JPH0351815Y2

JPH0351815Y2 -

Info

Publication number: JPH0351815Y2
Application number: JP1985033995U
Authority: JP
Priority date: 1985-03-09
Filing date: 1985-03-09
Publication date: 1991-11-07
Also published as: JPS61153116U

Description

【考案の詳細な説明】産業上の利用分野この考案は、フロツピーデイスク等の円盤状記
録媒体に垂直磁化方式で情報信号の記録・再生を
行う垂直磁気記録再生装置の磁気ヘツド送り装置
に関する。

従来の技術フロツピーデイスク装置等の分野において、垂
直磁化方式で情報の記録再生を行う技術が、従来
の面内記録方式に比べて高密度記録を達成できる
ところから注目を集めている。

この垂直磁化方式による記録再生装置は、磁気
ヘツドに対向して挿填される円盤状記録媒体であ
るデイスクに、磁気ヘツドを介してデイスク円周
方向のトラツクに磁界を印加し、磁場の反転によ
り情報の記録を行い、印加された磁界を磁気ヘツ
ドで検出して情報信号の再生を行うものである。
この磁気ヘツドはデイスク半径方向に一定ストロ
ークで往復移動させる駆動系を介して支持され、
その駆動によりトラツキング制御される。

従来、この磁気ヘツドの駆動系は、デイスク半
径方向に平行に配設したガイドシヤフトに磁気ヘ
ツドを設けたブロツク体を摺動可能に取り付け、
このブロツク体を駆動モータによる回転駆動力で
伝達機構を介して移動させるようにした、例え
ば、ネジ送り手段とか無端ベルトによる送り手段
等の機械的手段によるものが一般であつた。

考案が解決しようとする問題点しかしながら、従来の機械的手段による装置で
は、その取り付け精度に高精度が要求されるもの
で、この機械的精度に磁気ヘツドのデイスク半径
方向への送り（トラツク送り）精度が依存するこ
とになる。しかし、機械的精度を高めるには限界
があり、このため、トラツク送り精度を70μm以
下にすることが困難であつた。

したがつて、機械式のものでは、その取り付け
精度を高めても限度があり、トラツク密度の高密
度化およびアクセス速度の高速度化等を図るのに
限界があつた。

この考案は以上の点に鑑みなされたもので、垂
直磁化方式による磁気ヘツドのデイスク半径方向
の移動位置を精度良く正確に検出し、移動位置を
精度良く制御できるようにし、磁気ヘツドのトラ
ツク送り精度をさらに高めることを目的とする。

問題点を解決するための手段以上の目的を達成するために、この考案は、垂
直磁気記録再生装置の磁気ヘツド送り装置を、一
端部に磁気ヘツドを片持ち状に支持して他端基部
を支点にデイスク半径方向へ往復回動されるレバ
ー体と、このレバー体の往復回動を介して磁気ヘ
ツドをデイスク半径方向へ所定ストロークで往復
移動させるコイルとマグネツトの組合せからなる
電磁駆動手段と、上記レバー体の一側面に取付け
られた反射ミラーとこの反射ミラーに平行光を入
射させる発光素子と反射ミラーで反射した光をレ
バー体の回動位置に応じた位置で受光するように
光検出方向に配設された光ポジシヨンセンサとに
より構成された光学的測定手段と、光ポジシヨン
センサの位置検出信号に基づいて電磁駆動手段を
制御する制御手段とにより構成し、光ポジシヨン
センサにてレバー体の回動位置に応じた反射光の
変位を検出すると共に、該変位の検出に基づいて
磁気ヘツドの移動位置を検出・制御するようにし
た。

作用電磁駆動手段の駆動によつてレバー体をデイス
ク内周側へ回動変位させると、磁気ヘツドがデイ
スクの最内周トラツクから最外周トラツクの範囲
でデイスク半径方向の内周側又は外周側へ所定ス
トロークで移動する。この移動に伴つて反射ミラ
ーに入射した光の反射光の反射角度が変位する。
すると、光ポジシヨンセンサにおける反射光の受
光位置が変位し、この変位に基づいてレバー体の
回動位置、すなわち、磁気ヘツドの移動位置が検
出される。この位置検出信号に基づいて電磁駆動
手段が駆動制御され、この制御により磁気ヘツド
がデイスク半径方向の所定トラツクに移動制御な
らびに位置決め制御される。電磁駆動手段は、印
加する電圧の制御によつて駆動制御される。

上記のように、反射ミラーで反射される光の反
射角度がレバー体の回動に応じて変位するので、
この変位を光ポジシヨンセンサにて検出して磁気
ヘツドの移動位置の検出ならびに磁気ヘツドの位
置決め制御を行つている。

