JPH0351720A - 光検出素子 - Google Patents
光検出素子Info
- Publication number
- JPH0351720A JPH0351720A JP1184425A JP18442589A JPH0351720A JP H0351720 A JPH0351720 A JP H0351720A JP 1184425 A JP1184425 A JP 1184425A JP 18442589 A JP18442589 A JP 18442589A JP H0351720 A JPH0351720 A JP H0351720A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light receiving
- current
- magnetic field
- receiving part
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 21
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 claims abstract description 14
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 3
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 8
- 230000002463 transducing effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 3
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- NDVLTYZPCACLMA-UHFFFAOYSA-N silver oxide Chemical compound [O-2].[Ag+].[Ag+] NDVLTYZPCACLMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);selenium(2-) Chemical compound [Se-2].[Cd+2] UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000040 hydrogen fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N indium antimonide Chemical compound [Sb]#[In] WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910001923 silver oxide Inorganic materials 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、超伝導体を用いた光検出素子に関し、特にジ
ョセフソン接合を用いた光検出素子に関する。
ョセフソン接合を用いた光検出素子に関する。
[従来の技術]
従来の超伝導体を用いた信号検出素子、特に光信号を検
出する素子としては、ジョセフソン接合を利用したもの
が知られている[JapaneseJournal o
f Applied Physics vol、 23
L333(19114月、この光信号検出素子は、酸
化物超伝導体11aPb6. 、ato、 303 (
BPBO)薄膜でマイクロブリッジ型ジョセフソン接合
を形成し、この接合部に光を照射し、ジョセフソン接合
の臨界電流値の変化を利用するものである。かかる検出
素子においては、受光部の材料としてapeoを用いて
おり、これは臨界温度が約13にと低い、すなわち、検
出素子を動作させるには、液体ヘリウム等を使用しなけ
ればならない。また、かかる検出素子の特性は、ジョセ
フソン接合の特性によって決定される。
出する素子としては、ジョセフソン接合を利用したもの
が知られている[JapaneseJournal o
f Applied Physics vol、 23
L333(19114月、この光信号検出素子は、酸
化物超伝導体11aPb6. 、ato、 303 (
BPBO)薄膜でマイクロブリッジ型ジョセフソン接合
を形成し、この接合部に光を照射し、ジョセフソン接合
の臨界電流値の変化を利用するものである。かかる検出
素子においては、受光部の材料としてapeoを用いて
おり、これは臨界温度が約13にと低い、すなわち、検
出素子を動作させるには、液体ヘリウム等を使用しなけ
ればならない。また、かかる検出素子の特性は、ジョセ
フソン接合の特性によって決定される。
[発明が解決しようとする課題]
上記従来例において、かかる素子の光学的特性(例えば
分光特性)は、超伝導体の分光特性によって検出する光
の波長域が制限され、広範囲の波長帯域の信号検出に適
していないという問題がある。
分光特性)は、超伝導体の分光特性によって検出する光
の波長域が制限され、広範囲の波長帯域の信号検出に適
していないという問題がある。
また、記録素子、半導体メモリー、ジョセフソンメモリ
ー等として作動させる場合、電気的信号により作動させ
るため、配線の引きまわし等による電気的ノイズに弱い
という問題がある。
ー等として作動させる場合、電気的信号により作動させ
るため、配線の引きまわし等による電気的ノイズに弱い
という問題がある。
すなわち、本発明の目的とするところは、光→電流変換
、さらに超伝導物質の磁気特性を利用することにより、
