静圧抵抗群のうち少なくとも2個は前記差圧
又は圧力差感圧ダイアフラムと同じ肉厚を有するが別個
の小さい薄い起歪体上に形成される。この起歪体は前記
固定台の一方の面と接合されて、所定の圧力で封止され
た凹部を形成する。この凹部は静圧印加時の基準圧室と
なる。このため、この厚肉部の薄い起歪体は静圧感圧ダ
イアフラムとなる。静圧感圧ダイアフラム上に形成され
た各静圧抵抗は静圧感圧ダイアフラム上に印加される圧
力差に応じて抵抗が変化する。このため、前記差圧又は
圧力抵抗群と同様に大きな静圧信号を出力する。この静
圧信号と温度信号により、前記差圧又は圧力差感圧ダイ
アフラムにかかる静圧と温度による零点変化を補償する
。またこの静圧信号は前述の如く大きな出力を得ること
ができるので高精度の補正信号を得え、かつ、プロセス
圧用の圧力センサとしても活用できる。さらに、この静
圧用起歪部は差圧又は圧力差抵抗群の起歪部属と同し肉
厚であるため、同時に形成でき、製作工程が容易である
。
温度のみに感応する(圧力には感応しない)感温抵抗が
形成される。このため、半導体チップの温度変化に応じ
て抵抗が変化し、温度信号を出力する。一方、厚肉部に
は同時に、前記感温抵抗と同様に4個の静圧抵抗群が形
成される。静圧抵抗群のうち少なくとも2個は前記差圧
又は圧力差感圧ダイアフラムと同じ肉厚を有するが別個
の小さい薄い起歪体上に形成される。この起歪体は前記
固定台の一方の面と接合されて、所定の圧力で封止され
た凹部を形成する。この凹部は静圧印加時の基準圧室と
なる。このため、この厚肉部の薄い起歪体は静圧感圧ダ
イアフラムとなる。静圧感圧ダイアフラム上に形成され
た各静圧抵抗は静圧感圧ダイアフラム上に印加される圧
力差に応じて抵抗が変化する。このため、前記差圧又は
圧力抵抗群と同様に大きな静圧信号を出力する。この静
圧信号と温度信号により、前記差圧又は圧力差感圧ダイ
アフラムにかかる静圧と温度による零点変化を補償する
。またこの静圧信号は前述の如く大きな出力を得ること
ができるので高精度の補正信号を得え、かつ、プロセス
圧用の圧力センサとしても活用できる。さらに、この静
圧用起歪部は差圧又は圧力差抵抗群の起歪部属と同し肉
厚であるため、同時に形成でき、製作工程が容易である
。
以下、本発明の一実施図により説明する。
第1図は複合機能形センサの一実施例を示す断面図であ
り、第2図は第1図のセンサのみの平面図と回路図であ
る。
り、第2図は第1図のセンサのみの平面図と回路図であ
る。
第1図において1は単結晶シリコンからなる複合機能形
センサチップである。複合機能形センサチップ1は中空
の第1の固定台2.中空の第2の固定台3を介してハウ
ジング4に取付けられる。
センサチップである。複合機能形センサチップ1は中空
の第1の固定台2.中空の第2の固定台3を介してハウ
ジング4に取付けられる。
第1の固定台2は複合機能形センサチップ1のハウジン
グ4からの電気絶縁およびハウジング4からの線膨張係
数の相違による熱歪の低減を考慮し、シリコンと線膨張
係数の近似した硼珪酸塩ガラス又はその接合面のみに酸
化膜を付けたシリコンが好ましい。また、第2の固定台
3は固定台2と同様に、線膨張係数およびハウジング4
への溶接接合等の取付けを考慮し、シリコンと線膨張係
数の近似したFe−Ni合金、あるいはFe−Ni−C
o合金が好ましい。第1の固定台2を硼珪酸塩ガラス、
又は接合面に酸化膜を付したシリコン、第2の固定台3
をFe−Ni合金又はFe−Ni−Co合金とすると、
複合機能形センサチップ1と第1の固定台2、および第
2の固定台3は陽極接合法により容易に接合できる。さ
らに、第2の固定台3とハウジング4は通常の溶接接合
(例えばTIG溶接2はプラズマ溶接)により容易に接
