JPH034081B2 - - Google Patents
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- JPH034081B2 JPH034081B2 JP11744883A JP11744883A JPH034081B2 JP H034081 B2 JPH034081 B2 JP H034081B2 JP 11744883 A JP11744883 A JP 11744883A JP 11744883 A JP11744883 A JP 11744883A JP H034081 B2 JPH034081 B2 JP H034081B2
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- JP
- Japan
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- solder
- light
- convex lens
- soldered
- shape
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- Expired
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- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 238000005476 soldering Methods 0.000 claims description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 6
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明ははんだ接合部の検査をその形状をとら
えることにより行うはんだ付外観検出方法に関す
る。
えることにより行うはんだ付外観検出方法に関す
る。
（背景技術）
従来、はんだ接合部の検査において、はんだ量
の多少を判定するためのはんだ面の形状をとらえ
る方式としては光切断方式が知られている。第１
図はその概略を示したものであり、この光切断方
式ははんだデイツプ２′を線状光投光部１′のライ
ン光a′によりｘ−ｚ平面で切断し、その切断線
b′をｙ方向に走査して集め、はんだ面の形状をと
らえるものである。したがつて、１つのはんだデ
イツプの形状を把握するためにライン光を走査さ
せ、光切断像を工業用テレビカメラ（以下、
「ITVカメラ」と言う）３′で撮像して複雑な画
像処理をする必要があるため、処理速度が遅く、
かつ複雑、高価な装置となる欠点を有していた。
の多少を判定するためのはんだ面の形状をとらえ
る方式としては光切断方式が知られている。第１
図はその概略を示したものであり、この光切断方
式ははんだデイツプ２′を線状光投光部１′のライ
ン光a′によりｘ−ｚ平面で切断し、その切断線
b′をｙ方向に走査して集め、はんだ面の形状をと
らえるものである。したがつて、１つのはんだデ
イツプの形状を把握するためにライン光を走査さ
せ、光切断像を工業用テレビカメラ（以下、
「ITVカメラ」と言う）３′で撮像して複雑な画
像処理をする必要があるため、処理速度が遅く、
かつ複雑、高価な装置となる欠点を有していた。
（発明の目的）
本発明は上記従来技術の難点であつた光学系お
よび処理回路系の簡素化を図り、かつ正確にはん
だデツプ面の形状を把握できるはんだ付外観検出
方法を提供することを目的とする。
よび処理回路系の簡素化を図り、かつ正確にはん
だデツプ面の形状を把握できるはんだ付外観検出
方法を提供することを目的とする。
（発明の開示）
以下に本発明を図面に従つて説明する。
第２図は本発明の一実施例を示す構成図であ
る。図において、光源１より出た円形平行光ａは
凸レンズ４により実線で示すような円錐形の光ｂ
に絞られる。次いでこの円錐光ｂはハーフミラー
５によりはんだデイツプ面２に照射される。ここ
で、光線の反射にハーフミラー５を用いているの
はこのハーフミラー５を介して上方からITVカ
メラ３で撮像を行うためである。
る。図において、光源１より出た円形平行光ａは
凸レンズ４により実線で示すような円錐形の光ｂ
に絞られる。次いでこの円錐光ｂはハーフミラー
５によりはんだデイツプ面２に照射される。ここ
で、光線の反射にハーフミラー５を用いているの
はこのハーフミラー５を介して上方からITVカ
メラ３で撮像を行うためである。
第３図は実際にはんだ面に円錐形を照射した場
合の様子を示すもので、右側に上方から見た図を
示す。第３図イははんだ量が適切である良品の例
を示すもので、上方から見た形状はほぼ円形とな
る。また、同図ロはブローホールが生じた例を、
ハははんだ量が少い不良の例を夫々示し、いずれ
も良品レベルを示す破線ｄからそれた形状とな
る。
合の様子を示すもので、右側に上方から見た図を
示す。第３図イははんだ量が適切である良品の例
を示すもので、上方から見た形状はほぼ円形とな
る。また、同図ロはブローホールが生じた例を、
ハははんだ量が少い不良の例を夫々示し、いずれ
も良品レベルを示す破線ｄからそれた形状とな
る。
しかして、これらの光切断面の形状をITVカ
メラ３でとらえ、画像処理を行い良否を判定す
る。第４図は信号処理の構成を示すブロツク図で
あり、ITVカメラでとらえた信号を２値化し、
検出した形状から面積、真円度等の基準で形状判
定を行い、この結果から良否の判定を行うように
なつている。
メラ３でとらえ、画像処理を行い良否を判定す
る。第４図は信号処理の構成を示すブロツク図で
あり、ITVカメラでとらえた信号を２値化し、
検出した形状から面積、真円度等の基準で形状判
定を行い、この結果から良否の判定を行うように
なつている。
次に第５図は本発明の他の実施例を示すもので
あり、光学系を一体化可能にして装置の小型化を
図つたものである。図において８は中央部をくり
抜いた凸レンズで、ITVカメラ３およびリング
状光源部７と一体化保持されている。しかして、
リング状光源部７からはリング状の平行光線が投
光され、凸レンズ８により光を円錐リング状の光
ｅに集光し、はんだデイツプ面２に照射する。
あり、光学系を一体化可能にして装置の小型化を
図つたものである。図において８は中央部をくり
抜いた凸レンズで、ITVカメラ３およびリング
状光源部７と一体化保持されている。しかして、
リング状光源部７からはリング状の平行光線が投
光され、凸レンズ８により光を円錐リング状の光
ｅに集光し、はんだデイツプ面２に照射する。
第６図は実際にはんだデイツプ面に円錐リング
光ｅを照射したところを示すもので、同図イはは
んだ量の適切な良品の例を、ロはブローホールが
生じている場合を、ハははんだ量の少い不良の例
を夫々示している。このように、はんだ付部に照
射された円錐リング光ｅはそのデイツプ形状およ
びデイツプのはんだ量により光切断形状が変化す
るため、この像をITVカメラ３でとらえ画像処
理することにより、はんだデイツプ部２の良否を
判定することができる。
光ｅを照射したところを示すもので、同図イはは
んだ量の適切な良品の例を、ロはブローホールが
生じている場合を、ハははんだ量の少い不良の例
を夫々示している。このように、はんだ付部に照
射された円錐リング光ｅはそのデイツプ形状およ
びデイツプのはんだ量により光切断形状が変化す
るため、この像をITVカメラ３でとらえ画像処
理することにより、はんだデイツプ部２の良否を
判定することができる。
また、第７図イ，ロに示すように投光用の凸レ
ンズ８の径あるいは焦点距離を変えることで円錐
リング光のひらき角θ（θ1、θ5）を変えることが
可能であり、検出距離と検出精度を自由に設定で
きる利点もある。
ンズ８の径あるいは焦点距離を変えることで円錐
リング光のひらき角θ（θ1、θ5）を変えることが
可能であり、検出距離と検出精度を自由に設定で
きる利点もある。
（発明の効果）
以上のように本発明にあつては、プリント基板
等のはんだ接合部の検査をITVカメラを用いて
自動で行う検査方法において、凸レンズにより円
錐形に絞つた光をはんだ付面に照射し、ばんだ付
面上に照射した円錐光の照射明部を上方より撮像
するようにしたので、従来の光切断方式に比べ、
はんだ量の適否を各デイツプ毎に断面の面積、真
円度等でとらえるため、画像処理回路の構成が簡
易になり、かつ処理の高速化が可能となる。
等のはんだ接合部の検査をITVカメラを用いて
自動で行う検査方法において、凸レンズにより円
錐形に絞つた光をはんだ付面に照射し、ばんだ付
面上に照射した円錐光の照射明部を上方より撮像
するようにしたので、従来の光切断方式に比べ、
はんだ量の適否を各デイツプ毎に断面の面積、真
円度等でとらえるため、画像処理回路の構成が簡
易になり、かつ処理の高速化が可能となる。
また、凸レンズの中央部をくり抜くことにより
光源部と投光用レンズおよび画線検出用のITV
カメラを一体化することができ、装置の小型化が
可能となる。なお、この際、はんだデイツプの頂
上部分（リード線部）に光をあてずに形状検出を
行えるため正反射の影響をうけず安定した画像が
得られる効果がある。
光源部と投光用レンズおよび画線検出用のITV
カメラを一体化することができ、装置の小型化が
可能となる。なお、この際、はんだデイツプの頂
上部分（リード線部）に光をあてずに形状検出を
行えるため正反射の影響をうけず安定した画像が
得られる効果がある。
第１図は従来の光切断方式の概略説明図、第２
図は本発明を実施する際の装置構成の一例、第３
図はその説明図、第４図は信号処理の回路構成を
示すブロツク図、第５図は他の実施例を示す構成
図、第６図および第７図は第５図の説明図であ
る。 １，７……光源、２……はんだデイツプ面、３
……ITVカメラ、４，８……凸レンズ。
図は本発明を実施する際の装置構成の一例、第３
図はその説明図、第４図は信号処理の回路構成を
示すブロツク図、第５図は他の実施例を示す構成
図、第６図および第７図は第５図の説明図であ
る。 １，７……光源、２……はんだデイツプ面、３
……ITVカメラ、４，８……凸レンズ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ プリント基板等のはんだ接合部の検査を
