JPS63222246A - びん口ねじ部の欠陥検査装置 - Google Patents
びん口ねじ部の欠陥検査装置Info
- Publication number
- JPS63222246A JPS63222246A JP5407987A JP5407987A JPS63222246A JP S63222246 A JPS63222246 A JP S63222246A JP 5407987 A JP5407987 A JP 5407987A JP 5407987 A JP5407987 A JP 5407987A JP S63222246 A JPS63222246 A JP S63222246A
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- Japan
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- bottle
- circuit
- defect
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- Pending
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- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 19
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 13
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 9
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 9
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 abstract description 4
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 abstract description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、画像処理をして透明または半透明のびん容
器口ねじ部にある欠陥を検査する検査装置に関する。
器口ねじ部にある欠陥を検査する検査装置に関する。
従来、この種の検査装置としてびん口の欠けやヒビを検
査するものがあるが、びん口にねじのない場合が殆んど
である。つまり、ねじのないものは、単に欠陥が良く見
える状態にしさえすれば、その回転位置とは無関係に、
良品のびん口の2値化パターンとの差異から良、否の判
定が可能で、照明および2値化方法も比較的容易である
。すなわち、びんのように透過性をもつものには透過光
方式が照明方法として用いられ、びん口径方向に沿って
良品びんの2値パターンとのマツチングがとられる。ま
た、2値化方弐としても固定2値化や、ピークホールド
2値化が可能である。さらに、びん口径方向の対称性を
利用すべく、びん口径方向にわたる一定区間パターンご
とに濃淡画像のま\比較を行ない、差が大きいときのみ
不良とする等の方法も採用できる。
査するものがあるが、びん口にねじのない場合が殆んど
である。つまり、ねじのないものは、単に欠陥が良く見
える状態にしさえすれば、その回転位置とは無関係に、
良品のびん口の2値化パターンとの差異から良、否の判
定が可能で、照明および2値化方法も比較的容易である
。すなわち、びんのように透過性をもつものには透過光
方式が照明方法として用いられ、びん口径方向に沿って
良品びんの2値パターンとのマツチングがとられる。ま
た、2値化方弐としても固定2値化や、ピークホールド
2値化が可能である。さらに、びん口径方向の対称性を
利用すべく、びん口径方向にわたる一定区間パターンご
とに濃淡画像のま\比較を行ない、差が大きいときのみ
不良とする等の方法も採用できる。
しかし、びん口にねじ部があると、びんの径方向に沿っ
てねじの形状が刻々と変化するため、その画像をテレビ
カメラの如き2次元撮像装置で捉えると、同じ画像はび
んロー周にわたって1つもないことがわかる。このため
、パターンマツチングをとるにしても、びん口部のねじ
パターンが障害となって良否判定が困難になると云う問
題がある。
てねじの形状が刻々と変化するため、その画像をテレビ
カメラの如き2次元撮像装置で捉えると、同じ画像はび
んロー周にわたって1つもないことがわかる。このため
、パターンマツチングをとるにしても、びん口部のねじ
パターンが障害となって良否判定が困難になると云う問
