JPS608707A - はんだ付外観検出方法 - Google Patents

はんだ付外観検出方法

Info

Publication number
JPS608707A
JPS608707A JP11744883A JP11744883A JPS608707A JP S608707 A JPS608707 A JP S608707A JP 11744883 A JP11744883 A JP 11744883A JP 11744883 A JP11744883 A JP 11744883A JP S608707 A JPS608707 A JP S608707A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
solder
light
conical
shapes
itv camera
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11744883A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH034081B2 (ja
Inventor
Naohito Taniwaki
谷脇 尚人
Shinji Okamoto
岡本 紳二
Kazunari Yoshimura
一成 吉村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP11744883A priority Critical patent/JPS608707A/ja
Publication of JPS608707A publication Critical patent/JPS608707A/ja
Publication of JPH034081B2 publication Critical patent/JPH034081B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明ははんだ接合部の検査をその形状をとらえること
により行うはんだ付外観検出方法に関する。 ( (背景技術) 従来、はんだ接合部の検査において、はんだ量の多少を
判定するためのはんだ面の形状をとらえる方式としては
光切断方式が知られている。第1図はその概略を示した
ものであり、この光切断方式ははんだディップ2′を線
状光投光部1′のライン光a′により X−Z平面で切
断し、その切断線b′をy方向に走査して集め、はんだ
面の形状をとらえるものである。したがって、1つのは
んだディップの形状を把握するためにライン光を走査さ
せ、光切断像を工業用テレビカメラ(以下、rlTVカ
メラ」と言う)3′でfi像して複雑な画像処理をする
必要があるため、処理速度が遅く、かつ複雑、高価な装
置となる欠点を有していた。
′発明の目的) 本発明は上記従来技術の難点であった光学系および処理
回路系の簡素化を図り、かつ正確にはんだディップ面の
形状を把握できるはんだ付外観検出方法を提供すること
を目的とする。
:発明の開示) 以下に本発明を図面に従って説明する。
第2図は本発明の一実施例を示す構成図である。
図において、光源゛1より出た円形平行光aは凸レンズ
4により実線で示すような円錐形の光すに絞られる。次
いでこの円錐光すはハーフミラ−5によりはんだディッ
プ面2に照射される。ここで、光線の反射にハルツミラ
ー5を用いているのはこのハーフミラ−5を介して上方
がらITVカメラ3で撮像を行うためである。
第3図は実際にはんだ面に円錐形を照射した場合の様子
を示すもので、右側に上方から児た図を示す。第3図(
イ)ははんだ量が適切である良品の例を示すもので、上
方から見た形状はほぼ円形となる。また、同図(ロ)は
ブローホールが生じた例を、(ハ)ははんだ量が少い不
良の例を夫々示し、いずれも良品レベルを示す破線dが
らそれた形状となる。
しかして、これらの光切断面の形状をITVカメラ3で
とらえ、画像処理を行い良否を判定する。
第4図は信号処理の構成を示すブロック図であり、IT
Vカメラでとらえた信号を2値化し、検出した形状から
面積、真円度等の基準で形状判定を行い、この結果から
良否の判定を行うようになっている。
次に第5図は本発明の他の実施例を示すものであり、光
学系を一体化可能にして装置の小型化を図ったものであ
る。図において8は中央部をくり抜いた凸レンズで、I
TVカメラ3およびリング状光源部7と一体化保持され
ている。しかして、リング状光源部7からはリング状の
平行光線が投光され、凸レンズ8により光を円錐リング
状の光eに集光し、はんだディップ面2に照射する。
第6図は実際にはんだディップ面に円錐リング光eを照
射したところを示すもので、同図(イ)ははんだ量の適
切な良品の例を、(ロ)はブローボールが生じている場
合を、(ハ)ははんだ量の少い不良の例を夫々示してい
る。このように、はんだ何部に照射された円錐ソング光
eはそのディップ形状およびティップのはんだ量により
光切断形状が変化するため、この像をITVカメラ3で
とらえ画像処理することにより、はんだディップ部2の
良否を判定することができる。
また、第7図(イ)、(ロ)に示すように投光用の凸レ
ンズ8の径あるいは焦点距離を変えることで円錐リング
光のひらき角θ(θ1.θ2)を変えることが可能であ
り、検出釦1111と検出精度を自由に設定できる利点
もある。
(発明の効果) 以上のように本発明にあっては、プリント基板等のはん
だ接合部の検査をITVノノメラを用いて自動で行う検
査方法において、凸レンズにより円錐形に絞った光をは
んだ何面に照射し、はんだ何面上に照射した円錐光の照
射明部を上方より撮像するようにしたので、従来の光切
断方式に比べ、はんだ量の適否を各ディップ毎に断面の
面積、真円度等でとらえるため、画像処理回路の構成が
簡易になり、かつ処理の高速化が可能となる。
また、凸レンズの中央部をくり抜くことにより光源部と
投光用レンズおよび画像検出用のITVカメラを一体化
することができ、装置の小型化が可能となる。なお、こ
の際、はんだディップの頂上部分(リード線部)に光を
あてずに形状検出を行えるため正反射の影響をうけず安
定した画像が得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の光切断方式の概略説明図、第2図は本発
明を実施する際の装置構成の一例、第3図はその説明図
、第4図は信号処理の回路構成を示すブロック図、第5
図は他の実施例を示す構成図、第6図および第7図は第
5図の説明図である。 1.7・・・・光源、2・・・・はんだディップ面、3
・・・・ITVカメラ、4,8・・・・凸レンズ。 第1図 1′ 第2図 第3図 第4図 0¥−d −一2′ 第5図 3 第7図 (イ) 第6図 (ロ)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)プリント基板等のはんだ接合部の検査をITVカ
    メラを用いて自動で行う検査方法において、凸レンズに
    より円錐形に絞った光をはんだ何面に照射し、はんだ何
    面上に照射した円錐光の照射明部を上方より撮像するこ
    とを特徴としたはんだ付外観検出方法。
  2. (2)凸し、ンズは中央部をくり抜いてなり、このくり
    抜いた穴部を通してはんだ何面を撮像してなる特許請求
    の範囲第1項記載のはんだ付外観検出方法。 (
JP11744883A 1983-06-29 1983-06-29 はんだ付外観検出方法 Granted JPS608707A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11744883A JPS608707A (ja) 1983-06-29 1983-06-29 はんだ付外観検出方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11744883A JPS608707A (ja) 1983-06-29 1983-06-29 はんだ付外観検出方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS608707A true JPS608707A (ja) 1985-01-17
JPH034081B2 JPH034081B2 (ja) 1991-01-22

