JPH0381237B2 - - Google Patents
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- JPH0381237B2 JPH0381237B2 JP61006642A JP664286A JPH0381237B2 JP H0381237 B2 JPH0381237 B2 JP H0381237B2 JP 61006642 A JP61006642 A JP 61006642A JP 664286 A JP664286 A JP 664286A JP H0381237 B2 JPH0381237 B2 JP H0381237B2
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- JP
- Japan
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- signal
- boost
- clock
- word line
- circuit
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
Links
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/08—Word line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, for word lines
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/10—Decoders
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/18—Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals
Description
【発明の詳細な説明】
A 産業上の利用分野
本発明は電圧ブーストおよびデコーダ回路に関
し、更に具体的には、ランダム・アクセス・メモ
リのワード線電圧をブーストするための半導体ク
ロツクおよびデコーダ・ドライバ回路に関する。
し、更に具体的には、ランダム・アクセス・メモ
リのワード線電圧をブーストするための半導体ク
ロツクおよびデコーダ・ドライバ回路に関する。
B 開示の概要
VDD電源電圧に加えて基板バイアスを用いる
CMOS DRAMに使用できるCMOSワード線ブー
スト・クロツクおよびデコーダ・ドライバ回路に
ついて開示する。簡単なCMOSインバータを含
むワード線ブースト・クロツク回路がワード線の
ブーストのために用いられ、キヤパシタの2ウエ
イ・ブースト作用によつて通常起りうる電圧のオ
ーバシユートが完全に除去される。また、この回
路は1つのクロツクでトリガできる。
CMOS DRAMに使用できるCMOSワード線ブー
スト・クロツクおよびデコーダ・ドライバ回路に
ついて開示する。簡単なCMOSインバータを含
むワード線ブースト・クロツク回路がワード線の
ブーストのために用いられ、キヤパシタの2ウエ
イ・ブースト作用によつて通常起りうる電圧のオ
ーバシユートが完全に除去される。また、この回
路は1つのクロツクでトリガできる。
上記のCMOSワード線ブースト・クロツク回
路と組合わされる高性能のデコーダ回路が提供さ
れる。デコーダ回路はデコーダ・ドライバに
NMOSパス・ゲートを用い、高速なワード線ブ
ースト動作を与える。デコーダ・セツトとワード
線クロツク活性化との間のタイミングは重要では
ない。
路と組合わされる高性能のデコーダ回路が提供さ
れる。デコーダ回路はデコーダ・ドライバに
NMOSパス・ゲートを用い、高速なワード線ブ
ースト動作を与える。デコーダ・セツトとワード
線クロツク活性化との間のタイミングは重要では
ない。
ワード線を0Vよりも低い電圧にブーストする
ために、負の基板バイアスが設けられ、NMOS
のソースまたはドレインにおける0Vよりも低い
電圧オーバシユートによる接合の順バイアスを防
止する。したがつて基板バイアスを用いないワー
ド線ブースト・クロツク回路に比べて、ワード線
クロツクのプル・ダウンを高速化し、設計を簡単
にできる。
ために、負の基板バイアスが設けられ、NMOS
のソースまたはドレインにおける0Vよりも低い
電圧オーバシユートによる接合の順バイアスを防
止する。したがつて基板バイアスを用いないワー
ド線ブースト・クロツク回路に比べて、ワード線
クロツクのプル・ダウンを高速化し、設計を簡単
にできる。
C 従来の技術
従来技術においては、種々の電圧ブースト回路
およびデコーダ回路が知られている。ダイナミツ
ク・ランダム・アクセス・メモリ(DRAM)の
ような多くのNMOS半導体メモリでは、ワード
線電圧は電源電圧VDDよりも高い電圧にブースト
され、これにより、スレシヨルド電圧損なしに全
振巾の信号をメモリ・セルに記憶したり、そこか
ら読取ることができるようにしている。しかし、
CMOS半導体メモリ(CMOS DRAM)ではN型
ウエル技術が用いられ、周辺回路からの少数キヤ
