JPH0381211B2 - - Google Patents
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- JPH0381211B2 JPH0381211B2 JP11462481A JP11462481A JPH0381211B2 JP H0381211 B2 JPH0381211 B2 JP H0381211B2 JP 11462481 A JP11462481 A JP 11462481A JP 11462481 A JP11462481 A JP 11462481A JP H0381211 B2 JPH0381211 B2 JP H0381211B2
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- Japan
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- recording
- light beam
- optical
- magneto
- reproducing
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、磁気光学効果を利用した光磁気記
録再生装置の改良に関する。
録再生装置の改良に関する。
映像信号などの高密度情報を記録再生する手段
として、光磁気記録再生方式が注目されている。
この方式は、たとえばGdCoやTbFeのような希
土類一遷移金属のアモルフアス垂直磁化膜を使用
して、次のような特徴を実現している。
として、光磁気記録再生方式が注目されている。
この方式は、たとえばGdCoやTbFeのような希
土類一遷移金属のアモルフアス垂直磁化膜を使用
して、次のような特徴を実現している。
(i) 高密度記録が可能なこと。
(ii) 記録、再生のみならず、消去および再記録も
可能なこと。
可能なこと。
(iii) ポーラーカー効果(polar Kerr effect)を
利用できるため、光学系の構成が簡単になるこ
と。
利用できるため、光学系の構成が簡単になるこ
と。
以上のような特長がある一方で、従来の光磁気
記録再生装置では、独立した2系統の光学系すな
わち記録光学系および再生光学系が用いられるた
めに装置が大型化するという問題があつた。ま
た、記録および消去ビームでそれぞれのビームに
対して独立したフオーカシング機構を設けていた
ので、このことも装置を大型化させる原因となつ
ていた。
記録再生装置では、独立した2系統の光学系すな
わち記録光学系および再生光学系が用いられるた
めに装置が大型化するという問題があつた。ま
た、記録および消去ビームでそれぞれのビームに
対して独立したフオーカシング機構を設けていた
ので、このことも装置を大型化させる原因となつ
ていた。
(c) 通常、記録系ではトラツキングコントロール
を行なわないため、同一の記録媒体(たとえば
記録用デイスク)が使用される場合であつて
も、一旦デイスクの取りはずしなどがあると、
デイスクの偏心にともなう位置ずれが生じる。
このために、記録の重複が起こる。記録系でト
ラツキングコントロールが行なわれない主な理
由は次の点にある。すなわち、記録系でトラツ
キング用の光ビームを作ると、記録用の主ビー
ムの出力が低下するので、キユリー温度の低い
記録媒体しか使用できない。すると、キユリー
温度の低い媒体はカー回転角の温度依存性が大
きいため、再生時に良好なS/N比を得ること
がむずかしくなる。
を行なわないため、同一の記録媒体(たとえば
記録用デイスク)が使用される場合であつて
も、一旦デイスクの取りはずしなどがあると、
デイスクの偏心にともなう位置ずれが生じる。
このために、記録の重複が起こる。記録系でト
ラツキングコントロールが行なわれない主な理
由は次の点にある。すなわち、記録系でトラツ
キング用の光ビームを作ると、記録用の主ビー
ムの出力が低下するので、キユリー温度の低い
記録媒体しか使用できない。すると、キユリー
温度の低い媒体はカー回転角の温度依存性が大
きいため、再生時に良好なS/N比を得ること
がむずかしくなる。
そこで、この発明は、記録、再生および消去の
各機能を持ち磁気光学効果を利用した光磁気記録
再生装置の小型化を目的とする。
各機能を持ち磁気光学効果を利用した光磁気記録
再生装置の小型化を目的とする。
上記目的を達成するために、この発明において
は、記録媒体に対する情報の記録再生を磁気光学
効果を利用して行なう装置において、情報の記録
または消去を行なう第1光ビームを提供する第1
光源と、情報の再生を行なう第2光ビームを提供
する第2光源と、前記第1光ビームと前記第2光
ビームとを前記記録媒体へ差し向ける光学手段
と、前記第1光ビームと前記第2光ビームとが共
通に通過して、その通過ビームを収束させるピツ
クアツプ手段と、前記第1光ビームの前記記録媒
体よりの反射光に基づいて前記ピツクアツプ手段
を移動し、前記通過ビームのビームスポツトのフ
オーカシングを制御するフオーカス制御手段とを
備えている。
は、記録媒体に対する情報の記録再生を磁気光学
効果を利用して行なう装置において、情報の記録
または消去を行なう第1光ビームを提供する第1
光源と、情報の再生を行なう第2光ビームを提供
する第2光源と、前記第1光ビームと前記第2光
ビームとを前記記録媒体へ差し向ける光学手段
と、前記第1光ビームと前記第2光ビームとが共
通に通過して、その通過ビームを収束させるピツ
クアツプ手段と、前記第1光ビームの前記記録媒
体よりの反射光に基づいて前記ピツクアツプ手段
を移動し、前記通過ビームのビームスポツトのフ
オーカシングを制御するフオーカス制御手段とを
備えている。
以上のように、この発明では情報の記録または
消去を行なう光ビームと再生を行なう光ビームと
が光学手段により記録媒体へと差し向けられ、こ
れらの光ビームは共通のピツクアツプ手段により
収束されている。さらに、このピツクアツプ手段
は、情報の記録または消去を行なう光ビームの媒
体からの反射光に基づいて移動し、記録または消
去を行なう光ビームと再生を行なう光ビームとの
フオーカシング動作を行なつている。
消去を行なう光ビームと再生を行なう光ビームと
が光学手段により記録媒体へと差し向けられ、こ
れらの光ビームは共通のピツクアツプ手段により
収束されている。さらに、このピツクアツプ手段
は、情報の記録または消去を行なう光ビームの媒
体からの反射光に基づいて移動し、記録または消
去を行なう光ビームと再生を行なう光ビームとの
フオーカシング動作を行なつている。
この発明の一実施例に係る光磁気記録再生装置
においては、波長の異なる少なくとも2つの単色
光を利用している。これらの単色光のうちの1つ
は記録ビーム用い用いられ、他の1つは再生ビー
ム用に用いられる。これらの記録再生ビームは1
つの記録再生ピツクアツプを介して記録媒体に照
射される。記録時において、記録ビームスポツト
および再生ビームスポツトは、記録媒体上におい
て記録トラツクピツチ分だけ離される。再生ビー
ム側は、記録ビームスポツトによる記録のすんだ
あとのトラツクをトレースしながら再生(アフタ
ーモニタ)を行なうとともに、トラツキングを行
なう。フオーカシング(焦点調整)は記録ビーム
側で行なうことができる。記録系はフオーカシン
グだけを分担すればよいので、記録ビームの光源