Family

ID=14711899

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11744883A Granted JPS608707A (ja) 1983-06-29 1983-06-29 はんだ付外観検出方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS608707A (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61269010A (ja) * 1985-05-23 1986-11-28 Kawasaki Heavy Ind Ltd 立体像複製用板状部材作製装置
JPS61293657A (ja) * 1985-06-21 1986-12-24 Matsushita Electric Works Ltd 半田付け外観検査方法
JPS62163953A (ja) * 1985-12-27 1987-07-20 エイ・ティ・アンド・ティ・コーポレーション 製品を検査する方法と装置
JPS62239002A (ja) * 1986-04-11 1987-10-19 Amada Co Ltd 線位置検出装置
JPS63178374A (ja) * 1987-01-20 1988-07-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 認識装置の照明装置
JPH01201107A (ja) * 1988-02-05 1989-08-14 Sumitomo Special Metals Co Ltd 容量検査方法
JPH01203935A (ja) * 1988-02-09 1989-08-16 Sumitomo Electric Ind Ltd 光ファイバ端部の検査方法
JPH02156107A (ja) * 1988-12-08 1990-06-15 Kunio Yamashita プリント基板の半田付け部外観検査装置
US4999785A (en) * 1989-01-12 1991-03-12 Robotic Vision Systems, Inc. Method and apparatus for evaluating defects of an object
JPH0455709A (ja) * 1990-06-26 1992-02-24 Matsushita Electric Works Ltd リード付き部品の半田付け部の検査方法
JPH04355946A (ja) * 1991-02-15 1992-12-09 Matsushita Electric Works Ltd 電子部品の半田付け部の検査方法
JPH0510731A (ja) * 1991-02-15 1993-01-19 Matsushita Electric Works Ltd 半田付け検査方法
CN110907469A (zh) * 2019-12-18 2020-03-24 湖南戈人自动化科技有限公司 一种使用机器视觉的电路板焊接检测装置