実施例以下、この考案の実施例を図面を参照して説明
する。

第１図は、本案に係る装置を示すもので、Ｄは
磁気デイスク、１０は磁気ヘツド、３０は制御手
段を示し、磁気ヘツド１０に対向して挿填される
磁気デイスクＤの半径方向に磁気ヘツド１０を往
復移動させる電磁駆動手段と、磁気ヘツド１０の
移動変位を検出する光学測定手段と、この光学測
定手段による検出レベルで電磁駆動手段を制御す
る制御手段３０とで概略構成されている。

磁気ヘツド１０は、平行に側壁を形成したコ字
状の支持体１００に一端寄り側部をゴム等の弾性
材料でなる一対のダンパー部材１４，１４を介し
て垂直方向および水平方向に一定ストロークで回
動可能に支持されたレバー体１１の先端に取り付
けられている。レバー体１１はダンパー部材１
４，１４によつて片持ち状に支持されている。レ
バー体１１の支持体側端部には、永久磁石１２が
取り付けられている。この永久磁石１２の両側方
には、トラツキング制御用コイル１５，１５が一
定の空隙をおいて配設され、磁気ヘツド１０をデ
イスク半径方向（トラツキング方向）に移動制御
する磁気回路系を形成している。さらに、永久磁
石１２の上方には、コ字状の磁性体１６１にコイ
ル１６２を巻き付けた電磁石が磁性体１６１の折
曲端を永久磁石に対向させて配設されている。

以上のように、磁気ヘツド１０を移動させる電
磁駆動手段は、カンチレバー方式で構成されてい
る。

そして、光学測定手段は、レバー体１２の側面
に取り付けた反射ミラー２０と、反射ミラー２０
に所定の入射角度で平行ビームを照射するように
配設した発光体２１と、反射ミラー２０で反射さ
れた平行ビームを受光する光ポジシヨンセンサ２
２とで構成されている。発光体２１は、LED等
の発光素子でなり、発光素子から発する光を平行
ビームに変換する光学レンズ２１１を前方に設け
て形成され、平行ビームがデイスク面に平行に照
射されるように配設されている。光ポジシヨンセ
ンサ２２は、一次元の受光部２２１を形成したも
ので、受光部２２１がデイスク面に平行、かつ、
反射ミラー２０からの反射光の受光方向に配設さ
れている。

次に、以上の構成による装置の磁気ヘツドの移
動および移動変位の検出について説明する。

第２図実線で示すように、磁気ヘツド１０は、
レバー体１１がダンパー部材１４，１４によつて
中立位置に支持された状態のとき、磁気デイスク
Ｄの最内周の情報トラツクT₁と最外周の情報ト
ラツクT₂との中間に位置している。磁気ヘツド
１０は、トラツキング制御用コイル１５，１５に
電流を流すことによつて、レバー体１１が水平方
向に回動して、トラツキング方向に移動される。
コイル１５，１５に流す電流を最大まで強める
と、第２図破線で示すように、磁気ヘツド１０が
最内周のトラツクT₁に対向する位置まで移動さ
れる。電流を弱めると、ダンパー部材１４，１４
の弾性復帰力により元の中立位置に戻ろうとす
る。このように、コイル１５，１５に流す電流の
強弱によつて、磁気ヘツド１０は中立位置から最
内周トラツクT₁の間を移動される。そして、第
２図の仮想線で示すように、磁気ヘツド１０を最
外周のトラツクT₂まで移動させる場合、コイル
１５，１５に流す電流を、内周方向に移動させた
時と逆の方向に流せば、この電流の強弱によつ
て、中立位置から最外周トラツクT₂の間を移動
される。

そして、磁気ヘツド１０の移動に伴い、レバー
体１１に取付けた反射ミラー２０も同方向に移動
する。レバー体１１が中立状態の時、発光体２１
から発つせられる平行ビームは、反射ミラー２０
に反射し、光ポジシヨンセンサ２２の受光部材２
２１の中間を照射している。磁気ヘツド１０を移
動させると、反射ミラー２０に照射される平行ビ
ームの反射位置が変わる。それで、磁気ヘツド１
０がトラツクT₁まで移動された時、光ポジシヨ
ンセンサ１０の受光部２２１の一端寄りを照射
し、磁気ヘツド１０がトラツクT₂まで移動され
た時、受光部２２１の他端寄りを照射する。

以上のように、レバー体１１の回動で、反射ミ
ラー２０に反射された平行ビームの照射位置が変
わり、反射光の反射角度が変位する。その変位が
光ポジシヨンセンサ２２にて検出される。光ポジ
シヨンセンサ２２は、例えばPSD（ポジシヨンセ
ンシングダイオード）で構成されており、反射角
度の変位による受光位置の変位に基づいて磁気ヘ
ツド１０の移動位置を直接検出する。そして、磁
気ヘツド１０の移動位置に応じた電気信号を出力
する。この位置検出信号は、制御手段３０に入力
され、この入力に基づいて電磁駆動手段が駆動制
御される。

第３図は、上記の電磁駆動手段を駆動制御する
制御手段３０の回路系統を示すものである。

光ポジシヨンセンサ２２で検出されたヘツド１
０の移動位置検出信号は、Ａ／Ｄ変換器３１を通
してデジタル信号に変換され、CPU３２にメモ
リーされる。CPU３２には、トラツク数指示系
３３により、所要トラツク数が指示されている。
そして、CPU３２から磁気ヘツド１０を移動さ
せる任意のトラツクを指示し、ロツクポイント指
示系３４を通して指示信号を出す。指示信号は
Ｄ／Ａ変換器３５を通してアナログ信号に変換さ
れる。このアナログ信号はバイアス点指示系３６
を通して、電圧レベルの電気信号に変換される。
このバイアス点指示信号と、光ポジシヨンセンサ
２２からの検出レベル信号とを比較器３７を通し
て比較し、位相補償系３８を通してトラツキング
制御コイル１５に電流が流され、その強弱、方向
に応じて磁気ヘツド１０がトラツキング方向に所
定距離移動される。磁気ヘツド１０が移動される
と、光ポジシヨンセンサ２２で検出される信号の
レベルが変化し、バイアス点指示信号との比較差
が±０になる。そうすると、磁気ヘツド１０は、
指示されたトラツク上に位置し、その状態に位置
決め保持される。このようにして磁気ヘツド１０
がトラツキング制御される。

考案の効果以上説明したとおり、本案の磁気ヘツド送り装
置によれば、従来の機械的手段による送り装置に
比べると、はるかに簡単な構造で高精度の送り装
置を構成できる。

そして、従来提案されている各種の送り装置と
は異なる構成の光学的測定手段を備えたカンチレ
バー方式の磁気ヘツド送り装置を提供することが
できる。

また、本案によれば、従来の機械的送り手段に
よるものに比べて格段に正確・高精度に磁気ヘツ
ドの移動位置を検出し、かつ、トラツキング方向
により高精度で正確に移動制御することができ
る。また、光ポジシヨンセンサにてヘツドの移動
位置を直接検出し、この検出に基づいて電磁駆動
手段をドライブし、カンチレバー状に支持された
磁気ヘツドを移動制御するようにしているので、
制御の応答性が良く、アクセスのさらに高速化を
実現できる。その上、ヘツドのトラツキング制御
を高精度で行えるので、トラツク密度高密度化に
対応できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本案に係る装置を示す斜視図、第２図
はその動作および光路系を示す平面図、第３図は
その制御系の系統図を示すものである。｛１０……磁気ヘツド、１１……レバー体、１
２……永久磁石、１４……ダンパー部材、１００
……支持体、１５……トラツキング制御用コイ
ル、１６……電磁石｝電磁駆動手段、｛２０……
反射ミラー、２１……発光体、２２……光ポジシ
ヨンセンサ｝光学測定手段、３０……制御手段、
Ｄ……磁気デイスク。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

磁気デイスクに垂直磁化方式で情報信号の記
録・再生を行う磁気記録再生装置の磁気ヘツド送
り装置において、一端部に前記磁気ヘツドを片持
ち状に支持して他端基部を支点にデイスク半径方
向へ往復回動されるレバー体と、このレバー体の
往復回動を介して前記磁気ヘツドを前記デイスク
半径方向へ所定ストロークで往復移動させるコイ
ルとマグネツトの組合せから成る電磁駆動手段
と、前記レバー体の一側面に取付けられた反射ミ
ラーとこの反射ミラーに平行光を入射させる発光
素子と前記反射ミラーで反射した光を前記レバー
体の回動位置に応じた位置で受光するように光検
出方向に配設された光ポジシヨンセンサとにより
構成された光学測定手段と、前記光ポジシヨンセ
ンサの位置検出信号に基づいて前記電磁駆動手段
を制御する制御手段とからなり、前記光ポジシヨ
ンセンサにて前記レバー体の回動位置に応じた前
記反射光の変位を検出すると共に、該変位の検出
に基づいて前記磁気ヘツドの位置を検出・制御す
るようにした磁気ヘツド送り装置。