JPH09246968A - Ｄ／ａコンバーターの特性の測定方法及びｄ／ａコンバーターの特性の測定ユニット - Google Patents
Ｄ／ａコンバーターの特性の測定方法及びｄ／ａコンバーターの特性の測定ユニットInfo
- Publication number
- JPH09246968A JPH09246968A JP8048767A JP4876796A JPH09246968A JP H09246968 A JPH09246968 A JP H09246968A JP 8048767 A JP8048767 A JP 8048767A JP 4876796 A JP4876796 A JP 4876796A JP H09246968 A JPH09246968 A JP H09246968A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- converter
- value
- lsb
- dut
- calculation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 Ｄ／Ａコンバーターの特性を測定する際に
は、基準Ｄ／Ａコンバーターを用いて行い、基準Ｄ／Ａ
コンバーターのアナログ出力を被測定物であるＤ／Ａコ
ンバーターの理想直線としているが、基準Ｄ／Ａコンバ
ーターにいくら高ビット、高精度のものを使用しても、
そのアナログ出力が直線になることは現実的にあり得な
いので、被測定物であるＤ／Ａコンバーターの特性を正
確に、精度良く測定することができない。 【解決手段】 被測定物であるＤ／Ａコンバーターのア
ナログ出力をデジタルコードに変換し、そのデジタルコ
ードに基づいて演算を行い（＃６０１〜６０３及び一例
として＃６０４、６０５）、積分非直線性誤差ＶSE1、
ＶSE2、ＶSE3、………、ＶSE255を算出する（一例とし
て＃６０６）ことを特徴としている。
は、基準Ｄ／Ａコンバーターを用いて行い、基準Ｄ／Ａ
コンバーターのアナログ出力を被測定物であるＤ／Ａコ
ンバーターの理想直線としているが、基準Ｄ／Ａコンバ
ーターにいくら高ビット、高精度のものを使用しても、
そのアナログ出力が直線になることは現実的にあり得な
いので、被測定物であるＤ／Ａコンバーターの特性を正
確に、精度良く測定することができない。 【解決手段】 被測定物であるＤ／Ａコンバーターのア
ナログ出力をデジタルコードに変換し、そのデジタルコ
ードに基づいて演算を行い（＃６０１〜６０３及び一例
として＃６０４、６０５）、積分非直線性誤差ＶSE1、
ＶSE2、ＶSE3、………、ＶSE255を算出する（一例とし
て＃６０６）ことを特徴としている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＩＣに内蔵され
た、あるいは、単体のＤ／Ａコンバーターの特性（積分
非直線性誤差及び微分非直線性誤差）の測定方法及び測
定ユニットに関するものである。
た、あるいは、単体のＤ／Ａコンバーターの特性（積分
非直線性誤差及び微分非直線性誤差）の測定方法及び測
定ユニットに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】Ｄ／Ａコンバーターの特性として、積分
非直線性誤差と微分非直線性誤差がある。積分非直線性
誤差とは、図９に示すように、あるデジタル入力コード
に対して、Ｄ／Ａコンバーターの実際のアナログ出力電
圧（以下、実出力電圧と表現する）が理想直線上のアナ
ログ出力電圧（以下、理想出力電圧と表現する）からど
れだけずれているかを各デジタル入力コード毎に表すも
のである。理想直線とは、ゼロスケール電圧（Ｄ／Ａコ
ンバーターのデジタル入力コードがＡＬＬ「Ｌ」である
ときのアナログ出力電圧）とフルスケール電圧（Ｄ／Ａ
コンバーターのデジタル入力コードがＡＬＬ「Ｈ」であ
るときのアナログ出力電圧）とを結ぶ直線である。
非直線性誤差と微分非直線性誤差がある。積分非直線性
誤差とは、図９に示すように、あるデジタル入力コード
に対して、Ｄ／Ａコンバーターの実際のアナログ出力電
圧（以下、実出力電圧と表現する）が理想直線上のアナ
ログ出力電圧（以下、理想出力電圧と表現する）からど
れだけずれているかを各デジタル入力コード毎に表すも
のである。理想直線とは、ゼロスケール電圧（Ｄ／Ａコ
ンバーターのデジタル入力コードがＡＬＬ「Ｌ」である
ときのアナログ出力電圧）とフルスケール電圧（Ｄ／Ａ
コンバーターのデジタル入力コードがＡＬＬ「Ｈ」であ
るときのアナログ出力電圧）とを結ぶ直線である。
【０００３】微分非直線性誤差とは、図１０に示すよう
に、Ｄ／Ａコンバーターのデジタル入力コードが１ビッ
ト変化した場合に、その実出力電圧が変化する量（以
下、これを実ステップ幅と表現する）が理想出力電圧が
変化する量（以下、これを理想ステップ幅と表現する）
からどれだけずれているかを各デジタル入力コード毎に
表すものである。
に、Ｄ／Ａコンバーターのデジタル入力コードが１ビッ
ト変化した場合に、その実出力電圧が変化する量（以
下、これを実ステップ幅と表現する）が理想出力電圧が
変化する量（以下、これを理想ステップ幅と表現する）
からどれだけずれているかを各デジタル入力コード毎に
表すものである。
【０００４】従来は、Ｄ／Ａコンバーターの特性である
積分非直線性誤差を測定する際には、図１１に示すよう
に、まず、被測定物であるＤ／Ａコンバーター（以下、
ＤＵＴと表現する）２と基準Ｄ／Ａコンバーター１１１
にＡＬＬ「Ｌ」からＡＬＬ「Ｈ」まで全ての組み合わせ
の同一のデジタルコードを順次入力していく。そして、
それぞれのデジタル入力コードに対するＤＵＴ２のアナ
ログ出力電圧と基準Ｄ／Ａコンバーター１１１のアナロ
グ出力電圧との差を差動アンプ１１２により求める。つ
まり、基準Ｄ／Ａコンバーター１１１のアナログ出力を
ＤＵＴ２の理想直線として積分非直線性誤差を測定して
いる。
積分非直線性誤差を測定する際には、図１１に示すよう
に、まず、被測定物であるＤ／Ａコンバーター（以下、
ＤＵＴと表現する）２と基準Ｄ／Ａコンバーター１１１
にＡＬＬ「Ｌ」からＡＬＬ「Ｈ」まで全ての組み合わせ
の同一のデジタルコードを順次入力していく。そして、
それぞれのデジタル入力コードに対するＤＵＴ２のアナ
ログ出力電圧と基準Ｄ／Ａコンバーター１１１のアナロ
グ出力電圧との差を差動アンプ１１２により求める。つ
まり、基準Ｄ／Ａコンバーター１１１のアナログ出力を
ＤＵＴ２の理想直線として積分非直線性誤差を測定して
いる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】基準Ｄ／Ａコンバータ
ー１１１には、通常、ＤＵＴ２よりも４ビット以上高ビ
ット、高精度のものを使用するが、いくら高ビット、高
精度のものであっても、そのアナログ出力が直線（各デ
ジタル入力コードに対して積分非直線性誤差、微分非直
線性誤差ともにゼロ）になることは現実的にあり得な
い。したがって、ＤＵＴ２の理想直線、理想出力電圧が
真のものではなく、見かけ上の（直線でない）ものであ
るので、その積分非直線性誤差を正確に、精度よく測定
することができない。
ー１１１には、通常、ＤＵＴ２よりも４ビット以上高ビ
ット、高精度のものを使用するが、いくら高ビット、高
精度のものであっても、そのアナログ出力が直線（各デ
ジタル入力コードに対して積分非直線性誤差、微分非直
線性誤差ともにゼロ）になることは現実的にあり得な
い。したがって、ＤＵＴ２の理想直線、理想出力電圧が
真のものではなく、見かけ上の（直線でない）ものであ
るので、その積分非直線性誤差を正確に、精度よく測定
することができない。
【０００６】また、測定前には、基準Ｄ／Ａコンバータ
ー１１１のゼロスケール電圧及びフルスケール電圧をＤ
