JPH0363825B2 - - Google Patents
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- JPH0363825B2 JPH0363825B2 JP60074283A JP7428385A JPH0363825B2 JP H0363825 B2 JPH0363825 B2 JP H0363825B2 JP 60074283 A JP60074283 A JP 60074283A JP 7428385 A JP7428385 A JP 7428385A JP H0363825 B2 JPH0363825 B2 JP H0363825B2
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- cooling
- semiconductor
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 33
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 25
- 238000009835 boiling Methods 0.000 claims description 16
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 claims description 15
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- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- AJDIZQLSFPQPEY-UHFFFAOYSA-N 1,1,2-Trichlorotrifluoroethane Chemical compound FC(F)(Cl)C(F)(Cl)Cl AJDIZQLSFPQPEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/42—Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations selected or arranged to facilitate heating or cooling
- H01L23/427—Cooling by change of state, e.g. use of heat pipes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
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- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
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- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は半導体素子の沸騰冷却装置の改良に関
し、特に、冷却効率の向上に係るものである。
し、特に、冷却効率の向上に係るものである。
半導体素子の沸騰冷却技術は、特に、大容量の
半導体素子を必要とする鉄道車両のチヨツパ装置
やインバータ装置を中心として進歩している。
半導体素子を必要とする鉄道車両のチヨツパ装置
やインバータ装置を中心として進歩している。
その構造の例としては、例えば、特開昭55−
68662号公報に示されているように、半導体スタ
ツクとフロン113等の冷媒液を冷却容器に収容し、
この冷却容器の上方に、この冷却容器と連通する
凝縮器を設け、全体として外気と密封した密封容
器を構成する。
68662号公報に示されているように、半導体スタ
ツクとフロン113等の冷媒液を冷却容器に収容し、
この冷却容器の上方に、この冷却容器と連通する
凝縮器を設け、全体として外気と密封した密封容
器を構成する。
そして、半導体スタツクは、例えば、特開昭55
−41734号公報に開示されているように、半導体
素子を冷却片(放熱板)で挾み、更に、その外側
を配線用導体で挾んでいる。ここで、上記冷却片
は、冷媒液への熱放散特性を向上させるために、
表面を多孔質あるいは粗面構造とすることが知ら
れ、更に、上記冷却片と配線用導体間に間隙を作
るために複数のピンを介挿することが提案(上記
公報参照)されている。
−41734号公報に開示されているように、半導体
素子を冷却片(放熱板)で挾み、更に、その外側
を配線用導体で挾んでいる。ここで、上記冷却片
は、冷媒液への熱放散特性を向上させるために、
表面を多孔質あるいは粗面構造とすることが知ら
れ、更に、上記冷却片と配線用導体間に間隙を作
るために複数のピンを介挿することが提案(上記
公報参照)されている。
しかしながら、最近の半導体素子の大容量化並
びに高周波パルス幅制御化に伴う発熱量の増大に
対処するため、冷却効率の飛躍的向上が切望され