リア注入および放射線によるソフト・エラーを減
じるため、メモリ・セルのアクセス・トランジス
タとしてPMOSトランジスタが用いられる。選
択されたワード線のレベルが例えば公称の5Vか
ら0Vに変わり、ワード線信号がブーストされな
ければ、記憶電荷はPMOSのスレシヨルド電圧
損を受ける。例えば、仮にVDD=4.5V、PMOSの
スレシヨルド電圧VT=1.6Vとすると、実際の記
憶電圧はわずか2.9Vである。リーケージ(漏れ)
の効果も入れると、信号は2.5V以下に低下する。
このような小信号は非常に大きな記憶キヤパシタ
を用いる64K DRAMではまだ使用に耐えるが、
より高密度のチツプでは望ましくない。また、チ
ツプ密度が1Mビツトに増大したり電源電圧が標
準の5Vよりも低くされた場合は、妥当なチツ
プ・サイズを維持するためには記憶キヤパシタの
面積をある一定値以下に制限する必要があるか
ら、信号回復期間のスレシヨルド電圧損は許容し
がたいものとなる。したがつて、ワード線ブース
ト回路はCMOSメモリ・システムの重要な要素
である。しかしCMOS DRAMのワード線ブース
ト回路は、動作時にPN接合を不本意に順バイア
スするような電圧オーバシユートまたはアンダシ
ユートを生じないのが望ましく、また制御が簡単
で、高速動作できるのが望ましい。
およびデコーダ回路が知られている。ダイナミツ
ク・ランダム・アクセス・メモリ(DRAM)の
ような多くのNMOS半導体メモリでは、ワード
線電圧は電源電圧VDDよりも高い電圧にブースト
され、これにより、スレシヨルド電圧損なしに全
振巾の信号をメモリ・セルに記憶したり、そこか
ら読取ることができるようにしている。しかし、
CMOS半導体メモリ(CMOS DRAM)ではN型
ウエル技術が用いられ、周辺回路からの少数キヤ
リア注入および放射線によるソフト・エラーを減
じるため、メモリ・セルのアクセス・トランジス
タとしてPMOSトランジスタが用いられる。選
択されたワード線のレベルが例えば公称の5Vか
ら0Vに変わり、ワード線信号がブーストされな
ければ、記憶電荷はPMOSのスレシヨルド電圧
損を受ける。例えば、仮にVDD=4.5V、PMOSの
スレシヨルド電圧VT=1.6Vとすると、実際の記
憶電圧はわずか2.9Vである。リーケージ(漏れ)
の効果も入れると、信号は2.5V以下に低下する。
このような小信号は非常に大きな記憶キヤパシタ
を用いる64K DRAMではまだ使用に耐えるが、
より高密度のチツプでは望ましくない。また、チ
ツプ密度が1Mビツトに増大したり電源電圧が標
準の5Vよりも低くされた場合は、妥当なチツ
プ・サイズを維持するためには記憶キヤパシタの
面積をある一定値以下に制限する必要があるか
ら、信号回復期間のスレシヨルド電圧損は許容し
がたいものとなる。したがつて、ワード線ブース
ト回路はCMOSメモリ・システムの重要な要素
である。しかしCMOS DRAMのワード線ブース
ト回路は、動作時にPN接合を不本意に順バイア
スするような電圧オーバシユートまたはアンダシ
ユートを生じないのが望ましく、また制御が簡単
で、高速動作できるのが望ましい。
D 発明が解決しようとする問題点
本発明の目的はCMOS DRAMのための改良さ
れたワード線ブースト・クロツクおよびデコー
ダ・ドライバ回路を提供することである。
れたワード線ブースト・クロツクおよびデコー
ダ・ドライバ回路を提供することである。
他の目的は、CMOS DRAMのための簡単で、
高速動作が可能なワード線ブースト・クロツクお
よびデコーダ・ドライバ回路を提供することであ
る。
高速動作が可能なワード線ブースト・クロツクお
よびデコーダ・ドライバ回路を提供することであ
る。
E 問題を解決するための手段
本発明によれば、単一のクロツク信号ΦBによ
つてトリガされるワード線ブースト・クロツク回
路、およびワード線ブースト・クロツク回路に接
続されワード線デコーダに応答してワード線をブ
ーストするデコーダ・ドライバ回路の組合わせが
提供される。クロツク信号ΦBによつてトリガさ
れた後は、クロツク信号ΦBに基いて発生される
クロツク信号ΦC、ΦDならびに遅延されたΦB、
ΦC、ΦD信号によつて制御される。ワード線ブー
スト・クロツク回路はワード線ブースト・クロツ
ク信号を発生するクロツク・ドライバ回路31を
有し、クロツク・ドライバ回路31はクロツク信
号ΦBによるトリガに応答して、ワード線クロツ
ク信号ΦXを駆動(放電)し始める。クロツク・
ドライバ回路31には外部ブースト回路33が接
続され、外部ブースト回路33は遅延されたΦB
信号および遅延されたΦDに応答するNAND回路
35に応答して上記クロツク・ドライバ回路31
へ外部ブースト信号を与え、ワード線クロツク信
号ΦXをブーストする。クロツク・ドライバ回路
31および外部ブースト回路33はワード線クロ
ツク信号発生時に電圧オーバシユートを生じない
ように制御される。
つてトリガされるワード線ブースト・クロツク回
路、およびワード線ブースト・クロツク回路に接
続されワード線デコーダに応答してワード線をブ
ーストするデコーダ・ドライバ回路の組合わせが