上述のような問題点を解決することにある。
、さらに超伝導物質の磁気特性を利用することにより、
上述のような問題点を解決することにある。
[課題を解決するための手段]
本発明の特徴とするところは、光の照射により電流を発
生する受光部と、該発生電流によって生じた磁場を検出
する信号検出部とを少なくとも有する光検出素子におい
て、前記信号検出部に超伝導体、絶縁体、超伝導体の積
層構造から成るジョセフソン接合(以下、SIS素子と
記す。)を用いた光検出素子にある。
生する受光部と、該発生電流によって生じた磁場を検出
する信号検出部とを少なくとも有する光検出素子におい
て、前記信号検出部に超伝導体、絶縁体、超伝導体の積
層構造から成るジョセフソン接合(以下、SIS素子と
記す。)を用いた光検出素子にある。
また、前記受光部に光伝導性材料又は光起電力を生ずる
材料を用いた光検出素子にある。
材料を用いた光検出素子にある。
ここで、かかる方法を達成するために用いられる信号検
出部としての超伝導体としては、単結晶又は多結晶から
成る超伝導特性を有する材料であれば何でも良い。尚、
検出素子をより高い温度で動作させるためには、臨界温
度の高い材料が好ましい。この点でY−Ba−Cu−0
系、B1−5r−Ca−Cu−0系、T?5r−Ca−
Cu−0系セラミツクス材料のような77により高い臨
界温度を持つ物質が適している。
出部としての超伝導体としては、単結晶又は多結晶から
成る超伝導特性を有する材料であれば何でも良い。尚、
検出素子をより高い温度で動作させるためには、臨界温
度の高い材料が好ましい。この点でY−Ba−Cu−0
系、B1−5r−Ca−Cu−0系、T?5r−Ca−
Cu−0系セラミツクス材料のような77により高い臨
界温度を持つ物質が適している。
一方、検出素子の動作温度は、使用する超伝導体の臨界
温度より低い温度であれば良いが、人力信号の検出感度
を上げるためにも臨界温度に近い温度の方がより好まし
い。
温度より低い温度であれば良いが、人力信号の検出感度
を上げるためにも臨界温度に近い温度の方がより好まし
い。
また、受光部に用いる材料は、光照射により電流が発生
するものであれば何でもよいが、光伝導性材料、光起電
力を発生する材料が望ましい。
するものであれば何でもよいが、光伝導性材料、光起電
力を発生する材料が望ましい。
光伝導性材料としては、CdS、 a−5L、 SL、
InSb。
InSb。
GaAs、 CdSe等があり、光起電力を発生する材
料としては、51. a−Sl等のPN接合、あるいは
ショットキー接合等がある。
料としては、51. a−Sl等のPN接合、あるいは
ショットキー接合等がある。
[作 用]
第1図に、本発明の動作原理を説明するため、素子の概
略構成図を示す。
略構成図を示す。
本図において、先ず、光伝導性材料あるいは光起電力を
発生する材料より成る受光部1に光が照射される。
発生する材料より成る受光部1に光が照射される。
ここで、かかる受光部1が光伝導性材料から成る場合に
は、キャリアが増加し、価電子帯の電子は励起された伝
導帯に遷穆する。この伝導帯中で励起された電子が、直
流電圧源3により印加された電場により移動することで
導線2に光電流が生じる。
は、キャリアが増加し、価電子帯の電子は励起された伝
導帯に遷穆する。この伝導帯中で励起された電子が、直
流電圧源3により印加された電場により移動することで
導線2に光電流が生じる。
一方、受光部1がPN接合等の光起電力を生ずる材料か
ら成る場合には、直流電圧源3は不要で導線2を閉回路
にしておけばよい。
ら成る場合には、直流電圧源3は不要で導線2を閉回路
にしておけばよい。
かかる電流によって発生する磁場により、導線2の近傍
にある515素子4のジョセフソン電流は、第2図に示
すように、L(磁場=0)から夏、’ (iff場≠
0)に変化する。ここで、L>IJ’である。
にある515素子4のジョセフソン電流は、第2図に示
すように、L(磁場=0)から夏、’ (iff場≠
0)に変化する。ここで、L>IJ’である。
さて、直流電流源5によってあらかじめSIS素子4に
バイアス電流Iaを流しておく、ここでInをIJ’
< Ia< IJ のように取っておけば、光信号を
受けてSIS素子4のジョセフソン電流が■4→I、と
なったときに、SIS素子4は超伝導状態から電圧状態
にスイッチすることになる。
バイアス電流Iaを流しておく、ここでInをIJ’
< Ia< IJ のように取っておけば、光信号を
受けてSIS素子4のジョセフソン電流が■4→I、と
なったときに、SIS素子4は超伝導状態から電圧状態
にスイッチすることになる。
すなわち、515素子は、第2図中0−A−B→C→B
→D−0のように動作し、磁場■0の時の動作点はX(
電圧=0)、磁場≠0の時の動作点はY(電圧≠0)と
なる。
→D−0のように動作し、磁場■0の時の動作点はX(
電圧=0)、磁場≠0の時の動作点はY(電圧≠0)と
なる。
[実施例]
以下、実施例により本発明を詳述する。
えgユ
受光部にSi%515素子にNbハJ−AjOx/Nb
を用いた本実施例の素子構成図を第3図に示す。
を用いた本実施例の素子構成図を第3図に示す。
先ず、ノンドープのStウェハー基板(100面)7上
に、半分だけ絶縁Ha (Sio、)を1000人成膜
し、該絶縁膜8上に公知の方法により、下部電極9(N
b)、絶縁層10(^!ハJOx) 、上部電極11(
Nb)を作製し、接合面積5μmX5μmのSIS素子
12を作製した。次に、Stラウェハーフ上絶縁膜8の
ない部分をフッ化水素で処理した後、くし形電極13.
