JPH0350850A - 評価用半導体回路装置 - Google Patents

評価用半導体回路装置

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JPH0350850A
JPH0350850A JP18480289A JP18480289A JPH0350850A JP H0350850 A JPH0350850 A JP H0350850A JP 18480289 A JP18480289 A JP 18480289A JP 18480289 A JP18480289 A JP 18480289A JP H0350850 A JPH0350850 A JP H0350850A
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JP
Japan
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circuit
pull
input
fuses
evaluation
Prior art date
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Pending
Application number
JP18480289A
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English (en)
Inventor
Makoto Ozaki
眞 尾崎
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明はユーザによるシステム評価に供するに好適な評
価用半導体回路装置に関する。
(従来の技術) 1チツプマイクロコンピユータを開発する場合、通常、
そのシステム評価用の1チツプマイクロコンピユータを
ユーザに提供し、量産時にはユーザ仕様に応じて、例え
ばユーザプログラムを格納する為のROM(例えばE 
P ROMやEEPROM)を外付は可能な構成として
、或いは内蔵されるROMに格納されるプログラムを容
易にデバッグし得るような構成としてその製造が行われ
る。
しかしてこの種の評価用の1チツプマイクロコンピユー
タは、−船釣にはそのI10ポートを介する入出力につ
いてはモードレジスタを用いることでプログラマブルに
設定し得るようになっている。そしてユーザはプログラ
マブルに設定可能な入出力を利用してユーザ仕様に応じ
た回路装置を試作実現し、そのシステム評価を行った上
で当該ユーザ仕様に基づく1チツプマイクロコンピユー
タ(半導体回路装置)の製品化を依頼することになる。
メーカー側では与えられたユーザ仕様に基づき、例えば
指定された入出力仕様を実現する半導体回路装置製作用
のマスクを作成する等して、上記ユーザ仕様を実現する
1チツプマイクロコンピユータ(半導体回路装置)を量
産することになる。
ところで上述したように評価用の1チツプマイクロコン
ピユータは種々のユーザ仕様に対処し得るように構成さ
れ、不特定多数のユーザに対して提供される。この為、
種々のユーザ仕様に従ってどのように取扱われるか不明
な入出力回路部については単に評価用1チツプマイクロ
コンピユータの入出力回路部として標準化されているに
過ぎない。これ故、ユーザはユーザ仕様に応じた回路装
置を試作実現する場合には、その入出力端子に適宜プル
アップ抵抗やプルダウン抵抗を外付けしたり、またその
入力端子にノイズキャンセラー回路を組込む等の工夫を
している。
しかし実際に量産される1チツプマイクロコンピユータ
には、上述したようにそのユーザ仕様(入出力仕様)に
従って入出力回路部にプルアップ抵抗やプルダウン抵抗
、ノイズキャンセラー回路等が組込まれる。この為、評
価用の1チツプマイクロコンピユータを用いて回路装置
を試作する場合と、量産される1チツプマイクロコンピ
ユータを用いて回路装置を実現する場合とで、そのプリ
ント回路基板の配線パターンを変更する必要か生じると
云う不具合があった。
(発明が解決しようとする課題) このように従来のシステム評価に用いられる1チツプマ
イクロコンピユータ(評価用半導体回路装置)の入出力
回路部は、不特定多数のユーザに洪せられて種々の入出
力仕様に基づく取扱い(信号の入出力)が行われること
から、プルアップ抵抗やプルダウン抵抗、ノイズキャン
セラー回路等の組込みについてはユーザ仕様に委ねられ
ている。これ故、ユーザは適宜その仕様に従って上記評
価用の1チツプマイクロコンピユータの入出力端子に上
述したプルアップ抵抗やプルダウン抵抗、ノイズキャン
セラー回路等を外付けしなければならず、その取扱い性
が非常に悪かった。
しかも評価用の1チツプマイクロコンピユータを用いる
場合と、量産される1チツプマイクロコンピユータを用
いる場合とで、そのプリント回路基板の配線パターンを
変更する必要が生じると云う不具合があった。
本発明はこのような事情を考慮してなされたもので、そ
の目的とするところは、ユーザ仕様に応じたシステム評
価を簡易に行うことができ、しかもシステム評価時と製
品製作時とでそのプリント回路基板の配線パターンを変
更する必要のない、取扱い性の優れた評価用半導体回路
装置を提供することにある。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明に係る評価用半導体回路装置は、マイクロコンピ
