JPH0375570A - 半導体素子の抵抗測定方法 - Google Patents

半導体素子の抵抗測定方法

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JPH0375570A
JPH0375570A JP21171989A JP21171989A JPH0375570A JP H0375570 A JPH0375570 A JP H0375570A JP 21171989 A JP21171989 A JP 21171989A JP 21171989 A JP21171989 A JP 21171989A JP H0375570 A JPH0375570 A JP H0375570A
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JP
Japan
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resistor
resistors
resistance
sets
bridge
Prior art date
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Application number
JP21171989A
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Inventor
Ihei Sugimoto
杉本 維平
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は定電圧駆動状態における4組の抵抗をブリッ
ジ状に接続してなる半導体圧力センサ素子の内部抵抗を
算出する半導体素子の抵抗測定方法に関するものである
〔従来の技術〕
半導体圧力センサ素子は、4個の抵抗素子をブリッジの
形に接続した回路の半導体素子であシ、この素子の受け
る機械的圧力を電気信号に変換する素子である。
ブリッジ構造を有する半導体圧力センサ素子の代表的な
等何回路は、第2図に示すように4組の抵抗器R1* 
R2,R3,R4が典型的なホイートストンブリッジ構
造を有して接続されておシ、半導体圧力センサ素子1で
は、例えば真空状、態などの規定の条件下では検出端子
間電圧は平衡状態、すなわちオフセット電圧は零である
ことが要求される。このため、このようi半導体素子の
製造工程では必らずオフセット電圧を測定する装置が使
用される。
第3図はブリッジ構造を有する半導体圧力センサ素子1
のオフセット電圧の測定回路の一例を示す回路図である
。同図において、半導体圧力センサ素子1は、4組の抵
抗R+ 、 Rz 、 Rs 、 R4がブリッジ接続
されてブリッジ回路が構成されて釦シ、これらの抵抗R
r + R1e Rs 、 Raの各接続点a、b。
c、dは外部に取シ出され、接続点a、dの2組は外部
の直流電源2に接続され、接続点す、cはブリッジ回路
の出力電圧端子であシ、半導体圧力センサ素子1の出力
電圧(オフセット電圧)を測定するデジタル電圧計(D
、V、M)3の入力端子3a、3bに接続されている。
このような構成において、半導体圧力センサ素子1に機
械的な圧力が加えられると、内部の各抵抗R1,R2,
R3,R4の抵抗値に変化が生じ、ブリッジ回路はバラ
ンスが崩れて出力端子す、c間には直流電圧が発生する
ので、この電圧から加えられた機械的圧力が求められる
。実際にはオフセット電圧は所定の圧力(例えば真空中
)のもとで測定される。
〔発明が解決しようとする課題〕
とのよ゛うな半導体素子は、応用回路設計上、4組の抵
抗R11R2,R31R4の個々の抵抗値を正確に測定
する必要があったにもかかわらず、その接続構造がブリ
ッジ回路を構成しているため、分離して測定することが
できず、合成抵抗のみ測定されるのが普通であシ、回路
設計上、不都合々場合が多かった。
〔課題を解決するための手段〕
このような課題を解決するためにこの発明は、定電圧駆
動状態における4組の抵抗をブリッジ状に接続してなる
半導体圧力センサ素子の単独のオフセット電圧、2つの
電圧検出点に接続される上記ブリッジ回路の任意の2組
の抵抗を外部から選択的に短絡したときのオフセット電
圧および上記ブリッジ回路の任意の2組の抵抗を外部か
ら選択的に並列に既知の抵抗を挿入したときのオフセッ
ト電圧を測定することによって上記半導体圧力センサ素
子の内部抵抗を算出するものである。
〔作 用〕
この発明においては、4種類の異なるオフセット電圧を
組み合わせることによってブリッジ接続された各内部抵
抗の抵抗値が算出される。
〔実施例〕
以下、図面を用いてこの発明の実施例を詳細に説明する
第1図はこの発明による半導体素子の抵抗測定方法の一
実施例を説明するためのオフセット電圧測定回路を示す
回路図であシ、前述の図と同一部分には同一符号を付し
である。同図にかいて、Sl* St r Ssは選択
的に回路を切シ換えるためのスイッチであう、Bは抵抗
値が既知の抵抗である。
すなわち、通常のオフセット電圧の他にスイッチS++
Sz、Ssを各々オンさせた場合のオフセット電圧を測
定するための回路構成用スイッチである。この回路の例
では半導体圧力センサ素子1を構成する内部の4組の抵
抗Rly R2* Rs e R4のうち、2組の抵抗
Rz 、 R4と並列にスイッチS!〜83からなる付
加回路が付加されるようになっているが、抵抗R,,R
,の代すに抵抗Rt、Rsの2組をとっても基本的考え
方は同じである。
以下、第1図の例、すなわち抵抗R4を短絡または2組