ＵＴ２のものにアジャストする（合わせる）必要があ
り、測定するのに手間がかかる。
ー１１１のゼロスケール電圧及びフルスケール電圧をＤ
ＵＴ２のものにアジャストする（合わせる）必要があ
り、測定するのに手間がかかる。
【０００７】さらに、実ステップ幅、理想ステップ幅を
求めることができないので、測定できるのは積分非直線
性誤差だけであり、微分非直線性誤差を測定することが
できない。
求めることができないので、測定できるのは積分非直線
性誤差だけであり、微分非直線性誤差を測定することが
できない。
【０００８】基準Ｄ／Ａコンバーターを用いる方法の他
には、Ｄ／Ａコンバーターの特性の測定機能をもつＬＳ
Ｉテストシステムによる方法があり、これによれば、ゼ
ロスケール電圧及びフルスケール電圧をアジャストする
必要がなく、また、積分非直線性誤差、微分非直線性誤
差ともに測定することができるが、このＬＳＩテストシ
ステムはＤ／Ａコンバーターの特性の測定機能の他にも
様々な機能を備えており、非常に高価なものである。以
上の理由から、Ｄ／Ａコンバーターの特性の測定をする
だけの場合は、通常基準Ｄ／Ａコンバーターを用いる。
には、Ｄ／Ａコンバーターの特性の測定機能をもつＬＳ
Ｉテストシステムによる方法があり、これによれば、ゼ
ロスケール電圧及びフルスケール電圧をアジャストする
必要がなく、また、積分非直線性誤差、微分非直線性誤
差ともに測定することができるが、このＬＳＩテストシ
ステムはＤ／Ａコンバーターの特性の測定機能の他にも
様々な機能を備えており、非常に高価なものである。以
上の理由から、Ｄ／Ａコンバーターの特性の測定をする
だけの場合は、通常基準Ｄ／Ａコンバーターを用いる。
【０００９】そこで、本発明は、Ｄ／Ａコンバーターの
特性である積分非直線性誤差、微分非直線性誤差をより
正確に、精度良く測定できるＤ／Ａコンバーターの特性
の測定方法を提供することを第１の目的とする。
特性である積分非直線性誤差、微分非直線性誤差をより
正確に、精度良く測定できるＤ／Ａコンバーターの特性
の測定方法を提供することを第１の目的とする。
【００１０】次に、より安価で、しかも、ＤＵＴの特性
である積分非直線性誤差、微分非直線性誤差をより正確
に、精度良く測定できるＤ／Ａコンバーターの特性の測
定ユニットを提供することを第２の目的とする。
である積分非直線性誤差、微分非直線性誤差をより正確
に、精度良く測定できるＤ／Ａコンバーターの特性の測
定ユニットを提供することを第２の目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、請求項１に記載のＤ／Ａコンバーターの特性の測定
方法では、被測定物であるＤ／Ａコンバーターが出力す
るアナログ電圧をデジタルコードに変換し、そのデジタ
ルコードに基づいて演算を行って積分非直線性誤差ある
いは微分非直線性誤差を算出することを特徴としてい
る。
め、請求項１に記載のＤ／Ａコンバーターの特性の測定
方法では、被測定物であるＤ／Ａコンバーターが出力す
るアナログ電圧をデジタルコードに変換し、そのデジタ
ルコードに基づいて演算を行って積分非直線性誤差ある
いは微分非直線性誤差を算出することを特徴としてい
る。
【００１２】アナログ的に表現すると、Ｄ／Ａコンバー
ターのゼロスケール電圧、フルスケール電圧、及び、ビ
ット数がわかっていれば、演算により理想ステップ幅を
求めることができ、理想ステップ幅がわかれば、演算に
より各デジタル入力コードに対する理想出力電圧を求め
ることができる。求めた理想出力電圧、理想ステップ幅
に基づいて積分非直線性誤差、微分非直線性誤差を算出
すれば、その結果は正確なものとなる。以上の理由か
ら、このＤ／Ａコンバーターの特性の測定方法によれ
ば、積分非直線性誤差、微分非直線性誤差を正確に、精
度良く測定することができる。
ターのゼロスケール電圧、フルスケール電圧、及び、ビ
ット数がわかっていれば、演算により理想ステップ幅を
求めることができ、理想ステップ幅がわかれば、演算に
より各デジタル入力コードに対する理想出力電圧を求め
ることができる。求めた理想出力電圧、理想ステップ幅
に基づいて積分非直線性誤差、微分非直線性誤差を算出
すれば、その結果は正確なものとなる。以上の理由か
ら、このＤ／Ａコンバーターの特性の測定方法によれ
ば、積分非直線性誤差、微分非直線性誤差を正確に、精
度良く測定することができる。
【００１３】また、請求項２に記載のＤ／Ａコンバータ
ーの特性の測定方法では、請求項１に記載のＤ／Ａコン
バーターの特性の測定方法において、前記演算が、第１
演算として、ゼロスケール値、フルスケール値、及び、
被測定物であるＤ／Ａコンバーターのビット数から１Ｌ
ＳＢ値を算出し、第２演算として、前記ゼロスケール値
及び１ＬＳＢ値から被測定物であるＤ／Ａコンバーター
の理想出力値を算出し、第３演算として、被測定物であ
るＤ／Ａコンバーターの実出力値と前記理想出力値との
差をＬＳＢ値に換算し、積分非直線性誤差を算出するこ
とを特徴としている。
ーの特性の測定方法では、請求項１に記載のＤ／Ａコン
バーターの特性の測定方法において、前記演算が、第１
演算として、ゼロスケール値、フルスケール値、及び、
被測定物であるＤ／Ａコンバーターのビット数から１Ｌ
ＳＢ値を算出し、第２演算として、前記ゼロスケール値
及び１ＬＳＢ値から被測定物であるＤ／Ａコンバーター
の理想出力値を算出し、第３演算として、被測定物であ
るＤ／Ａコンバーターの実出力値と前記理想出力値との
差をＬＳＢ値に換算し、積分非直線性誤差を算出するこ
とを特徴としている。
【００１４】上記各演算の内容をアナログ的に表現する
と、第１演算では理想ステップ幅を算出している。この
理想ステップ幅を得ることにより理想出力電圧を算出す
ることが可能となり、第２演算でそれを実行している。
第３演算では積分非直線性誤差を算出しているが、第２
演算で得た理想出力電圧に基づいて行っているので、そ
の結果は正確なものである。以上のように、このＤ／Ａ
コンバーターの特性の測定方法によれば、積分非直線性
誤差を正確に、精度良く測定することができる。
と、第１演算では理想ステップ幅を算出している。この
理想ステップ幅を得ることにより理想出力電圧を算出す
ることが可能となり、第２演算でそれを実行している。
第３演算では積分非直線性誤差を算出しているが、第２
演算で得た理想出力電圧に基づいて行っているので、そ
の結果は正確なものである。以上のように、このＤ／Ａ
コンバーターの特性の測定方法によれば、積分非直線性
誤差を正確に、精度良く測定することができる。
【００１５】また、請求項３に記載のＤ／Ａコンバータ
ーの特性の測定方法では、請求項１に記載のＤ／Ａコン
バーターの特性の測定方法において、前記演算が、第１
演算として、ゼロスケール値、フルスケール値、及び、
被測定物であるＤ／Ａコンバーターのビット数から１Ｌ
ＳＢ値を算出し、第２演算として、被測定物であるＤ／
Ａコンバーターの隣り合う２つのデジタル入力コードに
対する実出力値の差から前記１ＬＳＢ値を減じたものを
ＬＳＢ値に換算し、微分非直線性誤差を算出することを
特徴としている。
ーの特性の測定方法では、請求項１に記載のＤ／Ａコン
バーターの特性の測定方法において、前記演算が、第１
演算として、ゼロスケール値、フルスケール値、及び、
被測定物であるＤ／Ａコンバーターのビット数から１Ｌ
ＳＢ値を算出し、第２演算として、被測定物であるＤ／
Ａコンバーターの隣り合う２つのデジタル入力コードに
対する実出力値の差から前記１ＬＳＢ値を減じたものを
ＬＳＢ値に換算し、微分非直線性誤差を算出することを
特徴としている。
【００１６】上記各演算の内容をアナログ的に表現する
と、第１演算では理想ステップ幅を算出している。第２
演算では微分非直線性誤差を算出しているが、第１演算