たとえばレーザダイオードの出力を目一杯利用す
ることができる。このため、目下光磁気記録媒体
として検討されているGdFe,TbFeなど多種の
アモルフアス材(キユリー温度100℃〜200℃くら
いの希土類−3d遷移金属材)を使用して、光磁
気記録を行なうことができる。
においては、波長の異なる少なくとも2つの単色
光を利用している。これらの単色光のうちの1つ
は記録ビーム用い用いられ、他の1つは再生ビー
ム用に用いられる。これらの記録再生ビームは1
つの記録再生ピツクアツプを介して記録媒体に照
射される。記録時において、記録ビームスポツト
および再生ビームスポツトは、記録媒体上におい
て記録トラツクピツチ分だけ離される。再生ビー
ム側は、記録ビームスポツトによる記録のすんだ
あとのトラツクをトレースしながら再生(アフタ
ーモニタ)を行なうとともに、トラツキングを行
なう。フオーカシング(焦点調整)は記録ビーム
側で行なうことができる。記録系はフオーカシン
グだけを分担すればよいので、記録ビームの光源
たとえばレーザダイオードの出力を目一杯利用す
ることができる。このため、目下光磁気記録媒体
として検討されているGdFe,TbFeなど多種の
アモルフアス材(キユリー温度100℃〜200℃くら
いの希土類−3d遷移金属材)を使用して、光磁
気記録を行なうことができる。
上述した構成においては、記録ビームの波長と
再生ビームの波長とが互いに異なるために、記録
再生ビームを単一の光学系で扱つても、これらの
ビームを分離することができる。すなわち、単一
の光学系で済むので、装置を小型化しやすい。ま
た、トラツキング用に記録ビームを利用しないた
め、トラツキングを行ないながらも記録ビームが
出力不足となることはない。すなわち、トラツク
干渉がなくS/Nの良い光磁気記録再生が可能に
なる。さらに、記録および再生が同時にできるの
で、記録−再生間間のアクセスタイムは極めて短
かくなる。
再生ビームの波長とが互いに異なるために、記録
再生ビームを単一の光学系で扱つても、これらの
ビームを分離することができる。すなわち、単一
の光学系で済むので、装置を小型化しやすい。ま
た、トラツキング用に記録ビームを利用しないた
め、トラツキングを行ないながらも記録ビームが
出力不足となることはない。すなわち、トラツク
干渉がなくS/Nの良い光磁気記録再生が可能に
なる。さらに、記録および再生が同時にできるの
で、記録−再生間間のアクセスタイムは極めて短
かくなる。
この装置によれば、記録される信号を一旦記憶
し、この記憶内容と再生信号とを比較することも
できる。このようにすれば、記録しながら記録さ
れた内容のエラーチエツクを行なうことが可能に
なる。
し、この記憶内容と再生信号とを比較することも
できる。このようにすれば、記録しながら記録さ
れた内容のエラーチエツクを行なうことが可能に
なる。
前記波長の異なる複数単色光のうち、1つを消
去ビームとして使用し、他の1つを再生ビームと
して使用してもよい。この場合、再生ビームスポ
ツトによつて、消去しようとする部分の検出とト
ラツキングが行なわれる。そして、この再生ビー
ムスポツトに後続した消去ビームスポツトによつ
て、フオーカシングおよび消去が行なわれる。
去ビームとして使用し、他の1つを再生ビームと
して使用してもよい。この場合、再生ビームスポ
ツトによつて、消去しようとする部分の検出とト
ラツキングが行なわれる。そして、この再生ビー
ムスポツトに後続した消去ビームスポツトによつ
て、フオーカシングおよび消去が行なわれる。
なお、単に再生だけを行なうときは、記録ビー
ムまたは消去ビームの光源をオフすればよい。
ムまたは消去ビームの光源をオフすればよい。
前記波長の異なる複数単色光のうち、1つを再
記録ビームとして使用し、他の1つを再生ビーム
として使用することもできる。この場合、再記録
ビームスポツトは、再生ビームスポツトよりも先
行して、再記録およびフオーカシングを行なう。
そして、再生ビームスポツトは、再記録ビームス
ポツトに後続して、再記録された信号のチエツク
(アフターモニタ)を行なう。
記録ビームとして使用し、他の1つを再生ビーム
として使用することもできる。この場合、再記録
ビームスポツトは、再生ビームスポツトよりも先
行して、再記録およびフオーカシングを行なう。
そして、再生ビームスポツトは、再記録ビームス
ポツトに後続して、再記録された信号のチエツク
(アフターモニタ)を行なう。
第1図は、トラツキング用の案内溝のない記録
媒体に対してトラツキングを行ないながら光磁気
記録再生を行なう場合の磁化状態およびビームス
ポツトを示す。記録媒体がデイスク状である場合
を考えてみると、隣接トラツク同志のトラツク干
渉を避けるために、次のことが要求される。すな
わち、(1)デイスクの精度を上げること、(2)記録時
におけるトラツク送り精度を高めること、および
(3)デイスク回転系の偏心をなすことなどが要求さ
れる。ところで、現行の光デイスクのようにトラ
ツクピツチがごく狭い(2μm程度)と、トラツク
干渉の問題が生じる。デイスクがかけ換えて記録
を行なう場合、現状では数10μm程度の位置ずれ
が不可避だからである。そこでトラツキング制御
が必要になつてくる。
媒体に対してトラツキングを行ないながら光磁気
記録再生を行なう場合の磁化状態およびビームス
ポツトを示す。記録媒体がデイスク状である場合
を考えてみると、隣接トラツク同志のトラツク干
渉を避けるために、次のことが要求される。すな
わち、(1)デイスクの精度を上げること、(2)記録時
におけるトラツク送り精度を高めること、および
(3)デイスク回転系の偏心をなすことなどが要求さ
れる。ところで、現行の光デイスクのようにトラ
ツクピツチがごく狭い(2μm程度)と、トラツク
干渉の問題が生じる。デイスクがかけ換えて記録
を行なう場合、現状では数10μm程度の位置ずれ
が不可避だからである。そこでトラツキング制御
が必要になつてくる。
第1図において、記録済トラツクT10の残留
磁化パターン101〜103上に、トラツキング用
のビームスポツト201〜203が結像される。ビ
ームスポツト202からトラツクピツチ分だけ離
れた位置には、記録用のビームスポツト22が結
像される。記録するに十分なパワーをもつたこの
ビームスポツト22によつて、現在記録を行なつ
ているトラツクT12上に磁化パターン121が
形成される。記録媒体としては、飽和磁化される
GdCoあるいはTbFeなどの垂直磁化膜を用いる
ことやできる。この場合、パターン101〜103
および121は膜面に対し垂直に磁化される。こ
れらのパターンの磁化方向はその周囲の磁区と逆
方向となる。このような磁化パターン情報は、ポ
ーラーカー効果を利用して読出すことができる。
磁化パターン101〜103上に、トラツキング用
のビームスポツト201〜203が結像される。ビ
ームスポツト202からトラツクピツチ分だけ離
れた位置には、記録用のビームスポツト22が結
像される。記録するに十分なパワーをもつたこの
ビームスポツト22によつて、現在記録を行なつ
ているトラツクT12上に磁化パターン121が
形成される。記録媒体としては、飽和磁化される
GdCoあるいはTbFeなどの垂直磁化膜を用いる
ことやできる。この場合、パターン101〜103
および121は膜面に対し垂直に磁化される。こ