題がある。
したがって、この発明はねじ部をもつびん口部について
もその欠陥を検出できるようにし、検査精度の向上を図
ることを目的とする。
もその欠陥を検出できるようにし、検査精度の向上を図
ることを目的とする。
C問題点を解決するための手段〕
拡散板とびん中心に対し略左右対称に設けられた光源と
からなりびん口ねじ部を背面から拡散照明する照明機構
と、この照明機構にて照明されるびんに対し所定角度ず
つ相対的に回転させてびん口ねじ部の透過光像を撮像す
る撮像手段と、その撮像信号についてねじに沿う方向に
微分または差分演算を行なう演算手段とを設け、この演
算出力から欠陥の検査を行なう。
からなりびん口ねじ部を背面から拡散照明する照明機構
と、この照明機構にて照明されるびんに対し所定角度ず
つ相対的に回転させてびん口ねじ部の透過光像を撮像す
る撮像手段と、その撮像信号についてねじに沿う方向に
微分または差分演算を行なう演算手段とを設け、この演
算出力から欠陥の検査を行なう。
びんのねじと略平行に画像信号の微分または差分演算を
行なうことによってねじ部の演算値は小さくする一方、
欠陥部の演算値は大きくなるようにしく欠陥部の強調)
、欠陥を高精度に検出できるようにする。
行なうことによってねじ部の演算値は小さくする一方、
欠陥部の演算値は大きくなるようにしく欠陥部の強調)
、欠陥を高精度に検出できるようにする。
第1図はこの発明の実施例を示す構成図、第2図はこの
発明による検査方法を説明するための説明図、第3図は
ぴんと照明機構との関係を示す正面図、第42図は照明
機構と撮像装置との関係を示す上面図である。
発明による検査方法を説明するための説明図、第3図は
ぴんと照明機構との関係を示す正面図、第42図は照明
機構と撮像装置との関係を示す上面図である。
この発明による検査装置は、例えば第1図の如く撮像装
置(テレビカメラ)1、増幅器2、微分回路3、比較器
4A、4B、設定器5A、5B、2値化回路6、画素カ
ウンタ回路7、ウィンドウ発生回路8およびフィルタ回
路9等より構成される。
置(テレビカメラ)1、増幅器2、微分回路3、比較器
4A、4B、設定器5A、5B、2値化回路6、画素カ
ウンタ回路7、ウィンドウ発生回路8およびフィルタ回
路9等より構成される。
一方、検査対象物となるびんは例えば第3図の如く回転
テーブル14に載置され、その中心軸のまわりで回転可
能にされている。このびん11の背面には第3図または
第4図に示す如く、その中心軸に対して略左右対称に1
対のランプ(光源)12A、12Bが設けられると\も
に、このランプ12A、12Bとびん11との間には拡
散板13が配置される。このため、びん11は拡散照明
され、その口部透過光像がテレビカメラの如き撮像装置
1によって撮像されることになる。つまり、ランプ12
A、12Bをびん・11の中心軸に対してはヌ゛対称に
配置することによって、撮像装置1側にランプの強い光
が直接入らないようにすると−もに、欠けやヒビ等の欠
陥については左右のランプ12A、12Bによりハレー
ションまたは影が形成されるようにし、第4図の如き欠
陥Fを効果的に取り出せるようにする。なお、周方向に
複数枚の画面を得るため、びん11を回転させるがわり
に光源12a、12b、拡散板13および撮像装置1の
方を回転させることも可能である。
テーブル14に載置され、その中心軸のまわりで回転可
能にされている。このびん11の背面には第3図または
第4図に示す如く、その中心軸に対して略左右対称に1
対のランプ(光源)12A、12Bが設けられると\も
に、このランプ12A、12Bとびん11との間には拡
散板13が配置される。このため、びん11は拡散照明
され、その口部透過光像がテレビカメラの如き撮像装置
1によって撮像されることになる。つまり、ランプ12
A、12Bをびん・11の中心軸に対してはヌ゛対称に
配置することによって、撮像装置1側にランプの強い光
が直接入らないようにすると−もに、欠けやヒビ等の欠
陥については左右のランプ12A、12Bによりハレー
ションまたは影が形成されるようにし、第4図の如き欠
陥Fを効果的に取り出せるようにする。なお、周方向に
複数枚の画面を得るため、びん11を回転させるがわり
に光源12a、12b、拡散板13および撮像装置1の
方を回転させることも可能である。
このようにして得られる撮像装置1からの撮像信号は、
増幅器2によって増幅された後、微分回路3によづて微
分される。この微分出力は比較器4Aにて所定の設定値
と比較され、所定大きさ以上のもの(画素)だけが取り
出される。2値化回路6は比較器4Aの出力に応じて画
