JPH0366048A - 光磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
光磁気記録媒体の製造方法Info
- Publication number
- JPH0366048A JPH0366048A JP20267689A JP20267689A JPH0366048A JP H0366048 A JPH0366048 A JP H0366048A JP 20267689 A JP20267689 A JP 20267689A JP 20267689 A JP20267689 A JP 20267689A JP H0366048 A JPH0366048 A JP H0366048A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magneto
- layer
- optical recording
- recording
- recording layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 27
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 23
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims abstract description 20
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims abstract description 5
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 20
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 13
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 9
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 6
- 239000000203 mixture Substances 0.000 abstract description 20
- 229910004205 SiNX Inorganic materials 0.000 abstract description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 6
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 abstract description 5
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 abstract description 5
- 238000000151 deposition Methods 0.000 abstract description 2
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 description 25
- 239000010408 film Substances 0.000 description 17
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 16
- 239000000463 material Substances 0.000 description 12
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 8
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 8
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 4
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 description 4
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 4
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000005121 nitriding Methods 0.000 description 3
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910005091 Si3N Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 230000005293 ferrimagnetic effect Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- -1 or the like Substances 0.000 description 2
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 229910052692 Dysprosium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002546 FeCo Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N Vinyl acetate Chemical compound CC(=O)OC=C XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N Vinyl chloride Chemical compound ClC=C BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 229910052752 metalloid Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002738 metalloids Chemical class 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 229920005668 polycarbonate resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004431 polycarbonate resin Substances 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920005672 polyolefin resin Polymers 0.000 description 1
- 229910001404 rare earth metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002910 rare earth metals Chemical group 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005477 sputtering target Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、基板上に誘電体層、光磁気記録層及び誘電体
層を順次設けた光磁気記録媒体の新規な製造方法に関す
るものである。さらに詳しくいえば、本発明は、該光磁
気記録層の保磁力を所定の範囲の値に制御して、所望の
記録再生特性を有する、光ビームにより情報の記録、再
生及び消去が可能な光磁気記録媒体を効率よく製造する
方法に関するものである。
層を順次設けた光磁気記録媒体の新規な製造方法に関す
るものである。さらに詳しくいえば、本発明は、該光磁
気記録層の保磁力を所定の範囲の値に制御して、所望の
記録再生特性を有する、光ビームにより情報の記録、再
生及び消去が可能な光磁気記録媒体を効率よく製造する
方法に関するものである。
従来の技術
近午、光ビームにより情報の記録、再生及び消去が可能
な光記録媒体として、光磁気ディスクなどの光磁気記録
媒体が開発されている。この光磁気記録媒体における情
報を記録するための光磁気記録層には、記録材料として
、従来Mn−B1などの合金が用いられていたが、今日
ではFeやGoなどの遷移金属とNd、 Dy、 Gd
、 Tbなとの希土類との合金が一般的に用いられてい
る。
な光記録媒体として、光磁気ディスクなどの光磁気記録
媒体が開発されている。この光磁気記録媒体における情
報を記録するための光磁気記録層には、記録材料として
、従来Mn−B1などの合金が用いられていたが、今日
ではFeやGoなどの遷移金属とNd、 Dy、 Gd
、 Tbなとの希土類との合金が一般的に用いられてい
る。
ところで、情報の記録及び消去が可能な光記録媒体とし
ては、他に可逆的な相変化を利用したものが知られてい
るが、磁気光学効果を利用した光記録媒体は、相変化を
利用したものと異なり、記録及び消去を磁化の向きの反
転のみで行なうことを特徴としている。すなわち、磁気
光学効果を利用した光記録媒体においては、記録する場
合、まず記録層として用いる磁性体に初期化プロセスと
してレーザーなどの光ビームを照射しながら外部磁場を
連続的に印加して磁化の向きを揃えたのち、これとは逆
向きの外部磁場を印加しながら光パルスを照射してビッ
トを形成し、一方消去する場合には前記初期化プロセス
と同じ操作が行なわれる。
ては、他に可逆的な相変化を利用したものが知られてい
るが、磁気光学効果を利用した光記録媒体は、相変化を
利用したものと異なり、記録及び消去を磁化の向きの反
転のみで行なうことを特徴としている。すなわち、磁気
光学効果を利用した光記録媒体においては、記録する場
合、まず記録層として用いる磁性体に初期化プロセスと
してレーザーなどの光ビームを照射しながら外部磁場を
連続的に印加して磁化の向きを揃えたのち、これとは逆
向きの外部磁場を印加しながら光パルスを照射してビッ
トを形成し、一方消去する場合には前記初期化プロセス
と同じ操作が行なわれる。
このような過程は原子の移動を伴わないので記録層が変
形したり、記録状態や消去状態が変化したりするおそれ
が少ないという利点を有している。
形したり、記録状態や消去状態が変化したりするおそれ
が少ないという利点を有している。
また、この種の薄膜を形成する方法も種々検討されてい
るが、前記の光磁気記録媒体の記録層においては、構成
元素の蒸気圧や生産性などの点から、一般にスパッタ法
が用いられている。
るが、前記の光磁気記録媒体の記録層においては、構成
元素の蒸気圧や生産性などの点から、一般にスパッタ法
が用いられている。