れらのパターンの磁化方向はその周囲の磁区と逆
方向となる。このような磁化パターン情報は、ポ
ーラーカー効果を利用して読出すことができる。
記録トラツクT12に対するトラツキングは、
記録済トラツクT10を案内トラツクとして行な
われる。このトラツキングによつて、トラツク干
渉のない記録が可能になる。ここでは、3ビーム
法によるトラツキング制御を行なつている。この
3ビーム法は光デイスクの分野では公知の技術な
ので、その説明は省略する。
記録済トラツクT10を案内トラツクとして行な
われる。このトラツキングによつて、トラツク干
渉のない記録が可能になる。ここでは、3ビーム
法によるトラツキング制御を行なつている。この
3ビーム法は光デイスクの分野では公知の技術な
ので、その説明は省略する。
ビームスポツト22による記録のアフタモニタ
は、ビームスポツト202を利用して行なわれる。
また、トラツキング用のエラー信号は、ビームス
ポツト201および202から得られる。ビームス
ポツト22が記録領域を全てトレースしたあと
は、もはやそれ以上の記録は行なえない。したが
つて、ビームスポツト202からの再生出力は消
滅する。この出力の消滅から記録終了信号を作
り、この記録終了信号によつて記録用ビームの光
源を自動的にオフさせることもできる。
は、ビームスポツト202を利用して行なわれる。
また、トラツキング用のエラー信号は、ビームス
ポツト201および202から得られる。ビームス
ポツト22が記録領域を全てトレースしたあと
は、もはやそれ以上の記録は行なえない。したが
つて、ビームスポツト202からの再生出力は消
滅する。この出力の消滅から記録終了信号を作
り、この記録終了信号によつて記録用ビームの光
源を自動的にオフさせることもできる。
第2図は、トラツキングを行ないながら記録済
情報である残留磁化パターンを消去する場合の磁
化状態およびビームスポツトを示す。デイスクの
回転精度が高く記録密度がさほど高くない場合
は、デイスク上のインデツクスを基準にアクセス
して、所定の磁化パターン(セクタ)を消去する
方法も考えられる。しかしながら、高密度記録さ
れたあるトラツク中の特定セクタのみを正確に消
去するには、そのセクタの位置を検出して、トラ
ツキングを行ないながら消去する必要がある。こ
のようにトラツキングしながら消去を行なう方法
は、高密度情報の消去を可能にするのみならず、
デイスクの回転精度に対する要求を緩和する。す
なわち、多少回転精度が悪くても、高密度記録さ
れた情報のうちの所定個所だけを、正確に消去す
ることが可能になる。
情報である残留磁化パターンを消去する場合の磁
化状態およびビームスポツトを示す。デイスクの
回転精度が高く記録密度がさほど高くない場合
は、デイスク上のインデツクスを基準にアクセス
して、所定の磁化パターン(セクタ)を消去する
方法も考えられる。しかしながら、高密度記録さ
れたあるトラツク中の特定セクタのみを正確に消
去するには、そのセクタの位置を検出して、トラ
ツキングを行ないながら消去する必要がある。こ
のようにトラツキングしながら消去を行なう方法
は、高密度情報の消去を可能にするのみならず、
デイスクの回転精度に対する要求を緩和する。す
なわち、多少回転精度が悪くても、高密度記録さ
れた情報のうちの所定個所だけを、正確に消去す
ることが可能になる。
第2図において、記録済トラツクT14上に
は、トラツキング用ビームスポツト201〜203
が結像される。ビームスポツト201および202
の間には、消去用ビームスポツト24が結像され
る。ビームスポツト201をビームスポツト202
から4μm程度離しておくと、容易にビームスポツ
ト201および202の間にビームスポツト24を
入れることができる。ビームスポツト201およ
び203から得たトラツキング信号にもとづいて、
記録再生ピツクアツプのトラツキング駆動機構が
制御される。そして、ビームスポツト202でも
つて、消去しようとするセクタ情報の先行モニタ
が行なわれる。ビームスポツト202によつてモ
ニタされた磁化パターンは、ビームスポツト24
により消去され、消去済パターン141となる
(消去済パターン141は記録前の状態に相当する
もので、実際には具体的パターンを有しない)。
は、トラツキング用ビームスポツト201〜203
が結像される。ビームスポツト201および202
の間には、消去用ビームスポツト24が結像され
る。ビームスポツト201をビームスポツト202
から4μm程度離しておくと、容易にビームスポツ
ト201および202の間にビームスポツト24を
入れることができる。ビームスポツト201およ
び203から得たトラツキング信号にもとづいて、
記録再生ピツクアツプのトラツキング駆動機構が
制御される。そして、ビームスポツト202でも
つて、消去しようとするセクタ情報の先行モニタ
が行なわれる。ビームスポツト202によつてモ
ニタされた磁化パターンは、ビームスポツト24
により消去され、消去済パターン141となる
(消去済パターン141は記録前の状態に相当する
もので、実際には具体的パターンを有しない)。
記録用ビームの光源を記録情報により変調され
るレーザダイオードなどで構成する場合は、レー
ザダイオードを無変調とすれば、この光源を消去
用ビームの光源として用いることができる。
るレーザダイオードなどで構成する場合は、レー
ザダイオードを無変調とすれば、この光源を消去
用ビームの光源として用いることができる。
第1図のビームスポツト22の位置と第2図の
ビームスポツト24の位置との間で1つのビーム
スポツトを移動させれば、1個のピツクアツプで
もつて再生、記録および消去が可能になる。この
ビームスポツトの移動は、そのビームに対する偏
向量を変えることで行なうことができる。すなわ
ち、消去時にビームスポツトを第2図の符号24
の位置に配置しておく。そして、記録時に、この
ビームスポツトを偏向により第1図の符号22の
位置に移動させることができる。なお、記録およ
び消去の場合には、外部バイアス磁界が印加され
る。
ビームスポツト24の位置との間で1つのビーム
スポツトを移動させれば、1個のピツクアツプで
もつて再生、記録および消去が可能になる。この
ビームスポツトの移動は、そのビームに対する偏
向量を変えることで行なうことができる。すなわ
ち、消去時にビームスポツトを第2図の符号24
の位置に配置しておく。そして、記録時に、この
ビームスポツトを偏向により第1図の符号22の
位置に移動させることができる。なお、記録およ
び消去の場合には、外部バイアス磁界が印加され
る。
第3図は、トラツキングを行ないながら再生だ
けを行なう場合の磁化状態およびビームスポツト
を示す。記録済トラツクT16上にビームスポツ
ト201〜203が結像される。ビームスポツト2
02によつて、トラツクT16上の記録パターン
161〜163が再生される。この場合、記録また
は消去用ビームは不要なので、そのビーム光源は
オフされる。
けを行なう場合の磁化状態およびビームスポツト
を示す。記録済トラツクT16上にビームスポツ
ト201〜203が結像される。ビームスポツト2
02によつて、トラツクT16上の記録パターン
161〜163が再生される。この場合、記録また
は消去用ビームは不要なので、そのビーム光源は
オフされる。