提供される。クロツク信号ΦBによつてトリガさ
れた後は、クロツク信号ΦBに基いて発生される
クロツク信号ΦC、ΦDならびに遅延されたΦB、
ΦC、ΦD信号によつて制御される。ワード線ブー
スト・クロツク回路はワード線ブースト・クロツ
ク信号を発生するクロツク・ドライバ回路31を
有し、クロツク・ドライバ回路31はクロツク信
号ΦBによるトリガに応答して、ワード線クロツ
ク信号ΦXを駆動(放電)し始める。クロツク・
ドライバ回路31には外部ブースト回路33が接
続され、外部ブースト回路33は遅延されたΦB
信号および遅延されたΦDに応答するNAND回路
35に応答して上記クロツク・ドライバ回路31
へ外部ブースト信号を与え、ワード線クロツク信
号ΦXをブーストする。クロツク・ドライバ回路
31および外部ブースト回路33はワード線クロ
ツク信号発生時に電圧オーバシユートを生じない
ように制御される。
F 実施例
第1図は本発明によるワード線クロツク発生回
路の実施例を示している。クロツク発生回路は
ΦB、ΦC、ΦD、Φ″RASと示されている複数のシステ
ム・クロツク信号に応答する。これらの信号につ
いては後に説明する。
路の実施例を示している。クロツク発生回路は
ΦB、ΦC、ΦD、Φ″RASと示されている複数のシステ
ム・クロツク信号に応答する。これらの信号につ
いては後に説明する。
ブロツク11はNORゲートであり、2つのク
ロツク信号ΦBとΦRASのNOR理論をとる。ブロツ
ク13,15は一連のインバータ遅延回路を含
む。ブロツク17はクロツク信号ΦBのためのイ
ンバータ遅延回路である。ブロツク19,21も
一連のインバータ遅延回路を含む。ブロツク23
は、FET装置Q24にクロツク信号ΦCを記憶し、
装置Q23に信号が印加されたときクロツク信号
ΦCを遅延ブロツク19へゲートするゲート回路
として働く。ブロツク25はブロツク15からの
遅延された信号ΦCおよびブロツク19からの信
号ΦDに対するNOR回路である。ブロツク27は
NOR回路25の出力および(ブロツク33から
の)外部ブースト出力信号に対するNAND回路
である。ブロツク29はノード22に対する内部
ブースト回路であり、装置Q3を制御する。ブロ
ツク31はクロツク・ドライバ手段であり、ブロ
ツク33は外部ブースト手段である。ブロツク3
5はブロツク21からの遅延された信号ΦDおよ
びブロツク17からの遅延された信号ΦBに対す
るNAND機能を行なう。
ロツク信号ΦBとΦRASのNOR理論をとる。ブロツ
ク13,15は一連のインバータ遅延回路を含
む。ブロツク17はクロツク信号ΦBのためのイ
ンバータ遅延回路である。ブロツク19,21も
一連のインバータ遅延回路を含む。ブロツク23
は、FET装置Q24にクロツク信号ΦCを記憶し、
装置Q23に信号が印加されたときクロツク信号
ΦCを遅延ブロツク19へゲートするゲート回路
として働く。ブロツク25はブロツク15からの
遅延された信号ΦCおよびブロツク19からの信
号ΦDに対するNOR回路である。ブロツク27は
NOR回路25の出力および(ブロツク33から
の)外部ブースト出力信号に対するNAND回路
である。ブロツク29はノード22に対する内部
ブースト回路であり、装置Q3を制御する。ブロ
ツク31はクロツク・ドライバ手段であり、ブロ
ツク33は外部ブースト手段である。ブロツク3
5はブロツク21からの遅延された信号ΦDおよ
びブロツク17からの遅延された信号ΦBに対す
るNAND機能を行なう。
ノード10の出力信号ΦXは第4図に関して後
述する選択されたデコーダ・ドライバを介して
個々のワード線に供給される。ノード12に印加
されるクロツク信号ΦBは回路動作の前の方のフ
エイズのときに出力信号のプル・ダウンを開始
し、後の方のフエイズのときに出力信号をリセツ
トするのに用いられる。クロツク信号Φ″RASは一
般に、回路の高速リセツトのためにDRAMの行
回路クロツクとして用いられる。クロツク信号
ΦCはブースト動作に備えて回路をプリセツトす
るのに用いられ、クロツク信号ΦDは大地電圧よ
りも低い電圧に出力電圧をブーストするのをトリ
ガするのに用いられる。クロツク信号ΦCはノー
ド12からノード14までの遅延回路を経てクロ
ツク信号ΦBによつて発生され、クロツク信号ΦD
はノード14,16、ノード18、ブロツク19
の遅延回路を経てクロツク信号ΦCから発生され
る。トランジスタQ1,Q2,Q3は出力段を形
成し、Q1,Q2は直流電流を回避するため相補
対として接続されている。PMOSトランジスタ
装置Q4はノード22と24の間のパス・ゲート
として用いられ、ノード16を高電圧から低電圧
へ放電させることにより、ノード22の電圧は結
合キヤパシタ26を介して大地電圧よりも低い電
圧に引張られ、装置Q3をオフにする。このとき
ノード28を放電させることにより、ノード10
の出力電圧は結合キヤパシタ30を介して大地よ
りも低い電圧にブーストされる。設計のキー・ポ
イントはPMOSトランジスタのソース/ドレイ
ンに何らオーバシユートを生じることなくワード
線ブースト・クロツクを達成することである。
