JPH0352676B2 - - Google Patents

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JPH0352676B2
JPH0352676B2 JP59219327A JP21932784A JPH0352676B2 JP H0352676 B2 JPH0352676 B2 JP H0352676B2 JP 59219327 A JP59219327 A JP 59219327A JP 21932784 A JP21932784 A JP 21932784A JP H0352676 B2 JPH0352676 B2 JP H0352676B2
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Aran Kaapu Joeru
Ansonii Riido Jon
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Publication of JPH0352676B2 publication Critical patent/JPH0352676B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4097Bit-line organisation, e.g. bit-line layout, folded bit lines
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/02Disposition of storage elements, e.g. in the form of a matrix array
    • G11C5/025Geometric lay-out considerations of storage- and peripheral-blocks in a semiconductor storage device

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Picture Signal Circuits (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 (1) 発明の分野 この発明は集積回路メモリアレイに関するもの
で、特に、メモリセルのそれぞれが1個のトラン
ジスタと容量性蓄積ユニツトとから構成されてい
るようなメモリアレイに関する。このような組合
わせを有するメモリセルは、「単一トランジスタ
セル」と呼ばれている。
(2) 先行技術の説明 「単一トランジスタセル」を用いた装置回路メ
モリとしては、多くの種類のものが先行技術とし
て存在する。「単一トランジスタセル」を用いる
と、集積回路チツプにおけるセルあたりのスペー
スが少なくて済むため、パツキング密度の高い集
積回路を得られるという利点を有している。とこ
ろが、「単一トランジスタセル」を用いた場合に
は、その中に蓄えられた電荷を再ストアすなわち
リフレツシユしなければならないという欠点があ
る。一方、電荷の再ストアを必要としないスタテ
イツクメモリでは、それぞれが2個またはそれ以
上のトランジスタを用いてラツチを形成したメモ
リセルとして構成することができる。しかしなが
ら、このスタテイツクメモリでは、セルあたりの
トランジスタの数が増加するに従つて、セルあた
りの面積が大きくなつてしまい、その結果セルパ
ツキング密度が減少してしまう。
一般的に、半導体チツプに形成された集積回路
の主な利点は、一度製造工程が開発されると、高
信頼度の回路が大量に製造でき、経済性が高くな
るということである。このため、回路設計におけ
るパツキング密度が増加するに従つて、得られる
回路の製造がより経済的となるのであつて、この
条件からすれば「単一トランジスタセル」の方が
経済性も高いものとなつている。
ところで、「単一トランジスタセル」という用
語は、「0」または「1」の2進ビツト情報をス
トアするためのメモリセルを意味するために用い
られているが、このようなセルではトランジスタ
や容量は1個だけ必要とされており、2個以上必
要としない。このため、上述したように、「単一
トランジスタセル」は、セルパツキング密度をよ
り高くする目的で集積回路メモリにおいて用いら
れてきたのである。ここで用いる集積回路素子は