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0418770B2 (ja) * 1985-05-23 1992-03-27 Kawasaki Heavy Ind Ltd
JPS61269010A (ja) * 1985-05-23 1986-11-28 Kawasaki Heavy Ind Ltd 立体像複製用板状部材作製装置
JPS61293657A (ja) * 1985-06-21 1986-12-24 Matsushita Electric Works Ltd 半田付け外観検査方法
JPH055281B2 (ja) * 1985-06-21 1993-01-22 Matsushita Electric Works Ltd
JPS62163953A (ja) * 1985-12-27 1987-07-20 エイ・ティ・アンド・ティ・コーポレーション 製品を検査する方法と装置
JPS62239002A (ja) * 1986-04-11 1987-10-19 Amada Co Ltd 線位置検出装置
JPS63178374A (ja) * 1987-01-20 1988-07-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 認識装置の照明装置
JPH01201107A (ja) * 1988-02-05 1989-08-14 Sumitomo Special Metals Co Ltd 容量検査方法
JPH01203935A (ja) * 1988-02-09 1989-08-16 Sumitomo Electric Ind Ltd 光ファイバ端部の検査方法
JPH02156107A (ja) * 1988-12-08 1990-06-15 Kunio Yamashita プリント基板の半田付け部外観検査装置
US4999785A (en) * 1989-01-12 1991-03-12 Robotic Vision Systems, Inc. Method and apparatus for evaluating defects of an object
JPH0455709A (ja) * 1990-06-26 1992-02-24 Matsushita Electric Works Ltd リード付き部品の半田付け部の検査方法
JPH04355946A (ja) * 1991-02-15 1992-12-09 Matsushita Electric Works Ltd 電子部品の半田付け部の検査方法
JPH0510731A (ja) * 1991-02-15 1993-01-19 Matsushita Electric Works Ltd 半田付け検査方法
CN110907469A (zh) * 2019-12-18 2020-03-24 湖南戈人自动化科技有限公司 一种使用机器视觉的电路板焊接检测装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH034081B2 (ja) 1991-01-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4555635A (en) Surface flaw inspection apparatus for a convex body
US5298977A (en) Visual inspection method for part mounted on printed circuit board
JPS608707A (ja) はんだ付外観検出方法
CA1261026A (en) Bottle mouth defect inspection apparatus
JPS6182147A (ja) 表面検査方法及び装置
JPH01253642A (ja) ガラス容器の密閉面を光学的に検査する装置
JPS6017044B2 (ja) 印刷配線板のパタ−ン検査装置
JPH03160347A (ja) はんだ外観検査装置
CN100547393C (zh) 检测透明或半透明旋转容器颈环上表面缺陷的方法和装置
JPH11111784A (ja) バンプ高さ良否判定装置
JPH0752158B2 (ja) 実装基板検査装置
JPS6355445A (ja) 外観検査方式
JP3162872B2 (ja) 電子部品の輪郭認識装置及びその輪郭認識方法
JP7409178B2 (ja) 電子装置の検査装置及び検査方法
JPH08285791A (ja) 深底物品内面の外観検査装置
JPS6336543A (ja) 半導体装置の自動検査方法及び検査装置
JPS61265513A (ja) 部品形状検知法および部品形状検知装置
JPH05306913A (ja) 角形チップの半田付状態の検査方法
JP2570508B2 (ja) はんだ付検査装置
JPH05107043A (ja) 外観検査装置
JPS63222246A (ja) びん口ねじ部の欠陥検査装置
JPH0666529A (ja) 外観検査装置
JPH095248A (ja) 光学部材検査方法
JPH02183104A (ja) 半田付け外観検査方法及びその装置
JPH03239953A (ja) 半田ペースト塗布状態検査装置