合される。
グ4からの電気絶縁およびハウジング4からの線膨張係
数の相違による熱歪の低減を考慮し、シリコンと線膨張
係数の近似した硼珪酸塩ガラス又はその接合面のみに酸
化膜を付けたシリコンが好ましい。また、第2の固定台
3は固定台2と同様に、線膨張係数およびハウジング4
への溶接接合等の取付けを考慮し、シリコンと線膨張係
数の近似したFe−Ni合金、あるいはFe−Ni−C
o合金が好ましい。第1の固定台2を硼珪酸塩ガラス、
又は接合面に酸化膜を付したシリコン、第2の固定台3
をFe−Ni合金又はFe−Ni−Co合金とすると、
複合機能形センサチップ1と第1の固定台2、および第
2の固定台3は陽極接合法により容易に接合できる。さ
らに、第2の固定台3とハウジング4は通常の溶接接合
(例えばTIG溶接2はプラズマ溶接)により容易に接
合される。
複合機能形センサチップ1からの差圧又は圧力差信号、
静圧信号、温度信号の各信号はリード線17、および配
線板5を介して、ハウジング4に設けられたハーメチッ
クシール部41の端子42によりそれぞれ取出される。
静圧信号、温度信号の各信号はリード線17、および配
線板5を介して、ハウジング4に設けられたハーメチッ
クシール部41の端子42によりそれぞれ取出される。
複合機能形センサチップ1は(100)面のn形単結晶
シリコンであり、その一方の面のほぼ中央にほぼ円形又
は環状の薄肉部11を有する。
シリコンであり、その一方の面のほぼ中央にほぼ円形又
は環状の薄肉部11を有する。
方、チップ1の他方の面は、中央に孔を有する第1の固
定台2により四部13を形成する。この凹部13に検出
すべき圧力の一方を中央に孔を有する第2の固定台3よ
り圧力を導入する。これにより、前記薄肉部11は差圧
又は圧力差に感応する起歪体となり、差圧感圧ダイアフ
ラムとして動作する。
定台2により四部13を形成する。この凹部13に検出
すべき圧力の一方を中央に孔を有する第2の固定台3よ
り圧力を導入する。これにより、前記薄肉部11は差圧
又は圧力差に感応する起歪体となり、差圧感圧ダイアフ
ラムとして動作する。
差圧感圧ダイアフラム11の上面には、(100)面に
おけるピエゾ抵抗係数が最大となる(110)軸方向に
、p形ゲージ抵抗111〜114の差圧又は圧力差抵抗
がそれぞれ平行に、又は直角方向に拡散法あるいはイオ
ン注入法により4個形成される。前記各抵抗111〜1
14の位置は差圧又は圧力差印加時に差圧感圧ダイアフ
ラム11上に発生する半径方向と周方向の応力が最大に
なる固定部近傍に形成される。またそれらの抵抗の方向
として、111と113を半径方向とし、112と11
4を接線方向としている。これらの抵抗群は第2図(b
)に示すようなブリッジに結線される。差圧感圧ダイア
フラム11の形状と肉厚は感応する差圧又は圧力差によ
り所望の形状と肉厚に設定されている。
おけるピエゾ抵抗係数が最大となる(110)軸方向に
、p形ゲージ抵抗111〜114の差圧又は圧力差抵抗
がそれぞれ平行に、又は直角方向に拡散法あるいはイオ
ン注入法により4個形成される。前記各抵抗111〜1
14の位置は差圧又は圧力差印加時に差圧感圧ダイアフ
ラム11上に発生する半径方向と周方向の応力が最大に
なる固定部近傍に形成される。またそれらの抵抗の方向
として、111と113を半径方向とし、112と11
4を接線方向としている。これらの抵抗群は第2図(b
)に示すようなブリッジに結線される。差圧感圧ダイア
フラム11の形状と肉厚は感応する差圧又は圧力差によ
り所望の形状と肉厚に設定されている。
差圧感圧ダイアフラム11上の抵抗群111〜114は
ダイアフラムの上面と凹部13の圧力差により発生する
応力を受けることにより、ピエゾ抵抗効果にてその抵抗