で得た理想ステップ幅に基づいて行っているので、その
結果は正確なものである。以上のように、このＤ／Ａコ
ンバーターの特性の測定方法によれば、微分非直線性誤
差を正確に、精度良く測定することができる。
と、第１演算では理想ステップ幅を算出している。第２
演算では微分非直線性誤差を算出しているが、第１演算
で得た理想ステップ幅に基づいて行っているので、その
結果は正確なものである。以上のように、このＤ／Ａコ
ンバーターの特性の測定方法によれば、微分非直線性誤
差を正確に、精度良く測定することができる。
【００１７】また、請求項４に記載のＤ／Ａコンバータ
ーの特性の測定ユニットでは、少なくとも被測定物であ
るＤ／Ａコンバーターが出力するアナログ電圧をデジタ
ルコードに変換するＡ／Ｄ変換手段、及び、そのＡ／Ｄ
変換手段を経たデジタルコードに基づいて演算を行う演
算処理手段を有し、Ｄ／Ａコンバーターの特性の測定の
みを行うことを特徴としている。
ーの特性の測定ユニットでは、少なくとも被測定物であ
るＤ／Ａコンバーターが出力するアナログ電圧をデジタ
ルコードに変換するＡ／Ｄ変換手段、及び、そのＡ／Ｄ
変換手段を経たデジタルコードに基づいて演算を行う演
算処理手段を有し、Ｄ／Ａコンバーターの特性の測定の
みを行うことを特徴としている。
【００１８】また、請求項５に記載のＤ／Ａコンバータ
ーの特性の測定ユニットでは、請求項４に記載のＤ／Ａ
コンバーターの特性の測定ユニットにおいて、前記演算
処理手段が、第１演算として、ゼロスケール値、フルス
ケール値、及び、被測定物であるＤ／Ａコンバーターの
ビット数から１ＬＳＢ値を算出し、第２演算として、前
記ゼロスケール値及び１ＬＳＢ値から被測定物であるＤ
／Ａコンバーターの理想出力値を算出し、第３演算とし
て、被測定物であるＤ／Ａコンバーターの実出力値と前
記理想出力値との差をＬＳＢ値に換算し、積分非直線性
誤差を算出することを特徴としている。
ーの特性の測定ユニットでは、請求項４に記載のＤ／Ａ
コンバーターの特性の測定ユニットにおいて、前記演算
処理手段が、第１演算として、ゼロスケール値、フルス
ケール値、及び、被測定物であるＤ／Ａコンバーターの
ビット数から１ＬＳＢ値を算出し、第２演算として、前
記ゼロスケール値及び１ＬＳＢ値から被測定物であるＤ
／Ａコンバーターの理想出力値を算出し、第３演算とし
て、被測定物であるＤ／Ａコンバーターの実出力値と前
記理想出力値との差をＬＳＢ値に換算し、積分非直線性
誤差を算出することを特徴としている。
【００１９】また、請求項６に記載のＤ／Ａコンバータ
ーの特性の測定ユニットでは、請求項４に記載のＤ／Ａ
コンバーターの特性の測定ユニットにおいて、前記演算
処理手段が、第１演算として、ゼロスケール値、フルス
ケール値、及び、被測定物であるＤ／Ａコンバーターの
ビット数から１ＬＳＢ値を算出し、第２演算として、被
測定物であるＤ／Ａコンバーターの隣り合う２つのデジ
タル入力コードに対する実出力値の差から前記１ＬＳＢ
値を減じたものをＬＳＢ値に換算し、微分非直線性誤差
を算出することを特徴としている。
ーの特性の測定ユニットでは、請求項４に記載のＤ／Ａ
コンバーターの特性の測定ユニットにおいて、前記演算
処理手段が、第１演算として、ゼロスケール値、フルス
ケール値、及び、被測定物であるＤ／Ａコンバーターの
ビット数から１ＬＳＢ値を算出し、第２演算として、被
測定物であるＤ／Ａコンバーターの隣り合う２つのデジ
タル入力コードに対する実出力値の差から前記１ＬＳＢ
値を減じたものをＬＳＢ値に換算し、微分非直線性誤差
を算出することを特徴としている。
【００２０】以上のようなＤ／Ａコンバーターの特性の
測定ユニットによれば、Ｄ／Ａコンバーターの特性の測
定を行う機能のみを備えているので、その価格を抑える
ことができる。しかも、前述したように、積分非直線性
誤差、微分非直線性誤差を正確に、精度良く測定するこ
とができる。
測定ユニットによれば、Ｄ／Ａコンバーターの特性の測
定を行う機能のみを備えているので、その価格を抑える
ことができる。しかも、前述したように、積分非直線性
誤差、微分非直線性誤差を正確に、精度良く測定するこ
とができる。
【００２１】
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施形態を図面を
参照しながら説明する。図１は本発明の一実施形態であ
るＤ／Ａコンバーターの特性の測定ユニット２０にテス
トシステム１とＤＵＴ２を接続した状態のブロック図で
あって、３は差動アンプ、４は入力レンジ切り替えアン
プ、５と１２はローパスフィルター、６はＡ／Ｄコンバ
ーター、７と１０はデータラッチ回路、８はＣＰＵ、９
はＲＡＭ、１１はＤ／Ａコンバーター、１３はアンプで
ある。
参照しながら説明する。図１は本発明の一実施形態であ
るＤ／Ａコンバーターの特性の測定ユニット２０にテス
トシステム１とＤＵＴ２を接続した状態のブロック図で
あって、３は差動アンプ、４は入力レンジ切り替えアン
プ、５と１２はローパスフィルター、６はＡ／Ｄコンバ
ーター、７と１０はデータラッチ回路、８はＣＰＵ、９
はＲＡＭ、１１はＤ／Ａコンバーター、１３はアンプで
ある。
【００２２】同図において、テストシステム１からＤＵ
Ｔ２にＡＬＬ「Ｌ」からＡＬＬ「Ｈ」まで全ての組み合
わせのデジタルコード（必要な組み合わせだけでも良
い）が順次入力される（ｑはＤＵＴ２のビット数）。
尚、テストシステム１はＤＵＴ２へのデジタルコードの
入力及びＣＰＵ８への命令、情報の転送をするだけのも
のであり、汎用のファンクションジェネレーターで代用
しても良い。
Ｔ２にＡＬＬ「Ｌ」からＡＬＬ「Ｈ」まで全ての組み合
わせのデジタルコード（必要な組み合わせだけでも良
い）が順次入力される（ｑはＤＵＴ２のビット数）。
尚、テストシステム１はＤＵＴ２へのデジタルコードの
入力及びＣＰＵ８への命令、情報の転送をするだけのも
のであり、汎用のファンクションジェネレーターで代用
しても良い。
【００２３】それぞれのデジタル入力コードに対してＤ
ＵＴ２からアナログ電圧が順次出力される。入力レンジ
切り替えアンプ４により適切な入力レンジに切り替えら
れた差動アンプ３の２つの入力のどちらか一方からＤＵ
Ｔ２のアナログ出力電圧が取り込まれ、他方から基準電
圧（通常ＧＮＤ）が取り込まれる。尚、差動アンプ３と
入力レンジ切り替えアンプ４には両者が一体になってい
るものを使用しても良い。
ＵＴ２からアナログ電圧が順次出力される。入力レンジ
切り替えアンプ４により適切な入力レンジに切り替えら
れた差動アンプ３の２つの入力のどちらか一方からＤＵ
Ｔ２のアナログ出力電圧が取り込まれ、他方から基準電
圧（通常ＧＮＤ）が取り込まれる。尚、差動アンプ３と
入力レンジ切り替えアンプ４には両者が一体になってい
るものを使用しても良い。
【００２４】取り込まれたＤＵＴ２のアナログ出力電圧
はローパスフィルター５により高周波成分がカットされ
る。ローパスフィルター５、１２の次数は何次のもので
も良く、種類も何種類ものフィルターを選択できるよう
にしても良いし、１種類の固定でも良い。また、フィル
ターを通さずにスルーの経路でも良い。
はローパスフィルター５により高周波成分がカットされ
る。ローパスフィルター５、１２の次数は何次のもので
も良く、種類も何種類ものフィルターを選択できるよう
にしても良いし、１種類の固定でも良い。また、フィル
ターを通さずにスルーの経路でも良い。
【００２５】ローパスフィルター５により高周波成分が
カットされたアナログ電圧はＡ／Ｄコンバーター６によ
りデジタルコードに変換される。このＡ／Ｄコンバータ
ー６は何ビットのものでも良く、その出力データ数
（ｎ）はＡ／Ｄコンバーター自身によって決まるので、
Ａ／Ｄコンバーターの種類によっては出力データを数回