素毎に2値化し、その出力を画素カウンタ回路7に与え
る。画素カウンタ回路7は1”となった画素数をカウン
トするが、これにはウィンドウ発生回路8からウィンド
ウ領域Wに関する情報が与えられるので、カウントされ
る画素数はウィンドウ領域W内にあるものだけと云うこ
とになる。画素カウンタ回路7の出力はフィルタ回路9
に与えられ、ノイズ成分が除去される。さらに、その出
力は比較器4Bにおいて所定の設定値と比較され、所定
値以上のものが欠陥として取り出される。なお、以上の
如き操作をびんと撮像装置の相対角度を変えて複数回行
ない、総合的な判定が行なわれる。また、以上では撮像
信号を微分するようにしたが、差分を取り出すようにし
ても同様の効果を得ることができる。
増幅器2によって増幅された後、微分回路3によづて微
分される。この微分出力は比較器4Aにて所定の設定値
と比較され、所定大きさ以上のもの(画素)だけが取り
出される。2値化回路6は比較器4Aの出力に応じて画
素毎に2値化し、その出力を画素カウンタ回路7に与え
る。画素カウンタ回路7は1”となった画素数をカウン
トするが、これにはウィンドウ発生回路8からウィンド
ウ領域Wに関する情報が与えられるので、カウントされ
る画素数はウィンドウ領域W内にあるものだけと云うこ
とになる。画素カウンタ回路7の出力はフィルタ回路9
に与えられ、ノイズ成分が除去される。さらに、その出
力は比較器4Bにおいて所定の設定値と比較され、所定
値以上のものが欠陥として取り出される。なお、以上の
如き操作をびんと撮像装置の相対角度を変えて複数回行
ない、総合的な判定が行なわれる。また、以上では撮像
信号を微分するようにしたが、差分を取り出すようにし
ても同様の効果を得ることができる。
こ−で、2値化回路6の出力、すなわちびん口部の2値
化画像が、例えば第2図の如く示されるものとすると、
同図(イ)は欠陥のない状態を、また(口)は欠陥Fが
ある状態をそれぞれ示している。つまり、撮像信号を微
分(差分)すると云うことは、濃淡変化の大きなエツジ
部分を強調することであり、したがってこのエツジ部分
が第2図の実線の如く取り出される。このとき、微分(
差分)操作はびんのねじ部に沿って、すなわちびん口端
部11Aとはy′平行に行なわれるので(第2図(イ)
の符号り参照)、ねじ部分は画像としては取り出されず
、第2図(ロ)の如き欠陥Fのみが強調されて取り出さ
れることになる。なお、第2図(イ)の符号Wはウィン
ドウ領域を示す。
化画像が、例えば第2図の如く示されるものとすると、
同図(イ)は欠陥のない状態を、また(口)は欠陥Fが
ある状態をそれぞれ示している。つまり、撮像信号を微
分(差分)すると云うことは、濃淡変化の大きなエツジ
部分を強調することであり、したがってこのエツジ部分
が第2図の実線の如く取り出される。このとき、微分(
差分)操作はびんのねじ部に沿って、すなわちびん口端
部11Aとはy′平行に行なわれるので(第2図(イ)
の符号り参照)、ねじ部分は画像としては取り出されず
、第2図(ロ)の如き欠陥Fのみが強調されて取り出さ
れることになる。なお、第2図(イ)の符号Wはウィン
ドウ領域を示す。
この発明によれば、びんのねじ部に沿って画像信号の微
分または差分演算を行なうようにしたので、ねじ部の演
算値は小さくなる一方、欠陥部の演算値は大きくなり、
これによって欠陥を高精度に検出することができる利点
がもたらされる。また、ねじ部の画像処理が実質的に不
要となるので、演算が簡単となり高速化される利点もあ
る。
分または差分演算を行なうようにしたので、ねじ部の演
算値は小さくなる一方、欠陥部の演算値は大きくなり、
これによって欠陥を高精度に検出することができる利点
がもたらされる。また、ねじ部の画像処理が実質的に不
要となるので、演算が簡単となり高速化される利点もあ
る。
第1図はこの発明の実施例を示す構成図、第2図はこの
発明による検査方法を説明するための説明図、第3図は
ぴんと照明機構との関係を示す正面図、第4図は照明機
構と撮像装置との関係を示す上面図である。 符号説明 1・・・撮像装置(テレビカメラ)、2・・・増幅器、
3・・・微分回路、4A、4B・・・比較器、5A、5
B・・・設定値、6・・・2値化回路、7・・・画素カ
ウンタ回路、8・・・ウィンドウ発生回路、9・・・フ
ィルタ回路、11・・・びん、11A・・・びん口端部
、12A、12B・・・ランプ(光源)、13・・・拡
散板、14・・・回転テーブル、D・・・微分方向、W
・・・ウィンドウ領域、F・・・欠陥。 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清 π1図 A 第2図 (イ)