NMOSのソース/ドレインのアンダシユートは
それが基板バイアス電圧と同じ大きさのものであ
る限りは許容できる。
述する選択されたデコーダ・ドライバを介して
個々のワード線に供給される。ノード12に印加
されるクロツク信号ΦBは回路動作の前の方のフ
エイズのときに出力信号のプル・ダウンを開始
し、後の方のフエイズのときに出力信号をリセツ
トするのに用いられる。クロツク信号Φ″RASは一
般に、回路の高速リセツトのためにDRAMの行
回路クロツクとして用いられる。クロツク信号
ΦCはブースト動作に備えて回路をプリセツトす
るのに用いられ、クロツク信号ΦDは大地電圧よ
りも低い電圧に出力電圧をブーストするのをトリ
ガするのに用いられる。クロツク信号ΦCはノー
ド12からノード14までの遅延回路を経てクロ
ツク信号ΦBによつて発生され、クロツク信号ΦD
はノード14,16、ノード18、ブロツク19
の遅延回路を経てクロツク信号ΦCから発生され
る。トランジスタQ1,Q2,Q3は出力段を形
成し、Q1,Q2は直流電流を回避するため相補
対として接続されている。PMOSトランジスタ
装置Q4はノード22と24の間のパス・ゲート
として用いられ、ノード16を高電圧から低電圧
へ放電させることにより、ノード22の電圧は結
合キヤパシタ26を介して大地電圧よりも低い電
圧に引張られ、装置Q3をオフにする。このとき
ノード28を放電させることにより、ノード10
の出力電圧は結合キヤパシタ30を介して大地よ
りも低い電圧にブーストされる。設計のキー・ポ
イントはPMOSトランジスタのソース/ドレイ
ンに何らオーバシユートを生じることなくワード
線ブースト・クロツクを達成することである。
NMOSのソース/ドレインのアンダシユートは
それが基板バイアス電圧と同じ大きさのものであ
る限りは許容できる。
第2図および第3図の波形を参照して第1図の
回路の動作を説明する。説明のため、VDDは5V、
基板バイアスは−2.5Vであるものとする。活性
化の前、クロツク信号ΦB、Φ″RASおよび出力ΦXは
高レベル(5V)、ΦCおよびΦDは低レベル(0V)
である。ノード28,16の電圧は低レベル、ノ
ード22の電圧は高レベルである。活性化は最初
信号Φ″RASを、次に信号ΦBをプル・ダウンして
(引下げて)装置Q1をオンにし、ノード10を
装置Q1,Q3を介して大地へ放電することによ
つて開始される。一方、信号ΦBのプル・ダウン
はノード12,32,34,28を通る回路によ
りノード28を5Vにプル・アツプする(引上げ
る)。ノード10は放電してしまつているから、
ノード28が5Vに引上げられるときには、キヤ
パシタ30を通る結合によつて5Vを超えるオー
バシユートは生じない。ノード10を完全に放電
させるだけの時間遅延の後クロツク信号ΦCが引
上げられ、ノード24,22を放電する。その
後、ノード16が高レベルに充電され、これはキ
ヤパシタ26を介してノード22に電圧結合を与
えるが、ノード22は放電していてNMOSキヤ
パシタ26が十分にオンにならないから、5Vを
超えるオーバシユートは生じない。ノード16の
上昇は装Q23をオンにしてノード18を放電
し、その後クロツク信号ΦDを引上げる。クロツ
ク信号ΦDの上昇は最初ノード16を引下げ、キ
ヤパシタ26を介してノード22を大地よりも低
い電圧にブーストし、装置Q3をオフにする。次
にノード28が引下げられ、キヤパシタ30を介
して出力ノード10を大地よりも低い電圧にブー
ストする。回路をリセツトするときは、クロツク
信号Φ″RASが引上げられて出力ΦXを5Vに充電し、
次に信号ΦB5Vにリセツトされ、両方の信号ΦC、
ΦDが大地レベルにリセツトされる。ノード22
は5Vに充電される。ノード28,16は低レベ
ルのままであるから、キヤパシタの2ウエイ・ブ
ースト作用によるオーバシユートは生じない。
回路の動作を説明する。説明のため、VDDは5V、
基板バイアスは−2.5Vであるものとする。活性
化の前、クロツク信号ΦB、Φ″RASおよび出力ΦXは
高レベル(5V)、ΦCおよびΦDは低レベル(0V)
である。ノード28,16の電圧は低レベル、ノ
ード22の電圧は高レベルである。活性化は最初
信号Φ″RASを、次に信号ΦBをプル・ダウンして
(引下げて)装置Q1をオンにし、ノード10を
装置Q1,Q3を介して大地へ放電することによ
つて開始される。一方、信号ΦBのプル・ダウン
はノード12,32,34,28を通る回路によ
りノード28を5Vにプル・アツプする(引上げ
る)。ノード10は放電してしまつているから、
ノード28が5Vに引上げられるときには、キヤ
パシタ30を通る結合によつて5Vを超えるオー
バシユートは生じない。ノード10を完全に放電
させるだけの時間遅延の後クロツク信号ΦCが引
上げられ、ノード24,22を放電する。その
後、ノード16が高レベルに充電され、これはキ
ヤパシタ26を介してノード22に電圧結合を与
えるが、ノード22は放電していてNMOSキヤ
パシタ26が十分にオンにならないから、5Vを
超えるオーバシユートは生じない。ノード16の
上昇は装Q23をオンにしてノード18を放電