に分けて出力する場合もあり、シリアルデータである場
合もある。
カットされたアナログ電圧はＡ／Ｄコンバーター６によ
りデジタルコードに変換される。このＡ／Ｄコンバータ
ー６は何ビットのものでも良く、その出力データ数
（ｎ）はＡ／Ｄコンバーター自身によって決まるので、
Ａ／Ｄコンバーターの種類によっては出力データを数回
に分けて出力する場合もあり、シリアルデータである場
合もある。
【００２６】データラッチ回路７はＡ／Ｄコンバーター
６からのデジタルコードを一旦保持し、適切なタイミン
グでＣＰＵ８へ順次転送する。データラッチ回路７、１
０は汎用ロジックデバイスで構成してもゲートアレイで
構成しても良い。また、ＣＰＵ８がデータラッチ機能を
持っている場合は、データラッチ回路７、１０は不要で
ある。
６からのデジタルコードを一旦保持し、適切なタイミン
グでＣＰＵ８へ順次転送する。データラッチ回路７、１
０は汎用ロジックデバイスで構成してもゲートアレイで
構成しても良い。また、ＣＰＵ８がデータラッチ機能を
持っている場合は、データラッチ回路７、１０は不要で
ある。
【００２７】ＣＰＵ８は、テストシステム１からの命
令、情報に従い、データラッチ回路７から転送されてき
たデジタルコードに基づいて所定の演算を行い、必要な
演算結果を自身のメモリあるいはＲＡＭ９に記憶させ
て、演算結果をデータラッチ回路１０に転送する。ＣＰ
Ｕ８は何ビットのものでも良く、ＲＡＭ９もどのような
ものでも良く、また、ＣＰＵ８自身のメモリで十分な場
合は、ＲＡＭ９を接続する必要はない。
令、情報に従い、データラッチ回路７から転送されてき
たデジタルコードに基づいて所定の演算を行い、必要な
演算結果を自身のメモリあるいはＲＡＭ９に記憶させ
て、演算結果をデータラッチ回路１０に転送する。ＣＰ
Ｕ８は何ビットのものでも良く、ＲＡＭ９もどのような
ものでも良く、また、ＣＰＵ８自身のメモリで十分な場
合は、ＲＡＭ９を接続する必要はない。
【００２８】データラッチ回路１０はＣＰＵ８から転送
されてきたデジタルコードを一旦保持し、適切なタイミ
ングでＤ／Ａコンバーター１１へ送る。Ｄ／Ａコンバー
ター１１ではデジタルコードがアナログ電圧に変換され
る。このＤ／Ａコンバーター１１は何ビットのものでも
良く、その入力データ数（ｍ）はＤ／Ａコンバーター自
身によって決まるので、Ｄ／Ａコンバーターの種類によ
っては入力データを数回に分けて入力する場合もあり、
シリアルデータである場合もある。
されてきたデジタルコードを一旦保持し、適切なタイミ
ングでＤ／Ａコンバーター１１へ送る。Ｄ／Ａコンバー
ター１１ではデジタルコードがアナログ電圧に変換され
る。このＤ／Ａコンバーター１１は何ビットのものでも
良く、その入力データ数（ｍ）はＤ／Ａコンバーター自
身によって決まるので、Ｄ／Ａコンバーターの種類によ
っては入力データを数回に分けて入力する場合もあり、
シリアルデータである場合もある。
【００２９】Ｄ／Ａコンバーター１１からのアナログ電
圧はローパスフィルター１２で高周波成分がカットされ
た後、アンプ１３で必要に応じて増幅されてモニター出
力される。このモニター出力に例えばオシロスコープを
接続すれば、ＤＵＴ２の積分非直線性誤差、微分非直線
性誤差のデータを得ることができる（図２、３にその一
例を示す）。
圧はローパスフィルター１２で高周波成分がカットされ
た後、アンプ１３で必要に応じて増幅されてモニター出
力される。このモニター出力に例えばオシロスコープを
接続すれば、ＤＵＴ２の積分非直線性誤差、微分非直線
性誤差のデータを得ることができる（図２、３にその一
例を示す）。
【００３０】このように、ＤＵＴ２の積分非直線性誤
差、微分非直線性誤差のデータをオシロスコープにより
アナログ的に表示すると、ＤＵＴ２が高ビットである場
合などに生じる小さなデータ変化を確認しづらい。そこ
で、図４に示すように、デジタルデータ表示装置１４を
データラッチ回路１０（あるいはＣＰＵ８でもよい）に
接続すれば、積分非直線性誤差、微分非直線性誤差のデ
ータがデジタル的に表示されるので、小さなデータ変化
も容易に確認することができる。
差、微分非直線性誤差のデータをオシロスコープにより
アナログ的に表示すると、ＤＵＴ２が高ビットである場
合などに生じる小さなデータ変化を確認しづらい。そこ
で、図４に示すように、デジタルデータ表示装置１４を
データラッチ回路１０（あるいはＣＰＵ８でもよい）に
接続すれば、積分非直線性誤差、微分非直線性誤差のデ
ータがデジタル的に表示されるので、小さなデータ変化
も容易に確認することができる。
【００３１】デジタルデータ表示装置１４の一構成例を
図５に示す。同図において、データラッチ回路１０から
のデジタルコードによりドライバーＩＣ５１がデジタル
コードのビット数ｍ個のＬＥＤ５２の点灯、消灯をそれ
ぞれ別個に制御している。つまり、各ＬＥＤが各ビット
に対応しており、対応しているビットが「Ｌ」のときは
点灯し、「Ｈ」のときは消灯する（これとは逆に「Ｌ」
のときに消灯し、「Ｈ」のときに点灯させてもよい）。
図５に示す。同図において、データラッチ回路１０から
のデジタルコードによりドライバーＩＣ５１がデジタル
コードのビット数ｍ個のＬＥＤ５２の点灯、消灯をそれ
ぞれ別個に制御している。つまり、各ＬＥＤが各ビット
に対応しており、対応しているビットが「Ｌ」のときは
点灯し、「Ｈ」のときは消灯する（これとは逆に「Ｌ」
のときに消灯し、「Ｈ」のときに点灯させてもよい）。
【００３２】以下にＤＵＴ２の積分非直線性誤差を測定
する場合にＣＰＵ８が行う演算の流れを図６に示すフロ
ーチャートを用いて説明する。まず、ゼロスケール値Ｖ
0（ゼロスケール電圧をＡ／Ｄコンバーター６でデジタ
ルコードに変換したもの）が転送されてくるので、それ
を自身のメモリあるいはＲＡＭ９内のアドレスＡに記憶
する（＃６０１）。次に、フルスケール値ＶF（フルス
ケール電圧をＡ／Ｄコンバーター６でデジタルコードに
変換したもの）が転送されてくるので、それを自身のメ
モリあるいはＲＡＭ９内のアドレスＢに記憶する（＃６
０２）。
する場合にＣＰＵ８が行う演算の流れを図６に示すフロ
ーチャートを用いて説明する。まず、ゼロスケール値Ｖ
0（ゼロスケール電圧をＡ／Ｄコンバーター６でデジタ
ルコードに変換したもの）が転送されてくるので、それ
を自身のメモリあるいはＲＡＭ９内のアドレスＡに記憶
する（＃６０１）。次に、フルスケール値ＶF（フルス
ケール電圧をＡ／Ｄコンバーター６でデジタルコードに
変換したもの）が転送されてくるので、それを自身のメ
モリあるいはＲＡＭ９内のアドレスＢに記憶する（＃６
０２）。
【００３３】次に、記憶したゼロスケール値Ｖ0、フル
スケール値ＶF、及び、ＤＵＴ２のビット数ｎ（テスト
システム１から転送されてくる）から１ＬＳＢ値ＶLSB
を以下の式（１）により算出し、それを自身のメモリあ
るいはＲＡＭ９内のアドレスＣに記憶する（＃６０
３）。アナログ的に表現すると、１ＬＳＢ値ＶLSBは理
想ステップ幅であるので、＃６０３では理想ステップ幅
を求めていることになる。 ＶLSB＝（ＶF−Ｖ0）÷（２n−１） …… （１）
スケール値ＶF、及び、ＤＵＴ２のビット数ｎ（テスト
システム１から転送されてくる）から１ＬＳＢ値ＶLSB
を以下の式（１）により算出し、それを自身のメモリあ
るいはＲＡＭ９内のアドレスＣに記憶する（＃６０
３）。アナログ的に表現すると、１ＬＳＢ値ＶLSBは理
想ステップ幅であるので、＃６０３では理想ステップ幅
を求めていることになる。 ＶLSB＝（ＶF−Ｖ0）÷（２n−１） …… （１）
【００３４】以下の流れは、ＤＵＴ２が８ビットの場合
を例にとって説明する。まず、ＤＵＴ２のデジタル入力
コード０１ｈ（ＨＥＸコード）に対する実出力値Ｖ
1（実出力電圧をＡ／Ｄコンバーター６でデジタルコー