ている。
びに高周波パルス幅制御化に伴う発熱量の増大に
対処するため、冷却効率の飛躍的向上が切望され
ている。
本発明の目的は、冷却効率を向上した半導体素
子の沸騰冷却装置を提供することである。
子の沸騰冷却装置を提供することである。
本発明は、半導体素子と、この素子の発生熱を
冷媒液へ放散する冷却片と、この冷却片に接触す
る配線用導体とを備えるものにおいて、冷却片に
接する導体の接触面を断続接触面としたことを特
徴とする。
冷媒液へ放散する冷却片と、この冷却片に接触す
る配線用導体とを備えるものにおいて、冷却片に
接する導体の接触面を断続接触面としたことを特
徴とする。
本発明の望ましい一実施態様においては、上記
冷却片は、半導体素子と導体を結ぶ方向に貫通す
る直径0.2mm前後の細孔を有し、上記導体には、
冷却片との接触面寸法より長く、かつ2mm以上の
幅を有する縦長のスリツトを備える。
冷却片は、半導体素子と導体を結ぶ方向に貫通す
る直径0.2mm前後の細孔を有し、上記導体には、
冷却片との接触面寸法より長く、かつ2mm以上の
幅を有する縦長のスリツトを備える。
以下、本発明の実施例を図を参照して説明す
る。
る。
第1図において、冷却容器1には、半導体スタ
ツク2と冷媒液3とが収容され、その上方には、
この冷却容器1と連通する凝縮器4が設けられて
いる。凝縮器4は、ヘツダー41と42間を複数
の凝縮管43や44で連通しており、これらの凝
縮管43や44には、冷却フイン群45を備えて
いる。冷却容器1と凝縮器4を結ぶ連通管5は、
1ケ所のみであり、冷媒蒸気31,32および3
3の上昇部と、凝縮した冷媒液34,35および
36の戻り部とを兼ねている。
ツク2と冷媒液3とが収容され、その上方には、
この冷却容器1と連通する凝縮器4が設けられて
いる。凝縮器4は、ヘツダー41と42間を複数
の凝縮管43や44で連通しており、これらの凝
縮管43や44には、冷却フイン群45を備えて
いる。冷却容器1と凝縮器4を結ぶ連通管5は、
1ケ所のみであり、冷媒蒸気31,32および3
3の上昇部と、凝縮した冷媒液34,35および
36の戻り部とを兼ねている。
さて、半導体スタツク2は、半導体素子21や
22、冷却片(放熱板)23〜26および配線用
導体27〜29等を積層し、図示矢印の方向から
加圧するようにしてスタツク構造が構造されてい
る。
22、冷却片(放熱板)23〜26および配線用
導体27〜29等を積層し、図示矢印の方向から
加圧するようにしてスタツク構造が構造されてい
る。
第2図は、第1図の半導体スタツク2の部分拡
大図であり、第3図はその配線用導体28のみを
抜出して示す斜視図である。導体28は、冷却片
24および25と接触する面積Aより長い多数の
縦長のスリツト281を備えている。従つて、上
記面積A内のスリツト281群を除く面が、冷却
片24や25に接触する。従つて、導体28のス
リツト部281においては、冷却片24の表面と
冷媒液が接しており、この部分で冷媒の沸騰が可
能であり、沸騰により発生した蒸気は、スリツト
281に沿つて上昇し、凝縮器4へ熱伝達を行
う。このため、半導体素子21の発熱部211で
の発生熱は、矢印d1,d2を通る最短路で熱伝
達が行われ、冷却片24や25の熱抵抗を大幅に
低減することができる。
大図であり、第3図はその配線用導体28のみを
抜出して示す斜視図である。導体28は、冷却片
24および25と接触する面積Aより長い多数の
縦長のスリツト281を備えている。従つて、上
記面積A内のスリツト281群を除く面が、冷却
片24や25に接触する。従つて、導体28のス
リツト部281においては、冷却片24の表面と
冷媒液が接しており、この部分で冷媒の沸騰が可
能であり、沸騰により発生した蒸気は、スリツト
281に沿つて上昇し、凝縮器4へ熱伝達を行
う。このため、半導体素子21の発熱部211で
の発生熱は、矢印d1,d2を通る最短路で熱伝
達が行われ、冷却片24や25の熱抵抗を大幅に
低減することができる。
第2図においては、冷却片23,24および2
5の表面を、多孔質構造あるいは粗面23S,2
4Sおよび25Sとしたものとして図示したが、
この場合には、前記導体28のスリツト部281
に露出している冷却片表面をも、多孔質あるいは
粗面とすることが望ましい。
5の表面を、多孔質構造あるいは粗面23S,2
4Sおよび25Sとしたものとして図示したが、
この場合には、前記導体28のスリツト部281
に露出している冷却片表面をも、多孔質あるいは
粗面とすることが望ましい。
第4図には、冷却片23,24,25および2
6を構成するに好適な構造の斜視図を示す。すな
わち、冷却片24は、冷却片単位241,242
および243の積層体として構成され、各単位冷
却片には、両面に、互いに直角方向をなす多数の
溝V1,V2〜VnおよびH1,H2〜Hnが形成
されている。
6を構成するに好適な構造の斜視図を示す。すな
わち、冷却片24は、冷却片単位241,242
および243の積層体として構成され、各単位冷
却片には、両面に、互いに直角方向をなす多数の
溝V1,V2〜VnおよびH1,H2〜Hnが形成
されている。
これらの溝は、第5図に更に拡大して示すよう
に、溝の深さa1,a2は、残りの厚さb1,b
2より深い。従つて、垂直溝と水平溝の交点では
第4図に示す矢印B方向に貫通した細孔を有して
いる。
に、溝の深さa1,a2は、残りの厚さb1,b
2より深い。従つて、垂直溝と水平溝の交点では
第4図に示す矢印B方向に貫通した細孔を有して
いる。
このような構造の冷却片を用いた場合には、特
に次のような効果が得られる。
に次のような効果が得られる。
すなわち、冷媒液3が効率よく沸騰するには、
小径(0.2mm前後)の孔を有することが望ましい。
しかし、一旦、沸騰によつて気化した蒸気を効率
よく対流させるには、沸騰部の十倍以上の径(2
mm〜3mm)を持つ縦方向の通路が必要である。
小径(0.2mm前後)の孔を有することが望ましい。
しかし、一旦、沸騰によつて気化した蒸気を効率
よく対流させるには、沸騰部の十倍以上の径(2
mm〜3mm)を持つ縦方向の通路が必要である。
第4図および第5図に示す冷却片24によれ
ば、半導体素子1の近傍に縦横に走る多数の細孔
を有することとなり、効率の高い沸騰が得られ
る。しかも、これらの沸騰により発生した蒸気
は、これらの細孔のみでは、効率良い上昇(対
流)は望めぬが、前記第4図の矢印B方向に貫通
した細孔により、第2図の矢印d2方向の蒸気の
移動により、短距離で導体28の縦長スリツト2
81に達することができ、この部分を急速に上昇
することとなる。結局、極めて効率の高い冷却効
率を達成することができる。
ば、半導体素子1の近傍に縦横に走る多数の細孔
を有することとなり、効率の高い沸騰が得られ
る。しかも、これらの沸騰により発生した蒸気
は、これらの細孔のみでは、効率良い上昇(対
流)は望めぬが、前記第4図の矢印B方向に貫通
した細孔により、第2図の矢印d2方向の蒸気の
移動により、短距離で導体28の縦長スリツト2
81に達することができ、この部分を急速に上昇
することとなる。結局、極めて効率の高い冷却効
率を達成することができる。
第6図は、配線用導体28の他の実施例を示す
斜視図であり、第3図と異なるところは、両面間
に貫通したスリツト281の代りに、一面から凹
んだ溝282を設ける点にある。
斜視図であり、第3図と異なるところは、両面間
に貫通したスリツト281の代りに、一面から凹
んだ溝282を設ける点にある。
本発明によれば、冷却効率の高い半導体素子の
沸騰冷却装置を提供することができる。
沸騰冷却装置を提供することができる。
第1図は本発明による半導体素子の沸騰冷却装
置の側面断面図、第2図はその半導体スタツク部
の一部拡大図、第3図はその配線用導体の斜視
図、第4図は第1図の冷却片の他の実施例構造を
示す斜視図、第5図はその一部拡大図、第6図は
配線用導体の他の実施例を示す斜視図である。 1……冷却容器、2……半導体スタツク、21
〜22……半導体素子、23〜26……冷却片
(放熱板)、27〜29……配線用導体、3……冷
媒液、31〜33……冷媒蒸気、34〜36……
凝縮液、4……凝縮器、5……連通部、281…
…スリツト、282……溝。
置の側面断面図、第2図はその半導体スタツク部
の一部拡大図、第3図はその配線用導体の斜視
図、第4図は第1図の冷却片の他の実施例構造を
示す斜視図、第5図はその一部拡大図、第6図は
配線用導体の他の実施例を示す斜視図である。 1……冷却容器、2……半導体スタツク、21
〜22……半導体素子、23〜26……冷却片
(放熱板)、27〜29……配線用導体、3……冷
媒液、31〜33……冷媒蒸気、34〜36……
凝縮液、4……凝縮器、5……連通部、281…
…スリツト、282……溝。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 半導体素子、冷却片および配線用導体を重ね
た半導体スタツクと、このスタツクを冷媒液と共
に収容した冷却容器とを備え、上記半導体素子を
上記冷媒液の沸騰を通して冷却するものにおい
て、上記導体の上記冷却片への接触面を断続接触
面としたことを特徴とする半導体素子の沸騰冷却
装置。 2 上記導体の断続接触面は、上記冷却片に接す
る寸法より長い複数本のスリツトを備えたもので
ある第1項記載の半導体素子の沸騰冷却装置。 3 上記導体の断続接触面は、上記冷却片に接す
る寸法より長い複数本の長溝を備えたものである
第1項記載の半導体素子の沸騰冷却装置。 4 半導体素子、冷却片および配線用導体を重ね
た半導体スタツクと、このスタツクを冷媒液と共
に収容した冷却容器とを備え、上記半導体素子を
上記冷媒液の沸騰を通して冷却するものにおい
て、上記半導体素子と上記配線用導体とに挾まれ
た上記冷却片に、これらの素子と導体を結ぶ方向
に貫通した細孔を設けると共に、上記導体の上記
冷却片への接触面に、冷却片に接する寸法より長
い複数本の縦長スリツトを設けたことを特徴とす
る半導体素子の沸騰冷却装置。 5 上記細孔の直径に対し、上記縦長スリツトの
幅を十倍以上とした第4項記載の半導体素子の沸
騰冷却装置。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60074283A JPS61234059A (ja) | 1985-04-10 | 1985-04-10 | 半導体素子の沸謄冷却装置 |
AU55686/86A AU561322B2 (en) | 1985-04-10 | 1986-04-03 | Vapour cooling a semiconductor stack |
DE19863611811 DE3611811A1 (de) | 1985-04-10 | 1986-04-08 | Vorrichtung zur dampfkuehlung eines halbleiters |
BR8601580A BR8601580A (pt) | 1985-04-10 | 1986-04-08 | Aparelho para refrigeracao por vaporizacao de um semicondutor |
US06/849,834 US4694323A (en) | 1985-04-10 | 1986-04-09 | Apparatus for vapor-cooling a semiconductor |
CN86102472A CN1003026B (zh) | 1985-04-10 | 1986-04-09 | 半导体汽化冷却装置 |
KR1019860002728A KR860008604A (ko) | 1985-04-10 | 1986-04-10 | 반도체의 비등 냉각 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60074283A JPS61234059A (ja) | 1985-04-10 | 1985-04-10 | 半導体素子の沸謄冷却装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61234059A JPS61234059A (ja) | 1986-10-18 |
JPH0363825B2 true JPH0363825B2 (ja) | 1991-10-02 |
Family
ID=13542635
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60074283A Granted JPS61234059A (ja) | 1985-04-10 | 1985-04-10 | 半導体素子の沸謄冷却装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4694323A (ja) |
JP (1) | JPS61234059A (ja) |
KR (1) | KR860008604A (ja) |
CN (1) | CN1003026B (ja) |
AU (1) | AU561322B2 (ja) |
BR (1) | BR8601580A (ja) |
DE (1) | DE3611811A1 (ja) |
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US4864385A (en) * | 1987-12-29 | 1989-09-05 | Hitachi, Ltd. | Power semiconductors connected antiparallel via heatsinks |
JP2741255B2 (ja) * | 1989-08-18 | 1998-04-15 | 株式会社日立製作所 | 沸騰冷却用伝熱体 |
AU618203B2 (en) * | 1989-09-29 | 1991-12-12 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Boiling type cooler device for power semiconductor switching elements |
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US5448108A (en) * | 1993-11-02 | 1995-09-05 | Hughes Aircraft Company | Cooling of semiconductor power modules by flushing with dielectric liquid |
US6357517B1 (en) | 1994-07-04 | 2002-03-19 | Denso Corporation | Cooling apparatus boiling and condensing refrigerant |
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