このスパッタ法の中でも、光磁気記録層としてTbFe
CoやNdDyFeCoなどの合金をスパッタ法で形成
する場合、Tb1NdDyなどの希土類とFeCoの遷
移金属とを別々のターゲットから共にスパッタする場合
と、TbFeCo、Nd[)yFeCoの複合合金ター
ゲットからスパッタする場合があるが、簡便性の点から
後者の方が有利である。
CoやNdDyFeCoなどの合金をスパッタ法で形成
する場合、Tb1NdDyなどの希土類とFeCoの遷
移金属とを別々のターゲットから共にスパッタする場合
と、TbFeCo、Nd[)yFeCoの複合合金ター
ゲットからスパッタする場合があるが、簡便性の点から
後者の方が有利である。
しかしながら、このような複合合金ターゲットからスパ
ッタ法により製造された光記録媒体においては、光磁気
記録膜の保磁力やカー回転角などの磁性特性はフェリ磁
性であるために希土類−遷移金属比に大きく依存し、例
えばTbFeCoの場合、膜組成中のTbの原子比が1
原子%変動するだけで、保磁力が大きく変化し、カー回
転角も変動する結果、記録時の磁場感度及び再生信号振
幅などに大きく影響を与えるt;め、膜の組成変動を0
.5層子%以下に抑制する必要がある。しかしながら、
この膜の組成はターゲットのIl戊によりほぼ決まるが
、ターゲットを希土類組Jgli子%以下の再現性で作
製することはかなり困難である。したがって、ターゲッ
トの組成がl〜2原子%程度変動しても、光磁気記録層
の磁性特性を所望の範囲におさめることが必要である。
ッタ法により製造された光記録媒体においては、光磁気
記録膜の保磁力やカー回転角などの磁性特性はフェリ磁
性であるために希土類−遷移金属比に大きく依存し、例
えばTbFeCoの場合、膜組成中のTbの原子比が1
原子%変動するだけで、保磁力が大きく変化し、カー回
転角も変動する結果、記録時の磁場感度及び再生信号振
幅などに大きく影響を与えるt;め、膜の組成変動を0
.5層子%以下に抑制する必要がある。しかしながら、
この膜の組成はターゲットのIl戊によりほぼ決まるが
、ターゲットを希土類組Jgli子%以下の再現性で作
製することはかなり困難である。したがって、ターゲッ
トの組成がl〜2原子%程度変動しても、光磁気記録層
の磁性特性を所望の範囲におさめることが必要である。
該磁気記録層の組成は、同一ターゲットを用いた場合で
も、ガス圧、スパッタ印加電力によっても変わるが、そ
の範囲は0.5%程度である。したがって、他の方法で
光磁気記録層の組成を調製することが必要である。
も、ガス圧、スパッタ印加電力によっても変わるが、そ
の範囲は0.5%程度である。したがって、他の方法で
光磁気記録層の組成を調製することが必要である。
発明が解決しようとする課題
本発明は、このような事情のもとで、光磁気記録媒体に
おける光磁気記録層の希土類−遷移金属比を見掛は上W
4!Inシて、磁性特性を最適化し、所望の記録再生特
性を有する光磁気記録媒体を容易に製造するための方法
を提供することを目的としてなされたものである。
おける光磁気記録層の希土類−遷移金属比を見掛は上W
4!Inシて、磁性特性を最適化し、所望の記録再生特
性を有する光磁気記録媒体を容易に製造するための方法
を提供することを目的としてなされたものである。
課題を解決するための手段
本発明者らはを前記目的を達成するために鋭意研究を重
ねた結果、光磁気記録層の上に誘電体層をスパッタ法に
より成膜する際に、その成膜前又は皮膜中に、酸素又は
窒素を導入して、該記録層成分中の希土類の一部を酸化
又は窒化することにより、希土類−遷移金属比を見掛は
上調節して、磁性特性を最適化することが可能であるこ
とを見い出し、この知見により本発明を完成するに至っ
た。
ねた結果、光磁気記録層の上に誘電体層をスパッタ法に
より成膜する際に、その成膜前又は皮膜中に、酸素又は
窒素を導入して、該記録層成分中の希土類の一部を酸化
又は窒化することにより、希土類−遷移金属比を見掛は
上調節して、磁性特性を最適化することが可能であるこ
とを見い出し、この知見により本発明を完成するに至っ
た。
すなわち、本発明は、基板上に誘電体層、光磁気記録層
及び誘電体層を順次スパッタ法により成膜して、少なく
とも3層から成る光磁気記録媒体を製造するに当り、光
磁気記録層の形成直後又は該光磁気記録層の上に設けら
れる誘電体層の形成時に酸素又は窒素を導入して、該光
磁気記録層の一部を酸化又は窒化させることを特徴とす
る光磁気記録媒体の製造方法を提供するものである。
及び誘電体層を順次スパッタ法により成膜して、少なく
とも3層から成る光磁気記録媒体を製造するに当り、光
磁気記録層の形成直後又は該光磁気記録層の上に設けら
れる誘電体層の形成時に酸素又は窒素を導入して、該光
磁気記録層の一部を酸化又は窒化させることを特徴とす
る光磁気記録媒体の製造方法を提供するものである。
以下、本発明の詳細な説明する。
本発明方法により得られる光磁気記録媒体は、基板上に
誘電体層、光磁気記録媒体及び誘電体層を順次積層した
少なくとも3層から成る構造を有しているが、所望に応
じ、カー回転角を高めるために、光磁気記録層の上に設
けられた誘電体層上に、さらにAu、Ni、 Cr、A
uなどの金属から成る反射層を設けてもよい。
誘電体層、光磁気記録媒体及び誘電体層を順次積層した
少なくとも3層から成る構造を有しているが、所望に応
じ、カー回転角を高めるために、光磁気記録層の上に設