し、その後クロツク信号ΦDを引上げる。クロツ
ク信号ΦDの上昇は最初ノード16を引下げ、キ
ヤパシタ26を介してノード22を大地よりも低
い電圧にブーストし、装置Q3をオフにする。次
にノード28が引下げられ、キヤパシタ30を介
して出力ノード10を大地よりも低い電圧にブー
ストする。回路をリセツトするときは、クロツク
信号Φ″RASが引上げられて出力ΦXを5Vに充電し、
次に信号ΦB5Vにリセツトされ、両方の信号ΦC、
ΦDが大地レベルにリセツトされる。ノード22
は5Vに充電される。ノード28,16は低レベ
ルのままであるから、キヤパシタの2ウエイ・ブ
ースト作用によるオーバシユートは生じない。
上述した新しいCMOSワード線ブースト・ク
ロツク回路はVDD電源に加えて基板バイアスを用
いるCMOS技術で使用できる。
ロツク回路はVDD電源に加えて基板バイアスを用
いるCMOS技術で使用できる。
CMOSブースト回路の設計上の1つの問題は、
PMOSトランジスタのソースまたはドレインが
VDD+0.6Vを超える電圧オーバシユートに耐えら
れないということである。電圧オーバシユートは
PMOSのP+N接合を順バイアスしてキヤリアの
注入を生じさせ、ダイナミツク回路や記憶電荷の
誤動作あるいはラツチ・アツプを引起す。ワード
線クロツク回路の出力とワード線クロツク・ブー
スト用インバータ(Q35,Q36)との間にブ
ースト用キヤパシタを用いた場合は、これらの2
つの出力の間で生じる望ましくない2ウエイ・ブ
ースト作用によつて容易にオーバシユートが起り
うる。本発明のCMOSワード線ブースト・クロ
ツク回路では、CMOSインバータのみが用いら
れるが、活性化の際は、クロツク信号ΦBの降下
によつて出力ΦXを放電させてからノード28を
プル・アツプし、またリセツトの際は出力ΦXを
高レベルに充電するがその時ノード28は大地レ
ベルにあるから、ブースト用キヤパシタによるオ
ーバシユートは生じず、接合の順バイアスをなく
すことができる。キヤパシタ26に関しても同様
の作用が生じる。さらに、全体の回路動作は単一
のクロツク信号ΦBによつてトリガできるので、
このクロツク回路のタイミングは非常に簡単であ
る。(ΦRASはメモリ回路全体で用いられる他のク
ロツク回路と関連した正しい時間シーケンスでワ
ード線ブースト・クロツク回路をリセツトするた
めに用いられるだけである。)また、負の基板バ
イアスを用いることにより、NMOSトランジス
タのソースまたはドレインにおける0Vよりも低
い電圧アンダシユートによる接合の順バイアスを
回避しうる。
PMOSトランジスタのソースまたはドレインが
VDD+0.6Vを超える電圧オーバシユートに耐えら
れないということである。電圧オーバシユートは
PMOSのP+N接合を順バイアスしてキヤリアの
注入を生じさせ、ダイナミツク回路や記憶電荷の
誤動作あるいはラツチ・アツプを引起す。ワード
線クロツク回路の出力とワード線クロツク・ブー
スト用インバータ(Q35,Q36)との間にブ
ースト用キヤパシタを用いた場合は、これらの2
つの出力の間で生じる望ましくない2ウエイ・ブ
ースト作用によつて容易にオーバシユートが起り
うる。本発明のCMOSワード線ブースト・クロ
ツク回路では、CMOSインバータのみが用いら
れるが、活性化の際は、クロツク信号ΦBの降下
によつて出力ΦXを放電させてからノード28を
プル・アツプし、またリセツトの際は出力ΦXを
高レベルに充電するがその時ノード28は大地レ
ベルにあるから、ブースト用キヤパシタによるオ
ーバシユートは生じず、接合の順バイアスをなく
すことができる。キヤパシタ26に関しても同様
の作用が生じる。さらに、全体の回路動作は単一
のクロツク信号ΦBによつてトリガできるので、
このクロツク回路のタイミングは非常に簡単であ
る。(ΦRASはメモリ回路全体で用いられる他のク
ロツク回路と関連した正しい時間シーケンスでワ
ード線ブースト・クロツク回路をリセツトするた
めに用いられるだけである。)また、負の基板バ
イアスを用いることにより、NMOSトランジス
タのソースまたはドレインにおける0Vよりも低
い電圧アンダシユートによる接合の順バイアスを
回避しうる。
負の基板バイアスを用いる上記のCMOSワー
ド線ブースト・クロツク回路との組合わせで用い
られる新規なデコーダ回路も提供される。このデ
コーダ回路はデコーダ・ドライバにNMOSパ
ス・ゲートを用い、そして高速なワード線ブース
ト動作を与える。デコーダ・セツトとワード線ク
ロツク活性化との間のタイミングは重要ではな
い。この回路は高性能CMOS DRAM技術で特に
重要である。
ド線ブースト・クロツク回路との組合わせで用い
られる新規なデコーダ回路も提供される。このデ
コーダ回路はデコーダ・ドライバにNMOSパ
ス・ゲートを用い、そして高速なワード線ブース
ト動作を与える。デコーダ・セツトとワード線ク
ロツク活性化との間のタイミングは重要ではな
い。この回路は高性能CMOS DRAM技術で特に
重要である。
第4図はこの高速デコーダ回路を示している。
ブロツク37はデコード機能を行なう部分であ