ドに変換したもの）が転送されてくるので、それを自身
のメモリあるいはＲＡＭ９内のアドレスＤに記憶する
（＃６０４）。
を例にとって説明する。まず、ＤＵＴ２のデジタル入力
コード０１ｈ（ＨＥＸコード）に対する実出力値Ｖ
1（実出力電圧をＡ／Ｄコンバーター６でデジタルコー
ドに変換したもの）が転送されてくるので、それを自身
のメモリあるいはＲＡＭ９内のアドレスＤに記憶する
（＃６０４）。
【００３５】尚、後述の＃６０７が終了すると、ＤＵＴ
２の他のデジタル入力コード０２ｈ、０３ｈ、………、
ＦＦｈに対する実出力値Ｖ2、Ｖ3、………、Ｖ255が順
次１つずつ転送されてくるが、これらの実出力値はアド
レスＤに順次上書きして記憶することとする。もちろ
ん、これらの実出力値を自身のメモリあるいはＲＡＭ９
内のそれぞれ別々のアドレスに記憶して残しておいても
よいが、このようにすると多くのメモリ容量が必要とな
ってしまう。
２の他のデジタル入力コード０２ｈ、０３ｈ、………、
ＦＦｈに対する実出力値Ｖ2、Ｖ3、………、Ｖ255が順
次１つずつ転送されてくるが、これらの実出力値はアド
レスＤに順次上書きして記憶することとする。もちろ
ん、これらの実出力値を自身のメモリあるいはＲＡＭ９
内のそれぞれ別々のアドレスに記憶して残しておいても
よいが、このようにすると多くのメモリ容量が必要とな
ってしまう。
【００３６】次に、ＤＵＴ２のデジタル入力コード０１
ｈに対する理想出力値ＶR1を以下の式（２−１）により
算出し、それを自身のメモリあるいはＲＡＭ９内のアド
レスＥに記憶する（＃６０５）。アナログ的に表現する
と、理想出力値は理想出力電圧であるので、＃６０５で
は理想出力電圧を求めていることになる。 ＶR1＝Ｖ0＋（１×ＶLSB） …… （２−１）
ｈに対する理想出力値ＶR1を以下の式（２−１）により
算出し、それを自身のメモリあるいはＲＡＭ９内のアド
レスＥに記憶する（＃６０５）。アナログ的に表現する
と、理想出力値は理想出力電圧であるので、＃６０５で
は理想出力電圧を求めていることになる。 ＶR1＝Ｖ0＋（１×ＶLSB） …… （２−１）
【００３７】尚、後述の＃６０７が終了すると、ＤＵＴ
２の他のデジタル入力コード０２ｈ、０３ｈ、………、
ＦＦｈに対する実出力値Ｖ2、Ｖ3、………、Ｖ255が順
次１つずつ転送されてくるので、ＤＵＴ２の他のデジタ
ル入力コード０２ｈ、０３ｈ、………、ＦＦｈに対する
理想出力値ＶR2、ＶR3、………、ＶR255を順次算出する
ことになるが、これらの理想出力値はアドレスＥに順次
上書きして記憶することとする。もちろん、これらの理
想出力値を自身のメモリあるいはＲＡＭ９内のそれぞれ
別々のアドレスに記憶して残しておいてもよいが、この
ようにすると多くのメモリ容量が必要となってしまう。
また、＃６０４と＃６０５の順序は逆になっても構わな
い。
２の他のデジタル入力コード０２ｈ、０３ｈ、………、
ＦＦｈに対する実出力値Ｖ2、Ｖ3、………、Ｖ255が順
次１つずつ転送されてくるので、ＤＵＴ２の他のデジタ
ル入力コード０２ｈ、０３ｈ、………、ＦＦｈに対する
理想出力値ＶR2、ＶR3、………、ＶR255を順次算出する
ことになるが、これらの理想出力値はアドレスＥに順次
上書きして記憶することとする。もちろん、これらの理
想出力値を自身のメモリあるいはＲＡＭ９内のそれぞれ
別々のアドレスに記憶して残しておいてもよいが、この
ようにすると多くのメモリ容量が必要となってしまう。
また、＃６０４と＃６０５の順序は逆になっても構わな
い。
【００３８】また、１ＬＳＢ値ＶLSBに掛ける数は、理
想出力値ＶR1を算出する際には、式（２−１）に示すよ
うに、１であるが、理想出力値ＶR2、ＶR3、………、Ｖ
R255を算出する際には、以下の式（２−２）、（２−
３）、………、（２−２５５）に示すように、それぞれ
２、３、………、２５５となる。 ＶR2＝Ｖ0＋（２×ＶLSB） …… （２−２） ＶR3＝Ｖ0＋（３×ＶLSB） …… （２−３） ……… ……… ＶR255＝Ｖ0＋（２５５×ＶLSB） …… （２−２５５）
想出力値ＶR1を算出する際には、式（２−１）に示すよ
うに、１であるが、理想出力値ＶR2、ＶR3、………、Ｖ
R255を算出する際には、以下の式（２−２）、（２−
３）、………、（２−２５５）に示すように、それぞれ
２、３、………、２５５となる。 ＶR2＝Ｖ0＋（２×ＶLSB） …… （２−２） ＶR3＝Ｖ0＋（３×ＶLSB） …… （２−３） ……… ……… ＶR255＝Ｖ0＋（２５５×ＶLSB） …… （２−２５５）
【００３９】次に、式（３−１）に示すように、実出力
値Ｖ1と理想出力値ＶR1との差をＬＳＢ値ＶLSBに換算し
（１ＬＳＢ値ＶLSBで割り）、その結果ＶSE1を自身のメ
モリあるいはＲＡＭ９内のアドレスＦに記憶する（＃６
０６）。アナログ的に表現すると、ＶSE1はＤＵＴ２の
デジタル入力コード０１ｈに対する積分非直線性誤差で
あるので、＃６０６では積分非直線性誤差を求めている
ことになる。そして、アドレスＦに記憶したＶSE1をデ
ータラッチ回路１０へ転送する（＃６０７）。 ＶSE1＝（Ｖ1−ＶR1）÷ＶLSB …… （３−１）
値Ｖ1と理想出力値ＶR1との差をＬＳＢ値ＶLSBに換算し
（１ＬＳＢ値ＶLSBで割り）、その結果ＶSE1を自身のメ
モリあるいはＲＡＭ９内のアドレスＦに記憶する（＃６
０６）。アナログ的に表現すると、ＶSE1はＤＵＴ２の
デジタル入力コード０１ｈに対する積分非直線性誤差で
あるので、＃６０６では積分非直線性誤差を求めている
ことになる。そして、アドレスＦに記憶したＶSE1をデ
ータラッチ回路１０へ転送する（＃６０７）。 ＶSE1＝（Ｖ1−ＶR1）÷ＶLSB …… （３−１）
【００４０】以上のようにして、ＤＵＴ２のデジタル入
力コード０１ｈに対する積分非直線性誤差ＶSE1を転送
し終わると、ＤＵＴ２の別のデジタル入力コード０２
ｈ、０３ｈ、………、ＦＦｈに対する実出力値Ｖ2、
Ｖ3、………、Ｖ255が順次転送されてくるので、これら
の実出力値についても＃６０４、６０５、６０６、６０
７と同様の処理を順次行って、ＤＵＴ２のデジタル入力
コード０２ｈ、０３ｈ、………、ＦＦｈに対する積分非
直線性誤差ＶSE2、ＶSE3、………、ＶSE255を順次算出
し、データラッチ回路１０へ順次転送する。尚、積分非
直線性誤差ＶSE2、ＶSE3、………、ＶSE255は以下の式
（３−２）、（３−３）、………、（３−２５５）によ
りを算出する。 ＶSE2＝（Ｖ2−ＶR2）÷ＶLSB …… （３−２） ＶSE3＝（Ｖ3−ＶR3）÷ＶLSB …… （３−３） ……… ……… ＶSE255＝（Ｖ255−ＶR255）÷ＶLSB …… （３−２５５）
力コード０１ｈに対する積分非直線性誤差ＶSE1を転送
し終わると、ＤＵＴ２の別のデジタル入力コード０２
ｈ、０３ｈ、………、ＦＦｈに対する実出力値Ｖ2、
Ｖ3、………、Ｖ255が順次転送されてくるので、これら
の実出力値についても＃６０４、６０５、６０６、６０
７と同様の処理を順次行って、ＤＵＴ２のデジタル入力
コード０２ｈ、０３ｈ、………、ＦＦｈに対する積分非
直線性誤差ＶSE2、ＶSE3、………、ＶSE255を順次算出
し、データラッチ回路１０へ順次転送する。尚、積分非
直線性誤差ＶSE2、ＶSE3、………、ＶSE255は以下の式
（３−２）、（３−３）、………、（３−２５５）によ
りを算出する。 ＶSE2＝（Ｖ2−ＶR2）÷ＶLSB …… （３−２） ＶSE3＝（Ｖ3−ＶR3）÷ＶLSB …… （３−３） ……… ……… ＶSE255＝（Ｖ255−ＶR255）÷ＶLSB …… （３−２５５）
【００４１】尚、本実施形態では、ＤＵＴ２のデジタル
入力コード０１ｈ，０２ｈ、０３ｈ、………、ＦＦｈに
対する積分非直線性誤差ＶSE1、ＶSE2、ＶSE3、……
…、ＶSE255をアドレスＦに順次上書きすることになる
が、それらを自身のメモリあるいはＲＡＭ９内のそれぞ
れ別々のアドレスに記憶させて残しておけば、これらを
比較することによってＤＵＴ２の積分非直線性誤差の最
大値及び最小値をデータラッチ回路１０へ転送すること
もできる。
入力コード０１ｈ，０２ｈ、０３ｈ、………、ＦＦｈに
対する積分非直線性誤差ＶSE1、ＶSE2、ＶSE3、……
…、ＶSE255をアドレスＦに順次上書きすることになる
が、それらを自身のメモリあるいはＲＡＭ９内のそれぞ
れ別々のアドレスに記憶させて残しておけば、これらを
比較することによってＤＵＴ２の積分非直線性誤差の最
大値及び最小値をデータラッチ回路１０へ転送すること
もできる。
【００４２】以下にＤＵＴ２の微分非直線性誤差を測定
する場合にＣＰＵ８が行う演算の流れを図７に示すフロ
ーチャートを用いて説明する。まず、ゼロスケール値Ｖ
0（ゼロスケール電圧をＡ／Ｄコンバーター６でデジタ
ルコードに変換したもの）が転送されてくるので、それ
を自身のメモリあるいはＲＡＭ９内のアドレスＡに記憶
する（＃７０１）。次に、フルスケール値ＶF（フルス
ケール電圧をＡ／Ｄコンバーター６でデジタルコードに
変換したもの）が転送されてくるので、それを自身のメ
モリあるいはＲＡＭ９内のアドレスＢに記憶する（＃７
０２）。
する場合にＣＰＵ８が行う演算の流れを図７に示すフロ
ーチャートを用いて説明する。まず、ゼロスケール値Ｖ
0（ゼロスケール電圧をＡ／Ｄコンバーター６でデジタ
ルコードに変換したもの）が転送されてくるので、それ
を自身のメモリあるいはＲＡＭ９内のアドレスＡに記憶
する（＃７０１）。次に、フルスケール値ＶF（フルス
ケール電圧をＡ／Ｄコンバーター６でデジタルコードに
変換したもの）が転送されてくるので、それを自身のメ
モリあるいはＲＡＭ９内のアドレスＢに記憶する（＃７
０２）。
【００４３】次に、記憶したゼロスケール値Ｖ0、フル
スケール値ＶF、及び、ＤＵＴ２のビット数ｎ（テスト
システム１から転送されてくる）から１ＬＳＢ値ＶLSB
を以下の（１）式により算出し、それを自身のメモリあ
るいはＲＡＭ９内のアドレスＣに記憶する（＃７０
３）。アナログ的に表現すると、１ＬＳＢ値ＶLSBは理
想ステップ幅であるので、＃７０３では理想ステップ幅
を求めていることになる。 ＶLSB＝（ＶF−Ｖ0）÷（２n−１） …… （１）
スケール値ＶF、及び、ＤＵＴ２のビット数ｎ（テスト
システム１から転送されてくる）から１ＬＳＢ値ＶLSB
を以下の（１）式により算出し、それを自身のメモリあ
るいはＲＡＭ９内のアドレスＣに記憶する（＃７０
３）。アナログ的に表現すると、１ＬＳＢ値ＶLSBは理
想ステップ幅であるので、＃７０３では理想ステップ幅
を求めていることになる。 ＶLSB＝（ＶF−Ｖ0）÷（２n−１） …… （１）
【００４４】以下の流れは、ＤＵＴ２が８ビットの場合
を例にとって説明する。まず、ＤＵＴ２のデジタル入力
コード０１ｈ（ＨＥＸコード）に対する実出力値Ｖ
1（実出力電圧をＡ／Ｄコンバーター６でデジタルコー
ドに変換したもの）が転送されてくるので、それを自身
のメモリあるいはＲＡＭ９内のアドレスＤまたはＦに記
憶する（＃７０４）。
を例にとって説明する。まず、ＤＵＴ２のデジタル入力
コード０１ｈ（ＨＥＸコード）に対する実出力値Ｖ
1（実出力電圧をＡ／Ｄコンバーター６でデジタルコー
ドに変換したもの）が転送されてくるので、それを自身
のメモリあるいはＲＡＭ９内のアドレスＤまたはＦに記
憶する（＃７０４）。
【００４５】尚、後述の＃７０６が終了すると、ＤＵＴ
２の他のデジタル入力コード０２ｈ、０３ｈ、………、
ＦＦｈに対する実出力値Ｖ2、Ｖ3、………、Ｖ255が順
次転送されてくるが、これらの実出力値はアドレスＤと
Ｆのうち小さなデジタル入力コードに対する実出力値を
記憶しているアドレスに順次上書きしていくこととす
る。もちろん、これらの実出力値Ｖ2、Ｖ3、………、Ｖ
255をそれぞれ別のアドレスに記憶しても良いが、この
ようにすると多くのメモリ容量が必要となってしまう。
２の他のデジタル入力コード０２ｈ、０３ｈ、………、
ＦＦｈに対する実出力値Ｖ2、Ｖ3、………、Ｖ255が順
次転送されてくるが、これらの実出力値はアドレスＤと
Ｆのうち小さなデジタル入力コードに対する実出力値を
記憶しているアドレスに順次上書きしていくこととす
る。もちろん、これらの実出力値Ｖ2、Ｖ3、………、Ｖ
255をそれぞれ別のアドレスに記憶しても良いが、この
ようにすると多くのメモリ容量が必要となってしまう。
【００４６】次に、式（４−１）に示すように、実出力
値Ｖ1とゼロスケール値Ｖ0との差（アナログ的に表現す
ると、実ステップ幅）から１ＬＳＢ値ＶLSBを減じたも
のをＬＳＢ値ＶLSBに換算し（１ＬＳＢ値ＶLSBで割
り）、その結果ＶBE1を自身のメモリあるいはＲＡＭ９
内のアドレスＥに記憶する（＃７０５）。アナログ的に
表現すると、ＶBE1はＤＵＴ２のデジタル入力コード０
１ｈに対する微分非直線性誤差であるので、＃７０５で
は微分非直線性誤差を求めていることになる。そして、
アドレスＥに記憶したＶBE1をデータラッチ回路１０へ
転送する（＃７０６）。 ＶBE1＝｛（Ｖ1−Ｖ0）−ＶLSB｝÷ＶLSB …… （４−１）
値Ｖ1とゼロスケール値Ｖ0との差（アナログ的に表現す
ると、実ステップ幅）から１ＬＳＢ値ＶLSBを減じたも
のをＬＳＢ値ＶLSBに換算し（１ＬＳＢ値ＶLSBで割
り）、その結果ＶBE1を自身のメモリあるいはＲＡＭ９
内のアドレスＥに記憶する（＃７０５）。アナログ的に
表現すると、ＶBE1はＤＵＴ２のデジタル入力コード０
１ｈに対する微分非直線性誤差であるので、＃７０５で
は微分非直線性誤差を求めていることになる。そして、
アドレスＥに記憶したＶBE1をデータラッチ回路１０へ
転送する（＃７０６）。 ＶBE1＝｛（Ｖ1−Ｖ0）−ＶLSB｝÷ＶLSB …… （４−１）
【００４７】以上のようにして、ＤＵＴ２のデジタル入
力コード０１ｈに対する微分非直線性誤差ＶBE1を転送
し終わると、ＤＵＴ２の別のデジタル入力コード０２
ｈ、０３ｈ、………、ＦＦｈに対する実出力値Ｖ2、
Ｖ3、………、Ｖ255が順次転送されてくるので、これら
の実出力値についても＃７０４、７０５、７０６と同様
の処理を順次行って、ＤＵＴ２のデジタル入力コード０
２ｈ、０３ｈ、………、ＦＦｈに対する微分非直線性誤
差ＶBE2、ＶBE3、………、ＶBE255を順次算出し、デー
タラッチ回路１０へ順次転送する。尚、微分非直線性誤
差ＶBE2、ＶBE3、………、ＶBE255は以下の式（４−
２）、（４−３）、………、（４−２５５）により算出
する。 ＶBE2＝｛（Ｖ2−Ｖ1）−ＶLSB｝÷ＶLSB …… （４−２） ＶBE3＝｛（Ｖ3−Ｖ2）−ＶLSB｝÷ＶLSB …… （４−３） ……… ……… ＶBE255＝｛（Ｖ255−Ｖ254）−ＶLSB｝÷ＶLSB …… （４−２５５）
力コード０１ｈに対する微分非直線性誤差ＶBE1を転送
し終わると、ＤＵＴ２の別のデジタル入力コード０２
ｈ、０３ｈ、………、ＦＦｈに対する実出力値Ｖ2、
Ｖ3、………、Ｖ255が順次転送されてくるので、これら
の実出力値についても＃７０４、７０５、７０６と同様
の処理を順次行って、ＤＵＴ２のデジタル入力コード０
２ｈ、０３ｈ、………、ＦＦｈに対する微分非直線性誤
差ＶBE2、ＶBE3、………、ＶBE255を順次算出し、デー
タラッチ回路１０へ順次転送する。尚、微分非直線性誤
差ＶBE2、ＶBE3、………、ＶBE255は以下の式（４−
２）、（４−３）、………、（４−２５５）により算出
する。 ＶBE2＝｛（Ｖ2−Ｖ1）−ＶLSB｝÷ＶLSB …… （４−２） ＶBE3＝｛（Ｖ3−Ｖ2）−ＶLSB｝÷ＶLSB …… （４−３） ……… ……… ＶBE255＝｛（Ｖ255−Ｖ254）−ＶLSB｝÷ＶLSB …… （４−２５５）