第4図は消去されたセクタに再記録を行なう場
合を示す。再記録の場合は、記録および再生が同
一の記録トラツクT18において行なわれる。ビ
ームスポツト201〜203によつてトラツキング
を行ないながら、再記録用ビームスポツト26に
よつて再記録が行なわれる。パターン181は再
記録された磁化パターンを示している。再記録の
場合、ビームスポツト26はビームスポツト20
2および203の間に挿入される。こうすることに
より、再記録された内容をビームスポツト202
でもつて直ちにアフターモニタできる。ビームス
ポツト26は、第2個のビームスポツト24移動
させることで得られる。この移動もミラーを用い
たビーム偏向などにより、容易に行なうことがで
きる。
合を示す。再記録の場合は、記録および再生が同
一の記録トラツクT18において行なわれる。ビ
ームスポツト201〜203によつてトラツキング
を行ないながら、再記録用ビームスポツト26に
よつて再記録が行なわれる。パターン181は再
記録された磁化パターンを示している。再記録の
場合、ビームスポツト26はビームスポツト20
2および203の間に挿入される。こうすることに
より、再記録された内容をビームスポツト202
でもつて直ちにアフターモニタできる。ビームス
ポツト26は、第2個のビームスポツト24移動
させることで得られる。この移動もミラーを用い
たビーム偏向などにより、容易に行なうことがで
きる。
消去およびその後の再記録は、次のようにして
行なうことができる。すなわち、飽和磁化された
記録媒体を、逆方向磁化により消去する。次に、
この消去部分をレーザビームなどでキユリー温度
以上に加熱し、外部バイアス磁界でもつて逆方向
に磁化する。すると、加熱された部分の磁化方向
が反転し、再記録が行なわれる。
行なうことができる。すなわち、飽和磁化された
記録媒体を、逆方向磁化により消去する。次に、
この消去部分をレーザビームなどでキユリー温度
以上に加熱し、外部バイアス磁界でもつて逆方向
に磁化する。すると、加熱された部分の磁化方向
が反転し、再記録が行なわれる。
第5図は、第1図ないし第4図で説明した記
録、消去、再生および再記録を行なうところの、
この発明の一実施例に係る光磁気記録再生装置を
示す。
録、消去、再生および再記録を行なうところの、
この発明の一実施例に係る光磁気記録再生装置を
示す。
記録用レーザ駆動回路30は、記録信号Erに
応じて、第1レーザダイオード32を励起し変調
する。駆動回路30による変調の有無およびレー
ザ発振の有無は、第1モード信号E30によつて
決定される。レーザダイオード32は、第1波長
を有する第1光ビームB32を発生する。このビ
ームB32はコリメータレンズ34を介して平行
光となり、偏光ビームスプリツタ36に入射され
る。ビームスプリツタ36を透過したビームB3
2は、1/4波長板38を介して円偏光に変換され
る。この円偏光ビームB32は、光偏向器40に
入射される。光偏向器40による偏向量は、光偏
向器駆動回路42に与えられる偏向制御信号E4
2によつて決定される。
応じて、第1レーザダイオード32を励起し変調
する。駆動回路30による変調の有無およびレー
ザ発振の有無は、第1モード信号E30によつて
決定される。レーザダイオード32は、第1波長
を有する第1光ビームB32を発生する。このビ
ームB32はコリメータレンズ34を介して平行
光となり、偏光ビームスプリツタ36に入射され
る。ビームスプリツタ36を透過したビームB3
2は、1/4波長板38を介して円偏光に変換され
る。この円偏光ビームB32は、光偏向器40に
入射される。光偏向器40による偏向量は、光偏
向器駆動回路42に与えられる偏向制御信号E4
2によつて決定される。
光偏向器40で反射された円偏光ビームB32
は、レンズ44を介してダイクロイツクミラー4
6に入射される。ダイクロイツクミラー46は、
第1波長のレーザビームB32を透過させるが、
後述する第2波長のレーザビームは反射する。す
なわち、第1波長および第2波長としては、ダイ
クロイツクミラー46で分離できるような波長が
選ばれる。
は、レンズ44を介してダイクロイツクミラー4
6に入射される。ダイクロイツクミラー46は、
第1波長のレーザビームB32を透過させるが、
後述する第2波長のレーザビームは反射する。す
なわち、第1波長および第2波長としては、ダイ
クロイツクミラー46で分離できるような波長が
選ばれる。
ダイクロイツクミラー46を透過したビームB
32は、レンズ42を介して記録再生ピツクアツ
プ50に与えられる。ピツクアツプ50は、第1
光ビームB32を記録媒体デイスク56の記録画
上に結像させる。このビームB32の結像は、第
1図のビームスポツト22、第2図のビームスポ
ツト24あるいは第4図のビームスポツト26に
対応する。ピツクアツプ50はフオーカスサーボ
機構およびトラツクサーボ機構を備えている。ま
た、ピツクアツプ50には、バイアス磁界発生コ
イル52が取り付けられる。このコイル52は、
バイアスコイル駆動回路54により給電される。
駆動回路54は、第2モード信号E54に応じ
て、コイル52に所定の大きさおよび方向をもつ
た駆動電流I52を出力する。
32は、レンズ42を介して記録再生ピツクアツ
プ50に与えられる。ピツクアツプ50は、第1
光ビームB32を記録媒体デイスク56の記録画
上に結像させる。このビームB32の結像は、第
1図のビームスポツト22、第2図のビームスポ
ツト24あるいは第4図のビームスポツト26に
対応する。ピツクアツプ50はフオーカスサーボ
機構およびトラツクサーボ機構を備えている。ま
た、ピツクアツプ50には、バイアス磁界発生コ
イル52が取り付けられる。このコイル52は、
バイアスコイル駆動回路54により給電される。
駆動回路54は、第2モード信号E54に応じ
て、コイル52に所定の大きさおよび方向をもつ
た駆動電流I52を出力する。
デイスク56で反射された第1光ビームB32
は、ピツクアツプ50、レンズ48、ダイクロイ
ツクミラー46、レンズ44および光偏向器40
を介して、1/4波長板38にもどつてくる。この
反射光ビームB32の偏光方向は、1/4波長板3
8によつてχ/2回転される。すると、反射光ビ
ーム32は直線偏光となり、ビームスプリツタ3
6において反射される。ビームスプリツタ36で
反射された直線偏光ビームB32は、シリンドリ
カルレンズ58を介して光検出器60に入射す
る。レンズ58は、光検出器60の受光面上に、
フオーカス誤差に対応したビームを結像させる。
光検出器60はたとえば4つの光検出部を有し、
対角線方向に相対した2つの光検出部がペアをつ
くつている。これらの光検出部ペアの出力は、そ
れぞれ差動増幅器62の正相および逆相入力に与
えられる。増幅器62の出力E62はフオーカス
エラーを示す。この出力すなわちフオーカス制御
信号E62は、フオーカスサーボ動作のために、
前記ピツクアツプ50のフオーカスサーボ部へ帰
還される。
は、ピツクアツプ50、レンズ48、ダイクロイ
ツクミラー46、レンズ44および光偏向器40
を介して、1/4波長板38にもどつてくる。この
反射光ビームB32の偏光方向は、1/4波長板3
8によつてχ/2回転される。すると、反射光ビ
ーム32は直線偏光となり、ビームスプリツタ3
6において反射される。ビームスプリツタ36で
反射された直線偏光ビームB32は、シリンドリ
カルレンズ58を介して光検出器60に入射す
る。レンズ58は、光検出器60の受光面上に、
フオーカス誤差に対応したビームを結像させる。
光検出器60はたとえば4つの光検出部を有し、
対角線方向に相対した2つの光検出部がペアをつ
くつている。これらの光検出部ペアの出力は、そ
れぞれ差動増幅器62の正相および逆相入力に与
えられる。増幅器62の出力E62はフオーカス
エラーを示す。この出力すなわちフオーカス制御
信号E62は、フオーカスサーボ動作のために、
前記ピツクアツプ50のフオーカスサーボ部へ帰
還される。
上述した4分割型光検出器60を用いるフオー
カス制御信号の検出は、公知技術である。これに
ついては、たとえば テレビジヨン学会誌第32巻第1号(1978)「光
学式ビデオデイスクシステム」P.20に具体的な記
載がある。
カス制御信号の検出は、公知技術である。これに
ついては、たとえば テレビジヨン学会誌第32巻第1号(1978)「光
学式ビデオデイスクシステム」P.20に具体的な記
載がある。
再生用レーザ駆動回路70は、第3モード信号
E70に応答して第2レーザダイオード72を励
起する。ダイオード72は、第2波長を有する第
2光ビームB20を発生する。このビームB20
は、コリメータレンズ74を介して平行光とな
り、回折格子76に与えられる。回折格子76
は、平行ビームB20を3本のビームB201〜
B203に分割する。これらの3ビームは、偏光
子78により直線偏光ビームB201〜B203に
変換される。これらの直線偏光ビームはレンズ8
0およびハーフミラー82を通過して、ダイクロ
イツクミラー46に入射する。ダイクロイツクミ
ラー46で反射された3本のビームB201〜B
203は、レンズ48およびピツクアツプ50を
介して、デイスク56の記録面上に結像される。
これら3本のビームB201〜B203の結像が、
第1図ないし第4図に示されたピツクアツプ20
1〜203に対応する。
E70に応答して第2レーザダイオード72を励
起する。ダイオード72は、第2波長を有する第
2光ビームB20を発生する。このビームB20
は、コリメータレンズ74を介して平行光とな
り、回折格子76に与えられる。回折格子76
は、平行ビームB20を3本のビームB201〜
B203に分割する。これらの3ビームは、偏光
子78により直線偏光ビームB201〜B203に
変換される。これらの直線偏光ビームはレンズ8
0およびハーフミラー82を通過して、ダイクロ
イツクミラー46に入射する。ダイクロイツクミ
ラー46で反射された3本のビームB201〜B
203は、レンズ48およびピツクアツプ50を
介して、デイスク56の記録面上に結像される。
これら3本のビームB201〜B203の結像が、
第1図ないし第4図に示されたピツクアツプ20
1〜203に対応する。
デイスク56で反射されたビームB201〜B
203は、ピツクアツプ50、レンズ48および
ダイクロイツクミラー46を介して、ハーブミラ
ー82にもどつてくる。反射ビームB201〜B
203はハーフミラー82で反射され、続いてハ
ーフミラー84で2分割される。ハーフミラー8
4を通過した中央ビームB202は、検光子86
を介して光検出器88に入射される。一方、ハー
フミラー84で反射された中央ビームB202は、
検光子90を介して光検出器92に入射される。
ハーフミラー84で反射されたビームのうち、ト
ラツキング用のビームB201,B203は、光検
出器94,96に入射する。
203は、ピツクアツプ50、レンズ48および
ダイクロイツクミラー46を介して、ハーブミラ
ー82にもどつてくる。反射ビームB201〜B
203はハーフミラー82で反射され、続いてハ
ーフミラー84で2分割される。ハーフミラー8
4を通過した中央ビームB202は、検光子86
を介して光検出器88に入射される。一方、ハー
フミラー84で反射された中央ビームB202は、
検光子90を介して光検出器92に入射される。
ハーフミラー84で反射されたビームのうち、ト
ラツキング用のビームB201,B203は、光検
出器94,96に入射する。
光検出器88,92の出力は差動増幅器98の
正相、逆相入力端に与えられる。増幅器98は、
光検出器88,92の出力の差分に応じて、再生
信号Epを出力する。
正相、逆相入力端に与えられる。増幅器98は、
光検出器88,92の出力の差分に応じて、再生
信号Epを出力する。
光検出器94,96の出力は、差動増幅器10
0の正相、逆相入力端に与えられる。増幅器10
0は、光検出器94,96の出力の差分に応じ
て、トラツク制御信号E100を出力する。この
信号E100は、トラツクサーボが動作のため
に、前記ピツクアツプ50のトラツクサーボ部へ
帰還される。
0の正相、逆相入力端に与えられる。増幅器10
0は、光検出器94,96の出力の差分に応じ
て、トラツク制御信号E100を出力する。この
信号E100は、トラツクサーボが動作のため
に、前記ピツクアツプ50のトラツクサーボ部へ
帰還される。
前記記録信号Erは、一旦バツフアメモリ10
2に記憶される。このメモリ102の記憶内容
は、記録情報E102として読出される。一方、
前記再生信号Epは、再生増幅器104によつて
増幅され、モニタ情報E104となる。このモニ
タ情報E104は、デイスク56の1回転分前の
記録情報(1トラツク前の記録情報)に対応す
る。記録情報E102およびモニタ情報E104
は比較器106において比較される。この比較
は、たとえば直列データとして読出された記録情
報E102と、やはり直列データであるモニタ情
報E104を逐次比較することで行なわれる。こ
の逐次比較の結果として、チエツク信号E106
が出力される。このチエツク信号E106は、た
とえば情報E102とE104との間に不一致の
あつたときにロジツクレベル変化を起こす。この
チエツク信号E106を用いれば、1トラツク前
の情報記録状態の確認を行なうことができる。
2に記憶される。このメモリ102の記憶内容
は、記録情報E102として読出される。一方、
前記再生信号Epは、再生増幅器104によつて
増幅され、モニタ情報E104となる。このモニ
タ情報E104は、デイスク56の1回転分前の
記録情報(1トラツク前の記録情報)に対応す
る。記録情報E102およびモニタ情報E104
は比較器106において比較される。この比較
は、たとえば直列データとして読出された記録情
報E102と、やはり直列データであるモニタ情
報E104を逐次比較することで行なわれる。こ
の逐次比較の結果として、チエツク信号E106
が出力される。このチエツク信号E106は、た
とえば情報E102とE104との間に不一致の
あつたときにロジツクレベル変化を起こす。この
チエツク信号E106を用いれば、1トラツク前
の情報記録状態の確認を行なうことができる。
第6図は、第5図に略示された光偏光器40の
具体例を示す。入力光ビームB32は、第1ミラ
ー401、第2ミラー402および第3ミラー40
3によつて反射される。これらのミラーのうち、
第1ミラー401および第2ミラー402は、光偏
向器駆動回路42により回転駆動される。ミラー
401および402の回転方向および回転量は、偏
向制御信号E42により決定される。ミラー40