けられた誘電体層上に、さらにAu、Ni、 Cr、A
uなどの金属から成る反射層を設けてもよい。
該光磁気記録媒体における基板としては、通常の光記録
材料の基板に慣用されている材料から成るもの、例えば
ガラス、ガラスやプラスチック上に紫外線などで硬化す
るポリマー層を設けたもの、アクリル樹脂、スチレン樹
脂、ポリカーボネート樹脂、酢酸ビニル樹脂、塩化ビニ
ル、ポリオレフィン樹脂などの透明基板、あるいはアル
ミニウムなどの不透明材料から成る基板が用いられる。
材料の基板に慣用されている材料から成るもの、例えば
ガラス、ガラスやプラスチック上に紫外線などで硬化す
るポリマー層を設けたもの、アクリル樹脂、スチレン樹
脂、ポリカーボネート樹脂、酢酸ビニル樹脂、塩化ビニ
ル、ポリオレフィン樹脂などの透明基板、あるいはアル
ミニウムなどの不透明材料から成る基板が用いられる。
これらの基板にはアドレス情報その他を含む凹凸が形成
されていてもよい。
されていてもよい。
前記基板上に設けられる光磁気記録層としては、保磁力
Hcが高く、磁化Msの小さな材料から成るアモルファ
スの垂直磁化膜が用いられる。このようなものとしては
、例えばTbFe、 GdTbFe、丁bFeco1N
dDyFeCo、 TbFeNiなどのフェリ磁性膜が
好ましく挙げられる。また、保磁力Heを調節するため
に、これらの材料を積層化して、交換結合膜としてもよ
い。これらの材料の中で特にTbFeCo、NdDyF
eC。
Hcが高く、磁化Msの小さな材料から成るアモルファ
スの垂直磁化膜が用いられる。このようなものとしては
、例えばTbFe、 GdTbFe、丁bFeco1N
dDyFeCo、 TbFeNiなどのフェリ磁性膜が
好ましく挙げられる。また、保磁力Heを調節するため
に、これらの材料を積層化して、交換結合膜としてもよ
い。これらの材料の中で特にTbFeCo、NdDyF
eC。
などが好ましく用いられる。
これらの材料は、補償点組成を中心に保磁力Haが急激
に低下するという特徴を有している。図面は、Tbx(
F13eoCO+。)+−におけるx(I[千%)と保
磁力Hcとの関係を示すグラフである。この図面から分
かるように、補償点近傍では、希土類元素の組成変化に
対して保磁力Hcが大きく変化する。例えばTbzt(
Fe*oCoto)tsからTb1o(FeueCot
o)toと変化することにより、保磁、力Hcは13K
ceから8Kaeへと大きく変化し、これに伴ない光磁
気記録媒体における記録に要する必要最低記録磁場(必
要最低記録磁場は、最適記録レーザーパワーで記録する
場合、最高C/Nが得られる最低磁場の大きさを意味す
る)は400cp(エルステッド)から2500へと大
きく変化する。
に低下するという特徴を有している。図面は、Tbx(
F13eoCO+。)+−におけるx(I[千%)と保
磁力Hcとの関係を示すグラフである。この図面から分
かるように、補償点近傍では、希土類元素の組成変化に
対して保磁力Hcが大きく変化する。例えばTbzt(
Fe*oCoto)tsからTb1o(FeueCot
o)toと変化することにより、保磁、力Hcは13K
ceから8Kaeへと大きく変化し、これに伴ない光磁
気記録媒体における記録に要する必要最低記録磁場(必
要最低記録磁場は、最適記録レーザーパワーで記録する
場合、最高C/Nが得られる最低磁場の大きさを意味す
る)は400cp(エルステッド)から2500へと大
きく変化する。
前記材料は、真空系内で酸化性又は窒化性雰囲気を作用
させると希土類元素が選択的に反応し、一部希土類の酸
化物や窒化物となり、見掛は上の希土類−遷移金属比が
変化する。すなわちTbzt(Fe*aCO+o)であ
ったとしても、Tbが一部酸化又は窒化することにより
見掛は上の組成がTb2゜〜+*(Fes。Co+。)
6゜〜、lのものと同等となる。これにより保磁力は、
13Kceから7〜8Kceと変化するとともに、必要
最低記録磁場も4000から300ce〜200ceへ
と低下させることが可能になる。
させると希土類元素が選択的に反応し、一部希土類の酸
化物や窒化物となり、見掛は上の希土類−遷移金属比が
変化する。すなわちTbzt(Fe*aCO+o)であ
ったとしても、Tbが一部酸化又は窒化することにより
見掛は上の組成がTb2゜〜+*(Fes。Co+。)
6゜〜、lのものと同等となる。これにより保磁力は、
13Kceから7〜8Kceと変化するとともに、必要
最低記録磁場も4000から300ce〜200ceへ
と低下させることが可能になる。
真空系内において、酸化性及び窒化性雰囲気を作用させ
る方法としては、2種の方法が用いられ、その1つとし
て光磁気記録層形成直後、系内に酸素又は窒素を導入し
、その分圧が好ましくは0.1〜l Q mTorr、
より好ましくは0.5〜l a+Torrの範囲にある
雰囲気に暴露させる方法がある。この分圧は所望の値に
適宜調節されるが、10mTorrを超えると光磁気記
録層が酸化又は窒化されすぎて、磁気特性が逆に悪化す
るおそれがあるし、Q 、 l mT。
る方法としては、2種の方法が用いられ、その1つとし
て光磁気記録層形成直後、系内に酸素又は窒素を導入し
、その分圧が好ましくは0.1〜l Q mTorr、
より好ましくは0.5〜l a+Torrの範囲にある
雰囲気に暴露させる方法がある。この分圧は所望の値に
適宜調節されるが、10mTorrを超えると光磁気記