【００４８】尚、本実施形態では、ＤＵＴ２のデジタル
入力コード０１ｈ，０２ｈ、０３ｈ、………、ＦＦｈに
対する微分非直線性誤差ＶBE1、ＶBE2、ＶBE3、……
…、ＶBE255をアドレスＥに順次上書きすることになる
が、それらを自身のメモリあるいはＲＡＭ９内のそれぞ
れ別々のアドレスに記憶させて残しておけば、これらを
比較することによってＤＵＴ２の微分非直線性誤差の最
大値及び最小値をデータラッチ回路１０へ転送すること
もできる。
入力コード０１ｈ，０２ｈ、０３ｈ、………、ＦＦｈに
対する微分非直線性誤差ＶBE1、ＶBE2、ＶBE3、……
…、ＶBE255をアドレスＥに順次上書きすることになる
が、それらを自身のメモリあるいはＲＡＭ９内のそれぞ
れ別々のアドレスに記憶させて残しておけば、これらを
比較することによってＤＵＴ２の微分非直線性誤差の最
大値及び最小値をデータラッチ回路１０へ転送すること
もできる。
【００４９】ここで、ＣＰＵ８の演算処理ビット数につ
いて考えてみる。Ａ／Ｄコンバーター６には通常１６ビ
ットのものを使用するので、当然フルスケール電圧幅
（フルスケール値ＶF−ゼロスケール値Ｖ0）も１６ビッ
トとなる。１ＬＳＢ値ＶLSBはフルスケール電圧幅÷
（２n−１）（ｎはＤＵＴ２のビット数）であるから、
フルスケール電圧幅と１ＬＳＢ値ＶLSBとのビット数の
関係は図８に示すようになる。
いて考えてみる。Ａ／Ｄコンバーター６には通常１６ビ
ットのものを使用するので、当然フルスケール電圧幅
（フルスケール値ＶF−ゼロスケール値Ｖ0）も１６ビッ
トとなる。１ＬＳＢ値ＶLSBはフルスケール電圧幅÷
（２n−１）（ｎはＤＵＴ２のビット数）であるから、
フルスケール電圧幅と１ＬＳＢ値ＶLSBとのビット数の
関係は図８に示すようになる。
【００５０】同図から明らかであるように、ＣＰＵ８の
演算処理ビット数が例えば３２ビットであると、１ＬＳ
Ｂ値ＶLSBのバイトＥが切り捨てられることになり、バ
イトＥがＡＬＬ「Ｌ」でない場合は桁落ちとなってしま
う。桁落ちが発生すると、１ＬＳＢ値ＶLSBは真の値よ
りも小さくなり、積分非直線性誤差、微分非直線性誤差
を正確に算出することができない。そこで、ＣＰＵ８の
演算処理ビット数を４０ビット以上にすることによっ
て、桁落ちを防ぐことができ、演算処理における誤差が
なくなり、積分非直線性誤差、微分非直線性誤差をより
一層正確に、精度よく測定することができる。
演算処理ビット数が例えば３２ビットであると、１ＬＳ
Ｂ値ＶLSBのバイトＥが切り捨てられることになり、バ
イトＥがＡＬＬ「Ｌ」でない場合は桁落ちとなってしま
う。桁落ちが発生すると、１ＬＳＢ値ＶLSBは真の値よ
りも小さくなり、積分非直線性誤差、微分非直線性誤差
を正確に算出することができない。そこで、ＣＰＵ８の
演算処理ビット数を４０ビット以上にすることによっ
て、桁落ちを防ぐことができ、演算処理における誤差が
なくなり、積分非直線性誤差、微分非直線性誤差をより
一層正確に、精度よく測定することができる。
【００５１】尚、本実施形態においては、ＣＰＵ８は１
つのデータ（実出力値）が転送されてくる毎に演算処理
を行うように説明したが、ＣＰＵ８のメモリあるいはＲ
ＡＭ９の容量に余裕があれば、全てのデータを取り込ん
で（記憶してから）から順次演算処理を行うようにして
も良い。
つのデータ（実出力値）が転送されてくる毎に演算処理
を行うように説明したが、ＣＰＵ８のメモリあるいはＲ
ＡＭ９の容量に余裕があれば、全てのデータを取り込ん
で（記憶してから）から順次演算処理を行うようにして
も良い。
【００５２】
【発明の効果】本発明のＤ／Ａコンバーターの特性の測
定方法によれば、積分非直線性誤差、微分非直線性誤差
を正確に、精度良く測定することができる。
定方法によれば、積分非直線性誤差、微分非直線性誤差
を正確に、精度良く測定することができる。
【００５３】また、本発明のＤ／Ａコンバーターの特性
の測定ユニットによれば、その価格を抑えることがで
き、しかも、積分非直線性誤差、微分非直線性誤差を正
確に、精度良く測定することができる。
の測定ユニットによれば、その価格を抑えることがで
き、しかも、積分非直線性誤差、微分非直線性誤差を正
確に、精度良く測定することができる。
【図１】 本発明の一実施形態であるＤ／Ａコンバータ
ーの特性の測定ユニット２０にテストシステム１とＤＵ
Ｔ２を接続した状態のブロック図。
ーの特性の測定ユニット２０にテストシステム１とＤＵ
Ｔ２を接続した状態のブロック図。
【図２】 本発明の測定ユニットにオシロスコープを接
続することにより得られる積分非直線性誤差のデータの
一例を示す図。
続することにより得られる積分非直線性誤差のデータの
一例を示す図。
【図３】 本発明の測定ユニットにオシロスコープを接
続することにより得られる微分非直線性誤差のデータの
一例を示す図。
続することにより得られる微分非直線性誤差のデータの
一例を示す図。
【図４】 本発明の一実施形態であるＤ／Ａコンバータ
ーの特性の測定ユニットのブロック図。
ーの特性の測定ユニットのブロック図。
【図５】 デジタルデータ表示装置１４の一構成例を示
す図。
す図。
【図６】 積分非直線性誤差を測定する場合にＣＰＵ８
が行う演算の流れを示すフローチャート。
が行う演算の流れを示すフローチャート。
【図７】 微分非直線性誤差を測定する場合にＣＰＵ８
が行う演算の流れを示すフローチャート。
が行う演算の流れを示すフローチャート。
【図８】 フルスケール電圧幅と１ＬＳＢ値ＶLSBとの
ビット数の関係を示す図。
ビット数の関係を示す図。
【図９】 積分非直線性誤差を説明するための図。
【図１０】 微分非直線性誤差を説明するための図。
【図１１】 従来のＤ／Ａコンバーターの特性の測定方
法を説明する図。
法を説明する図。
１ テストシステム ２ ＤＵＴ ３ 差動アンプ ４ 入力レンジ切り替えアンプ ５ ローパスフィルター ６ Ａ／Ｄコンバーター ７ データラッチ回路 ８ ＣＰＵ ９ ＲＡＭ １０ データラッチ回路 １１ Ｄ／Ａコンバーター １２ ローパスフィルター １３ アンプ １４ デジタルデータ表示装置 ２０ Ｄ／Ａコンバーターの特性の測定ユニット ５１ ドライバーＩＣ ５２ ＬＥＤ １１１ 基準Ｄ／Ａコンバーター １１２ 差動アンプ
Claims (6)
- 【請求項１】 被測定物であるＤ／Ａコンバーターが出
力するアナログ電圧をデジタルコードに変換し、そのデ
ジタルコードに基づいて演算を行って積分非直線性誤差
あるいは微分非直線性誤差を算出することを特徴とする
Ｄ／Ａコンバーターの特性の測定方法。 - 【請求項２】 前記演算が、第１演算として、ゼロスケ
ール値、フルスケール値、及び、被測定物であるＤ／Ａ
コンバーターのビット数から１ＬＳＢ値を算出し、第２
演算として、前記ゼロスケール値及び１ＬＳＢ値から被
測定物であるＤ／Ａコンバーターの理想出力値を算出
し、第３演算として、被測定物であるＤ／Ａコンバータ
ーの実出力値と前記理想出力値との差をＬＳＢ値に換算
し、積分非直線性誤差を算出することを特徴とする請求
項１に記載のＤ／Ａコンバーターの特性の測定方法。 - 【請求項３】 前記演算が、第１演算として、ゼロスケ
ール値、フルスケール値、及び、被測定物であるＤ／Ａ
コンバーターのビット数から１ＬＳＢ値を算出し、第２
演算として、被測定物であるＤ／Ａコンバーターの隣り
合う２つのデジタル入力コードに対する実出力値の差か
ら前記１ＬＳＢ値を減じたものをＬＳＢ値に換算し、微
分非直線性誤差を算出することを特徴とする請求項１に
記載のＤ／Ａコンバーターの特性の測定方法。 - 【請求項４】 少なくとも被測定物であるＤ／Ａコンバ
ーターが出力するアナログ電圧をデジタルコードに変換