る。ブロツク39,41はワード線WL1,WL
2に接続されたデコーダ・ドライバ手段である。
装置Q76,Q78はデコード手段37とドライ
バ手段39,41との間の減結合装置として働
く。装置Q84,Q86はワード線パス・ゲート
装置である。装置Q88,Q92,Q90,Q9
4は活性なクランプ装置として働き、装置Q9
6,Q98はワード線プリチヤージ装置として働
く。第4図において、ウエルが5Vにバイアスさ
れ、基板が−2.5Vにバイアスされているものと
する。トランジスタQ70,Q71,Q72,Q
74はスタテイツクNORデコーダの一部である。
ノード76は選択されたものにおいては0Vから
5Vに充電され、他の選択されないデコーダでは
0Vのままである。ΦX1、ΦX2は上述のワード線ブ
ースト・クロツク回路から発生される2つのワー
ド線ブースト・クロツクである。Q76,Q78
は選択されないドライバのノード80,82を浮
動させ、ワード線クロツクによつてこれらのノー
ドを低レベルに結合するのに用いられる。Q8
4,Q86はワード線クロツクとワード線との間
のパス・ゲートである。Q88,Q90,Q9
2,Q94はRAM動作の期間に活性なワード線
クランプ装置として働き、Q96,Q98はワー
ド線プリチヤージ装置である。WL1およびWL
2は2つの隣接するワード線を表わす。
ブロツク37はデコード機能を行なう部分であ
る。ブロツク39,41はワード線WL1,WL
2に接続されたデコーダ・ドライバ手段である。
装置Q76,Q78はデコード手段37とドライ
バ手段39,41との間の減結合装置として働
く。装置Q84,Q86はワード線パス・ゲート
装置である。装置Q88,Q92,Q90,Q9
4は活性なクランプ装置として働き、装置Q9
6,Q98はワード線プリチヤージ装置として働
く。第4図において、ウエルが5Vにバイアスさ
れ、基板が−2.5Vにバイアスされているものと
する。トランジスタQ70,Q71,Q72,Q
74はスタテイツクNORデコーダの一部である。
ノード76は選択されたものにおいては0Vから
5Vに充電され、他の選択されないデコーダでは
0Vのままである。ΦX1、ΦX2は上述のワード線ブ
ースト・クロツク回路から発生される2つのワー
ド線ブースト・クロツクである。Q76,Q78
は選択されないドライバのノード80,82を浮
動させ、ワード線クロツクによつてこれらのノー
ドを低レベルに結合するのに用いられる。Q8
4,Q86はワード線クロツクとワード線との間
のパス・ゲートである。Q88,Q90,Q9
2,Q94はRAM動作の期間に活性なワード線
クランプ装置として働き、Q96,Q98はワー
ド線プリチヤージ装置である。WL1およびWL
2は2つの隣接するワード線を表わす。
第5図および第6図の波形を参照して第4図の
回路の動作を説明する。選択されたデコーダ(第
5図)ではノード76が高電圧にセツトされる。
ノード76の高電圧はPMOSトランジスタQ7
6,Q78を介してノード80,82を迅速に充
電する。いま、ワード線クロツクΦX1が低レベル
に引下げられ、ΦX2が高レベルのままであると仮
定すると、WL1はNMOS Q84を迅速に放電
し、従来のデコーダ・ドライバ回路における低速
なソース・フオロア効果が生じない。WL2はし
つかりと5Vにクランプされる。(Q94は活性な
クランプ装置として働き、WL1の結合による
WL2のノイズを感じる。)ノード80の電圧は
選択されたデコーダではブーストされる必要がな
いから、デコーダ・セツトとワード線クロツク活
性化との間のタイミングは重要でない。従来のデ
コーダ・ドライバの場合、ワード線クロツクはデ
コーダが選択された後にしか活性化できず、この
タイミング上の制約によりワード線のブーストが
低速になつていた。リセツト時は、高速なクロツ
ク信号ΦRがデコーダをリセツトし、ワード線の
充電の前にノード80に電圧オーバシユートが生
じるのを防止する。選択されないデコーダ(第6
図)では、ノード76は0Vである。ノード80,
82は電圧VTP(VTPはPMOSトランジスタQ7
6,Q78のスレシヨルド電圧である)に浮動し
ている。低レベルに引下げられたクロツク信号
ΦX1はキヤパシタC2OUTを介してノード80の電圧
を低レベルに自己ブーストし、したがつてQ84
をオフ、Q88をオンにしてWL1をクランプす
る。WL2もQ90,Q94を介してクランプさ
れる。
回路の動作を説明する。選択されたデコーダ(第
5図)ではノード76が高電圧にセツトされる。
ノード76の高電圧はPMOSトランジスタQ7
6,Q78を介してノード80,82を迅速に充
電する。いま、ワード線クロツクΦX1が低レベル
に引下げられ、ΦX2が高レベルのままであると仮
定すると、WL1はNMOS Q84を迅速に放電
し、従来のデコーダ・ドライバ回路における低速
なソース・フオロア効果が生じない。WL2はし
つかりと5Vにクランプされる。(Q94は活性な
クランプ装置として働き、WL1の結合による
WL2のノイズを感じる。)ノード80の電圧は
選択されたデコーダではブーストされる必要がな
いから、デコーダ・セツトとワード線クロツク活
性化との間のタイミングは重要でない。従来のデ
コーダ・ドライバの場合、ワード線クロツクはデ
コーダが選択された後にしか活性化できず、この
タイミング上の制約によりワード線のブーストが
低速になつていた。リセツト時は、高速なクロツ
ク信号ΦRがデコーダをリセツトし、ワード線の
充電の前にノード80に電圧オーバシユートが生
じるのを防止する。選択されないデコーダ(第6
図)では、ノード76は0Vである。ノード80,
82は電圧VTP(VTPはPMOSトランジスタQ7
6,Q78のスレシヨルド電圧である)に浮動し
ている。低レベルに引下げられたクロツク信号
ΦX1はキヤパシタC2OUTを介してノード80の電圧
を低レベルに自己ブーストし、したがつてQ84
をオフ、Q88をオンにしてWL1をクランプす
る。WL2もQ90,Q94を介してクランプさ
れる。
第4図の高速デコーダ回路はブーストされるワ
ード線クロツクとワード線との間の転送装置とし
てNMOSトランジスタを用いる。動作を低速に
するソース・フオロア効果を回避しているため、
従来のワード線ブースト・クロツクおよびデコー
ダ回路に比べてワード線のプル・ダウンは高速で
ある。また、パス・トランジスタ・ゲート電圧は
ブーストされるワード線のレベルよりも低くブー
ストされる必要がないから、P+N接合のブレク
ダウン電圧およびゲート酸化物の誘電強度を高く
する必要性を緩和する。加えて、デコーダ・セツ
トとワード線クロツク活性化の間のタイミング要
件が厳しくないから、高速動作が得られる。デコ
ーダ・ドライバ回路はPMOSトランジスタQ7
6,Q78を用いてノード80,82をデコー
ダ・ノード76から分離しており、したがつて選
択されないデコーダではパス・トランジスタの自
己カツト・オフ動作が得られる。
ード線クロツクとワード線との間の転送装置とし
てNMOSトランジスタを用いる。動作を低速に
するソース・フオロア効果を回避しているため、
従来のワード線ブースト・クロツクおよびデコー
ダ回路に比べてワード線のプル・ダウンは高速で
ある。また、パス・トランジスタ・ゲート電圧は
ブーストされるワード線のレベルよりも低くブー
ストされる必要がないから、P+N接合のブレク
ダウン電圧およびゲート酸化物の誘電強度を高く
する必要性を緩和する。加えて、デコーダ・セツ
トとワード線クロツク活性化の間のタイミング要
件が厳しくないから、高速動作が得られる。デコ
ーダ・ドライバ回路はPMOSトランジスタQ7
6,Q78を用いてノード80,82をデコー
ダ・ノード76から分離しており、したがつて選
択されないデコーダではパス・トランジスタの自
己カツト・オフ動作が得られる。
上記の回路はN型ウエルのCMOS技術を想定
し、そしてPMOSメモリ・セル・アレイに対し
てワード線をプル・ダウンすることを想定してい
るが、P型ウエルのCMOS技術の場合は、大地
電圧にバイアスされる多数の別々のP型ウエルに
NMOSトランジスタがつくられる。N型基板は
VDDにバイアスされる。負にブーストされるワー
ド線電圧レベルを受取るのは第1図のQ1,Q3
および第4図のQ84,Q86のソースあるいは
ドレイン領域だけであるから、これらの装置はオ
ン・チツプのバイアス発生器によつて負電荷にバ
イアスされるP型ウエルに配置でき、そうすれ
ば、電圧のアンダシユートによる接合の順バイア
スを回避できる。したがつて、開示した一般原理
は他の技術やワード線のプル・アツプあるいはプ
ル・ダウンの動作様式にも広く適用できる。
し、そしてPMOSメモリ・セル・アレイに対し
てワード線をプル・ダウンすることを想定してい
るが、P型ウエルのCMOS技術の場合は、大地
電圧にバイアスされる多数の別々のP型ウエルに
NMOSトランジスタがつくられる。N型基板は
VDDにバイアスされる。負にブーストされるワー
ド線電圧レベルを受取るのは第1図のQ1,Q3
および第4図のQ84,Q86のソースあるいは
ドレイン領域だけであるから、これらの装置はオ
ン・チツプのバイアス発生器によつて負電荷にバ
イアスされるP型ウエルに配置でき、そうすれ
ば、電圧のアンダシユートによる接合の順バイア
スを回避できる。したがつて、開示した一般原理
は他の技術やワード線のプル・アツプあるいはプ
ル・ダウンの動作様式にも広く適用できる。
G 発明の効果
本発明によれば、ブースト用キヤパシタの2ウ
エイ・ブースト作用によるオーバシユートを生じ
ることなくワード線をブーストしうる簡単で高速
動作可能な、特にCMOS DRAMに適したワード
線ブースト・クロツクおよびデコーダ・ドライバ
回路を実現することができる。
エイ・ブースト作用によるオーバシユートを生じ
ることなくワード線をブーストしうる簡単で高速
動作可能な、特にCMOS DRAMに適したワード
線ブースト・クロツクおよびデコーダ・ドライバ
回路を実現することができる。
第1図は本発明によるワード線クロツク発生回
路図、第2図および第3図は第1図の回路の動作
波形図、第4図は第1図のワード線クロツク発生
回路と組合わされるデコーダ回路図、ならびに第
5図および第6図は第4図の回路の動作波形図で
