JPH0338634B2 - - Google Patents
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- JPH0338634B2 JPH0338634B2 JP60070068A JP7006885A JPH0338634B2 JP H0338634 B2 JPH0338634 B2 JP H0338634B2 JP 60070068 A JP60070068 A JP 60070068A JP 7006885 A JP7006885 A JP 7006885A JP H0338634 B2 JPH0338634 B2 JP H0338634B2
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は金融機関等に設置される自動支払機，
自動預金機及び自動取引装置等に利用される紙葉
類鑑別装置に関するもので、特に複数の光センサ
を用いて紙幣や小切手等の紙葉類の種類や真偽等
を鑑別する紙葉類鑑別装置に関する。
自動預金機及び自動取引装置等に利用される紙葉
類鑑別装置に関するもので、特に複数の光センサ
を用いて紙幣や小切手等の紙葉類の種類や真偽等
を鑑別する紙葉類鑑別装置に関する。
第４図は従来のこの種の紙葉類鑑別装置に構成
例を示す回路ブロツク図で、ここでは16個の光セ
ンサにより図示しない紙葉類のそれぞれ異なつた
トラツク上を走査する場合を示している。
例を示す回路ブロツク図で、ここでは16個の光セ
ンサにより図示しない紙葉類のそれぞれ異なつた
トラツク上を走査する場合を示している。
光センサは鑑別しようとする紙葉類を照射する
光源（図示せず）と、その紙葉類からの反射光ま
たは透過光を受光して光電変換する受光素子とに
よつて構成されており、その受光素子としては例
えばフオトダイオード１−１〜１−１６が使用さ
れ、紙葉類鑑別時におけるこれらフオトダイオー
ド１−１〜１−１６の出力は増幅器２−１〜２−
１６に入力されてそれぞれ増幅される。
光源（図示せず）と、その紙葉類からの反射光ま
たは透過光を受光して光電変換する受光素子とに
よつて構成されており、その受光素子としては例
えばフオトダイオード１−１〜１−１６が使用さ
れ、紙葉類鑑別時におけるこれらフオトダイオー
ド１−１〜１−１６の出力は増幅器２−１〜２−
１６に入力されてそれぞれ増幅される。
この増幅器２−１〜２−１６は各々可変抵抗器
３−１〜３−１６によりオフセツトが、また可変
抵抗器４−１〜４−１６により利得が調整できる
ように構成されており、各増幅器２−１〜２−１
６の出力はアナログマルチプレクサ５に入力され
る。
３−１〜３−１６によりオフセツトが、また可変
抵抗器４−１〜４−１６により利得が調整できる
ように構成されており、各増幅器２−１〜２−１
６の出力はアナログマルチプレクサ５に入力され
る。
このアナログマルチプレクサ５はサンプリング
パルスカウンタ６が指示するチヤンネルに接続さ
れた光センサの出力を選択してサンプリング回路
７へ供給し、そしてこのサンプリング回路７の出
力はさらにＡ／Ｄ変換器８によりＡ／Ｄ変換され
て制御回路９に読み取られる。
パルスカウンタ６が指示するチヤンネルに接続さ
れた光センサの出力を選択してサンプリング回路
７へ供給し、そしてこのサンプリング回路７の出
力はさらにＡ／Ｄ変換器８によりＡ／Ｄ変換され
て制御回路９に読み取られる。
一方、タイミングパルス発生回路１０は、図示
しない搬送手段により搬送される上記紙葉類すな
わち鑑別すべき紙葉類の搬送速度に比例したタイ
ミングパルスを制御回路９とサンプリングパルス
カウンタ６とに与える。
しない搬送手段により搬送される上記紙葉類すな
わち鑑別すべき紙葉類の搬送速度に比例したタイ
ミングパルスを制御回路９とサンプリングパルス
カウンタ６とに与える。
このタイミングパルスによりサンプリングパル
スカウンタ６はリセツトされ、制御回路９はその
タイミングにより各光センサの出力を順次サンプ
リングするべくサンプリングパルスをサンプリン
グパルスカウンタ６，サンプリング回路７，及び
Ａ／Ｄ変換器８へ与える。
スカウンタ６はリセツトされ、制御回路９はその
タイミングにより各光センサの出力を順次サンプ
リングするべくサンプリングパルスをサンプリン
グパルスカウンタ６，サンプリング回路７，及び
Ａ／Ｄ変換器８へ与える。
このように各光センサの出力を各タイミングパ
ルス毎にサンプリングし、このときのＡ／Ｄ変換
器８の出力を順次制御回路９で読み取ることによ
り得られるデジタルパターンデータを、その制御
回路９が記憶している標準的な紙葉類のパターン
データと比較することで鑑別処理すなわち上記紙
葉類の種類判別や真偽判別が行われる。
ルス毎にサンプリングし、このときのＡ／Ｄ変換
器８の出力を順次制御回路９で読み取ることによ
り得られるデジタルパターンデータを、その制御
回路９が記憶している標準的な紙葉類のパターン
データと比較することで鑑別処理すなわち上記紙
葉類の種類判別や真偽判別が行われる。
尚、１１は装置内に挿入された上記搬送手段に
より搬送される紙葉類を検知する図示しない検知
手段の検知信号を制御回路９に送るコンパレータ
である。
より搬送される紙葉類を検知する図示しない検知
手段の検知信号を制御回路９に送るコンパレータ
である。
第５図はＡ／Ｄ変換の様子を示すタイムチヤー
トで、同図Ａは増幅器２−１の出力の一部を例に
とつた明暗の変化に比例した入力信号、同図Ｂは
タイミングパルス発生回路１０の出力であるタイ
ミングパルスである。
トで、同図Ａは増幅器２−１の出力の一部を例に
とつた明暗の変化に比例した入力信号、同図Ｂは
タイミングパルス発生回路１０の出力であるタイ
ミングパルスである。
制御回路９はこの図Ｂのタイミングパルスを受
けると、同図Ｃに示すサンプリングパルスをサン
プリングパルスカウンタ６，サンプリング回路
７，Ａ／Ｄ変換器８へ供給する。
けると、同図Ｃに示すサンプリングパルスをサン
プリングパルスカウンタ６，サンプリング回路
７，Ａ／Ｄ変換器８へ供給する。
更に、同図Ｄはサンプリングパルスカウンタ６
の出力に応じてアナログマルチプレクサ５が選択
した図Ａに示す増幅器２−１の出力を図Ｃのサン
プリングパルスａ−０，ｂ−０…によりサンプリ
ングしてＡ／Ｄ変換されたデジタル出力を示す。
の出力に応じてアナログマルチプレクサ５が選択
した図Ａに示す増幅器２−１の出力を図Ｃのサン
プリングパルスａ−０，ｂ−０…によりサンプリ
ングしてＡ／Ｄ変換されたデジタル出力を示す。
尚、増幅器２−２〜２−１６の出力も同様にサ
ンプリングパルスａ−１，ｂ−１…ａ−１５，ｂ
−１５…によりサンプリングされてＡ／Ｄ変換さ
れる。
ンプリングパルスａ−１，ｂ−１…ａ−１５，ｂ
−１５…によりサンプリングされてＡ／Ｄ変換さ
れる。
このように従来の紙葉類鑑別装置においては、
紙葉類に光センサの光源からの光を照射し、上記
光センサの受光素子で受光される前記紙葉類から
の反射光または透過光を光電変換することによつ
て、上記紙葉類の印刷状態や模様、及び色等を検
出するための電気的なアナログパターン信号を
得、更にこの信号をＡ／Ｄ変換してデジタル的に
処理した後、そのデジタルパターン信号を標準的
なパターンデータと比較することで上記紙葉類の
種類や真偽等の鑑別を行つている。
紙葉類に光センサの光源からの光を照射し、上記
光センサの受光素子で受光される前記紙葉類から
の反射光または透過光を光電変換することによつ
て、上記紙葉類の印刷状態や模様、及び色等を検
出するための電気的なアナログパターン信号を
得、更にこの信号をＡ／Ｄ変換してデジタル的に
処理した後、そのデジタルパターン信号を標準的
なパターンデータと比較することで上記紙葉類の
種類や真偽等の鑑別を行つている。
この場合、光センサ個々の感度差、経時変化、
紙葉類搬送路上における光源の発光面と受光素子
の受光面の汚れ、及び回路系の変動等による影響
を除去して安定した信号出力を得ることが高精度
な鑑別を実現するための前提条件となる。
紙葉類搬送路上における光源の発光面と受光素子
の受光面の汚れ、及び回路系の変動等による影響
を除去して安定した信号出力を得ることが高精度
な鑑別を実現するための前提条件となる。
そのため従来においては装置出荷時あるいは保
守，点検時等に熟練の作業者が増幅器２−１〜２
−１６の可変抵抗器３−１〜３−１６及び４−１
〜４−１６により各光センサの出力が所定値ある
いは所定範囲となるように調整を行つていた。
守，点検時等に熟練の作業者が増幅器２−１〜２
−１６の可変抵抗器３−１〜３−１６及び４−１
〜４−１６により各光センサの出力が所定値ある
いは所定範囲となるように調整を行つていた。
しかしながら、上記のような従来の技術による
と、装置毎及び同一装置内の光センサ毎にその出
力の精密な調整を人手により行つているために多
大な調整時間を要し、また増幅器出力にてセンサ
出力を規定していたため、アナログマルチプレク
サ，サンプリングパルスカウンタ，及びＡ／Ｄ変
換器による変動分は調整されず、鑑別精度の向上
があまり期待できないという問題があつた。
と、装置毎及び同一装置内の光センサ毎にその出
力の精密な調整を人手により行つているために多
大な調整時間を要し、また増幅器出力にてセンサ
出力を規定していたため、アナログマルチプレク
サ，サンプリングパルスカウンタ，及びＡ／Ｄ変
換器による変動分は調整されず、鑑別精度の向上
があまり期待できないという問題があつた。
また、上記とは別の従来技術として、光センサ