録層が酸化又は窒化されすぎて、磁気特性が逆に悪化す
るおそれがあるし、Q 、 l mT。
rr未満では本発明の効果が十分に発揮されない。
酸化性又は窒化性τ囲気を作用させるもう1つの方法と
しては、光磁気記録層を成膜後、その上に誘電体層をス
パッタ法により形成する際に、酸素又は窒素を導入する
方法がある。この場合、酸素又は窒素の導入量は、その
分圧が、通常スパッタアルゴンガス圧の1/lO〜l/
3、好ましくは115〜l/4になるように選ばれる。
しては、光磁気記録層を成膜後、その上に誘電体層をス
パッタ法により形成する際に、酸素又は窒素を導入する
方法がある。この場合、酸素又は窒素の導入量は、その
分圧が、通常スパッタアルゴンガス圧の1/lO〜l/
3、好ましくは115〜l/4になるように選ばれる。
この導入量は所望の分圧になるように適宜選ばれるが、
その量が前記範囲よりも多いと光磁気記録層が酸化又は
窒化されすぎて磁気特性が低下するおそれがあるしし、
前記範囲より少ないと本発明の効果が十分に発揮されな
い。
その量が前記範囲よりも多いと光磁気記録層が酸化又は
窒化されすぎて磁気特性が低下するおそれがあるしし、
前記範囲より少ないと本発明の効果が十分に発揮されな
い。
該光磁気記録層の上下に設けられる誘電体層には、例え
ば、SiNx、 5iNxOy、 SiOx%5iAf
fNx。
ば、SiNx、 5iNxOy、 SiOx%5iAf
fNx。
5iAQoxNySIQNx、 AQOxNy%ZnS
などの材料が用いられる。この誘電体層は前記化合物を
ターゲットとしてスパッタリングして設けてもよいし、
5i1AQなとの金属や半金属をターゲットとし、反応
性スパッタ法により設けてもよい。この反応性スパッタ
法を用いる場合、酸素や窒素を導入して行うため、一部
本発明と同様な効果が期待されるが、不十分な場合には
、誘電体層形成前に前記方法により、所望の効果が得ら
れるように、酸素又は窒素を作用させるとよい。
などの材料が用いられる。この誘電体層は前記化合物を
ターゲットとしてスパッタリングして設けてもよいし、
5i1AQなとの金属や半金属をターゲットとし、反応
性スパッタ法により設けてもよい。この反応性スパッタ
法を用いる場合、酸素や窒素を導入して行うため、一部
本発明と同様な効果が期待されるが、不十分な場合には
、誘電体層形成前に前記方法により、所望の効果が得ら
れるように、酸素又は窒素を作用させるとよい。
これらの方法は、すべてスパッタtcIIII!時に行
なうが、スパッタ装置としては、例えば基板通過型皮膜
方式のものや基板自公転型の成膜方式のものが用いられ
るが、これらの中で、量産性の点から基板通過型成膜方
式のものが好ましい。
なうが、スパッタ装置としては、例えば基板通過型皮膜
方式のものや基板自公転型の成膜方式のものが用いられ
るが、これらの中で、量産性の点から基板通過型成膜方
式のものが好ましい。
発明の効果
本発明方法によると、光磁気記録層を形成するためのス
パッタターゲットの組成が所望の磁気特性が得られる組
成と異なっていても成膜時に見掛は上の組成を調節する
ことが可能で、保磁力を所定の値に制御することができ
、所望の記録再生特性を有する光磁気記録媒体を容易に
製造することができる。
パッタターゲットの組成が所望の磁気特性が得られる組
成と異なっていても成膜時に見掛は上の組成を調節する
ことが可能で、保磁力を所定の値に制御することができ
、所望の記録再生特性を有する光磁気記録媒体を容易に
製造することができる。
実施例
次に、実施例により本発明をさらに詳細に説明するが、
本発明はこれらの例によってなんら限定されるものでは
ない。
本発明はこれらの例によってなんら限定されるものでは
ない。
比較例1
射出成形により成形した1 30mm径、厚さ1.2m
mのポリカーボネート基板を用い、通過型スパッタ法に
より以下の手順で光磁気記録媒体を作製した。
mのポリカーボネート基板を用い、通過型スパッタ法に
より以下の手順で光磁気記録媒体を作製した。
まずSi、N、をターゲットとして、ガス圧5 mTo
rrでSiNx層をtooo人厚に設層したのち、この
上にTbFeCoの複合合金ターゲットAを用いてガス
圧3mTorrでTbFeCo光磁気記録層を250
Aの厚さに形成した。この記録層の組成はTb、□(F
e、。Co、。)ア、であった。次に、Si3N4をタ
ーゲットとして、ガス圧5mTorrでSiNx層を3
0OAの厚さに成膜し、次いでこの上に、反射層として
kQ層を400人の厚さに成膜した。
rrでSiNx層をtooo人厚に設層したのち、この
上にTbFeCoの複合合金ターゲットAを用いてガス
圧3mTorrでTbFeCo光磁気記録層を250
Aの厚さに形成した。この記録層の組成はTb、□(F
e、。Co、。)ア、であった。次に、Si3N4をタ
ーゲットとして、ガス圧5mTorrでSiNx層を3
0OAの厚さに成膜し、次いでこの上に、反射層として
kQ層を400人の厚さに成膜した。
このように作製した光磁気記録媒体の記録再生特性を評
価したところ、保磁力Hcは15Kceより大きく、基
板回転数1800rpm、記録周波数I MHg。
価したところ、保磁力Hcは15Kceより大きく、基
板回転数1800rpm、記録周波数I MHg。
記録半径30旧の位置でのC/N比は56dBであっt
;。また最適記録パワーでC/N比が飽和する最低記録
磁場は400ceが必要であった。
;。また最適記録パワーでC/N比が飽和する最低記録
磁場は400ceが必要であった。
実施例1
比較例1と同様に、射出成形により成形した130++
+m径、厚さ1 、2mmのポリカーボネート基板を用
い、通過型スパッタ法により以下の手順で光磁気記録膜
媒体を作製した。
+m径、厚さ1 、2mmのポリカーボネート基板を用
い、通過型スパッタ法により以下の手順で光磁気記録膜
媒体を作製した。
まずガス圧5 mTorrでSiNx層を4000人の
厚さに成膜したのち、この上に、TbFeCoのターゲ
ットAを用いて、ガス圧3 mTorrでTbFeCo
光磁気記録層を250人の厚さに形成した。この記録層
の組成は比較例と同様にTb、□(Fe、。Goto)
yaであった。次に真空槽内に02を5 mTorrま
で導入し、20秒間処理をした後、Si3N4をターゲ
ットとして、ガス圧5 m7orrでSiNx層を30
0人の厚さに成膜し、次いでこの上に、反射層としてA
12層を400人の厚さに成膜した。
厚さに成膜したのち、この上に、TbFeCoのターゲ
ットAを用いて、ガス圧3 mTorrでTbFeCo
光磁気記録層を250人の厚さに形成した。この記録層
の組成は比較例と同様にTb、□(Fe、。Goto)
yaであった。次に真空槽内に02を5 mTorrま
で導入し、20秒間処理をした後、Si3N4をターゲ
ットとして、ガス圧5 m7orrでSiNx層を30
0人の厚さに成膜し、次いでこの上に、反射層としてA
12層を400人の厚さに成膜した。
このように作製した光磁気記録媒体の記録再生特性を評
価したところ、保磁力Hcは8Kceであり、基板回転
数1800rpm1記録周波数IMHg、記録半径30
mmの位置でのC/N比は58dBであった。また最適
記録パワーでC/N比が飽和する最低記録磁場は250
ceとC/N比の改善と磁場感度の改善が認められた。
価したところ、保磁力Hcは8Kceであり、基板回転
数1800rpm1記録周波数IMHg、記録半径30
mmの位置でのC/N比は58dBであった。また最適
記録パワーでC/N比が飽和する最低記録磁場は250
ceとC/N比の改善と磁場感度の改善が認められた。
また、本実施例のTbFeCoの記録層形成後、真空槽
内に01の代りに、N2を5n+Torrまで導入し、
20秒間処理をしたのち、全く同様な構成の光磁気記録
媒体を作製した。
内に01の代りに、N2を5n+Torrまで導入し、
20秒間処理をしたのち、全く同様な構成の光磁気記録
媒体を作製した。
この光磁気記録媒体の記録再生特性を評価したところ、
保磁力Hcは9Koeであり、前記と同様な条件でのC
/Nは57DB、最低記録磁場は300■であった。C
/Nの改善と磁場感度の向上が認められた。
保磁力Hcは9Koeであり、前記と同様な条件でのC
/Nは57DB、最低記録磁場は300■であった。C
/Nの改善と磁場感度の向上が認められた。
以上の結果、TbFeCo記録層形戊後、酸形成は窒素
処理を行なうことにより、見掛は上の組成としてTb、
。(Fe、。Co、。)no程度のものが得られ、記録
再生特性を改善しうろことが確認された。
処理を行なうことにより、見掛は上の組成としてTb、
。(Fe、。Co、。)no程度のものが得られ、記録
再生特性を改善しうろことが確認された。
比較例2
射出成形により成形した130mm径、厚さL−2mr
nのポリカーボネート基板を用い、通過型スパッタ法に
より、比較例1と同様な手順で光磁気記録媒体を作製し
た。
nのポリカーボネート基板を用い、通過型スパッタ法に
より、比較例1と同様な手順で光磁気記録媒体を作製し
た。
まずSi3N、をターゲットとして、ガス圧5mTor
rでスパッタを行い、5iNi層を1000人の厚さに
成膜したのち、TbFeCoの複合合金をターゲットB
を用いてガス圧3 +mTorrでTbFeCo光磁気
記録層を250人の厚さに形成した。この記録層の組成
はTb、。
rでスパッタを行い、5iNi層を1000人の厚さに
成膜したのち、TbFeCoの複合合金をターゲットB
を用いてガス圧3 +mTorrでTbFeCo光磁気
記録層を250人の厚さに形成した。この記録層の組成
はTb、。
(Fe、。Co、。)7.であった。
次に、該記録の上に、Si3N、をターゲットとして、
ガス圧5 +aTorrで、SiNx層を30OAの厚
さに成膜し、次いでこの上に、AQ層を400人の厚さ
に成膜した。
ガス圧5 +aTorrで、SiNx層を30OAの厚
さに成膜し、次いでこの上に、AQ層を400人の厚さ
に成膜した。
このように成膜した光磁気記録媒体の記録再生特性を評
価したところ、保磁力Heは13Kceであり、基板回
転数180Orpm、記録周波数I MHg、記録半径
30IIIIlの位置でのC/N比は56dBであった
。また最低記録磁場は400ceが必要であった。
価したところ、保磁力Heは13Kceであり、基板回
転数180Orpm、記録周波数I MHg、記録半径
30IIIIlの位置でのC/N比は56dBであった
。また最低記録磁場は400ceが必要であった。
実施例2
比較例2と同様に、射出成形により成形した1 30+
*m径、厚さ1.2++v+のポリカーボネート基板を
用い、通過型スパッタ法により以下の手順で光磁気記録
媒体を作製した。
*m径、厚さ1.2++v+のポリカーボネート基板を
用い、通過型スパッタ法により以下の手順で光磁気記録
媒体を作製した。
まずSt、N、をターゲットとして、ガス圧5 mTo
rrでスパッタを行い、SiNx層を100OAの厚さ
に成膜したのち、この上にTbFeCoの複合合金ター
ゲットBを用いてガス圧3 mTorrでTbFeCo
光磁気記録層を250人の厚さに形成した。この記録層
の組成はTb!+(FesoCO+a)y*であった。
rrでスパッタを行い、SiNx層を100OAの厚さ
に成膜したのち、この上にTbFeCoの複合合金ター
ゲットBを用いてガス圧3 mTorrでTbFeCo
光磁気記録層を250人の厚さに形成した。この記録層
の組成はTb!+(FesoCO+a)y*であった。
次に、この記録層の上に、Si、N、をターゲットとし
て、ガス圧5mTorrで、O,ガスを分圧としてln
+Torrまだ導入して300人の厚さに成膜を行なっ
た。
て、ガス圧5mTorrで、O,ガスを分圧としてln
+Torrまだ導入して300人の厚さに成膜を行なっ
た。
このようにして成膜した膜はS i Nx0yの化合物
となった。最後にAf1層を40OAの厚さに成膜した
。
となった。最後にAf1層を40OAの厚さに成膜した
。
作製した光磁気記録媒体の記録再生特性を評価したとこ
ろ、保磁力Hcは7Iceであり、基板回転数1800
rpm+、記録周波数I Mug、記録半径30mmの
位置でのC/N比は59dBであった。またC/N比が
飽和する最低記録磁場は200ceであり、C/N比の
改善と、磁場感度の改善が認められた。
ろ、保磁力Hcは7Iceであり、基板回転数1800
rpm+、記録周波数I Mug、記録半径30mmの
位置でのC/N比は59dBであった。またC/N比が
飽和する最低記録磁場は200ceであり、C/N比の
改善と、磁場感度の改善が認められた。
本実施例のTbFeCoの記録層形成後、Si、N、層
をスパッタ皮膜する際に、ガス圧5 mTorrで、J
ガスを分圧としてl mTorrまで導入してSiNx
層を300人の厚さに成膜を行なった。次にこの上に、
反射層としてA12層を400人の厚さに成膜した。
をスパッタ皮膜する際に、ガス圧5 mTorrで、J
ガスを分圧としてl mTorrまで導入してSiNx
層を300人の厚さに成膜を行なった。次にこの上に、
反射層としてA12層を400人の厚さに成膜した。
作製した光磁気記録媒体の記録再生特性を評価したとこ
ろ、保磁力は8Kceであり、基板回転数180Orp
m、記録周波数I MHgs記録半径30m111の位
置でのC/N比は58dBであった。
ろ、保磁力は8Kceであり、基板回転数180Orp
m、記録周波数I MHgs記録半径30m111の位
置でのC/N比は58dBであった。
比較例2と比較し、C/N比の改善と磁場感度の改善が
認められた。
認められた。
以上の結果、光磁気記録層の上に、誘電体層を形成する
際に、酸素又は窒素を導入することにより、見掛は上の
組成としてTb、。(Fe、。Goto)s。と同程度
のものが得られ、記録再生特性が改善されることが確認
された。
際に、酸素又は窒素を導入することにより、見掛は上の
組成としてTb、。(Fe、。Goto)s。と同程度
のものが得られ、記録再生特性が改善されることが確認
された。
図は光磁気記録層におけるTbx(Fe、。Go、・)
1−1の補償組成近傍の保磁力Hcを示すグラフである
。
1−1の補償組成近傍の保磁力Hcを示すグラフである
。
Claims (1)
- 1 基板上に誘電体層、光磁気記録層及び誘電体層を順
次スパッタ法により成膜して、少なくとも3層から成る
光磁気記録媒体を製造するに当り、光磁気記録層の形成
直後又は該光磁気記録層の上に設けられる誘電体層の形
成時に酸素又は窒素を導入して、該光磁気記録層の一部
を酸化又は窒化させることを特徴とする光磁気記録媒体
の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1202676A JP2766520B2 (ja) | 1989-08-04 | 1989-08-04 | 光磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1202676A JP2766520B2 (ja) | 1989-08-04 | 1989-08-04 | 光磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0366048A true JPH0366048A (ja) | 1991-03-20 |
JP2766520B2 JP2766520B2 (ja) | 1998-06-18 |
Family
ID=16461309
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1202676A Expired - Lifetime JP2766520B2 (ja) | 1989-08-04 | 1989-08-04 | 光磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2766520B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07287881A (ja) * | 1994-04-20 | 1995-10-31 | Nec Corp | 光磁気記録媒体及びその製造方法 |
EP1030299A2 (en) * | 1999-02-09 | 2000-08-23 | Sony Corporation | Magneto-optical recording medium |
WO2004090883A1 (ja) * | 2003-04-01 | 2004-10-21 | Fujitsu Limited | 光磁気記録媒体 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6460836A (en) * | 1987-09-01 | 1989-03-07 | Hitachi Ltd | Magneto-optical recording medium and production thereof |
JPH01119939A (ja) * | 1987-11-04 | 1989-05-12 | Hitachi Maxell Ltd | 光磁気記録媒体とその製造方法 |
-
1989
- 1989-08-04 JP JP1202676A patent/JP2766520B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6460836A (en) * | 1987-09-01 | 1989-03-07 | Hitachi Ltd | Magneto-optical recording medium and production thereof |
JPH01119939A (ja) * | 1987-11-04 | 1989-05-12 | Hitachi Maxell Ltd | 光磁気記録媒体とその製造方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07287881A (ja) * | 1994-04-20 | 1995-10-31 | Nec Corp | 光磁気記録媒体及びその製造方法 |
EP1030299A2 (en) * | 1999-02-09 | 2000-08-23 | Sony Corporation | Magneto-optical recording medium |
EP1030299A3 (en) * | 1999-02-09 | 2000-11-15 | Sony Corporation | Magneto-optical recording medium |
WO2004090883A1 (ja) * | 2003-04-01 | 2004-10-21 | Fujitsu Limited | 光磁気記録媒体 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2766520B2 (ja) | 1998-06-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4995024A (en) | Magneto-optical recording element | |
JP2561130B2 (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JP2766520B2 (ja) | 光磁気記録媒体の製造方法 | |
US5710746A (en) | Magneto-optical recording medium and reading method with magnetic layers of different coercivity | |
JP2929745B2 (ja) | 光磁気記録媒体の製造方法 | |
JP2943607B2 (ja) | 光磁気記録媒体の製造方法 | |
JP2830385B2 (ja) | 光磁気記録媒体の製造方法 | |
JPS62121943A (ja) | 光学的記録媒体 | |
JP2616120B2 (ja) | 光磁気記録媒体及びその製造方法 | |
JP2900957B2 (ja) | 光磁気記録媒体の製造方法 | |
JP2655587B2 (ja) | 光磁気記録媒体及びその製造方法 | |
JPH04313835A (ja) | 光磁気記録媒体の製造方法 | |
JPS62232734A (ja) | 光磁気記録媒体の製造方法 | |
JPH0464940A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPH0644624A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPH03216832A (ja) | 光磁気記録媒体並びにその製造方法 | |
JPS62298044A (ja) | 光磁気デイスク | |
JPH06180880A (ja) | 飽和磁気モーメントの補正方法及び光磁気記録膜の 製造方法 | |
JPH0395741A (ja) | 光磁気記録媒体及びその製造方法 | |
JPH0536135A (ja) | 光磁気記録媒体の製造方法 | |
JPH0991785A (ja) | 光磁気記録媒体およびその製造方法 | |
JPS63155446A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPS62117157A (ja) | 光学的記録媒体 | |
JPH05258366A (ja) | 光磁気記録媒体の製造方法 | |
JPS615460A (ja) | GeNで保護された光熱磁気記録媒体 |