の抵抗R2,R4に選択的に既知抵抗Rを並列に挿入し
た場合について説明する。同図において、オフセット電
圧として次の4つの場合を測定する。
(1)スイッチS1 * St w 83の全都がオフ
の状態(すなわち通常のオフセット電圧測定)の場合 (2)スイッチS1のみオンにした状態(すなわちブリ
ッジ回路の抵抗R4を短絡)の場合(3)スイッチS1
のみオンにした状態(すなわちブリッジ回路の抵抗R2
に並列に既知抵抗Rを挿入)の場合 (4)スイッチS3のみオンにした状態(すなわちブリ
ッジ回路の抵抗R4に並列に既知抵抗Rを挿入)の場合 以上4つの場合のデジタル電圧計(D、V、M)3の読
みを各々eose3*eo11 eos  とし)各抵
抗R1e B2 # R3? R4+ Rの抵抗値をそ
れぞれrl yr! +r3 +r4 sr とすると
、次の関係式が成立する。
式(6)を代入して 次にこの4つの関係式から抵抗R11R21Rs rR
aの各抵抗値’1 r”2 +r3 、r4を求める。
式(3)に式(2)を代入して 式(7)を代入して ・・・・・・(7) ・°−rl(rt+r)(eot+es)= Er2r
−rzr(eot+e:s)式(1)$−よび式(2)
から ・・・・・・(5) rl+r2     E rx     e2   e3 B  e3 ・・r2= rt ” E−ea+es・・・・・・(
6) 式(5)よυ rz r(E  eot  es) ” =(r*+r )(eox+es)また、式(1)
 、 (2)よう 式(4)に代入して ・・・−・・(8) 式(2)よシ E@r rs=  −ri 3 式(8)に代入して E−e3+ e63  e@  Fa  esr、=r
(−−) e3  e63+14     e3 ・・・・・・(9) すなわち ・・=職訂τ−eB e3°゛) rs = r(E−es+e°3 e3 g−es)e
s   e03+el    es となシ、ブリッジ回路の各抵抗RIT Rt + ” 
T R4の抵抗値rt t rz l r3 、 r4
は、電源電圧E、外部の既知抵抗Rj?よび第1図によ
って得られる各測定電圧@av es l e OS 
+ eO3から算出することができることがわかる。な
か、上述したこれらの演算については、普通この種の半
導体用測定装置にはコンピュータが使われるため、予じ
め演算式をプログラムしてかくことができるので、簡単
なノ・−ドウエアの追加で素子の内部抵抗を求めること
が可能である。
1>、これらの結果から更に合成抵抗を算出できること
は云う1でもない。
〔発明の効果〕 以上説明したようにこの発明によれば、4組の抵抗がブ
リッジ接続された半導体圧力センサ索子の各内部抵抗の
抵抗値を、ブリッジ回路を分離するとと女<、正確に算
出することができるので、応用回路設計上、極めて有効
となるなどの優れた効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による半導体素子の抵抗測定方法の一
実施例を説明するためのオフセット電圧測定回路を示す
回路図、第2図は半導体圧力センサ素子の代表的な等何
回路を示す回路図、第3図は半導体圧力センサ素子のオ
フセット電圧を測定するためのオフセット電圧測定回路
を示す回路図である。 1・・・・半導体圧力センサ素子、2・・・・直流電源
、3・・・・デジタル電圧計(D、V、M)、3a・・
・・入力端子(+側)、3b・・・・入力端子(−側)
、R,# R,・・・・抵抗、R・・・・既知抵抗、8
1〜S3 ・・・・スイッチ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 定電圧駆動状態における4組の抵抗をブリッジ状に接続
    してなる半導体圧力センサ素子の単独のオフセット電圧
    、2つの電圧検出点に接続される上記ブリッジ回路の任
    意の2組の抵抗を外部から選択的に短絡したときのオフ
    セット電圧および上記ブリッジ回路の任意の2組の抵抗
    を外部から選択的に並列に既知の抵抗を挿入したときの
    オフセット電圧を測定することによつて上記半導体圧力
    センサ素子の内部抵抗を算出することを特徴とした半導
    体素子の抵抗測定方法。
JP21171989A 1989-08-17 1989-08-17 半導体素子の抵抗測定方法 Pending JPH0375570A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007147575A (ja) * 2005-11-30 2007-06-14 Tokyo Electron Ltd ホイートストンブリッジの抵抗測定システム、抵抗測定回路、抵抗測定方法及びコンピュータプログラム
JP2009541752A (ja) * 2006-06-29 2009-11-26 ヴェルトシュツキー,ローラント 少なくとも1つの力成分を検出する力センサおよび方法
CN101995517A (zh) * 2010-10-25 2011-03-30 宁波大学 一种测量材料静态阻值和动态变化阻值的仪器及测量方法
GB2608485A (en) * 2021-06-30 2023-01-04 Cirrus Logic Int Semiconductor Ltd Systems and methods for estimation of sensor resistance

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