パイボーラ素子であつてもよいが、この発明にお
いては、電界効果トランジスタを用いるMOS素
子であることが好ましい。周知のように、MOS
(金属−酸化物−半導体)素子は、二酸化シリコ
ンがゲートコンタクト金属およびサブストレート
シリコンチヤネルの間の誘電体絶縁物として働く
電界効果トランジスタである。また、電界効果ト
ランジスタ(FET)は、非導通ゲート端子に電
圧を与えることによつてソース端子およびドレイ
ン端子の間の電流を制御するソリツドステート素
子である。
「単一トランジスタセル」についての先行技術
は、たとえば、Christensenのアメリカ合衆国特
許第3588844号、Steinなどのアメリカ合衆国特許
第3774176号、およびMarkowitzのアメリカ合衆
国特許第3789371号で開示されている。
集積回路メモリに関する水準は、長い間、1個
の集積回路チツプに1024ビツトのセルを収納でき
るような状態であつた。ところが、現在の集積回
路技術の水準では、1個の集積回路チツプに4096
ビツトのセルを収納できる状態にある。しかしな
がら、集積回路チツプに収納されるビツトセルの
数をかなり増加させるためには、或る問題を克服
しなければならない。この発明を用いれば、1個
の集積回路チツプに16384ビツトセルまたはそれ
以上のセルを備える集積回路メモリを提供するこ
とができる。
メモリ回路のレイアウトを行なうにあたつて
は、アレイの中にあるそれぞれのセルと検出増幅
器との関係を考慮する必要がある。検出器の配置
の1つの形式としては、それぞれの検出増幅器を
アレイの中央に配置して、それぞれの検出増幅器
の両側の列に位置するメモリセルに対する検出増
幅を行わせるという方法がある。このようにする
と、差動的な動作が行なわれることになり、その
結果非常に小さな振幅を持つ信号を検出すること
ができる。これは、特に「単一トランジスタセ
ル」メモリにおいては有利である。しかしなが
ら、このようなアレイの中央での検出方法では、
容量が不平術となり、これに対する補償を行なわ
なければならない。アレイの中央で検出を行なう
方法以外に、検出増幅器をアレイの一方の端縁に
設置し、セルアクセシング回路をアレイの他方の
端縁に設けるという方法もある。
メモリセルから得られる信号はその振幅が小さ
いために、差動検出を行なうことが必要である
が、メモリアレイの中央に検出増幅器を物理的に
位置させることは、アレイのセルの数が多いとき
には非実用的となつてしまう。このため、大きな
メモリアレイの一方の端縁の位置に設けられ、か
つ差動検出および完全平衡動作をも行なうことが
できるような検出増幅器を備えることのできるメ
モリアレイが望まれることになる。
この発明は、このような状況に鑑みてなされた
もので、1個の集積回路チツプの上に設けること
ができるような、改良された密度の大きなメモリ
アレイを提供することを1つの目的としている。
この発明の他の目的は、アレイの設計をやり直
す必要なしにアレイの機能を増加できるような改
良されたメモリアレイを提供することである。
この発明のさらに他の目的は、差動検出および
平衡動作を行なうことができる検出増幅器を備え
ることのできる、改良されたメモリアレイを提供
することである。
発明の概要 上述した目的を達成するために、この発明で
は、単一トランジスタセルおよびそれに対して設
けられる差動検出増幅器のメモリアレイの構成を
対象としている。差動検出増幅器を収容するため
に、アレイは行と機能的な列を構成するように配
列されている。この機能的な列は1対の例からな
つており、奇数行に存在するセルは対とされた列
導体のうちの奇数列導体に接続されており、ま
た、偶数行に存在するセルは対とされた列導体の
うちの偶数列導体に接続されている。そして、差
動検出増幅器は、奇数列および偶数列のそれぞれ
の対ごとに設けられており、これらの列導体の対
はこの検出増幅器の端子において固有に平衡され
たものとなつている。シングルエンデイツドまた
はエツジエンデイツドとなつている入力/出力回
路ににおいて、列のそれぞれの対に対する直接ア
クセスが行なわれる。
検出増幅器のそれぞれは、ソースホロアによつ
てそれぞれの列に接続された交差結合ラツチと、
それぞれの列に結合されセルの「0」レベルを条
件的に再ストアするラツチ駆動書き戻しゲートか
らのリードとから構成されている。また、このメ
モリアレイは列導体をプリチヤージするためのプ