値が変化するため、第2図(b)の回路における6〜g
の端子より差動にて取出せる。しかしながら、この出力
は差圧感圧ダイアフラム11の両面にかかる圧力が等し
いときでさえ、あるいは温度が変化したでも感応してし
まう。これらの主要因としては第1には、111〜11
4の抵抗値は必ずしも一定値ではなく、かつその抵抗値
は温度の関数で変化してしまうということである。第2
には複合機能形センサチップ1は第1図に示すように材
質の相違する接合を有した連続の構造体としてその機能
を発揮するため、圧力印加時には何らかの応力が必然的
に発生してしまうということである。
ダイアフラムの上面と凹部13の圧力差により発生する
応力を受けることにより、ピエゾ抵抗効果にてその抵抗
値が変化するため、第2図(b)の回路における6〜g
の端子より差動にて取出せる。しかしながら、この出力
は差圧感圧ダイアフラム11の両面にかかる圧力が等し
いときでさえ、あるいは温度が変化したでも感応してし
まう。これらの主要因としては第1には、111〜11
4の抵抗値は必ずしも一定値ではなく、かつその抵抗値
は温度の関数で変化してしまうということである。第2
には複合機能形センサチップ1は第1図に示すように材
質の相違する接合を有した連続の構造体としてその機能
を発揮するため、圧力印加時には何らかの応力が必然的
に発生してしまうということである。
この開運を解決するため1本発明では、圧力と温度に感
応する補助センサを複合機能形センサチップ1上に設け
、それらの信号にて差圧又は圧力差信号を高精度に補正
することはもちろんのこと、プロセスライン圧用センサ
としても活用できるように、高出力化を図ったものであ
る。
応する補助センサを複合機能形センサチップ1上に設け
、それらの信号にて差圧又は圧力差信号を高精度に補正
することはもちろんのこと、プロセスライン圧用センサ
としても活用できるように、高出力化を図ったものであ
る。
第1図、第2図において、複合機能形センサチップ1の
前記差圧感圧ダイアフラム11以外の厚肉部12に少な
くとも1個の感温抵抗155が形成される。この感温抵
抗は(100)面におけるピエゾ抵抗係数の最小感度を
示す(100>軸方向に配置されたp形の感温抵抗であ
り、圧力には感応しない。この抵抗は差圧抵抗群111
〜114と同様に拡散又はイオン注入法により所定の出
力が得られる抵抗値で形成される。
前記差圧感圧ダイアフラム11以外の厚肉部12に少な
くとも1個の感温抵抗155が形成される。この感温抵
抗は(100)面におけるピエゾ抵抗係数の最小感度を
示す(100>軸方向に配置されたp形の感温抵抗であ
り、圧力には感応しない。この抵抗は差圧抵抗群111
〜114と同様に拡散又はイオン注入法により所定の出
力が得られる抵抗値で形成される。
一方、もう1つの補助センサである静圧センサは、前記
感温抵抗155と同様に、センサチップ1の厚肉部12
に前記差圧抵抗群と同じ結晶軸方向に、それぞれ平行に
又は直角方向に4個の静圧抵抗群151〜154が形成
される。静圧抵抗群151〜154のうち、151と1
54は前記チップ1の厚肉部12の一部に薄肉部15を
有する面上に形成される。この薄肉部15のもう一方の
面は前記第1の固定台2の一方の面と凹部121を形成
する。この凹部121は接合時に完全に封止されるので
、静圧と完全に分離され、所定の圧力を有した基準圧室
として動作する。一般には、この基準圧室の圧力として
は真空〜大気圧間の所定の圧力に保持されている。これ
により、厚肉部12上の薄肉部15は静圧に感応する起
歪体となり、基準圧室の圧力と静圧との圧力差に感応す
る静圧感応ダイアフラムとして動作する。この静圧感圧