1はビームB23を左右に振る。これにより、ビ
ームB32のスポツトは、デイスク56の円周接
線方向(トラツク方向)に移動される。また、ミ
ラー402はビームB32を上下に振る。これに
より、ビームB32のスポツトは、デイスク56
の半径方向に移動される。ミラー401および4
02の相互の回転の組合せにより、ビームB32
のスポツトを、デイスク56上の任意の位置に移
動させることができる。すなわち、第2図に示す
ビームスポツト24を、第1図に示すスポツト2
2の位置または第4図に示すスポツト26の位置
などに移動させることができる。
具体例を示す。入力光ビームB32は、第1ミラ
ー401、第2ミラー402および第3ミラー40
3によつて反射される。これらのミラーのうち、
第1ミラー401および第2ミラー402は、光偏
向器駆動回路42により回転駆動される。ミラー
401および402の回転方向および回転量は、偏
向制御信号E42により決定される。ミラー40
1はビームB23を左右に振る。これにより、ビ
ームB32のスポツトは、デイスク56の円周接
線方向(トラツク方向)に移動される。また、ミ
ラー402はビームB32を上下に振る。これに
より、ビームB32のスポツトは、デイスク56
の半径方向に移動される。ミラー401および4
02の相互の回転の組合せにより、ビームB32
のスポツトを、デイスク56上の任意の位置に移
動させることができる。すなわち、第2図に示す
ビームスポツト24を、第1図に示すスポツト2
2の位置または第4図に示すスポツト26の位置
などに移動させることができる。
なお、光偏向器40は、いわゆる電気光学素子
を利用したものであつてもよい。
を利用したものであつてもよい。
第5図の装置による記録は、次のように行なわ
れる。いま、第1図のトラツクT10に対する記
録が済んでおり、バツフアメモリ102に記録パ
ターン102に対応した情報が記憶されているも
のとする。第1モード信号E30、第2モード信
号E54および第3モード信号E70は、それぞ
れ記録モードを指定している。また、偏向制御信
号E42は、記録ビームを1トラツクピツチ分ず
らすことを指定している。この場合、第1レーザ
ダイオード32および第2レーザダイオード72
は、ともに励起され、またコイル52は記録用の
バイアス磁界を発生している。
れる。いま、第1図のトラツクT10に対する記
録が済んでおり、バツフアメモリ102に記録パ
ターン102に対応した情報が記憶されているも
のとする。第1モード信号E30、第2モード信
号E54および第3モード信号E70は、それぞ
れ記録モードを指定している。また、偏向制御信
号E42は、記録ビームを1トラツクピツチ分ず
らすことを指定している。この場合、第1レーザ
ダイオード32および第2レーザダイオード72
は、ともに励起され、またコイル52は記録用の
バイアス磁界を発生している。
まず、ビームスポツト201および203を用い
たトラツキング制御が行なわれるとともに、記録
パターン102を示す信号Epが再生される。この
パターン102の記録状態は、比較器106にお
いてチエツクされる。ビームスポツト201〜2
03がトラツクT10を正しくトレースしている
ことが確認された場合、ビームスポツト22によ
る記録が、トラツクT12に対して行なわれる。
デイスク56の1回転分の記録がすむと、今度は
トラツクT12がビームスポツト201〜203に
よりトレースされ、その次のトラツクにスポツト
22による記録が行なわれる。
たトラツキング制御が行なわれるとともに、記録
パターン102を示す信号Epが再生される。この
パターン102の記録状態は、比較器106にお
いてチエツクされる。ビームスポツト201〜2
03がトラツクT10を正しくトレースしている
ことが確認された場合、ビームスポツト22によ
る記録が、トラツクT12に対して行なわれる。
デイスク56の1回転分の記録がすむと、今度は
トラツクT12がビームスポツト201〜203に
よりトレースされ、その次のトラツクにスポツト
22による記録が行なわれる。
消去は、次のように行なわれる。この場合、モ
ード信号E30,E54およびE70は消去モー
ドを指定している。また、制御信号E42は、消
去ビームをトラツキングビームの間にわり込ます
ことを指定している。この指定によつて、第2図
に示すように、ビームスポツト24がスポツト2
01および202の間に配置される。第1レーザダ
イオード32は無変調でレーザ発振を行なつてお
り、コイル52は消去用バイアス磁界を発生して
いる。第2レーザダイオード72も、レーザ発振
を行なつている。
ード信号E30,E54およびE70は消去モー
ドを指定している。また、制御信号E42は、消
去ビームをトラツキングビームの間にわり込ます
ことを指定している。この指定によつて、第2図
に示すように、ビームスポツト24がスポツト2
01および202の間に配置される。第1レーザダ
イオード32は無変調でレーザ発振を行なつてお
り、コイル52は消去用バイアス磁界を発生して
いる。第2レーザダイオード72も、レーザ発振
を行なつている。
まずビームスポツト201および203によるト
ラツキング制御と、ビームスポツト202による
再生とが行なわれる。そして、ビームスポツト2
01によつて消去すべき内容がモニタされながら、
ビームスポツト24による消去が行なわれる。
ラツキング制御と、ビームスポツト202による
再生とが行なわれる。そして、ビームスポツト2
01によつて消去すべき内容がモニタされながら、
ビームスポツト24による消去が行なわれる。
再生時には、モード信号E30,E54および
E70は再生モードを指定している。制御信号E
42は、たとえば消去モードと同じ状態を指定し
ている。再生モードが指定されると、第1レーザ
ダイオード32は励起されず。第2レーザダイオ
ード72のみがレーザ発振を行なつている。ま
た、コイル52はバイアス磁界を発生しない。再
生時は、第3図に示すように、ビームスポツト2
01および203によるトラツクT16のトラツキ
ングと、ビームスポツト202によるパターン1
62の再生とが行なわれる。
E70は再生モードを指定している。制御信号E
42は、たとえば消去モードと同じ状態を指定し
ている。再生モードが指定されると、第1レーザ
ダイオード32は励起されず。第2レーザダイオ
ード72のみがレーザ発振を行なつている。ま
た、コイル52はバイアス磁界を発生しない。再
生時は、第3図に示すように、ビームスポツト2
01および203によるトラツクT16のトラツキ
ングと、ビームスポツト202によるパターン1
62の再生とが行なわれる。
再記録は、次のように行なわれる。この場合、
モード信号E30,E54およびE70は再記録
モードを指定している。また、制御信号E42
は、再記録ビームをトラツキングビームの間にわ
り込ますことを指定している。この指定によつ
て、第4図に示すように、ビームスポツト26が
スポツト202および203の間に配置される。ま
ず、ビームスポツト201および203によるトラ
ツキングが行なわれ、ビームスポツト202によ
つて再記録すべき個所が検索される。再記録個所
がみつかると、コイル52から再記録用バイアス
磁界が発生され、ビームスポツト26による再記
録が行なわれる。ビームスポツト26による記録
結果は、ビームスポツト202によつて、直ちに
モニタされる。
モード信号E30,E54およびE70は再記録
モードを指定している。また、制御信号E42
は、再記録ビームをトラツキングビームの間にわ
り込ますことを指定している。この指定によつ
て、第4図に示すように、ビームスポツト26が
スポツト202および203の間に配置される。ま
ず、ビームスポツト201および203によるトラ
ツキングが行なわれ、ビームスポツト202によ
つて再記録すべき個所が検索される。再記録個所
がみつかると、コイル52から再記録用バイアス
磁界が発生され、ビームスポツト26による再記
録が行なわれる。ビームスポツト26による記録
結果は、ビームスポツト202によつて、直ちに
モニタされる。
上述したように、記録系と再生系とでその一部
の構成が共通化している、すなわちピツクアツプ
手段が共通の構成であるので、装置の小型化が可
能になつている。また、記録または消去用の第1
光ビームの反射光に基づいて、この第1光ビーム
と再生用の第2光ビームとの両方のビームのフオ
ーカシング動作が可能となつているので、従来の
ように第2光ビームの反射光を検出する構成が不
要となり、構成を簡略化できるとともに、装置の
小型化も実現できる。さらに、記録、消去用光ビ
ームがデフオーカスすると記録媒体上のビームス
ポツトの強度分布に変化が生じて記録、消去状態
が不安定になり、この結果再生信号も劣化してし
まうという大きな問題が生じるが、このフオーカ
シング制御系は、構成を簡略化しているにもかか
わらず第1光ビームの反射光に基づいてフオーカ
シング制御されているので、第1光ビームすなわ
ち記録または消去用の光ビームについて正確なフ
オーカシング制御を可能としている。
の構成が共通化している、すなわちピツクアツプ
手段が共通の構成であるので、装置の小型化が可
能になつている。また、記録または消去用の第1
光ビームの反射光に基づいて、この第1光ビーム
と再生用の第2光ビームとの両方のビームのフオ
ーカシング動作が可能となつているので、従来の
ように第2光ビームの反射光を検出する構成が不
要となり、構成を簡略化できるとともに、装置の
小型化も実現できる。さらに、記録、消去用光ビ
ームがデフオーカスすると記録媒体上のビームス
ポツトの強度分布に変化が生じて記録、消去状態
が不安定になり、この結果再生信号も劣化してし
まうという大きな問題が生じるが、このフオーカ
シング制御系は、構成を簡略化しているにもかか
わらず第1光ビームの反射光に基づいてフオーカ
シング制御されているので、第1光ビームすなわ
ち記録または消去用の光ビームについて正確なフ
オーカシング制御を可能としている。
なお、この明細書に記載され図面に図示された
実施例は、この発明を何ら限定するものではな
い、この発明の趣旨および特許請求の範囲内にお
いて種々の変更等が可能である。たとえば、第5
図では反射読出し方式を示したが、この発明は、
たとえばフアラデー効果(Faraday effect)を
利用した透過読出し方式にも適用できる。
実施例は、この発明を何ら限定するものではな
い、この発明の趣旨および特許請求の範囲内にお
いて種々の変更等が可能である。たとえば、第5
図では反射読出し方式を示したが、この発明は、
たとえばフアラデー効果(Faraday effect)を
利用した透過読出し方式にも適用できる。
第1図はこの発明の一実施例に係る装置によつ
てトラツキングを行ないながら光磁気記録再生を
行なう場合を説明する図;第2図は上記装置によ
つてトラツキングを行ないながら記録済情報を消
去する場合を説明する図;第3図は上記装置によ
つてトラツキングを行ないながら記録済情報を再
生する場合を説明する図;第4図は上記装置によ
つてトラツキングを行ないながら再記録を行なう
場合を説明する図;第5図は第1図ないし第4図
で説明される動作を行なう光磁気記録再生装置の
概略構成を示すブロツク図;第6図は第5図に示
される光偏向器40の具体例を示す斜視図であ
る。 T10,T14,T16…記録済トラツク、1
01〜103,121,142,161〜163…残留
磁化パターン(記録パターン)、201〜203…
トラツキング用ビームスポツト、(202…再生用
ビームスポツト)、22…記録用ビームスポツト、
T12…記録トラツク、24…消去用ビームスポ
ツト、141…消去済パターン、T18…記録ト
ラツク、181…再記録パターン、26…再記録
用ビームスポツト、30…記録用レーザ駆動回
路、Er…記録信号、32…第1レーザダイオー
ド(第1光源)、E30…第1モード信号、B3
2…第1光ビーム、34,74…コリメータレン
ズ、36…偏光ビームスプリツタ、38…1/4波
長板、40…光偏向器、42…光偏向器駆動回
路、E42…偏向制御信号、44,48,80…
レンズ、46…ダイクロイツクミラー、50…記
録再生ピツクアツプ(ピツクアツプ手段)、52
…バイアス磁界発生コイル、54…バイアスコイ
ル駆動回路、E54…第2モード信号、I52…
駆動電流、56…記録媒体デイスク、53…シリ
ンドリカルレンズ、60,88,92,94,9
6…光検出器、62,98,100…差動増幅
器、E62…フオーカス制御信号、E70…第3
モード信号、76…回折格子、78…偏光子、8
2,84…ハーフミラー、86,90…検光子、
Ep…再生信号、E100…トラツク制御信号、
102…バツフアメモリ、E102…記録情報、
104…再生増幅器、E104…モニタ情報、1
06…比較器、E106…チエツク信号、401
…第1ミラー、402…第2ミラー、403…第3
ミラー。
てトラツキングを行ないながら光磁気記録再生を
行なう場合を説明する図;第2図は上記装置によ
つてトラツキングを行ないながら記録済情報を消
去する場合を説明する図;第3図は上記装置によ
つてトラツキングを行ないながら記録済情報を再
生する場合を説明する図;第4図は上記装置によ
つてトラツキングを行ないながら再記録を行なう
場合を説明する図;第5図は第1図ないし第4図
で説明される動作を行なう光磁気記録再生装置の
概略構成を示すブロツク図;第6図は第5図に示
される光偏向器40の具体例を示す斜視図であ
る。 T10,T14,T16…記録済トラツク、1
01〜103,121,142,161〜163…残留
磁化パターン(記録パターン)、201〜203…
トラツキング用ビームスポツト、(202…再生用
ビームスポツト)、22…記録用ビームスポツト、
T12…記録トラツク、24…消去用ビームスポ
ツト、141…消去済パターン、T18…記録ト
ラツク、181…再記録パターン、26…再記録
用ビームスポツト、30…記録用レーザ駆動回
路、Er…記録信号、32…第1レーザダイオー
ド(第1光源)、E30…第1モード信号、B3
2…第1光ビーム、34,74…コリメータレン
ズ、36…偏光ビームスプリツタ、38…1/4波
長板、40…光偏向器、42…光偏向器駆動回
路、E42…偏向制御信号、44,48,80…
レンズ、46…ダイクロイツクミラー、50…記
録再生ピツクアツプ(ピツクアツプ手段)、52
…バイアス磁界発生コイル、54…バイアスコイ
ル駆動回路、E54…第2モード信号、I52…
駆動電流、56…記録媒体デイスク、53…シリ
ンドリカルレンズ、60,88,92,94,9