(ロ)第3 図 う)ア
発明による検査方法を説明するための説明図、第3図は
ぴんと照明機構との関係を示す正面図、第4図は照明機
構と撮像装置との関係を示す上面図である。 符号説明 1・・・撮像装置(テレビカメラ)、2・・・増幅器、
3・・・微分回路、4A、4B・・・比較器、5A、5
B・・・設定値、6・・・2値化回路、7・・・画素カ
ウンタ回路、8・・・ウィンドウ発生回路、9・・・フ
ィルタ回路、11・・・びん、11A・・・びん口端部
、12A、12B・・・ランプ(光源)、13・・・拡
散板、14・・・回転テーブル、D・・・微分方向、W
・・・ウィンドウ領域、F・・・欠陥。 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清 π1図 A 第2図 (イ)
(ロ)第3 図 う)ア
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 透明または半透明の材料からなるびん容器口ねじ部の表
面または内面にある欠けおよびヒビを含む欠陥を検査す
る検査装置であって、 拡散板とびん中心に対し略左右対称に設けられた光源と
からなり該びん口ねじ部を背面から拡散照明する照明機
構と、 該照明機構にて照明されるびんに対し所定角度ずつ相対
的に回転してびん口ねじ部の透過光像を撮像する撮像手
段と、 該撮像信号について前記ねじ部に沿う方向に微分または
差分演算を行なう演算手段と、 を備え、該演算出力にもとづき欠陥を検査することを特
徴とするびん口ねじ部の欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5407987A JPS63222246A (ja) | 1987-03-11 | 1987-03-11 | びん口ねじ部の欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5407987A JPS63222246A (ja) | 1987-03-11 | 1987-03-11 | びん口ねじ部の欠陥検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63222246A true JPS63222246A (ja) | 1988-09-16 |
Family
ID=12960605
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5407987A Pending JPS63222246A (ja) | 1987-03-11 | 1987-03-11 | びん口ねじ部の欠陥検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63222246A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0266544U (ja) * | 1988-11-07 | 1990-05-18 | ||
JP2012154639A (ja) * | 2011-01-21 | 2012-08-16 | Jtekt Corp | 転がり軸受の表面検査装置 |
JP2019523424A (ja) * | 2016-08-01 | 2019-08-22 | ショット シュヴァイツ アー・ゲーSCHOTT Schweiz AG | 透明なボディの光学検査を行う方法および装置 |
-
1987
- 1987-03-11 JP JP5407987A patent/JPS63222246A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0266544U (ja) * | 1988-11-07 | 1990-05-18 | ||
JP2012154639A (ja) * | 2011-01-21 | 2012-08-16 | Jtekt Corp | 転がり軸受の表面検査装置 |
JP2019523424A (ja) * | 2016-08-01 | 2019-08-22 | ショット シュヴァイツ アー・ゲーSCHOTT Schweiz AG | 透明なボディの光学検査を行う方法および装置 |
US11049237B2 (en) | 2016-08-01 | 2021-06-29 | Schott Schweiz Ag | Method and device for optical examination of transparent bodies |
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