14(C「/^U)をメタルマスクを用いて、図中に示
すような形状に厚さ1500人だけ成膜した。ここで、
くし形電極の長さは4a+m、電極間距離は0.1mm
、受光面積は0.05c11”であった、この方法に
より、SlとCr/Auとの間はオーミック接触がとれ
た。電流線路部15は、S15素子12と10μmの距
離にあるようにした。上記の方法で作製した光検出素子
を用いて光応答性を評価したところ、温度20Kにおい
てバイアス電流1.2mA、 He−Neレーザー(波
長833nm)0.1mW照射照射口形電極間印加電圧
10Vで、SIS素子のスイッチング(OmV→2.8
++V)が確認できた。
に、半分だけ絶縁Ha (Sio、)を1000人成膜
し、該絶縁膜8上に公知の方法により、下部電極9(N
b)、絶縁層10(^!ハJOx) 、上部電極11(
Nb)を作製し、接合面積5μmX5μmのSIS素子
12を作製した。次に、Stラウェハーフ上絶縁膜8の
ない部分をフッ化水素で処理した後、くし形電極13.
14(C「/^U)をメタルマスクを用いて、図中に示
すような形状に厚さ1500人だけ成膜した。ここで、
くし形電極の長さは4a+m、電極間距離は0.1mm
、受光面積は0.05c11”であった、この方法に
より、SlとCr/Auとの間はオーミック接触がとれ
た。電流線路部15は、S15素子12と10μmの距
離にあるようにした。上記の方法で作製した光検出素子
を用いて光応答性を評価したところ、温度20Kにおい
てバイアス電流1.2mA、 He−Neレーザー(波
長833nm)0.1mW照射照射口形電極間印加電圧
10Vで、SIS素子のスイッチング(OmV→2.8
++V)が確認できた。
医】C1且
受光部にアモルファスSt、 S15素子にY系/酸化
銀/Pbを用いた本実施例の素子構成図を第4図に示す
。
銀/Pbを用いた本実施例の素子構成図を第4図に示す
。
先ず、MgO基板(100面) 1B上にRFマグネト
ロンスパッタ法により、Y−Ba−Cu−0酸化物超伝
導体から成る下部電極17をアルゴン、酸素中で、基板
温度550℃にて5000人成膜し、真空を破らずに絶
縁層(A g/^g20) 18をアルゴン中で基板温
度100℃にて100人成膜した。次に、酸素を導入し
400℃に加熱して八gを酸化させた0次に、フォトリ
ソグラフィー・プロセスにより、幅lθμ燻のブリッジ
パターンを作成した(第4図中17.18) 、次に、
メタルマスクを用い上部電極19(Pb)を厚さ500
人だけ蒸着した。ブリッジ部に重なる部分の幅は100
μmであり、接合面積100μmxlOμmとなるが、
実際は、Ag酸化膜の不均一性等から、実効面積は1ケ
タ以上小さい。次に、CVD法により、受光部として2
mmx2mmのアモルファス5120を2000人成膜
し、最後に電極21、くし形電極22.23(Cr/A
u)を500人成膜した。ここで、電流線路部24は、
SIS素子と10μmの距離にあるようにした。
ロンスパッタ法により、Y−Ba−Cu−0酸化物超伝
導体から成る下部電極17をアルゴン、酸素中で、基板
温度550℃にて5000人成膜し、真空を破らずに絶
縁層(A g/^g20) 18をアルゴン中で基板温
度100℃にて100人成膜した。次に、酸素を導入し
400℃に加熱して八gを酸化させた0次に、フォトリ
ソグラフィー・プロセスにより、幅lθμ燻のブリッジ
パターンを作成した(第4図中17.18) 、次に、
メタルマスクを用い上部電極19(Pb)を厚さ500
人だけ蒸着した。ブリッジ部に重なる部分の幅は100
μmであり、接合面積100μmxlOμmとなるが、
実際は、Ag酸化膜の不均一性等から、実効面積は1ケ
タ以上小さい。次に、CVD法により、受光部として2
mmx2mmのアモルファス5120を2000人成膜
し、最後に電極21、くし形電極22.23(Cr/A
u)を500人成膜した。ここで、電流線路部24は、
SIS素子と10μmの距離にあるようにした。
上記の方法で作製した光検出素子を用いて光応答性を評
価したところ、温度20に、バイアス電流0.85mA
、 He−Ne レーザー(波長633t+m) O,
1mW照射照射口形電極間印加電圧10Vで、SIS素
子のスイッチング(OmV −20mV)が確認できた
。
価したところ、温度20に、バイアス電流0.85mA
、 He−Ne レーザー(波長633t+m) O,
1mW照射照射口形電極間印加電圧10Vで、SIS素
子のスイッチング(OmV −20mV)が確認できた
。
えtA1ユ
実施例2のアモルファスS玉をN型1500人1.P型
1500人の積層とし、PN接合にした。また、くし形
電極23.24を短絡させた。この素子に温度40Kに
おいてバイアス電流0.85g+Aを流し、)Ia−N
eレーザー(波長633nm) 2 a+Wを照射した
ところ、515素子のスイッチング(OmV→2GmV
)が確認できた。
1500人の積層とし、PN接合にした。また、くし形
電極23.24を短絡させた。この素子に温度40Kに
おいてバイアス電流0.85g+Aを流し、)Ia−N
eレーザー(波長633nm) 2 a+Wを照射した
ところ、515素子のスイッチング(OmV→2GmV
)が確認できた。
Li■1
実施例2において、受光部2oをCdS薄膜にし、くし
形電極23にYBaCuO系超伝導体を用い、電流線路
部24をコイル形にした。かかるコイル形状の構成を第