するＡ／Ｄ変換手段、及び、そのＡ／Ｄ変換手段を経た
デジタルコードに基づいて演算を行う演算処理手段を有
し、Ｄ／Ａコンバーターの特性の測定のみを行うことを
特徴とするＤ／Ａコンバーターの特性の測定ユニット。 - 【請求項５】 前記演算処理手段が、第１演算として、
ゼロスケール値、フルスケール値、及び、被測定物であ
るＤ／Ａコンバーターのビット数から１ＬＳＢ値を算出
し、第２演算として、前記ゼロスケール値及び１ＬＳＢ
値から被測定物であるＤ／Ａコンバーターの理想出力値
を算出し、第３演算として、被測定物であるＤ／Ａコン
バーターの実出力値と前記理想出力値との差をＬＳＢ値
に換算し、積分非直線性誤差を算出することを特徴とす
る請求項４に記載のＤ／Ａコンバーターの特性の測定ユ
ニット。 - 【請求項６】 前記演算処理手段が、第１演算として、
ゼロスケール値、フルスケール値、及び、被測定物であ
るＤ／Ａコンバーターのビット数から１ＬＳＢ値を算出
し、第２演算として、被測定物であるＤ／Ａコンバータ
ーの隣り合う２つのデジタル入力コードに対する実出力
値の差から前記１ＬＳＢ値を減じたものをＬＳＢ値に換
算し、微分非直線性誤差を算出することを特徴とする請
求項４に記載のＤ／Ａコンバーターの特性の測定ユニッ
ト。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04876796A JP3495179B2 (ja) | 1996-03-06 | 1996-03-06 | Ｄ／ａコンバーターの特性の測定方法及びｄ／ａコンバーターの特性の測定ユニット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04876796A JP3495179B2 (ja) | 1996-03-06 | 1996-03-06 | Ｄ／ａコンバーターの特性の測定方法及びｄ／ａコンバーターの特性の測定ユニット |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09246968A true JPH09246968A (ja) | 1997-09-19 |
| JP3495179B2 JP3495179B2 (ja) | 2004-02-09 |
Family
ID=12812439
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04876796A Expired - Fee Related JP3495179B2 (ja) | 1996-03-06 | 1996-03-06 | Ｄ／ａコンバーターの特性の測定方法及びｄ／ａコンバーターの特性の測定ユニット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3495179B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2020250309A1 (ja) * | 2019-06-11 | 2020-12-17 | 三菱電機株式会社 | 誤差検出回路 |
| CN115882858A (zh) * | 2023-03-03 | 2023-03-31 | 南京派格测控科技有限公司 | 模数转换芯片微分非线性的测量方法、装置、电子设备 |
-
1996
- 1996-03-06 JP JP04876796A patent/JP3495179B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2020250309A1 (ja) * | 2019-06-11 | 2020-12-17 | 三菱電機株式会社 | 誤差検出回路 |
| JPWO2020250309A1 (ja) * | 2019-06-11 | 2021-11-25 | 三菱電機株式会社 | 誤差検出回路 |
| CN115882858A (zh) * | 2023-03-03 | 2023-03-31 | 南京派格测控科技有限公司 | 模数转换芯片微分非线性的测量方法、装置、电子设备 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3495179B2 (ja) | 2004-02-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4222107A (en) | Method and apparatus for automatically calibrating a digital to analog converter | |
| JP2001527648A (ja) | 温度変化によるセンサの非線形オフセットおよび感度変化の精度補償のためのシステムおよび方法 | |
| IE46337B1 (en) | Error correction in electrical meters | |
| US6048094A (en) | Method for measuring temperature using a negative temperature coefficient sensor, and corresponding device | |
| EP0744837B1 (en) | Analog signal input circuitry with an analog-to-digital converter in a semiconductor device | |
| JP3244212B2 (ja) | ディジタル測定器 | |
| JP3495179B2 (ja) | Ｄ／ａコンバーターの特性の測定方法及びｄ／ａコンバーターの特性の測定ユニット | |
| JP3499674B2 (ja) | Ｄ／ａコンバーターの特性の測定方法及びｄ／ａコンバーターの特性の測定ユニット | |
| JPH0522182B2 (ja) | ||
| JPH0240567A (ja) | 自動校正機能付電流測定装置 | |
| JPS61137429A (ja) | Ａｄ変換器試験回路 | |
| JPS6327126A (ja) | Ａ／ｄ変換器試験装置 | |
| JP3351167B2 (ja) | バッテリ電圧測定装置 | |
| JPH1174789A (ja) | Ａ／ｄコンバータ測定装置 | |
| JPH04370769A (ja) | Ａ／ｄ変換器を用いた電圧・電流信号の補正方法 | |
| JP3049852B2 (ja) | 逐次変換型ａｄ変換器 | |
| RU2124737C1 (ru) | Устройство для измерения магнитных полей | |
| JPS60185429A (ja) | Ｄａ変換器における直線性誤差補正回路 | |
| SU1747871A1 (ru) | Устройство дл измерени сигналов тензомоста | |
| JPH063402A (ja) | 故障点標定装置 | |
| RU2074416C1 (ru) | Устройство для линеаризации характеристик измерительных преобразователей | |
| CA1218871A (en) | Measuring device | |
| SU783987A1 (ru) | Прецизионный преобразователь напр жени в код | |
| JP2985618B2 (ja) | 指示計器 | |
| JPH0346822A (ja) | アナログ・デジタル信号変換器の測定装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |