JPH0361755B2 - - Google Patents
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- JPH0361755B2 JPH0361755B2 JP2257487A JP2257487A JPH0361755B2 JP H0361755 B2 JPH0361755 B2 JP H0361755B2 JP 2257487 A JP2257487 A JP 2257487A JP 2257487 A JP2257487 A JP 2257487A JP H0361755 B2 JPH0361755 B2 JP H0361755B2
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
(産業上の利用分野)
この発明は密着性、均一性および耐食性に富む
セラミツク被膜をそなえる低炭素鋼板およびステ
ンレス鋼板の製造方法に関し、とくに表面被膜の
被成法の一つであるホローカソード法をいるイオ
ンプレーテイング処理によつて、セラミツク被膜
の被膜特性の向上を図ろうとするものである。 (従来の技術) 近年、プラズマを利用したコーテイング技術が
著しく進歩し、磁気記録薄膜や各種耐摩耗性、耐
食性コーテイング、さらには装飾用コーテイング
などに広く利用されつつある。 従来、プラズマ・コーテイング法としては、マ
グネトロンスパツタ法、イオンプレーテイング法
およびプラズマCVD法などが、また最近では真
空アークを利用したマルテイ・アーク法やホロ
ー・カソード(Hollow Cathode Discharge,
HCD)法などが知られている。 かかるプラズマコーテイングの中でもとくにホ
ローカソード法は比較的イオン化率が高く、成膜
速度が大きいので装飾品や工具類等の小物のセラ
ミツクコーテイングには利用されていた。 (発明が解決しようとする問題点) ところで最近では、建築材等に用いる大表面積
の鋼板についても耐食性や装飾性あるいは耐摩耗
性の改善のためにホローカソード法の利用が試み
られているが、現状では実用化にまでは至つてい
ない。というのはこのような鋼板では、 1) 鋼板とセラミツク被膜との密着性が良好で
あること、 2) 大表面積に均一にセラミツク被膜をコーテ
イングできること、 3) セラミツク被膜の膜質が良好であること、 4) 耐食性に優れていること、 などが要求されるが、従来のホローカソード法で
は上記のような条件を充分に満足することはでき
なかつたからである。 この発明は上記の問題を有利に解決するもの
で、たとえば大表面積の低炭素鋼板やステンレス
鋼板にホローカソード法を利用してセラミツク被
膜を被成する場合であつても、密着性、均一性お
よび耐食性に優れたセラミツク被膜をそなえる低
炭素鋼板およびステンレス鋼板の有利な製造方法
を提案することを目的とする。 (問題点を解決するための手段) この発明は表面清浄化処理を施した低炭素鋼板
又はステンレス鋼板の表面上に、ホローカソード
法によるイオンプレーテイング処理によつてセラ
ミツク被膜を被成するに際し、蒸発物質のイオン
化率が50%以上のホローカソードガンを用いるこ
とを特徴とする密着性、均一性および耐食性に優
れたセラミツク被膜をそなえる低炭素鋼板および
ステンレス鋼板の製造方法である。ここで上記セ
ラミツク被膜としてはTi,Zn,V,Nb,Ta,
Cr,Mo,W,Mn,Co,Ni,Al,BおよびSiの
うちの少なくとも1種の窒化物および/又は炭化
物、並びにAl,Zn,Mn,Mg,TiおよびSiのう
ちの少なくとも1種の酸化物、の中から選んだ1
種又は2種以上からなるものがとりわけ有利に適
合する。 以下この発明の基礎となつた実験結果について
説明する。 C:0.04wt%(以下単に%で示す)、Si:0.008
%、Mn:0.35%、P:0.012%、S:0.011%を含
有する低炭素鋼板(厚さ0.8mm×巾450mm×長さ
450mm)を用い、この鋼板にホローカソード法に
よるイオンプレーテイング処理を施し、厚さ
2.5μmのTiNのセラミツク被膜を被成し処理時に
おけるイオン化率および成膜速度の関係と、得ら
れた被膜の密着性について調べた。その結果を第
1図に示す。なお処理条件は、電圧40〜80V、電
流300〜6000Aとした。 同図から明らかなように、ホローカソードガン
の電流を増加させた場合、イオン化率、成膜速度
はともに上昇しこれらには相関があること、また
ホローカソード法において従来使用されているホ
ローカソードガンの電流(700A程度)ではイオ
ン化率が37〜48%であり、この場合セラミツク被
膜の若干のはく離が見られ、ホローカソードガン
の電流が1000Aを超えると、すなわちイオン化率