5図に示す、上記構成において、電極配線部の抵抗がO
となること、電流線路部をコイルにすることによって発
生磁場が大きくなることから、SIS素子のスイッチン
グ感度を著しく上げることが可能となる。
形電極23にYBaCuO系超伝導体を用い、電流線路
部24をコイル形にした。かかるコイル形状の構成を第
5図に示す、上記構成において、電極配線部の抵抗がO
となること、電流線路部をコイルにすることによって発
生磁場が大きくなることから、SIS素子のスイッチン
グ感度を著しく上げることが可能となる。
[発明の効果]
以上述べたように、本発明の光検出素子によれば、受光
部で発生した電流によって生ずる磁場をSIS素子で検
出することができる。本発明において、受光部の材料を
選択することにより、所望の波長帯域での光検出が可能
となる。また、51S素子特有のヒステリシス特性を用
いているために、高感度の光検出素子となり、記憶素子
としても機能させることが可能である。記憶素子として
作動させる場合、信号は光であるので、基板上の配線等
が少なくなり、電気的6fl気的ノイズに強いものとな
る。
部で発生した電流によって生ずる磁場をSIS素子で検
出することができる。本発明において、受光部の材料を
選択することにより、所望の波長帯域での光検出が可能
となる。また、51S素子特有のヒステリシス特性を用
いているために、高感度の光検出素子となり、記憶素子
としても機能させることが可能である。記憶素子として
作動させる場合、信号は光であるので、基板上の配線等
が少なくなり、電気的6fl気的ノイズに強いものとな
る。
第1図は、本発明の動作原理を説明するための素子の概
略構成図である。第2図は、srs素子のスイッチング
動作図を説明するI−V線図である。第3図は、実施例
1の素子構成図である。 第4図は、実施例2の素子構成図である。第5図は、実
施例4の電流線路部を示した図である。 1・・・受光部 2・・・導線3・・・直流
電圧源 4・・・SIS素子5・・・直流電流源
6・・・負荷抵抗7・・・基板(St)
8・・・絶縁III (sto、)9・・・下部
電極(Nb) 10・・・絶縁層(八j/ARO
x)11・・・上部電極(Nb) 12・・・StS素子(Nbハト八へ’Ox/Nb)し
形電極 16・・・基板(MgO) 18・・・絶縁層(Ag/Ag20) 13、 14.22.23・・・く 15、24・・・電流線路部 17・・・下部電極(Y系) 19・・・上部電極(Pb) 20・・・受光部(アモルファス5t)21−・・電極
(Cr/Au) 25・・・コイル形電極 26・・・絶縁体 27・・・コイル形電極 (上部) (下部)
略構成図である。第2図は、srs素子のスイッチング
動作図を説明するI−V線図である。第3図は、実施例
1の素子構成図である。 第4図は、実施例2の素子構成図である。第5図は、実
施例4の電流線路部を示した図である。 1・・・受光部 2・・・導線3・・・直流
電圧源 4・・・SIS素子5・・・直流電流源
6・・・負荷抵抗7・・・基板(St)
8・・・絶縁III (sto、)9・・・下部
電極(Nb) 10・・・絶縁層(八j/ARO
x)11・・・上部電極(Nb) 12・・・StS素子(Nbハト八へ’Ox/Nb)し
形電極 16・・・基板(MgO) 18・・・絶縁層(Ag/Ag20) 13、 14.22.23・・・く 15、24・・・電流線路部 17・・・下部電極(Y系) 19・・・上部電極(Pb) 20・・・受光部(アモルファス5t)21−・・電極
(Cr/Au) 25・・・コイル形電極 26・・・絶縁体 27・・・コイル形電極 (上部) (下部)
Claims (2)
- (1)光の照射により電流を発生する受光部と、該発生
電流によって生じた磁場を検出する信号検出部とを少な
くとも有する光検出素子において、前記信号検出部に超
伝導体、絶縁体、超伝導体の積層構造から成るジョセフ
ソン接合を用いたことを特徴とする光検出素子。 - (2)前記受光部に光伝導性材料又は光起電力を生ずる
材料を用いたことを特徴とする請求項1記載の光検出素
子。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1184425A JP2896788B2 (ja) | 1989-07-19 | 1989-07-19 | 光検出素子 |
DE69009109T DE69009109T2 (de) | 1989-07-05 | 1990-07-04 | Vorrichtung und Verfahren zur Lichtmessung. |
DE69031501T DE69031501T2 (de) | 1989-07-05 | 1990-07-04 | Vorrichtung und Verfahren zur Lichtmessung unter Verwendung eines Supraleiters |
EP93203066A EP0590738B1 (en) | 1989-07-05 | 1990-07-04 | Light detecting device and light detecting method using a superconductor |
EP90307302A EP0407166B1 (en) | 1989-07-05 | 1990-07-04 | Light detecting device and light detection method |
US07/548,212 US5155093A (en) | 1989-07-05 | 1990-07-05 | Light detecting device and light detecting method using a superconnector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1184425A JP2896788B2 (ja) | 1989-07-19 | 1989-07-19 | 光検出素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0351720A true JPH0351720A (ja) | 1991-03-06 |
JP2896788B2 JP2896788B2 (ja) | 1999-05-31 |
Family
ID=16152931
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1184425A Expired - Fee Related JP2896788B2 (ja) | 1989-07-05 | 1989-07-19 | 光検出素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2896788B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08255838A (ja) * | 1994-11-02 | 1996-10-01 | Trw Inc | モノリシックの多機能集積回路デバイスを製造する方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0346520A (ja) * | 1989-07-14 | 1991-02-27 | Canon Inc | 信号検出器 |
-
1989
- 1989-07-19 JP JP1184425A patent/JP2896788B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0346520A (ja) * | 1989-07-14 | 1991-02-27 | Canon Inc | 信号検出器 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08255838A (ja) * | 1994-11-02 | 1996-10-01 | Trw Inc | モノリシックの多機能集積回路デバイスを製造する方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2896788B2 (ja) | 1999-05-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5155093A (en) | Light detecting device and light detecting method using a superconnector | |
US4521682A (en) | Photodetecting device having Josephson junctions | |
US4578691A (en) | Photodetecting device | |
EP0538077B1 (en) | Super conducting quantum interference device | |
JP2749048B2 (ja) | 超電導量子干渉計 | |
JPH0351720A (ja) | 光検出素子 | |
EP0291050A2 (en) | Superconducting device | |
JPH0351719A (ja) | 光検出素子 | |
US5121173A (en) | Proximity effect very long wavlength infrared (VLWIR) radiation detector | |
JPS6370581A (ja) | 超伝導トンネル接合光検出器及びその製造方法 | |
JP2759508B2 (ja) | 光検出器 | |
JP2715321B2 (ja) | 光検出器 | |
JP2748167B2 (ja) | 光信号検出素子 | |
JP2829201B2 (ja) | 超電導素子 | |
JP2737004B2 (ja) | 信号検出方法 | |
JP2737006B2 (ja) | 信号検出器 | |
JPS6359271B2 (ja) | ||
JPH0537030A (ja) | 超伝導整流素子 | |
JPH07283447A (ja) | 超電導素子および超電導接合の製造方法 | |
JP2734366B2 (ja) | 単一電子帯電効果を利用したサンプリング回路 | |
JPH07273380A (ja) | 放射線検出素子 | |
JPS63310184A (ja) | 超電導量子干渉形デバイス | |
JPH09312424A (ja) | 超電導トランジスタ | |
JPH02114576A (ja) | 超電導電磁波検出素子 | |
JPS59119880A (ja) | 超電導スイツチ素子 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |