JPH04107852A - 半導体装置用リードフレームの製造方法 - Google Patents

半導体装置用リードフレームの製造方法

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JPH04107852A
JPH04107852A JP22619190A JP22619190A JPH04107852A JP H04107852 A JPH04107852 A JP H04107852A JP 22619190 A JP22619190 A JP 22619190A JP 22619190 A JP22619190 A JP 22619190A JP H04107852 A JPH04107852 A JP H04107852A
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JP
Japan
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lead
leads
thickness
semiconductor device
press
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Pending
Application number
JP22619190A
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Inventor
Hisashi Sawaki
佐脇 久
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置用リードフレームの製造方法に関し
、特に細かいパターンを有する半導体装置用リードフレ
ームの製造方法に関する。
〔従来の技術〕
従来より、半導体装置用リードフレーム(以下L/Fと
記す)の製造方法として、プレスによる方法、エツチン
グによる方法の2方法がある。
プレス法は、平条を用いて金型により所定のパターンを
連続的に形成した後、ボンディングエリアを広げるため
リード最先端を押しつぶしくコイニング)、さらに、所
定の長さに切断してL/Fとする。又、場合によっては
、ペレット搭載部をリード部より低くする(ディスプレ
ス加工)こともある。
一方、エツチング法では、平板を用いて写真蝕刻法によ
り所定のパターンを形成した後、個々に切り離してL/
Fとする。プレス法と同様にディスブレス加工すること
もある。
〔発明が解決しようとする課題〕
この従来の方法は、いずれも同一厚みの条又は板を使用
するため、各々の加工方法による物理的な限界がある0
例えば、0.15mm厚の材料でのL/Fを加工する場
合その限界は、2つの加工法ともリード先端の最小ピッ
チは0.20n程度である。
従って、前記限界ピッチより、さらに細かいパターンを
得るためには、L/F用材用材板厚を薄くしなければな
らない。しかしながら、L/F用材用材板厚を薄くする
と外部リードの強度が弱くなるため、外部リードに曲り
などが多発するという問題点がある。
本発明の目的は、リード先端のピッチが細く、外部リー
ドに曲りの発生のないL/Fの製造方法を提供すること
にある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、半導体ペレット搭載用のアイランド部と、前
記ペレットと電気的に接続される複数の内部リード部と
、外部電極取り出し用の複数の外部リード部とを備えた
複数個のパターンを形成する半導体装置用リードフレー
ムの製造方法において、前記パターン形成工程前に前記
内部リード先端となるべき部分をプレス加工にて薄くす
る工程を含んで構成される。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本発明の一実施例の平面図及びX−X′線断面
図、第2図(a)〜(d)は本発明の一実施例の製造方
法を説明する概念図である。
まず、第2図(a)に示すように、厚み1.5關1幅2
5mmのCu合金平条を用意する。
次に、第2図(b)に示すように、最終的にリード先端
部となる部分を厚みが0.125〜0.130+am程
度までプレス加工により薄化しておく。
しかる後、第2図(C)に示すように、外部リード、内
部リード等を順次プレス加工し、所定のパターンとする
さらに、第2図(d)に示すように、コイニングした後
、所定の長さに切断して第1図(a)(b)のL/Fが
得られる。
あらかじめ実施するプレス加工による薄化は、−表面の
みの方が、その後のパターニングにおいてリード先端の
曲り等が少なく有利である。
同様に、エツチング加工の場合は、あらかじめCu合金
素材の0.15u+厚、320x420mdの平板を用
い、最終的にリード先端部となるべき位置をプレス加工
により、0.125〜0.1301mlに薄化する。
次に、ホトレジスト塗布、紫外線ランプによる露光、現
像を行いCu合金用のエツチング液にてパターンを形成
する。この時、本来の厚みの部分と薄くなる部分とが非
連続的な厚みの場合、エツチング後に突起が発生しやす
いので出来る限り連続的に傾斜を持つように薄くする方
がより良い効果が得られる。
しかる後、所定の長さに切断して第1図(a)。
(b)のL/Fが得られる。
薄化する方法としては、プレス法の他に、ホトマスク又
はテープマスクによるエツチング法や放電加工法等いず
れの場合も有効である。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、あらかじめリード先端部
を薄くすることにより、リード最先端の最小ピッチを0
.15m5厚さの平条を用いた場合の0.20am程度
から、実質的に0.125+u厚を用いたのと同様の0
.171程度まで細かくすることが可能となる効果があ
る。
さらに、細かいピッチにすることにより、同一ビン数の
パッケージにおいても、リード先端がより中央部へと入
いつ、ペレット搭載部が小さくなりより小さな半導体ペ
レットが搭載可能となる副次的な効果も得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a>、(b)は本発明の一実施例の平面図及び
x−x’線断面図、第2図(a)〜(d)は本発明の一
実施例の製造方法を説明する概念図である。 1・・・外枠、2・・・アイランド、3・・・リード、
3a・・・内部リード、3b・・・外部リード、4・・
・薄化部、5・・・コイニング部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体ペレット搭載用のアイランド部と、前記ペレット
    と電気的に接続される複数の内部リード部と、外部電極
    取り出し用の複数の外部リード部とを備えた複数個のパ
    ターンを形成する半導体装置用リードフレームの製造方
    法において、前記パターン形成工程前に前記内部リード
    先端となるべき部分をプレス加工にて薄くする工程を含
    むことを特徴とする半導体装置用リードフレームの製造
    方法。
JP22619190A 1990-08-28 1990-08-28 半導体装置用リードフレームの製造方法 Pending JPH04107852A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100268925B1 (ko) * 1997-11-14 2000-10-16 김영환 리드프레임및이를이용한반도체패키지

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100268925B1 (ko) * 1997-11-14 2000-10-16 김영환 리드프레임및이를이용한반도체패키지

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