ダイアフラム15には前記差圧感圧ダイアフラム11に
比して数百倍の差圧に耐える必要があるため、前記凹部
121の形状設定に十分注意する必要がある。設定手順
を以下に示す。
感温抵抗155と同様に、センサチップ1の厚肉部12
に前記差圧抵抗群と同じ結晶軸方向に、それぞれ平行に
又は直角方向に4個の静圧抵抗群151〜154が形成
される。静圧抵抗群151〜154のうち、151と1
54は前記チップ1の厚肉部12の一部に薄肉部15を
有する面上に形成される。この薄肉部15のもう一方の
面は前記第1の固定台2の一方の面と凹部121を形成
する。この凹部121は接合時に完全に封止されるので
、静圧と完全に分離され、所定の圧力を有した基準圧室
として動作する。一般には、この基準圧室の圧力として
は真空〜大気圧間の所定の圧力に保持されている。これ
により、厚肉部12上の薄肉部15は静圧に感応する起
歪体となり、基準圧室の圧力と静圧との圧力差に感応す
る静圧感応ダイアフラムとして動作する。この静圧感圧
ダイアフラム15には前記差圧感圧ダイアフラム11に
比して数百倍の差圧に耐える必要があるため、前記凹部
121の形状設定に十分注意する必要がある。設定手順
を以下に示す。
凹部121の外径を2aとし、静圧感圧ダイアフラム1
5の肉厚をhとし、最大静圧をPsとする。この時、静
圧感圧ダイアフラム15は前記差圧感圧ダイアフラム1
]、の肉厚と同しにすれば同一の凹部形成法にてその肉
厚を精度良くコントロールできるし、さらに同一形成が
可能である。このため、製作工程を単一化でき、しかも
信頼性の高い高精度の感圧ダイアフラムを容易に作成で
きる。したがって静圧感圧ダイアフラム15の肉厚は前
記差圧感圧ダイアフラム11と同じ肉厚となるので、凹
部121の外径のみを最大静圧Psにより決定すれば良
い。σ、をシリコンの破壊応力とすると、外径aは a≦h−JT7T下丁 となる。ここでKは比例定数(ダイアフラム固定部近傍
における定数)である。例えば測定差圧を1kgf/a
(とし、最大静圧を150kgf/1fflとし、静圧
感圧ダイアフラム上に配置された抵抗の変化を差圧感圧
ダイアフラム上に配置された抵抗変化と同様にする静圧
感圧ダイアフラム径を求めてみる。測定差圧1kgf/
cd時のダイアフラム厚を25μmとするとaは a≦0.025× 9010.38X1.5 =0.
314mmとなる。この値以下に凹部121の外径を設
定することにより静圧感圧ダイアフラム15はその最高
圧力まで破壊すること耐える。第3図は前述の条件にさ
らに安淀率(外径を約1/3)を見込んだ時の詳細な静
圧感圧ダイアフラム上の応力分布を示したものである。
5の肉厚をhとし、最大静圧をPsとする。この時、静
圧感圧ダイアフラム15は前記差圧感圧ダイアフラム1
]、の肉厚と同しにすれば同一の凹部形成法にてその肉
厚を精度良くコントロールできるし、さらに同一形成が
可能である。このため、製作工程を単一化でき、しかも
信頼性の高い高精度の感圧ダイアフラムを容易に作成で
きる。したがって静圧感圧ダイアフラム15の肉厚は前
記差圧感圧ダイアフラム11と同じ肉厚となるので、凹
部121の外径のみを最大静圧Psにより決定すれば良
い。σ、をシリコンの破壊応力とすると、外径aは a≦h−JT7T下丁 となる。ここでKは比例定数(ダイアフラム固定部近傍
における定数)である。例えば測定差圧を1kgf/a
(とし、最大静圧を150kgf/1fflとし、静圧
感圧ダイアフラム上に配置された抵抗の変化を差圧感圧
ダイアフラム上に配置された抵抗変化と同様にする静圧
感圧ダイアフラム径を求めてみる。測定差圧1kgf/
cd時のダイアフラム厚を25μmとするとaは a≦0.025× 9010.38X1.5 =0.
314mmとなる。この値以下に凹部121の外径を設
定することにより静圧感圧ダイアフラム15はその最高
圧力まで破壊すること耐える。第3図は前述の条件にさ
らに安淀率(外径を約1/3)を見込んだ時の詳細な静
圧感圧ダイアフラム上の応力分布を示したものである。
この図において、静圧感圧ダイアフラム15はほぼ円形
薄板の応力分布を示し、ダイアフラム端部近傍で半径方
向と周方向の応力差が最も大きくなることが明白である
。したがって前述の如く、静圧抵抗群151〜154は
ダイアフラム端部に拡散又はイオン注入により形成すれ
ばよい。この静圧感圧ダイアフラム15の外径は前記差
圧感圧ダイアフラム11の径に比してかなり小さいので
、必ずしも差圧感圧ダイアフラム上の抵抗群111〜1
14と同一の配置は採用できないが、以下の理由により
、差圧抵抗群と同様の抵抗変化を得ることができる。第
3図に示すように、静圧抵抗は端部を含む位置に長さβ
にて配置する。二九により、静圧抵抗が受ける応力は抵
抗長Qの平均値となる。詳しくは第3図において、半径
方向の応力値はA/Q、周方向の応力はB/Qとなり、
この値を実際に計算してみると、前記差圧抵抗群と少な
くとも同等か同等以上の値を得られることを確認した。
薄板の応力分布を示し、ダイアフラム端部近傍で半径方
向と周方向の応力差が最も大きくなることが明白である
。したがって前述の如く、静圧抵抗群151〜154は
ダイアフラム端部に拡散又はイオン注入により形成すれ
ばよい。この静圧感圧ダイアフラム15の外径は前記差
圧感圧ダイアフラム11の径に比してかなり小さいので
、必ずしも差圧感圧ダイアフラム上の抵抗群111〜1
14と同一の配置は採用できないが、以下の理由により
、差圧抵抗群と同様の抵抗変化を得ることができる。第
3図に示すように、静圧抵抗は端部を含む位置に長さβ
にて配置する。二九により、静圧抵抗が受ける応力は抵
抗長Qの平均値となる。詳しくは第3図において、半径
方向の応力値はA/Q、周方向の応力はB/Qとなり、
この値を実際に計算してみると、前記差圧抵抗群と少な
くとも同等か同等以上の値を得られることを確認した。
以上の検討結果より、静圧抵抗151〜154のうち、
151,154とを差圧抵抗群と同様に静圧感圧ダイア
フラム15の固定部近傍に、半径方向と接線方向にそれ
ぞれ配置する。またこれらの抵抗は第2図(a)に示す
ように、それぞれ2分割して結線することにより(有効
ゲージ長を大きくすることにより)、より大きな抵抗変
化を得られるようにしている。一方、別の2個の抵抗1
52.153は前記複合機能形センサチップ1の厚肉部
12に抵抗151,154と同様に形成してあり、静圧
印加時にはほとんど抵抗変化がない。これらの抵抗群1
51〜154を第2図(b)に示すようなブリッジ(実
質的に2アクテイブブリツジ)に結線され、端子h−に
よりその出力が取り出せる。
151,154とを差圧抵抗群と同様に静圧感圧ダイア
フラム15の固定部近傍に、半径方向と接線方向にそれ
ぞれ配置する。またこれらの抵抗は第2図(a)に示す
ように、それぞれ2分割して結線することにより(有効
ゲージ長を大きくすることにより)、より大きな抵抗変
化を得られるようにしている。一方、別の2個の抵抗1
52.153は前記複合機能形センサチップ1の厚肉部
12に抵抗151,154と同様に形成してあり、静圧
印加時にはほとんど抵抗変化がない。これらの抵抗群1
51〜154を第2図(b)に示すようなブリッジ(実
質的に2アクテイブブリツジ)に結線され、端子h−に
よりその出力が取り出せる。
複合機能形センサチップ1の上面には前記差圧。
静圧、温度の各抵抗群を保護する酸化膜18と、各抵抗
群を第2図(b)のように結線するアルミ配線16とポ
ンディングパッドa〜kが設けられている。
群を第2図(b)のように結線するアルミ配線16とポ
ンディングパッドa〜kが設けられている。
第4図は前記差圧感圧ダイアフラム11と静圧感圧ダイ
アフラム15を同時に形成するための、マスクの一例で
ある。一般にこれらのダイアフラムはウェットエツチン
グ又はドライエツチングにより形成する。図中122は
これらのエツチング際の保護膜である。前述の如く、各
ダイアフラムの肉厚は全く同じであるため、第4図に示