が50%を超えると全くはく離が起こらないことが
わかつた。 次にC:0.04%、Mn:0.035%、P:0.01%お
よびS:0.012%を含有する低炭素鋼板(厚さ0.8
mm×巾450mm×長さ450mm)を用い、この鋼板にホ
ローカソード法により条件の異なるイオンプレー
テイング処理を施し、TiNのセラミツク被膜
(2.5μm厚)を被成してこのとき得られたセラミ
ツク被膜の特性(密着性、均一性および耐食性)
を調べた。その結果を表−1に示す。 なお処理条件は、ホローカソードガンの電圧:
50V、電流:500A、1500Aに設定した。
セラミツク被膜をそなえる低炭素鋼板およびステ
ンレス鋼板の製造方法に関し、とくに表面被膜の
被成法の一つであるホローカソード法をいるイオ
ンプレーテイング処理によつて、セラミツク被膜
の被膜特性の向上を図ろうとするものである。 (従来の技術) 近年、プラズマを利用したコーテイング技術が
著しく進歩し、磁気記録薄膜や各種耐摩耗性、耐
食性コーテイング、さらには装飾用コーテイング
などに広く利用されつつある。 従来、プラズマ・コーテイング法としては、マ
グネトロンスパツタ法、イオンプレーテイング法
およびプラズマCVD法などが、また最近では真
空アークを利用したマルテイ・アーク法やホロ
ー・カソード(Hollow Cathode Discharge,
HCD)法などが知られている。 かかるプラズマコーテイングの中でもとくにホ
ローカソード法は比較的イオン化率が高く、成膜
速度が大きいので装飾品や工具類等の小物のセラ
ミツクコーテイングには利用されていた。 (発明が解決しようとする問題点) ところで最近では、建築材等に用いる大表面積
の鋼板についても耐食性や装飾性あるいは耐摩耗
性の改善のためにホローカソード法の利用が試み
られているが、現状では実用化にまでは至つてい
ない。というのはこのような鋼板では、 1) 鋼板とセラミツク被膜との密着性が良好で
あること、 2) 大表面積に均一にセラミツク被膜をコーテ
イングできること、 3) セラミツク被膜の膜質が良好であること、 4) 耐食性に優れていること、 などが要求されるが、従来のホローカソード法で
は上記のような条件を充分に満足することはでき
なかつたからである。 この発明は上記の問題を有利に解決するもの
で、たとえば大表面積の低炭素鋼板やステンレス
鋼板にホローカソード法を利用してセラミツク被
膜を被成する場合であつても、密着性、均一性お
よび耐食性に優れたセラミツク被膜をそなえる低
炭素鋼板およびステンレス鋼板の有利な製造方法
を提案することを目的とする。 (問題点を解決するための手段) この発明は表面清浄化処理を施した低炭素鋼板
又はステンレス鋼板の表面上に、ホローカソード
法によるイオンプレーテイング処理によつてセラ
ミツク被膜を被成するに際し、蒸発物質のイオン
化率が50%以上のホローカソードガンを用いるこ
とを特徴とする密着性、均一性および耐食性に優
れたセラミツク被膜をそなえる低炭素鋼板および
ステンレス鋼板の製造方法である。ここで上記セ
ラミツク被膜としてはTi,Zn,V,Nb,Ta,
Cr,Mo,W,Mn,Co,Ni,Al,BおよびSiの
うちの少なくとも1種の窒化物および/又は炭化
物、並びにAl,Zn,Mn,Mg,TiおよびSiのう
ちの少なくとも1種の酸化物、の中から選んだ1
種又は2種以上からなるものがとりわけ有利に適
合する。 以下この発明の基礎となつた実験結果について
説明する。 C:0.04wt%(以下単に%で示す)、Si:0.008
%、Mn:0.35%、P:0.012%、S:0.011%を含
有する低炭素鋼板(厚さ0.8mm×巾450mm×長さ
450mm)を用い、この鋼板にホローカソード法に
よるイオンプレーテイング処理を施し、厚さ
2.5μmのTiNのセラミツク被膜を被成し処理時に
おけるイオン化率および成膜速度の関係と、得ら
れた被膜の密着性について調べた。その結果を第
1図に示す。なお処理条件は、電圧40〜80V、電
流300〜6000Aとした。 同図から明らかなように、ホローカソードガン
の電流を増加させた場合、イオン化率、成膜速度
はともに上昇しこれらには相関があること、また
ホローカソード法において従来使用されているホ
ローカソードガンの電流(700A程度)ではイオ
ン化率が37〜48%であり、この場合セラミツク被
膜の若干のはく離が見られ、ホローカソードガン
の電流が1000Aを超えると、すなわちイオン化率
が50%を超えると全くはく離が起こらないことが
わかつた。 次にC:0.04%、Mn:0.035%、P:0.01%お
よびS:0.012%を含有する低炭素鋼板(厚さ0.8
mm×巾450mm×長さ450mm)を用い、この鋼板にホ
ローカソード法により条件の異なるイオンプレー
テイング処理を施し、TiNのセラミツク被膜
(2.5μm厚)を被成してこのとき得られたセラミ
ツク被膜の特性(密着性、均一性および耐食性)
を調べた。その結果を表−1に示す。 なお処理条件は、ホローカソードガンの電圧:
50V、電流:500A、1500Aに設定した。
【表】
表−1から明らかなように、ホローカソードガ
ンの電流が1500Aの場合、イオン化率は62%と高
く、被膜の密着性、均一性、耐食性共に優れてい
た。 上記の実験結果より良好なセラミツク被膜を得
るためには蒸発物質のイオン化率を高める必要が
あることが、またそのためにはイオン化率を有利
に高めることができるホローカソード法を適用し
てイオンプレーテイング処理する際に、イオン化
率が50%以上のホローカソードガンを用いるよう
に構成することがとくに重要であることが明らか
となつた。 ここでこの発明では、基板としては、低炭素鋼
板、ステンレス鋼板を適用するが、これは大きな
表面積が得られ、また比較的安価でもあるからで
ある。 上記の基板にセラミツク被膜を被成するに当つ
ては、具体的に、イオンプレーテイング処理に先
立ちその表面を完全に脱脂するか、あるいは機械
研摩、化学的・電気研摩処理によつて鏡面状態に
仕上げておくことが好ましく、なおより一層の被
膜特性を確保するには、上記の研摩処理後、基板
表面に100〜600℃の温度範囲において予備加熱処
理を施すこと、またはイオンプレーテイング処理
時に基板に対し10〜200V程度の電圧を印加する
ことがより好ましい。 なお、ホローカソード法では通常、連続真空ラ
インを適用するが、大容量のバツチタイプの蒸着
装置も適用でき、とくに大表面積を有する鋼板を
対象とする場合は、この発明に適合するホローカ
ソードガンを、該鋼板の巾方向にわたつて並列に
ならべて処理すればよく、かくして良好なセラミ
ツク被膜をそなえた鋼板を容易に得ることができ
るのである。 (作 用) この発明に従いイオン化率を50%以上とするイ
オンプレーテイング処理を行うことによつてセラ
ミツク被膜の密着性、均一性および耐食性などの
特性が向上する理由は 1) 密着性について イオン化率が向上すると鋼板とセラミツク例
えばTiNとの間で密着性を左右するTiが鋼板
へ深く浸入するため密着性を向上させることが
可能となる。 2) 均一性について イオン化率が向上すると例えばセラミツクを
TiNとする場合、Tiのイオン化蒸気を大量、
かつ広範囲均一に鋼板に付着させることが可能
となる。 3) 耐食性について イオン化率が向上すると緻密なセラミツク例
えば緻密なTiNコーテイング膜を形成させる
ことが可能であるため耐食性が飛躍的に向上す
る、と考えられる。 (実施例) 実施例 1 C:0.03%、Si:0.1%、Mn:1.5%、Cr:19.0
%およびMo:2.0%を含有するステンレス鋼の熱
延板(厚さ23mm×巾600mm)を、厚さ0.7mm×巾
600mmに冷間圧延したのち、焼鈍処理を施し、そ
の後軽酸洗により表面の酸化物を除去した後、電
解研磨により鋼板表面を中心線平均粗さRa=
0.05μmに仕上げてイオンプレーテイング処理用
の基板とした。その後この基板を連続エアーツエ
アラインに導入し、ホローカソード法によるイオ
ンプレーテイング処理を行い、該基板にTi(C,
N)のセラミツク被膜(厚さ2.0μm)を被成し
た。 なお、上記の処理に際しては基板の表面積が大
きいので均一にコーテイングできるように基板の
巾方向に並列に、2本づつ計4本のホローカソー
ドガンを設置した。 ホローカソードガンの出力は電圧:65V、電
流:1000A、(イオン化率:55%)、および電圧:
65V、電流:1500A(イオン化率:62%)のもの
を用いた。 かくして得られたセラミツク被膜は、密着性は
勿論のこと、均一性および耐食性にも優れてい
た。 実施例 2 C:0.036%、Si:0.01%、Mn:0.43%、P:
0.01%、S:0.013%を含有する低炭素鋼の熱延
板(厚さ2.2mm×巾500mm)を、厚さ0.7mm×巾500
mmに冷間圧延したのち、再結晶焼鈍を施してから
厚さ2.2mm×幅500mm×長さ500mmに切り出して基
板とした。その後、この基板を電解研摩により中
心線平均粗さRa=0.1μmに研摩したのち、ホロ
ーカソード法よるイオンプレーテイングを施し、
その表面にTi,Zr,Hr,V,Nb,Ta,Cr,
Mo,W,Mn,Co,Ni,Al,BおよびSiの窒化
物および/又は炭化物、Al,Zn,Mn,Mg,Ti
およびSiの酸化物のセラミツク被膜をそれぞれに
ついて被成した。 なお上記の処理に際しては電圧:70V、電流
1500A、イオン化率が62%のホローカソードガン
を用い、膜厚はすべて3.0μmとした。 かくして得られたセラミツク被膜をそなえた低
炭素鋼板における被膜特性の調査結果を表−2に
示す。
ンの電流が1500Aの場合、イオン化率は62%と高
く、被膜の密着性、均一性、耐食性共に優れてい
た。 上記の実験結果より良好なセラミツク被膜を得
るためには蒸発物質のイオン化率を高める必要が
あることが、またそのためにはイオン化率を有利
に高めることができるホローカソード法を適用し
てイオンプレーテイング処理する際に、イオン化
率が50%以上のホローカソードガンを用いるよう
に構成することがとくに重要であることが明らか
となつた。 ここでこの発明では、基板としては、低炭素鋼
板、ステンレス鋼板を適用するが、これは大きな
表面積が得られ、また比較的安価でもあるからで
ある。 上記の基板にセラミツク被膜を被成するに当つ
ては、具体的に、イオンプレーテイング処理に先
立ちその表面を完全に脱脂するか、あるいは機械
研摩、化学的・電気研摩処理によつて鏡面状態に
仕上げておくことが好ましく、なおより一層の被
膜特性を確保するには、上記の研摩処理後、基板
表面に100〜600℃の温度範囲において予備加熱処
理を施すこと、またはイオンプレーテイング処理
時に基板に対し10〜200V程度の電圧を印加する
ことがより好ましい。 なお、ホローカソード法では通常、連続真空ラ
インを適用するが、大容量のバツチタイプの蒸着
装置も適用でき、とくに大表面積を有する鋼板を
対象とする場合は、この発明に適合するホローカ
ソードガンを、該鋼板の巾方向にわたつて並列に
ならべて処理すればよく、かくして良好なセラミ
ツク被膜をそなえた鋼板を容易に得ることができ
るのである。 (作 用) この発明に従いイオン化率を50%以上とするイ
オンプレーテイング処理を行うことによつてセラ
ミツク被膜の密着性、均一性および耐食性などの
特性が向上する理由は 1) 密着性について イオン化率が向上すると鋼板とセラミツク例
えばTiNとの間で密着性を左右するTiが鋼板
へ深く浸入するため密着性を向上させることが
可能となる。 2) 均一性について イオン化率が向上すると例えばセラミツクを
TiNとする場合、Tiのイオン化蒸気を大量、
かつ広範囲均一に鋼板に付着させることが可能
となる。 3) 耐食性について イオン化率が向上すると緻密なセラミツク例
えば緻密なTiNコーテイング膜を形成させる
ことが可能であるため耐食性が飛躍的に向上す
る、と考えられる。 (実施例) 実施例 1 C:0.03%、Si:0.1%、Mn:1.5%、Cr:19.0
%およびMo:2.0%を含有するステンレス鋼の熱
延板(厚さ23mm×巾600mm)を、厚さ0.7mm×巾
600mmに冷間圧延したのち、焼鈍処理を施し、そ
の後軽酸洗により表面の酸化物を除去した後、電
解研磨により鋼板表面を中心線平均粗さRa=
0.05μmに仕上げてイオンプレーテイング処理用
の基板とした。その後この基板を連続エアーツエ
アラインに導入し、ホローカソード法によるイオ
ンプレーテイング処理を行い、該基板にTi(C,
N)のセラミツク被膜(厚さ2.0μm)を被成し
た。 なお、上記の処理に際しては基板の表面積が大
きいので均一にコーテイングできるように基板の
巾方向に並列に、2本づつ計4本のホローカソー
ドガンを設置した。 ホローカソードガンの出力は電圧:65V、電
流:1000A、(イオン化率:55%)、および電圧:
65V、電流:1500A(イオン化率:62%)のもの
を用いた。 かくして得られたセラミツク被膜は、密着性は
勿論のこと、均一性および耐食性にも優れてい
た。 実施例 2 C:0.036%、Si:0.01%、Mn:0.43%、P:
0.01%、S:0.013%を含有する低炭素鋼の熱延
板(厚さ2.2mm×巾500mm)を、厚さ0.7mm×巾500
mmに冷間圧延したのち、再結晶焼鈍を施してから
厚さ2.2mm×幅500mm×長さ500mmに切り出して基
板とした。その後、この基板を電解研摩により中
心線平均粗さRa=0.1μmに研摩したのち、ホロ
ーカソード法よるイオンプレーテイングを施し、
その表面にTi,Zr,Hr,V,Nb,Ta,Cr,
Mo,W,Mn,Co,Ni,Al,BおよびSiの窒化
物および/又は炭化物、Al,Zn,Mn,Mg,Ti
およびSiの酸化物のセラミツク被膜をそれぞれに
ついて被成した。 なお上記の処理に際しては電圧:70V、電流
1500A、イオン化率が62%のホローカソードガン
を用い、膜厚はすべて3.0μmとした。 かくして得られたセラミツク被膜をそなえた低
炭素鋼板における被膜特性の調査結果を表−2に
示す。
【表】
【表】
(発明の効果)
かくしてこの発明によれば、密着性、均一性お
よび耐食性ともに優れたセラミツク被膜をそなえ
た低炭素鋼板およびステンレス鋼板を容易に得る
ことができる。
よび耐食性ともに優れたセラミツク被膜をそなえ
た低炭素鋼板およびステンレス鋼板を容易に得る
ことができる。
第1図はホローカソードガンの加速電流と、イ
オン化率および成膜速度の関係を示すグラフであ
る。
オン化率および成膜速度の関係を示すグラフであ
る。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 表面清浄化処理を施した低炭素鋼板又はステ
ンレス鋼板の表面上に、ホローカソード法による
イオンプレーテイング処理によてセラミツク被膜
を被成するに際し、 イオン化率が50%以上のホローカソードドガン
を用いることを特徴とする密着性、均一性および
耐食性に優れたセラミツク被膜をそなえる低炭素
鋼板およびステンレス鋼板の製造方法。 2 前記セラミツク被膜が、Ti,Zr,Hf,V,
Nb,Ta,Cr,Mo,W,Mn,Co,Ni,Al,B
およびSiのうちの少なくとも1種の窒化物およ
び/又は炭化物、並びにAl,Zn,Mn,Mg,Ti
およびSiのうちの少なくとも1種の酸化物の中か
ら選んだ1種又は2種以上からなるものである特
許請求の範囲第1項記載の密着性、均一性および
耐食性に優れたセラミツク被膜をそなえる低炭素
鋼板およびステンレス鋼板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2257487A JPS63192855A (ja) | 1987-02-04 | 1987-02-04 | 密着性、均一性および耐食性に優れたセラミツク被膜をそなえる低炭素鋼板およびステンレス鋼板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2257487A JPS63192855A (ja) | 1987-02-04 | 1987-02-04 | 密着性、均一性および耐食性に優れたセラミツク被膜をそなえる低炭素鋼板およびステンレス鋼板の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63192855A JPS63192855A (ja) | 1988-08-10 |
JPH0361755B2 true JPH0361755B2 (ja) | 1991-09-20 |
Family
ID=12086643
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2257487A Granted JPS63192855A (ja) | 1987-02-04 | 1987-02-04 | 密着性、均一性および耐食性に優れたセラミツク被膜をそなえる低炭素鋼板およびステンレス鋼板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63192855A (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH032365A (ja) * | 1989-05-29 | 1991-01-08 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 耐薬品性被膜 |
JPH0372070A (ja) * | 1989-08-11 | 1991-03-27 | Nisshin Steel Co Ltd | 化合物の高速蒸着法 |
US6946031B2 (en) | 2002-02-08 | 2005-09-20 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Rod for a coating device, and process for producing the same |
DE102004011178A1 (de) * | 2004-03-08 | 2005-09-29 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren zur Oberflächenbehandlung von Substraten |
-
1987
- 1987-02-04 JP JP2257487A patent/JPS63192855A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63192855A (ja) | 1988-08-10 |
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