ある。
路図、第2図および第3図は第1図の回路の動作
波形図、第4図は第1図のワード線クロツク発生
回路と組合わされるデコーダ回路図、ならびに第
5図および第6図は第4図の回路の動作波形図で
ある。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 行回路クロツク信号Φ″RASおよびクロツク信
号ΦBを用いる半導体メモリにして、 (A) 下記(イ)〜(ヌ)を有するワード線ブースト・クロ
ツク発生回路と、 (イ) 上記Φ″RAS信号およびΦB信号に応答してブ
ースト回路プリセツト・クロツク信号ΦCお
よびブースト・トリガ・クロツク信号ΦDを
発生する手段、 (ロ) 上記ΦC信号に応答して、遅延されたΦC信
号を発生する手段、 (ハ) 上記遅延されたΦC信号およびΦD信号に応
答するNOR手段、 (ニ) 上記ΦD信号に応答して、遅延されたΦD信
号を発生する手段、 (ホ) 上記ΦB信号に応答して、遅延されたΦB信
号を発生する手段、 (ヘ) 上記遅延されたΦB信号および遅延された
ΦD信号に応答する第1NAND手段、 (ト) 上記第1NAND手段の出力に応答して外部
ブースト信号を発生する外部ブースト手段、 (チ) 上記NOR手段の出力および外部ブースト
信号に応答する第2NAND手段、 (リ) 上記第2NAND手段の出力に応答して内部
ブースト信号を発生する内部ブースト手段、
ならびに (ヌ) 上記遅延されたΦC信号、内部ブースト信
号および外部ブースト信号に応答してワード
線ブースト・クロツク信号を発生するクロツ
ク・ドライバ手段、 (B) 上記クロツク・ドライバ手段の出力に接続さ
れ、ワード線デコーダに応答して上記ワード線
ブースト・クロツク信号をワード線に結合する
デコーダ・ドライバ手段と、 を有するワード線ブースト・クロツクおよびデコ
ーダ・ドライバ回路。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/727,301 US4678941A (en) | 1985-04-25 | 1985-04-25 | Boost word-line clock and decoder-driver circuits in semiconductor memories |
US727301 | 1985-04-25 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61246994A JPS61246994A (ja) | 1986-11-04 |
JPH0381237B2 true JPH0381237B2 (ja) | 1991-12-27 |
Family
ID=24922127
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61006642A Granted JPS61246994A (ja) | 1985-04-25 | 1986-01-17 | ワ−ド線ブ−スト・クロツクおよびデコ−ダ・ドライバ回路 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4678941A (ja) |
EP (1) | EP0199176B1 (ja) |
JP (1) | JPS61246994A (ja) |
CA (1) | CA1238717A (ja) |
DE (1) | DE3675423D1 (ja) |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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KR940002859B1 (ko) * | 1991-03-14 | 1994-04-04 | 삼성전자 주식회사 | 반도체 메모리장치에서의 워드라인 구동회로 |
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1985
- 1985-04-25 US US06/727,301 patent/US4678941A/en not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-01-17 JP JP61006642A patent/JPS61246994A/ja active Granted
- 1986-02-26 CA CA000502801A patent/CA1238717A/en not_active Expired
- 1986-04-08 EP EP86104762A patent/EP0199176B1/en not_active Expired
- 1986-04-08 DE DE8686104762T patent/DE3675423D1/de not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
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