JPH0361950B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0361950B2 JPH0361950B2 JP55175468A JP17546880A JPH0361950B2 JP H0361950 B2 JPH0361950 B2 JP H0361950B2 JP 55175468 A JP55175468 A JP 55175468A JP 17546880 A JP17546880 A JP 17546880A JP H0361950 B2 JPH0361950 B2 JP H0361950B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- display
- signal line
- display device
- mos transistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 13
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 4
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000003491 array Methods 0.000 description 3
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
- G06F11/0751—Error or fault detection not based on redundancy
- G06F11/0754—Error or fault detection not based on redundancy by exceeding limits
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
- G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
- G09G3/3611—Control of matrices with row and column drivers
- G09G3/3648—Control of matrices with row and column drivers using an active matrix
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
- G09G2300/08—Active matrix structure, i.e. with use of active elements, inclusive of non-linear two terminal elements, in the pixels together with light emitting or modulating elements
- G09G2300/0809—Several active elements per pixel in active matrix panels
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
- G09G2300/08—Active matrix structure, i.e. with use of active elements, inclusive of non-linear two terminal elements, in the pixels together with light emitting or modulating elements
- G09G2300/0809—Several active elements per pixel in active matrix panels
- G09G2300/0842—Several active elements per pixel in active matrix panels forming a memory circuit, e.g. a dynamic memory with one capacitor
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2310/00—Command of the display device
- G09G2310/02—Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
- G09G2310/0264—Details of driving circuits
- G09G2310/0267—Details of drivers for scan electrodes, other than drivers for liquid crystal, plasma or OLED displays
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2320/00—Control of display operating conditions
- G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
- G09G2320/0247—Flicker reduction other than flicker reduction circuits used for single beam cathode-ray tubes
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
- G09G2330/12—Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
- Control Of El Displays (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は1枚の基板上に表示画素数に等しい駆
動回路を並べて、走査信号により順次駆動回路内
のスイツチング素子を開閉し、映像信号に相当す
る電圧をコンデンサに保持させ、表示装置駆動用
スイツチング素子により、前記保持電圧に応じ画
像表示を行う表示装置駆動回路に関するものであ
る。
動回路を並べて、走査信号により順次駆動回路内
のスイツチング素子を開閉し、映像信号に相当す
る電圧をコンデンサに保持させ、表示装置駆動用
スイツチング素子により、前記保持電圧に応じ画
像表示を行う表示装置駆動回路に関するものであ
る。
従来より、EL、LED、液晶等の表示素子及び
螢光表示管を用いた平面画像装置が開発されてお
り、特に螢光表示管を用いた表示装置が発表され
ている。
螢光表示管を用いた平面画像装置が開発されてお
り、特に螢光表示管を用いた表示装置が発表され
ている。
従来技術による螢光表示管を用いた表示装置駆
動回路の1画素分の等価回路を第1図に示す。
動回路の1画素分の等価回路を第1図に示す。
走査信号線3によりMOSトランジスタ2がオ
ン状態となり、映像信号線1の電圧が電圧保持用
コンデンサ4に保持される。コンデンサ4に保持
された電圧は螢光表示管駆動用トランジスタ6の
ゲート電圧となり、ドレイン電極7の電圧を決定
する。上記ドレイン電極7に接続された螢光表示
管のプレートには螢光体が塗布されているため、
上記回路からなるスイツチングアレイの上に構成
されたカソード電極9より放出された電子が、同
じくスイツチングアレイとカソード電極の間に構
成されたグリツド電極8により加速され、前記プ
レートの螢光体の電位に応じたエネルギーで螢光
体に衝突し発光させる。
ン状態となり、映像信号線1の電圧が電圧保持用
コンデンサ4に保持される。コンデンサ4に保持
された電圧は螢光表示管駆動用トランジスタ6の
ゲート電圧となり、ドレイン電極7の電圧を決定
する。上記ドレイン電極7に接続された螢光表示
管のプレートには螢光体が塗布されているため、
上記回路からなるスイツチングアレイの上に構成
されたカソード電極9より放出された電子が、同
じくスイツチングアレイとカソード電極の間に構
成されたグリツド電極8により加速され、前記プ
レートの螢光体の電位に応じたエネルギーで螢光
体に衝突し発光させる。
第1図のようなスイツチングアレイを縦方向及
び横方向にマトリクス状に配列することにより任
意の画素数を持つた平板状の画像表示装置を構成
することができる。このマトリクス状のスイツチ
ングアレイをテレビの水平、垂直信号に相当する
信号で走査すると、選択されたMOSトランジス
タがオンして映像信号に応じた電圧が螢光体とカ
ソードの間に加わる。この時、同時に映像信号電
圧がコンデンサにより保持されるので、非選択時
でも螢光体をカソード間の電圧は維持され、チラ
ツキの少い安定した画像表示が可能となる。
び横方向にマトリクス状に配列することにより任
意の画素数を持つた平板状の画像表示装置を構成
することができる。このマトリクス状のスイツチ
ングアレイをテレビの水平、垂直信号に相当する
信号で走査すると、選択されたMOSトランジス
タがオンして映像信号に応じた電圧が螢光体とカ
ソードの間に加わる。この時、同時に映像信号電
圧がコンデンサにより保持されるので、非選択時
でも螢光体をカソード間の電圧は維持され、チラ
ツキの少い安定した画像表示が可能となる。
さて、上記のような画像表示装置を製造する場
合の最大の問題点は、LSI技術で作られるスイツ
チングアレイの部分欠陥による表示画面の線状欠
陥や点欠陥であり、これら欠陥の数によつては商
品性を失うことになる。又、従来のスイツチング
アレイをLSIチツプとしてシリコンウエハ上に作
つた場合、ウエハ段階での各チツプのテストが不
可能で、すべての組み立て工程を終つて最終製品
となつた時点で、実際に表示動作をさせることに
より初めて欠陥検査が可能となる。このため最終
製品の歩留がLSIチツプの歩留により決定される
ため製品価格は非常に高くなつてしまう。
合の最大の問題点は、LSI技術で作られるスイツ
チングアレイの部分欠陥による表示画面の線状欠
陥や点欠陥であり、これら欠陥の数によつては商
品性を失うことになる。又、従来のスイツチング
アレイをLSIチツプとしてシリコンウエハ上に作
つた場合、ウエハ段階での各チツプのテストが不
可能で、すべての組み立て工程を終つて最終製品
となつた時点で、実際に表示動作をさせることに
より初めて欠陥検査が可能となる。このため最終
製品の歩留がLSIチツプの歩留により決定される
ため製品価格は非常に高くなつてしまう。
本発明は上記欠点を除去するためになされたも
ので、LSIチツプとして半導体基板上に作られた
スイツチングアレイの欠陥検査をウエハ状態で行
い、良品チツプのみを以後の表示装置組み立て工
程に供給することにより、表示装置組立て作業の
効率化を図ることを目的としたものである。
ので、LSIチツプとして半導体基板上に作られた
スイツチングアレイの欠陥検査をウエハ状態で行
い、良品チツプのみを以後の表示装置組み立て工
程に供給することにより、表示装置組立て作業の
効率化を図ることを目的としたものである。
以下図面を用いて本発明を説明する。まず第2
図は上記第1図に対応させて示された本発明によ
る1画素分の等価回路図で、第1図と共通の番号
1〜6が付された各信号ライン、電圧保持用コン
デンサ及びMOSトランジスタの動作については
第1図と同じであるので省略する。第2図では螢
光表示管駆動用トランジスタ6と映像信号線1の
間がテスト用MOSトランジスタ10により接続
されている。該MOSトランジスタ10のゲート
端子はテスト用信号線11に接続されており、テ
スト用信号線11の信号レベルによつて螢光表示
管駆動用MOSトランジスタ6のドレイン7の電
圧を映像信号ライン1に読み出すことが可能であ
る。
図は上記第1図に対応させて示された本発明によ
る1画素分の等価回路図で、第1図と共通の番号
1〜6が付された各信号ライン、電圧保持用コン
デンサ及びMOSトランジスタの動作については
第1図と同じであるので省略する。第2図では螢
光表示管駆動用トランジスタ6と映像信号線1の
間がテスト用MOSトランジスタ10により接続
されている。該MOSトランジスタ10のゲート
端子はテスト用信号線11に接続されており、テ
スト用信号線11の信号レベルによつて螢光表示
管駆動用MOSトランジスタ6のドレイン7の電
圧を映像信号ライン1に読み出すことが可能であ
る。
このように走査信号線3により映像信号線1よ
りMOSトランジスタ2を介して、電圧保持用コ
ンデンサ4に印加された電圧は、MOSトランジ
スタ6及びテスト用信号線11により駆動される
MOSトランジスタ10を介して再び映像信号線
1に読み出すことができる。当然ながら走査信号
線3とテスト用信号線11は異なつた時刻に駆動
されるので、MOSトランジスタ2とMOSトラン
ジスタ10は同時にオンとなることは無く、映像
信号線1は入出力線として動作する。次に上記1
画素分のスイツチング回路が、表示画面に対応す
るべくマトリクスに配列された実施例を第3図を
用いて説明する。第3図では第2図で示された表
示駆動回路がX方向に4個C11〜C41、Y方向に3
個C11〜C13のマトリクスとして配列された4×3
個の画素の表示装置駆動回路を構成している。マ
トリクスの各駆動回路の選択は、デイレイフリツ
プフロツプD×1〜D×4で構成されるXシフト
レジスタと、デイレイフリツプフロツプDY1〜
DY3で構成されるYシフトレジスタにより実行さ
れる。YシフトレジスタDY1〜DY3はYシフト入
力SYとYシフトクロツクφYにより順次シフト動
作を行い、テスト入力TEが論理“0”の時は
NANDゲートG1,G3,G5により順次S1,S2,S3
の走査線が選択されていき、テスト入力が論理
“1”の時は同様にNANDゲートG2,G4,G6に
よりテスト用信号線T1,T2,T3が順次選択され
ていく。
りMOSトランジスタ2を介して、電圧保持用コ
ンデンサ4に印加された電圧は、MOSトランジ
スタ6及びテスト用信号線11により駆動される
MOSトランジスタ10を介して再び映像信号線
1に読み出すことができる。当然ながら走査信号
線3とテスト用信号線11は異なつた時刻に駆動
されるので、MOSトランジスタ2とMOSトラン
ジスタ10は同時にオンとなることは無く、映像
信号線1は入出力線として動作する。次に上記1
画素分のスイツチング回路が、表示画面に対応す
るべくマトリクスに配列された実施例を第3図を
用いて説明する。第3図では第2図で示された表
示駆動回路がX方向に4個C11〜C41、Y方向に3
個C11〜C13のマトリクスとして配列された4×3
個の画素の表示装置駆動回路を構成している。マ
トリクスの各駆動回路の選択は、デイレイフリツ
プフロツプD×1〜D×4で構成されるXシフト
レジスタと、デイレイフリツプフロツプDY1〜
DY3で構成されるYシフトレジスタにより実行さ
れる。YシフトレジスタDY1〜DY3はYシフト入
力SYとYシフトクロツクφYにより順次シフト動
作を行い、テスト入力TEが論理“0”の時は
NANDゲートG1,G3,G5により順次S1,S2,S3
の走査線が選択されていき、テスト入力が論理
“1”の時は同様にNANDゲートG2,G4,G6に
よりテスト用信号線T1,T2,T3が順次選択され
ていく。
今、走査線S1が選択されているとC11,C21,
C31,C41の駆動回路の電圧保持容量への書き込み
が可能となる。S1が選択されている間、Yシフト
レジスタと同様Xシフト入力SxとXシフトクロ
ツクφxによりXシフトレジスタDx1〜Dx4が動作
し、順次MOSトランジスタTr1〜Tr4選択され、
順次C11,C21,C31,C41内の電圧保持コンデンサ
に映像信号入力が書き込まれる。又、テスト入力
TEが論理“1”でT1が選択されているときは順
次C11,C21,C31,C41のコンデンサに保持された
電圧がMOSトランジスタTr1〜Tr4を介して映像
信号線11〜14に読み出される。以下走査線S2,
S3及びテスト用信号線T2,T3についても同様の
動作が行われる。
C31,C41の駆動回路の電圧保持容量への書き込み
が可能となる。S1が選択されている間、Yシフト
レジスタと同様Xシフト入力SxとXシフトクロ
ツクφxによりXシフトレジスタDx1〜Dx4が動作
し、順次MOSトランジスタTr1〜Tr4選択され、
順次C11,C21,C31,C41内の電圧保持コンデンサ
に映像信号入力が書き込まれる。又、テスト入力
TEが論理“1”でT1が選択されているときは順
次C11,C21,C31,C41のコンデンサに保持された
電圧がMOSトランジスタTr1〜Tr4を介して映像
信号線11〜14に読み出される。以下走査線S2,
S3及びテスト用信号線T2,T3についても同様の
動作が行われる。
以上述べたように本発明によれば、ウエハーの
状態で全駆動回路の欠陥検査を行うことができ、
欠陥の無い良質の半導体基板を選んで表示装置の
組み立てに供することができ表示装置を安価に製
造することができる。
状態で全駆動回路の欠陥検査を行うことができ、
欠陥の無い良質の半導体基板を選んで表示装置の
組み立てに供することができ表示装置を安価に製
造することができる。
尚、上記実施例では簡単のためスイツチング素
子としてPチヤンネルMOSトランジスタを用い
た回路を挙げたが、NチヤンネルMOSトランジ
スタ、バイポーラトランジスタその他どのような
スイツチグォ素子でもよい。又スイツチング素子
を形成する基板はシリコン基板以外にどのような
基板を用いてもよい。又、表示装置は螢光表示管
以外、EL、LED、液晶等どのような表示素子を
用いてもよい。又、スイツチング素子を形成する
基板は1つの表示装置1枚又は複数枚使用しても
よい。
子としてPチヤンネルMOSトランジスタを用い
た回路を挙げたが、NチヤンネルMOSトランジ
スタ、バイポーラトランジスタその他どのような
スイツチグォ素子でもよい。又スイツチング素子
を形成する基板はシリコン基板以外にどのような
基板を用いてもよい。又、表示装置は螢光表示管
以外、EL、LED、液晶等どのような表示素子を
用いてもよい。又、スイツチング素子を形成する
基板は1つの表示装置1枚又は複数枚使用しても
よい。
第1図は従来の表示装置の1画素を駆動させる
ための等価回路図、第2図は本発明による一実施
例の1画素分の駆動回路の等価回路図、第3図は
同駆動回路をマトリクスに配列した表示装置駆動
回路図である。 1:映像信号線、2:書込み用MOSトランジ
スタ、3:走査線、4:電圧保持コンデンサ、
6:表示画素駆動用MOSトランジスタ、10:
駆動電圧読み出し用MOSトランジスタ。
ための等価回路図、第2図は本発明による一実施
例の1画素分の駆動回路の等価回路図、第3図は
同駆動回路をマトリクスに配列した表示装置駆動
回路図である。 1:映像信号線、2:書込み用MOSトランジ
スタ、3:走査線、4:電圧保持コンデンサ、
6:表示画素駆動用MOSトランジスタ、10:
駆動電圧読み出し用MOSトランジスタ。
Claims (1)
- 1 表示画素の夫々に対応して設けられた電圧保
持用コンデンサと、前記コンデンサへの書き込み
用スイツチ素子と、前記コンデンサに書き込まれ
た電圧に応じて表示装置の表示画素を駆動するた
めのスイツチ素子と、前記駆動用スイツチング素
子の駆動電圧を読み出すためスイツチ素子を具備
してなる表示装置駆動回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55175468A JPS5799688A (en) | 1980-12-11 | 1980-12-11 | Display driving circuit |
US06/329,929 US4471347A (en) | 1980-12-11 | 1981-12-11 | Display driving circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55175468A JPS5799688A (en) | 1980-12-11 | 1980-12-11 | Display driving circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5799688A JPS5799688A (en) | 1982-06-21 |
JPH0361950B2 true JPH0361950B2 (ja) | 1991-09-24 |
Family
ID=15996581
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP55175468A Granted JPS5799688A (en) | 1980-12-11 | 1980-12-11 | Display driving circuit |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4471347A (ja) |
JP (1) | JPS5799688A (ja) |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59119390A (ja) * | 1982-12-25 | 1984-07-10 | 株式会社東芝 | 薄膜トランジスタ回路 |
JPS59157693A (ja) * | 1983-02-28 | 1984-09-07 | シチズン時計株式会社 | 表示装置の駆動方法 |
JPS6048090A (ja) * | 1983-08-26 | 1985-03-15 | 伊勢電子工業株式会社 | 螢光表示装置 |
JPS6059389A (ja) * | 1983-09-12 | 1985-04-05 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置の駆動回路 |
JPS6180226A (ja) * | 1984-09-28 | 1986-04-23 | Toshiba Corp | アクテイブ・マトリツクス駆動装置 |
DE3581498D1 (de) * | 1984-11-16 | 1991-02-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Aktive matrixschaltung fuer fluessigkristallanzeigen. |
JPH0697380B2 (ja) * | 1985-09-20 | 1994-11-30 | シャープ株式会社 | ドツト・マトリツクス方式表示装置 |
JPS62203067A (ja) * | 1986-02-28 | 1987-09-07 | Sharp Corp | 表示装置 |
JPH067239B2 (ja) * | 1987-08-14 | 1994-01-26 | セイコー電子工業株式会社 | 電気光学装置 |
US4870396A (en) * | 1987-08-27 | 1989-09-26 | Hughes Aircraft Company | AC activated liquid crystal display cell employing dual switching devices |
FR2627617A1 (fr) * | 1988-02-19 | 1989-08-25 | Claude Leveille | Procede et dispositif de commande des sources lumineuses de panneaux graphiques |
US5008657A (en) * | 1989-01-31 | 1991-04-16 | Varo, Inc. | Self adjusting matrix display |
US5627557A (en) * | 1992-08-20 | 1997-05-06 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display apparatus |
JP3102666B2 (ja) * | 1993-06-28 | 2000-10-23 | シャープ株式会社 | 画像表示装置 |
JP3187254B2 (ja) * | 1994-09-08 | 2001-07-11 | シャープ株式会社 | 画像表示装置 |
US5952789A (en) * | 1997-04-14 | 1999-09-14 | Sarnoff Corporation | Active matrix organic light emitting diode (amoled) display pixel structure and data load/illuminate circuit therefor |
JP3629939B2 (ja) * | 1998-03-18 | 2005-03-16 | セイコーエプソン株式会社 | トランジスタ回路、表示パネル及び電子機器 |
US6590553B1 (en) | 1999-07-23 | 2003-07-08 | Nec Corporation | Liquid crystal display device and method for driving the same |
US6307322B1 (en) | 1999-12-28 | 2001-10-23 | Sarnoff Corporation | Thin-film transistor circuitry with reduced sensitivity to variance in transistor threshold voltage |
GB0117226D0 (en) * | 2001-07-14 | 2001-09-05 | Koninkl Philips Electronics Nv | Active matrix display devices |
US6897843B2 (en) * | 2001-07-14 | 2005-05-24 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Active matrix display devices |
JP2004294457A (ja) * | 2002-12-16 | 2004-10-21 | Agilent Technologies Japan Ltd | アクティブマトリクス型の表示装置およびその検査方法 |
US6995519B2 (en) | 2003-11-25 | 2006-02-07 | Eastman Kodak Company | OLED display with aging compensation |
JP4665419B2 (ja) * | 2004-03-30 | 2011-04-06 | カシオ計算機株式会社 | 画素回路基板の検査方法及び検査装置 |
JP4026618B2 (ja) * | 2004-05-20 | 2007-12-26 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置、その検査方法および電子機器 |
JP2008052111A (ja) * | 2006-08-25 | 2008-03-06 | Mitsubishi Electric Corp | Tftアレイ基板、その検査方法および表示装置 |
JP5206397B2 (ja) * | 2008-02-19 | 2013-06-12 | 株式会社Jvcケンウッド | 液晶表示装置及び液晶表示装置の駆動方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3564135A (en) * | 1967-10-12 | 1971-02-16 | Rca Corp | Integrated display panel utilizing field-effect transistors |
US4110662A (en) * | 1976-06-14 | 1978-08-29 | Westinghouse Electric Corp. | Thin-film analog video scan and driver circuit for solid state displays |
DE2756048C2 (de) * | 1976-12-17 | 1984-07-05 | Sharp K.K., Osaka | Schaltungsanordnung zum Betrieb einer elektrochromen Anzeigevorrichtung |
US4070600A (en) * | 1976-12-23 | 1978-01-24 | General Electric Company | High voltage driver circuit |
-
1980
- 1980-12-11 JP JP55175468A patent/JPS5799688A/ja active Granted
-
1981
- 1981-12-11 US US06/329,929 patent/US4471347A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4471347A (en) | 1984-09-11 |
JPS5799688A (en) | 1982-06-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0361950B2 (ja) | ||
US7265572B2 (en) | Image display device and method of testing the same | |
US9595213B2 (en) | Organic light-emitting display panel | |
KR100389605B1 (ko) | 액티브 매트릭스 표시 장치 및 그 액티브 매트릭스 표시장치의 검사 방법 | |
US20230154438A1 (en) | Display device | |
JP4103544B2 (ja) | 有機el装置 | |
US7129736B2 (en) | Element substrate | |
US20160104402A1 (en) | Organic light-emitting display panel and test method | |
US8013816B2 (en) | Light emitting display | |
WO2021143824A1 (zh) | 显示基板、其检测方法及显示装置 | |
JP5111564B2 (ja) | El表示装置の検査方法 | |
CN100514419C (zh) | 有机发光显示设备及其发射控制驱动器和逻辑或电路 | |
US7554359B2 (en) | Circuit for inspecting semiconductor device and inspecting method | |
JP2008052111A (ja) | Tftアレイ基板、その検査方法および表示装置 | |
TWI277758B (en) | Substrate for electro-optical device, testing method thereof, electro-optical device and electronic apparatus | |
US20060103413A1 (en) | Array substrate inspecting method | |
CN112750402A (zh) | 显示面板、阵列基板及其驱动方法 | |
US7053649B1 (en) | Image display device and method of testing the same | |
JPS5895383A (ja) | マトリクス形表示装置 | |
US20070285358A1 (en) | Active matrix display element and device | |
JPS6364793B2 (ja) | ||
JP3547565B2 (ja) | 蛍光表示装置の駆動回路 | |
JPH06250225A (ja) | 液晶表示装置及びその検査方法 | |
JPH05341320A (ja) | アクティブマトリクス基板及びその製造方法 | |
JPS6367191B2 (ja) |