ュータを主体とする半導体回路部本体の入出力端子に、
プログラマブルに溶断可能なヒユーズ群を介して少なく
ともプルアップ抵抗回路。
プルダウン抵抗回路、およびノイズキャンセラー回路の
1つまたは複数個を予め組込んでおき、上記ヒユーズ群
の溶断により上記プルアップ抵抗回路やプルダウン抵抗
回路、またはノイズキャンセラー回路をその入出力端子
に選択的に接続し得るようにしたことを特徴とするもの
である。
(作 用) このように構成を持つ評価用半導体回路装置によれば、
例えばマイクロコンピュータにおける空命令を用いてヒ
ユーズ群をプログラマブルにう蓉断することで、その入
出力端子にプルアップ抵抗回路やプルダウン抵抗回路、
またはノイズキャンセラー回路を選択的に接続すること
ができるので、従来のようにわざわざ上記プルアップ抵
抗回路やプルダウン抵抗回路、またはノイズキャンセラ
ー回路を入出力端子に外付けすることが不要となる。
しかもこのようにプルアップ抵抗回路やプルダウン抵抗
回路、またはノイズキャンセラー回路を入出力端子に外
付けしてユーザ仕様に基づく回路装置を試作する必要が
ないので、評価用半導体回路装置を用いる場合と量産半
導体回路装置を用いる場合とで、そのプリント回路基板
の配線パターンを変更する必要がなくなる。
(実施例) 以下、図面を参照して本発明の一実施例に係る評価用半
導体回路装置について説明する。
第1図は実施装置の要部概略構成図で、■はマイクロプ
ロセッサを主体として構成される回路本体部である。こ
の回路本体部1はI10ポート2を介して各種信号(デ
ータ)の入出力を行って所定の信号処理を実行する。し
かして出力端子3aおよび入力端子3bは、この半導体
回路装置における外部信号端子であり、前記回路本体部
1からの出力信号(データ)はI10ポート2から出力
端子3aを介して外部出力される。また外部機器等から
入力される信号(データ)は入力端子3bから110ポ
ート2を介して回路本体部1に取込まれる。
ここでこの実施例装置が特徴とするところは、上記信号
の入出力端子、具体的にはI10ポート2と出力端子3
aおよび入力端子3bをそれぞれ結ぶ信号ラインに、プ
ログラマブルに溶断可能なヒユーズ群(ヒユーズF l
、F 2.〜F8)を介してプルアップ抵抗回路を実現
する抵抗4やプルダウン抵抗回路を実現する抵抗5.更
にはノイズキャンセラー回路6をそれぞれ接続して前記
回路本体部1等と共に集積一体化している点にある。
即ち、出力端子3aと電源ラインとの間にヒユーズF1
を介して抵抗4を接続してプルアップ抵抗回路を購成し
、また上記出力端子3aと接地ラインとの間にヒユーズ
F2を介して抵抗5を接続してプルダウン抵抗回路か構
成されている。これらのヒユーズF1.F2の選択的な
溶断によって前記出力端子3aにプルアップ抵抗回路ま
たはプルダウン回路が選択的に接続される。尚、プルア
ップもプルダウンもしない場合には、上記ヒユーズFl
F2の両方を溶断し、抵抗4.5を出力端子3aからそ
れぞれ切り離すことは勿論のことである。
また入力端子3bとI10ポート2との間には、オア回
路7を介する2系統の信号人力ラインか形成され、その
一方にノイズキャンセラー回路6が挿入されている。し
かして抵抗7a、 7bによりその2つの入力端がプル
アップされたオア回路7は、ヒユーズF3.F4を介し
て前記入力端子3bからの入力信号を直接的に受け、或
いはノイズキャンセラー回路6を介して前記入力端子3
bからの入力信号を受けるものである。これらのヒユー
ズF3゜F4の選択的な溶断により、前記I10ボート
2と入力端子3bとの間にノイズキャンセラー回路6を
組込むか否かが選択決定される。つまりヒユーズF4だ
けを溶断することによりI10ポート2こ入力端子3b
からの信号を直接的に入力するようにし、逆にヒユーズ
F3だけを溶断することによりI10ポート2に入力端
子3bからの信号をノイズキャンセラー回路6を介して
入力するようにする。尚、入力端子3bを使用しない場
合には、ヒュズF3.F4の双方を溶断する。
またこの実施例ではノイズキャンセラー回路c自体にも
複数のヒユーズF5.FB、〜F8が組込まれ、これら
のヒユーズF 5.F B、〜F8の選択的な溶断によ
りその回路特性が可変設定し得るようになっている。即
ち、このノイズキャンセラー回路6は入力信号と所定の
遅延を与えた上記入力信号とをアンド回路6aにて論理
処理することにより、ノイズキャンセル作用を呈するよ
うに構成されており、その遅延量をヒユーズF5.F6
.〜F8の選択的な溶断により選択設定し得るようにな
っている。
このようなヒユーズF5.FB、〜F8についても、前
述したヒユーズFl、F2.〜F4と同様にプログラマ
ブルに溶断される。
さて、上記各ヒユーズFl、F2.〜F8のプログラマ
ブルな溶断は、次のようにして行われる。前述した回路
本体部1の一部として、或いは独立な回路機能として設
けられたMPU (マイクロプロセッサユニット)11
は、インストラクションレジスタ12.データレジスタ
13.命令デコーダ14を鏝え、RO〜115等の主記
憶装置がら読出された命令やデータを上記各レジスタ1
2.Hに格納して命令デコーダ14によりてコード処理
している。この命令デコーダ14により、前述したヒユ
ーズFl、F2゜〜F8をプログラマブルに溶断する為
の制御信号か生成される。このMPU1lによるヒユー
ズFl。
F2.〜F8のプログラマブルな溶断は、例えばMPU
IIの直接的な制御・演算には係わりのない空命令とし
、ヒユーズF l、F 2.〜F8を選択的に溶断する
為の命令をROM15から読出し、これを命令デコーダ
14により解読して行われる。このヒユーズF 1.F
 2.〜F8をプログラマブルに溶断する命令について
は、ROM15の最初にアクセスするアドレスに格納し
ておき、量産時にはこれを削除するようにすれば良い。
かくしてこのように構成された本装置によれば、入出力
端子に予め組込まれているプルアップ抵抗やプルダウン
抵抗、或いはノイズキャンセラー回路等をヒユーズF 
1.F 2.〜F8の選択的な溶断によって切離し、必
要な回路要素だけをその入出力端子に組込むことができ
る。従って従来のように、そのユーザ仕様に従って一々
プルアップ抵抗等を外付けして評価用半導体回路装置の
システム評価を行う必要がないので、その評価試験を簡
易に行うことができる。しかも種々のユーザ仕様に対応
可能であり、量産時にプリント回路基板の配線パターン
を変更する必要がない等の実用上多大なる効果が奏せら
れる。
尚、本発明は上述した実施例に限定されるものではない
。ここでは1チツプマイクロコンピユータを例に説明し
たが、インストラクションレジスタを有する種々の半導
体回路装置に幅広く適用することができる。またノイズ
キャンセラー回路以外の入出力補助回路を組込んでおく
ことも勿論可能である。その他、本発明はその要旨を逸
脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
[発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、種々のユーザ仕様
に対応可能で、しかもプルアンプ抵抗等の外付けの不要
な取扱い性の良い評価用半導体回路装置を提供すること
ができ、しかも量産される半導体回路装置と同じプリン
ト回路基板をそのまま用いることを可能とする等の実用
上多大なる効果が奏せられる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る評価用半導体回路装置
の要部概略構成図である。 l・・・回路本体部、2・・・I10ポート、3a・・
・出力端子、3b・・・入力端子、4・・・プルアップ
用の抵抗、5・・・プルダウン用の抵抗、6・・・ノイ
ズキャンセラー回路、7・・・オア回路、7a、 7b
・・・抵抗、11・・・MPU、12・・・インストラ
クションレジスタ、13・・・データレジスタ、14・
・・命令デコーダ115・・・ROM、Fl、F2.〜
F8・・・ヒユーズ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体回路部本体の入出力端子に選択的に接続可能に、
    プログラマブルに溶断可能なヒューズ群を介して少なく
    ともプルアップ抵抗回路、プルダウン抵抗回路、および
    ノイズキャンセラー回路の1つまたは複数個を設けたこ
    とを特徴とする評価用半導体回路装置。
JP18480289A 1989-07-19 1989-07-19 評価用半導体回路装置 Pending JPH0350850A (ja)

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JP18480289A JPH0350850A (ja) 1989-07-19 1989-07-19 評価用半導体回路装置

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JP18480289A JPH0350850A (ja) 1989-07-19 1989-07-19 評価用半導体回路装置

Publications (1)

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JPH0350850A true JPH0350850A (ja) 1991-03-05

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ID=16159551

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JP18480289A Pending JPH0350850A (ja) 1989-07-19 1989-07-19 評価用半導体回路装置

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JP (1) JPH0350850A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006080204A (ja) * 2004-09-08 2006-03-23 Sony Corp 半導体部品の設計方法及び半導体部品
JP2007231740A (ja) * 2006-02-27 2007-09-13 Hokuetsu Kogyo Co Ltd ストレーナの目詰まり判定方法及び判定装置

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