すような、径の異なるそれぞれのパターンのみで十分で
ある。このため、各ダイアフラムは同時に、しかも同一
工程にて、高精度に形成されることは明白である。
アフラム15を同時に形成するための、マスクの一例で
ある。一般にこれらのダイアフラムはウェットエツチン
グ又はドライエツチングにより形成する。図中122は
これらのエツチング際の保護膜である。前述の如く、各
ダイアフラムの肉厚は全く同じであるため、第4図に示
すような、径の異なるそれぞれのパターンのみで十分で
ある。このため、各ダイアフラムは同時に、しかも同一
工程にて、高精度に形成されることは明白である。
上述した構成、原理により、第2図(b)のブリッジよ
り出力された差圧又は圧力差信号、静圧信号、温度信号
は、周知の手段によって補償回路に送出それ、差圧又は
圧力差信号に含まれる零点変化成分を打ち消す処理が成
される。また、静圧信号はプロセス圧用出力として利用
する処理も容易である。
り出力された差圧又は圧力差信号、静圧信号、温度信号
は、周知の手段によって補償回路に送出それ、差圧又は
圧力差信号に含まれる零点変化成分を打ち消す処理が成
される。また、静圧信号はプロセス圧用出力として利用
する処理も容易である。
第5,6図は他の実施例を示したものである。
第5図における実施例では、前記静圧感圧ダイアフラム
15を4個設け、各ダイアフラム上に静圧抵抗を設けた
ものである。これにより、静圧センサの出力は前記実施
例に比へ約2倍の出力を得ることができるので、より高
精度の補正出力、プロセス圧用出力を得ることができる
。
15を4個設け、各ダイアフラム上に静圧抵抗を設けた
ものである。これにより、静圧センサの出力は前記実施
例に比へ約2倍の出力を得ることができるので、より高
精度の補正出力、プロセス圧用出力を得ることができる
。
第6図における実施例では、前記静圧抵抗群151〜1
54のうち、ダミーゲージである152゜153とを、
前記温度センサと同様に圧力にほとんど感度を示さない
(100>軸方向に配置したものである。これにより、
本発明の効果を損なわないことはいうまでもないが、ダ
ミーゲージの圧力による零点変化要因を取除くことがで
き、より高精度の補正出力、プロセス圧用出力を得るこ
とができる。
54のうち、ダミーゲージである152゜153とを、
前記温度センサと同様に圧力にほとんど感度を示さない
(100>軸方向に配置したものである。これにより、
本発明の効果を損なわないことはいうまでもないが、ダ
ミーゲージの圧力による零点変化要因を取除くことがで
き、より高精度の補正出力、プロセス圧用出力を得るこ
とができる。
以上詳細に説明したように、本発明によれば、差圧又は
圧力センサの静圧、温度変化により生しる零点変化を補
償する静圧信号、温度信号を高精度でしかも高出力で取
出せるので、より正確な差圧又は圧力差信号を得ること
ができ、圧力計測の精度が向上する。また、静圧信号は
プロセス圧用センサとしても利用でき、圧力計測器の削
減ができる。さらに、製作工程が容易であるので、信頼
性、経済性に富むという効果がある。
圧力センサの静圧、温度変化により生しる零点変化を補
償する静圧信号、温度信号を高精度でしかも高出力で取
出せるので、より正確な差圧又は圧力差信号を得ること
ができ、圧力計測の精度が向上する。また、静圧信号は
プロセス圧用センサとしても利用でき、圧力計測器の削
減ができる。さらに、製作工程が容易であるので、信頼
性、経済性に富むという効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示した断面図、第2図は第
1図の平面図、第3図は静圧感圧ダイアフラム上の応力
分布を示した図、第4図は複合機能形センサチップの各
ダイアフラムを作成するためのマスク図、第5図、第6
図は本発明の他の実施例を示す要部平面図である。 1・・複合機能形センサチップ、2・・・第1の固定台
、3・・第2の固定台、4・・ハウジング、5・・・配
線板、11・・差圧又は圧力差感圧ダイアフラム、12
・・・センサチップの厚肉部、13・・・差圧感圧ダイ
アフラム凹部、14 中央剛体部、15 静圧感圧ダイ
アフラム、16 アルミ配線、17・・・ボンディング
線、18・・酸化膜、41 ・ハーメチックシール部材
、42・ハーメチックシール端子、111〜114・・
差圧又は圧力差抵抗、121 静圧感圧ダイアフラム凹
部(基準圧室)、122・・・エツチング保護膜、15
1〜154 静圧抵抗、155・・感温抵抗。 第1図 第3図 第2図 第4図
1図の平面図、第3図は静圧感圧ダイアフラム上の応力
分布を示した図、第4図は複合機能形センサチップの各
ダイアフラムを作成するためのマスク図、第5図、第6
図は本発明の他の実施例を示す要部平面図である。 1・・複合機能形センサチップ、2・・・第1の固定台
、3・・第2の固定台、4・・ハウジング、5・・・配
線板、11・・差圧又は圧力差感圧ダイアフラム、12
・・・センサチップの厚肉部、13・・・差圧感圧ダイ
アフラム凹部、14 中央剛体部、15 静圧感圧ダイ
アフラム、16 アルミ配線、17・・・ボンディング
線、18・・酸化膜、41 ・ハーメチックシール部材
、42・ハーメチックシール端子、111〜114・・
差圧又は圧力差抵抗、121 静圧感圧ダイアフラム凹
部(基準圧室)、122・・・エツチング保護膜、15
1〜154 静圧抵抗、155・・感温抵抗。 第1図 第3図 第2図 第4図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、差圧又は圧力差を検出する差圧検出手段、静圧を検
出する静圧検出手段、温度を検出する手段を単一チップ
内に具備し、前記差圧検出手段からの出力信号を前記静
圧検出手段および温度検出手段からの出力信号により補
正してより高精度の差圧信号を得ることができる複合機
能形センサにおいて、 前記差圧検出手段の差圧感圧ダイアフラムとは別個に、
静圧検出手段用の静圧感圧ダイアフラムを少なくとも2
個以上設け、そのダイアフラム厚は前記差圧感圧ダイア
フラム厚と同じ厚さを有し、前記静圧感圧ダイアフラム
上の一方の面には、少なくとも1個以上の抵抗体を有し
、前記静圧感圧ダイアフラムのもう一方面と前記単一チ
ップを固定する固定台間で形成される空間を真空または
大気圧あるいはその間の一定圧力にて封止されているこ
とを特徴とする複合機能形センサ。 2、請求項第1項において、4個の抵抗のうち、2個を
前記静圧感圧ダイアフラム上のダイアフラム端部と固定
部にまたがつて、半径方向、または接線方向にそれぞれ
配置し、別の2個は前記チップの厚肉部にそれぞれ前者
と同様に半径方向または接線方向に配置していることを
特徴とする複合機能形センサ。 3、請求項第1項において、4個の静圧抵抗を、前記静
圧感圧ダイアフラム上のダイアフラム端部と固定部にま
たがつて、前記差圧感圧ダイアフラム上の抵抗体と同様
に、半径方向または接線方向に、それぞれの静圧感圧ダ
イアフラム上にそれぞれ形成していることを特徴とする
複合機能形センサ。 4、請求項第1項において、4個の静圧抵抗のうち、2
個を前記静圧感圧ダイアフラム上のダイアフラム端部と
固定部にまたがつて、半径方向または接線方向にそれぞ
れ配置し、別の2個は前記チップの厚肉部に設けてある
感温抵抗と同方向(同結晶軸方向)に、前記差圧感圧ダ
イアフラム以外の位置に設けてあることを特徴とする複
合機能形センサ。 5、請求項第1項において、前記複合機能形センサチッ
プを固定する固定台を硼珪酸塩ガラスまたは表面に酸化
膜を付したシリコンで構成してあることを特徴とする複
合機能形センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2230688A JP2512220B2 (ja) | 1990-09-03 | 1990-09-03 | 複合機能形センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2230688A JP2512220B2 (ja) | 1990-09-03 | 1990-09-03 | 複合機能形センサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04113239A true JPH04113239A (ja) | 1992-04-14 |
JP2512220B2 JP2512220B2 (ja) | 1996-07-03 |
Family
ID=16911755
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2230688A Expired - Lifetime JP2512220B2 (ja) | 1990-09-03 | 1990-09-03 | 複合機能形センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2512220B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5432372A (en) * | 1993-01-14 | 1995-07-11 | Yamatake-Honeywell Co., Ltd. | Semiconductor pressure sensor |
EP0759546A3 (en) * | 1995-08-21 | 1998-04-22 | Moore Products Co. | Pressure transducer |
CN102445301A (zh) * | 2011-11-23 | 2012-05-09 | 无锡芯感智半导体有限公司 | 温漂自补偿soi压力传感器 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5562331A (en) * | 1978-11-06 | 1980-05-10 | Hitachi Ltd | Absolute pressure reference type pressure sensor |
JPS56145327A (en) * | 1980-04-15 | 1981-11-12 | Fuji Electric Co Ltd | Pressure transducer |
JPS58193431A (ja) * | 1982-05-07 | 1983-11-11 | Hitachi Ltd | 絶対圧力伝送器 |
JPS61240134A (ja) * | 1986-04-17 | 1986-10-25 | Toshiba Corp | 半導体基板 |
-
1990
- 1990-09-03 JP JP2230688A patent/JP2512220B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5562331A (en) * | 1978-11-06 | 1980-05-10 | Hitachi Ltd | Absolute pressure reference type pressure sensor |
JPS56145327A (en) * | 1980-04-15 | 1981-11-12 | Fuji Electric Co Ltd | Pressure transducer |
JPS58193431A (ja) * | 1982-05-07 | 1983-11-11 | Hitachi Ltd | 絶対圧力伝送器 |
JPS61240134A (ja) * | 1986-04-17 | 1986-10-25 | Toshiba Corp | 半導体基板 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5432372A (en) * | 1993-01-14 | 1995-07-11 | Yamatake-Honeywell Co., Ltd. | Semiconductor pressure sensor |
EP0759546A3 (en) * | 1995-08-21 | 1998-04-22 | Moore Products Co. | Pressure transducer |
CN102445301A (zh) * | 2011-11-23 | 2012-05-09 | 无锡芯感智半导体有限公司 | 温漂自补偿soi压力传感器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2512220B2 (ja) | 1996-07-03 |
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