6…光検出器、62,98,100…差動増幅
器、E62…フオーカス制御信号、E70…第3
モード信号、76…回折格子、78…偏光子、8
2,84…ハーフミラー、86,90…検光子、
Ep…再生信号、E100…トラツク制御信号、
102…バツフアメモリ、E102…記録情報、
104…再生増幅器、E104…モニタ情報、1
06…比較器、E106…チエツク信号、401
…第1ミラー、402…第2ミラー、403…第3
ミラー。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 記録媒体に対する情報の記録再生を磁気光学
効果を利用して行なう装置において、 情報の記録または消去を行なう第1光ビームを
提供する第1光源と、 情報の再生を行なう第2光ビームを提供する第
2光源と、 前記第1光ビームと前記第2光ビームとを前記
記録媒体へ差し向ける光学手段と、 前記第1光ビームと前記第2光ビームとが共通
に通過して、その通過ビームを収束させるピツク
アツプ手段と、 前記第1光ビームの前記記録媒体よりの反射光
に基づいて前記ピツクアツプ手段を移動し、前記
通過ビームのビームスポツトのフオーカシングを
制御するフオーカス制御手段とを備えたことを特
徴とする光磁気記録再生装置。 2 前記記録媒体は複数の互いに隣接する記録ト
ラツクを有し、前記光学手段は前記隣接記録トラ
ツクのトラツクピツチに相当する分だけ前記第1
または第2光ビームの少なくとも一方を偏向させ
る偏向手段を含み、前記第1光ビームが所定の記
録トラツクに記録を行なう間、前記第2光ビーム
が前記所定の記録トラツクに隣接し前記第1光ビ
ームによる記録の済んだ記録トラツクから再生を
行なうことを特徴とする特許請求の範囲第1項に
記載の光磁気記録再生装置。 3 前記光学手段に接続され、前記第1光ビーム
に対応する記録情報を記憶する記憶手段、および
前記第2光ビームに対応する再生情報と前記記憶
手段の記憶内容とを比較してエラーチエツク信号
を提供する手段をさらに備えたことを特徴とする
特許請求の範囲第2項に記載の光磁気記録再生装
置。 4 前記光学手段は前記第1または第2光ビーム
の少なくとも一方を偏向させる偏向手段を含み、
前記第1光ビームが所定の記録トラツクを消去す
る間、前記第2光ビームが前記第1光ビームに先
行して前記所定の記録トラツクの消去位置を検出
することを特徴とする特許請求の範囲第1項に記
載の光磁気記録再生装置。 5 前記光学手段は前記第1または第2光ビーム
の少なくとも一方を偏向させる偏向手段を含み、
前記第1光ビームが所定の記録トラツクに再記録
を行なう間、前記第2光ビームが前記所定の記録
トラツクであつて前記第1光ビームによる再記録
の済んだ部分から再生を行なうことを特徴とする
特許請求の範囲第1項に記載の光磁気記録再生装
置。 6 前記第1および第2光源がレーザダイオード
を含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項な
いし第5項のいずれかに記載の光磁気記録再生装
置。 7 再生状態において、前記第2光源のレーザダ
イオードのみが駆動されることを特徴とする特許
請求の範囲第6項に記載の光磁気記録再生装置。 8 消去状態において、前記第1光源のレーザダ
イオードが連続駆動されることを特徴とする特許
請求の範囲第6項に記載の光磁気記録再生装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11462481A JPS5817546A (ja) | 1981-07-22 | 1981-07-22 | 光磁気記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11462481A JPS5817546A (ja) | 1981-07-22 | 1981-07-22 | 光磁気記録再生装置 |
Related Child Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18578293A Division JPH076447A (ja) | 1993-07-28 | 1993-07-28 | 光磁気記録再生装置 |
JP18578393A Division JPH0792943B2 (ja) | 1993-07-28 | 1993-07-28 | 光磁気記録再生装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5817546A JPS5817546A (ja) | 1983-02-01 |
JPH0381211B2 true JPH0381211B2 (ja) | 1991-12-27 |
Family
ID=14642507
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11462481A Granted JPS5817546A (ja) | 1981-07-22 | 1981-07-22 | 光磁気記録再生装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5817546A (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS615447A (ja) * | 1984-06-19 | 1986-01-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 消去可納な光学的記録再生装置 |
JPS615443A (ja) * | 1984-06-19 | 1986-01-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的記録再生装置 |
JPH0664767B2 (ja) * | 1984-10-12 | 1994-08-22 | 株式会社東芝 | 光情報記録方法及び光情報記録装置 |
JPH04289529A (ja) * | 1991-01-09 | 1992-10-14 | Sony Corp | 記録可能ディスク用光学ピックアップ装置及びダイクロイックミラー |
US5517471A (en) * | 1992-01-06 | 1996-05-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Method and apparatus for verifying recording data and for determining recording error using a detected light amount |
JP2001023190A (ja) * | 1999-07-07 | 2001-01-26 | Sony Corp | 露光装置、露光方法、光ディスク装置、及び記録及び/又は再生方法 |
-
1981
- 1981-07-22 JP JP11462481A patent/JPS5817546A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5817546A (ja) | 1983-02-01 |
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