リチヤージ手段を含んでいる。
このように、この発明は行および列として配列
されたメモリセルのアレイを含み、かつ列母線
(バス)の対が設けられ、アレイの奇数行セルが
対の奇数列母線に結合されるとともに、偶数行セ
ルは対の偶数列母線に結合され、さらにプリチヤ
ージ手段を備え、列母線の対のそれぞれに設けら
れる検出増幅器の端子において固有に平衡された
システムを提供するようなメモリアレイとなつて
いる。
この発明の1つの特徴としては、アレイの中の
個々のセルが1個のトランジスタおよびそれに関
連する容量から成り立つているようなメモリアレ
イを対象としていることが挙げられる。
この発明のこのような目的、利点および特徴
を、以下、図面を参照しつつ説明することによつ
て明らかにしよう。
実施例の一般的説明 上述したように、この発明の目的のアレイの一
方の端縁に位置した検出増幅器によつて差動検出
を行なわせることができるような改良されたメモ
リアレイを提供することである。この目的で設計
された実施例であるメモリアレイの構成を第1図
に示す。第1図に示されているように、このアレ
イは複数個のメモリセルC11,…,CNnから
構成されており、これらのメモリセルはn列およ
びN行のマトリツクス状に配列されている。それ
ぞれのセルは電界効果トランジスタ21によつて
充電および放電されることのできるような容量2
2を備えている。セルのそれぞれのトランジスタ
21は行選択ライン17a,…,17Nのうちの
1つに結合されている。すなわち、偶数番号の行
に存在するセルの中のトランジスタ21は列選択
ラインの組18a,…,18nのうちのいずれか
1つに結合されており、一方、奇数番号の行に存
在するセルの中のトランジスタ21は列選択ライ
ンの他の組19a,…,19nのうちの1つに接
続されている。このようにして、それぞれ対にさ
れた列ライン18および19のそれぞれは、nと
して同じ番号を有する参照番号で示されたメモリ
セルに接続されて、等しい容量および初期電位を
有する平衡されたラインのベアを与えている。ま
た、列ラインのそれぞれの対はそれぞれの差動検
出増幅器13a,…13nの端子に結合されてい
る。第1図の回路を完成するために、列ラインの
それぞれの対18および19はその反対側におい
て列入力/出力データ交換装置16a,…,16
nの1つに結合されており、さらにそれぞれの列
デコードユニツト11a,…,11nに結合され
ている。
第2図は、この実施例のメモリ配置の全体を図
解したものであり、上に述べたセルアレイ10に
加えて、検出増幅器13、列入力/出力16を有
する列デコーダ11、行デコーダ12およびクロ
ツクユニツト14を含んでいる。メモリアレイ1
0と外部との間のデータの交換は入力/出力ユニ
ツト15によつて行なわれる。
これまでに述べたメモリアレイは数多くの利点
をもたらす。たとえば、検出増幅器および入力/
出力回路が自律的に機能することによつてほとん
ど完全に平衡した状態でレイアウトすることので
きる非常に敏感な検出増幅器を設計することがで
きる。また、この構成によつて達成されるセルの
縦横比においては、周辺回路を非常に効率的に設
計することができ、このようにしてチツプの全体
的な大きさを最小にすることができる。
このメモリアレイでは、差動検出増幅器を用い
ることができるだけでなく、個別に増幅する増幅
器をこのメモリアレイに用いることもできる。従
来の差動ラツチ型検出増幅器においては、低イン
ピーダンスレベルにおいて容量性不平衡が生じ、
また書込み回復時期が長い上に電力消費が大きい
という問題が存在していた。書込み回復時間がこ
のように長くなるのは、再ストア動作を行なうた
めに正方向クロツク信号が必要とされるときに、
比較的高いインピーダンスを有する負荷素子を介
して広がつて列母線を駆動しなければならないと
いうことに起因する。この発明ではそのような問
題が生じないばかりでなく、上に述べたような
「単一トランジスタ」を密にパツケージした配列
を効率的に設計することができる。
この発明の実施例で用いられる検出増幅器を一
般化した構成を第3図に示す。ここに示されてい
るように、この増幅器は交差結合ラツチ31を含
んでいる。この交差結合ラツチ31は偶数列母線
18と奇数列母線19との間にあり、これらの列
母線はそれぞれソースホロア32および33によ
つてラツチ31に結合されている。特定の列に存
在する種々のメモリセルを再ストアするときに
は、偶数列母線18を書き戻しゲート34によつ
て駆動し、奇数列母線19を書き戻しゲート35
によつて駆動する。クロツク信号はインバータ3
6を介してラツチ31に与えられる。
列母線18および19の双方は最初にプリチヤ
ージされて平衡されている。もし「0」が特定の
セルにストアされているならば、(上で論じたよ
うに偶数また奇数行選択ラインを介して)選択さ
れる列母線は第3図のクロツクインバータ36を
介して増幅器に与えられる正方向クロツク信号の
作用によつて、「0」Vに放電される。もし「1」
がアクセスされたセルにストアされているなら
ば、対応する列母線は充電されたままとなるであ
ろう。このようにして、セルにストアされている
情報はクロツク信号の立上がりのそれぞれでリフ
レツシユされる。
検出増幅器はストアされた「1」に何の影響も
及ぼさない。このようなデータはセルを母線に接
続するだけで完全に再ストアされる(すなわち、
第1図において行1が選択されると、セルC11
の中の容量22の電圧が、容量22が充電されて
いたか否かにかかわらず、母線19aの電圧と等
しくなる)。検出増幅器は、有限の容量比がある
ために生じる小さな電位差の極性を識別し、母線
18または19のうち、電位がより低いとみなさ
れたものを「0」に放電する働きをするだけであ
る。
先行技術の、特に「低インピーダンス」ラツチ
においては、双方の母線18および19は最初に
検出クロツク作用でレベルがかなり減じられてい
るため、2つの母線のうち電位の高い方を条件的
に充電しなければならない。この結果、電力/速
度のトレードオフが生じてしまうが(すなわち、
再充電を速くし、書込み回復時間を短くするため
には、余分の電力を消費しなければならない。)、
このようなことはこの発明では生じない。また、
アレイの端縁に検出器を配置すると、書込みを行
なうときにそれぞれアドレスされたセルに対して
直接にアクセスを行なうことが可能となるが、端
縁でアクセスし、中央で検出するアレイを用いる
先行技術では、端縁に存在するアクセス回路に直
接に接続されていないアレイの半分に属するセル
(すなわち、検出増幅器を介してアクセス回路に
接続されているセル)にデータを与えるときに
は、検出増幅器でこのデータを反転して再伝送す
る必要がある。
実施例の詳細な説明 この発明の実施例の詳細を第4図に示す。第4
図に示すように、列入力/出力ユニツト16が1
対の列母線18および19によつて検出増幅器1
3、2個のメモリセルC1およびC2ならびにダ
ミーセルD1およびD2に結合されている。ダミ
ーセルD1およびD2は、メモリへのアクセスの
際に、それらが結合された例母線のうちの1つが
駆動されたとき、列母線に負荷平衡を維持するこ
とを目的として設けられている。それぞれのメモ
リアクセスサイクルの間では、奇数列母線と偶数
列母線の双方ではなくその一方のみが用いられる
ことに注意されたい。
偶数蓄熱セルC1および奇数蓄熱セルC2は第
1図に関して述べたそれぞれの奇数および偶数蓄
熱セルと同じものである。蓄熱セルC1はコンデ
ンサ221を含んでおり、このコンデンサ221
は偶数行選択ライン171の信号によつて駆動さ
れる電界効果トランジスタ211を通して偶数列
母線18から充電または放電される。同様に、奇
数蓄熱セルC2はコンデンサ222を含んでお
り、このコンデンサ222は奇数行選択ライン1
72の信号によつて駆動される電界効果トランジ
スタ212を通して奇数列母線19から充電また
は放電される。第4図の2個の蓄熱セルと第1図
の対応する蓄熱セルと差は、コンデンサ221お
よび222の共通側が接地されておらず、定電圧
源Vddに接続されているということである。
第4図に示すように、1対のダミーセルD1お
よびD2は奇数および偶数列母線の対ごとに、す
なわちメモリセルの列ごとに設けられている。ダ
ミーセルD1はコンデンサ224を含んでおり、
このコンデンサ224は電界効果トランジスタ2
14を介して奇数列母線19に結合されており、
偶数ダミー選択ライン173によつて順に駆動さ
れる。
ダミーセルD2はコンデンサ223を含んでお
り、このコンデンサ223は奇数ダミー選択ライ
ン174からの信号によつて駆動される電界効果
トランジスタ213を介して偶数列母線18に結
合されている。容量223および224は、その
共通側が定電圧源Vddに接続されており、それぞ
れは対応する蓄熱セルC1およびC2の個々のコ
ンデンサ221および222の容量の2分の1の
容量を有している。
上記の説明から、偶数蓄熱セルC1が偶数行選
択ライン171の信号によつて偶数列母線18に
充電または放電されると同時に、ダミーセルD1
が偶数ダミーライン173によつて奇数列母線1
9に充電または放電され、逆に奇数蓄積セルC2
が奇数列母線19に充電または放電されると同時
に、ダミーセルD2が奇数ダミーライン174に
よつて奇数列母線18に充電または放電されるこ
とがわかる。また、ダミーセルは基準設定器とし
て働いており、このようにして差動検出増幅器1
3に対して平衡された対の奇数および偶数列母線
を与えている。ダミーセルD1およびD2はそれ
ぞれ電界効果トランジスタ215および216に
与えられるリセツト信号によつて各サイクルごと
にリセツトされる。
検出増幅器13の詳細は第4図に示されてお
り、この検出増幅器13は電界効果トランジスタ
131および132からなる交差結合ラツチを含
んでいる。ラツチに与えられる入力信号はそれぞ
れ負荷電界効果トランジスタ134または133
を経由して偶数列母線18または奇数列母線19
のいずれかから受取られ、前記トランジスタ13
3,134はソースホロアとして働く。このよう
なカスケード結合を用いることによつて、増幅器
の利得を高くすることができる。ラツチからの出
力信号は書き戻しトランジスタ136または書き
戻しトランジスタ135のいずれかによつて増幅
され、それぞれ偶数列母線18または奇数列母線
19を駆動する。上に示すように、この書き戻し
は個々の蓄熱セルを再ストアする働きをする。
ラツチはリセツトトランジスタ138によつて
最初にプリチヤージされており、トランジスタ1
37を介して与えられる正方向クロツク信号SE
によつて駆動される。これらのすべてのトランジ
スタは電界効果トランジスタである。同様に、偶
数列母線18および奇数列母線19がそれぞれト
ランジスタ140および139によつてプリチヤ
ージされる。従来の増幅器では、電界効果トラン
ジスタ134および133は再蓄熱クロツク信号
によつてゲートされ、列母線18および19はそ
れぞれ接続点A′およびB′に接続されている。し
かしながら、この実施例の検出増幅器では、トラ
ンジスタ133および134のゲートがそれぞれ
の検出ラインすなわち列母線に結合されている。
第4図の増幅器の修正例を第5図に示す。この
修正例では、リセツト信号は電界効果トランジス
タ141にも与えられており、このため偶数列母
線18および奇数列母線19の初期電位が等しく
なる。トランジスタ142は書込みを容易にする
ために設けられている。この回路は第4図の偶数
列母線18と回路接続点A′に加えられる類似の
リセツト信号に関して対称になるように完成され
るべきであるということが理解されよう。これに
よつて、設置されたメモリアレイに適応する高イ
ンピーダンス再生増幅器を提供することになる。
上に示したように、それぞれの回路接続点A′お
よびB′は検出ラインすなわち列母線から遮断さ
れており、これらは低い容量のラインとなつてい
る。このようにして、ストアされているデータの
極性の判定を非常に迅速に行なうことができる。
このような形態に回路を設計することによつ
て、列母線の容量は低くなり、列母線の容量に対
する個々のセル蓄熱容量の比率が大きくなつてい
る。この比率はセルの蓄熱容量を大きくするよう
に製造方法を選ぶことによつてさらに大きくする
ことができる。この発明のメモリアレイの製造方
法はこの発明の範囲外のことであつて、ここで詳
細に論ずることは省略する。MOS製造方法に関
する一般的な文献としては、たとえばVan
Nostrand Reinhold Company(1972)のMOS
Integrated Circuitsに記載されている。しかしな
がら、個々のメモリセルのコンデンサの製造につ
いては、以下に説明しておこう。
金属−酸化物−半導体(MOS)素子は、より
一般的なクラスである金属−絶縁物−半導体
(MIS)構造のサブクラスとして考えることがで
きる。一般的に、MIS回路の設計においては、素
子の利得および負荷容量は程度の差はあるものの
高パツキング密度を得るために課せられる物理的
制限によつて決まつてくる。MIS回路の性能特性
は、もし回路の全負荷容量を小さくすることがで
きれば改善を加えることができる。パツキング密
度をより高くするためには、個々のセルの大きさ
をできる限り小さくすることが望ましいが、そこ
には最小のセルの大きさに対する或る制限があ
り、それ以下ではセルに容量性負荷を与えると、
電圧の触れが検出不可能な点にまで少なくなつて
しまう。セルからの信号電圧は蓄熱容量と接合容
量との和に対するセル蓄熱容量の比率に比例す
る。接合容量はGosneyなどのアメリカ合衆国特
許第3825119号において述べられているように、
減少させることができる。MISセルの蓄熱容量を
改善するような製造方法もまた可能である。製造
方法を選択することによつて蓄熱容量を改善し、
この発明による配置によつて負荷容量を減少する
ことによつて、極めて高いセルパツキング密度を
有する集積回路メモリを開発することができる。
まとめ 上に開示したように、単一トランジスタセルの
メモリアレイ構成において、アレイの一方の端縁
に差動検出増幅器が設けられ、検出増幅器のそれ
ぞれはアレイの奇数および偶数列母線の対に対し
て設けられている。このアレイは行および機能的
な列として配列され、この機能的な列は列の対か
らなり、そして奇数行のセルは対の奇数列に接続
され、偶数行のセルは対の偶数列に接続されてい
る。また、このメモリアレイは列導体をプリチヤ
ージするプリチヤージ手段を含んでいる。
それぞれの検出増幅器は、ソースホロアと列母
線のそれぞれに結合されたラツチ駆動書き戻しゲ
ートからのリードとによつて1対の列母線の間に
接続された交差結合ラツチの形をしており、それ
によつてアクセスされたセルを再ストアする。
このような方法によつてセルを配置することに
よつて、不平衡信号交差結合で生ずるような不要
な差を結合し、高インピーダンス再生増幅器の端
子に対して忠実にデータを反映した差動信号を与
えることができる。増幅器の接続点は検出ライン
すなわち列母線から遮断されているため、非常に
低い容量を有するラインとなつている。このよう
にして、デジタル信号の存在に関する決定が極め
て迅速に行なわれる。また、プリチヤージ手段に
よつて列母線をプリチヤージすることによつて、
検出・増幅を極めて高速に行なうことができる。
この発明の実施例を開示したが、特許請求の範
囲に記載された発明の精神およびその範囲から逸
脱することなく変形および修正が可能であるとい
うことは当業者にとつて明らかであろう。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例であるメモリアレイ
の構成を概略的に示す図である。第2図はこの発
明の実施例であるメモリアレイシステムのブロツ
ク図である。第3図はこの発明の実施例に用いら
れる検出増幅器のブロツク図である。第4図はこ
の発明の実施例で用いられる検出増幅器およびそ
れのメモリアレイへの接続を示す図解図である。
第5図は第4図に示した検出増幅器の修正例を示
す図である。 図において、10はセルアレイ、C11,…,
CNnはメモリセル、11は列デコードユニツト、
13,13a,…,13nは差動検出増幅器、1
4はクロツクユニツト、15は入力/出力ユニツ
ト、16は列入力/出力回路、17a,…,17
Nは行選択ライン、18は偶数列母線、18a,
…,18nは偶数列選択ライン、19は奇数列母
線、19a,…,19nは奇数列選択ライン、3
1は交差結合ラツチ、32および33はソースホ
ロア、34および35は書き戻しゲート、36は
クロツクインバータをそれぞれ示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 互いに平行にかつ互いに隣接して配列される
    複数の対の列ラインと、 各々が前記対の平行でかつ隣接する列ラインと
    交差する複数の行ラインと、 行および列に配列される複数個のメモリセルか
    らなるアレイとを備え、各々のセルはそれぞれの
    列ラインと行ラインへ、その交差点で接続され、 各々がそれぞれの平行な列ライン対に結合され
    る複数の検出増幅器をさらに備え、各検出増幅器
    は1対の回路接続点を有する交差結合ラツチを含
    み、各接続点は前記列ライン対のそれぞれの列ラ
    インへ接続され、前記ラツチは前記回路接続点間
    の電圧差を検出するための1対のトランジスタを
    含み、 一対の負荷トランジスタをさらに備え、ハイ・
    オン電圧を有する回路接続点へ接続されるトラン
    ジスタがオンにされかつロー・オン電圧を有する
    回路接続点へ接続されるトランジスタがオフにさ
    れるように、前記負荷トランジスタの各々が前記
    検出増幅器の回路接続点を電源電圧へ接続するラ
    ンダムアクセス半導体メモリ装置。 2 互いに平行にかつ互いに隣接関係に配列され
    る複数の対の列ラインと、 前記列ラインと交差する複数個の行ラインと、 行および列に配列される複数個のメモリセルか
    らなるアレイとを備え、前記アレイの奇数行のセ
    ルはそれぞれ奇数行ラインと奇数列ラインとの間
    に結合され、かつ前記アレイの偶数行のセルはそ
    れぞれ偶数行ラインと偶数列ラインとの間に結合
    され、 それぞれ前記列ライン対に結合される複数個の
    検出増幅器をさらに備え、前記各検出増幅器は一
    対の回路接続点を有する交差結合ラツチを含み、
    前記ラツチは前記回路接続点間の電圧差を検出す
    るため一対のトランジスタから形成され、 前記列ラインの一方と前記回路接続点の一方と
    の間に各々結合され前記列ラインの一方または他
    方から対応の回路接続点へ入力信号を供給するた
    めの一対のソースフオロアと、 前記列ラインの一方と前記回路接続点の一方と
    の間に各々結合されて、前記入力信号が受けられ
    る列ラインを再ストアするための1対の書き戻し
    ゲートとをさらに備えた、ランダムアクセス半導
    体メモリ装置。 3 1対の列ラインと、 1対の回路接続点を有する交差結合ラツチとを
    備え、前記ラツチは検出期間の間前記接続点間の
    電圧差を検出するため1対のトランジスタから形
    成され、 列ラインの一方と前記接続点の一方との間に
    各々結合されて、前記列ラインの一方または他方
    から対応の回路接続点へ入力信号を供給するため
    の1対のソースフオロアと、 列ラインの一方と前記回路接続点の一方との間
    に各々結合されて前記入力信号が受けられる列ラ
    インを再ストアするための1対の書き戻しゲート
    とを備えた、半導体メモリ装置。 4 互いに平行にかつ互いに隣接関係に配列され
    る複数の対の列ラインと、 前記列ラインと交差する複数の行選択ライン
    と、 行および列に配列されている複数個の単一トラ
    ンジスタメモリセルのアレイとを備え、前記アレ
    イの奇数行のセルはそれぞれ奇数行選択ラインと
    奇数列ラインとの間に結合され、かつ前記アレイ
    の偶数行セルはそれぞれ偶数行選択ラインと偶数
    列ラインとの間に結合され、 前記行選択ラインと平行に配列される1対の奇
    数および偶数ダミー選択ラインと、複数個の対の
    奇数および偶数ダミーセルとをさらに備え、各ダ
    ミーセルはコンデンサに直列に接続されるトラン
    ジスタから形成され、前記奇数ダミーセルのトラ
    ンジスタは前記奇数ダミー選択ラインと奇数列ラ
    インとの間に結合されかつ前記偶数ダミーセルの
    トランジスタは前記偶数ダミー選択ラインと偶数
    列ラインとの間に結合され、 前記ダミーセルのコンデンサに結合され、プリ
    チヤージ期間の間前記ダミーセルのコンデンサを
    リセツトするための手段と、 前記各列に結合され前記プリチヤージ期間の間
    前記列ラインをプリチヤージするための手段と、 列ライン対にそれぞれ結合されて、前記各列ラ
    イン対間の電圧差を検出するための複数個の検出
    増幅器とをさらに備えた、半導体メモリ装置。 5 前記リセツト手段は複数個のトランジスタを
    含み、かつダミーセルの前記コンデンサは前記ト
    ランジスタを通じてリセツトされる、特許請求の
    範囲第4記載の半導体メモリ装置。
JP59219327A 1975-07-10 1984-10-17 メモリアレイ Granted JPS6163998A (ja)

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US594669 1984-03-29

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JPS6163998A JPS6163998A (ja) 1986-04-02
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