ITVカメラを用いて自動で行う検査方法におい
て、凸レンズにより円錐形に絞つた光をはんだ付
面に照射し、はんだ付面上に照射した円錐光の照
射明部を上方より撮像することを特徴としたはん
だ付外観検出方法。 ２ 凸レンズは中央部をくり抜いてなり、このく
り抜いた穴部を通してはんだ付面を撮像してなる
特許請求の範囲第１項記載のはんだ付外観検出方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11744883A JPS608707A (ja) | 1983-06-29 | 1983-06-29 | はんだ付外観検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11744883A JPS608707A (ja) | 1983-06-29 | 1983-06-29 | はんだ付外観検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS608707A JPS608707A (ja) | 1985-01-17 |
| JPH034081B2 true JPH034081B2 (ja) | 1991-01-22 |
Family
ID=14711899
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11744883A Granted JPS608707A (ja) | 1983-06-29 | 1983-06-29 | はんだ付外観検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS608707A (ja) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61269010A (ja) * | 1985-05-23 | 1986-11-28 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | 立体像複製用板状部材作製装置 |
| JPS61293657A (ja) * | 1985-06-21 | 1986-12-24 | Matsushita Electric Works Ltd | 半田付け外観検査方法 |
| US4688939A (en) * | 1985-12-27 | 1987-08-25 | At&T Technologies, Inc. | Method and apparatus for inspecting articles |
| JP2501194B2 (ja) * | 1986-04-11 | 1996-05-29 | 株式会社 アマダ | 線位置検出装置 |
| JP2599376B2 (ja) * | 1987-01-20 | 1997-04-09 | 松下電器産業株式会社 | 認識装置の照明装置 |
| JPH01201107A (ja) * | 1988-02-05 | 1989-08-14 | Sumitomo Special Metals Co Ltd | 容量検査方法 |
| JPH01203935A (ja) * | 1988-02-09 | 1989-08-16 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光ファイバ端部の検査方法 |
| JPH02156107A (ja) * | 1988-12-08 | 1990-06-15 | Kunio Yamashita | プリント基板の半田付け部外観検査装置 |
| US4999785A (en) * | 1989-01-12 | 1991-03-12 | Robotic Vision Systems, Inc. | Method and apparatus for evaluating defects of an object |
| JPH0713563B2 (ja) * | 1990-06-26 | 1995-02-15 | 松下電工株式会社 | リード付き部品の半田付け部の検査方法 |
| JP2620992B2 (ja) * | 1991-02-15 | 1997-06-18 | 松下電工株式会社 | 電子部品の半田付け部の検査方法 |
| JPH0739939B2 (ja) * | 1991-02-15 | 1995-05-01 | 松下電工株式会社 | 半田付け検査方法 |
| CN110907469A (zh) * | 2019-12-18 | 2020-03-24 | 湖南戈人自动化科技有限公司 | 一种使用机器视觉的电路板焊接检测装置 |
-
1983
- 1983-06-29 JP JP11744883A patent/JPS608707A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS608707A (ja) | 1985-01-17 |
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