の出力を増幅する増幅器を可変利得増幅器とし、
検知手段が紙葉類を検知していないときの可変利
得増幅器の出力が所定の出力となるように、可変
利得増幅器の利得を自動調整する方法も考えられ
ているが、この方法では利得の自動調整を、光セ
ンサの出力が通常の鑑別部とは全く異なる状態で
行うことになり、光源の点灯時と滅灯時とのいず
れにおいても、光センサの出力は、実際の紙葉類
の鑑別時の出力とは掛け離れた値をとる。そのた
め、鑑別時と異なつた利得特性で利得調整を行う
ことは避けられず、必ずしも最適な利得調整を行
えないという問題がある。また、Ａ／Ｄ変換に際
して、光源の点灯と減灯という、鑑別時よりはる
かに大きな変動幅に対して、Ａ／Ｄ変換を行うよ
うに利得を調整することになるために、鑑別時の
光センサ出力の微妙な変動がＡ／Ｄ変換出力に反
映されず、結果としてやはり鑑別精度の向上が期
待できないという問題があつた。
の出力を増幅する増幅器を可変利得増幅器とし、
検知手段が紙葉類を検知していないときの可変利
得増幅器の出力が所定の出力となるように、可変
利得増幅器の利得を自動調整する方法も考えられ
ているが、この方法では利得の自動調整を、光セ
ンサの出力が通常の鑑別部とは全く異なる状態で
行うことになり、光源の点灯時と滅灯時とのいず
れにおいても、光センサの出力は、実際の紙葉類
の鑑別時の出力とは掛け離れた値をとる。そのた
め、鑑別時と異なつた利得特性で利得調整を行う
ことは避けられず、必ずしも最適な利得調整を行
えないという問題がある。また、Ａ／Ｄ変換に際
して、光源の点灯と減灯という、鑑別時よりはる
かに大きな変動幅に対して、Ａ／Ｄ変換を行うよ
うに利得を調整することになるために、鑑別時の
光センサ出力の微妙な変動がＡ／Ｄ変換出力に反
映されず、結果としてやはり鑑別精度の向上が期
待できないという問題があつた。
本発明はこれらの問題を解決するためになされ
たもので、アナログマルチプレクサ，サンプリン
グ回路，及びＡ／Ｄ変換器による変動分も含めて
各光センサ毎に所定値あるいは所定範囲のＡ／Ｄ
変換出力が得られるようにし、鑑別精度を向上さ
せることが可能な紙葉類鑑別装置を実現すること
を目的とするものである。
たもので、アナログマルチプレクサ，サンプリン
グ回路，及びＡ／Ｄ変換器による変動分も含めて
各光センサ毎に所定値あるいは所定範囲のＡ／Ｄ
変換出力が得られるようにし、鑑別精度を向上さ
せることが可能な紙葉類鑑別装置を実現すること
を目的とするものである。
〔課題を解決するための手段〕
この目的を達成するため、本発明は以下の２つ
の発明とする。
の発明とする。
まず、本発明の１つは、鑑別すべき紙葉類に光
を照射する光源、及びこの紙葉類からの透過光ま
たは反射光を受光する受光素子から成る複数の光
センサと、上記紙葉類の存在を検知する検知手段
と、上記紙葉類の搬送速度に比例したタイミング
パルスを発生するタイミングパルス発生手段と、
上記光センサの受光出力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ
変換手段（Ａ／Ｄ変換器８）と、紙葉類の種類や
真偽等を鑑別するための標準的なパターンデータ
を記憶した制御手段とを備え、紙葉類からの透過
光または反射光を受光したときの各光センサ出力
に対応する上記Ａ／Ｄ変換手段からの出力を、上
記検知手段の紙葉類検知信号に応答する上記タイ
ミングパルス発生手段からのタイミングパルスに
同期して制御手段が順次読み取り、これにより得
られたパターンデータを上記標準的なパターンデ
ータと比較することにより上記紙葉類の種類や真
偽等を鑑別する紙葉類鑑別装置において、各光セ
ンサ出力毎に所定のＡ／Ｄ変換出力を得るため、
各光センサに対応して複数の下限基準電位の１つ
を選択すべき情報を設定する下限基準電位選択情
報設定手段（第１図の−VREF選択RAM１５）
と、各光センサに対応して上記下限基準電位選択
情報設定手段に設定される情報のアドレスを設定
するアドレス設定手段（第１図のサンプリングパ
ルスカウンタ１９）と、上記下限基準電位選択情
報設定手段に設定された情報に基づいて、各光セ
ンサ出力に対応した下限基準電位を上記Ａ／Ｄ変
換手段に与えるＡ／Ｄ変換出力可変手段（第１図
のアナログマルチプレクサ１２）と、装置の動作
を、通常の鑑別動作と特定の光学透過特性または
反射特性を有する試験用の紙葉類による試験動作
のいずれか一方に指示する動作指示手段（第１図
のモードスイツチ１８）とを備え、かつ上記制御
手段は、上記動作指示手段により指示された試験
動作時に、前記各手段を制御して各光センサ毎に
下限基準電位を求めるようにしたものである。
を照射する光源、及びこの紙葉類からの透過光ま
たは反射光を受光する受光素子から成る複数の光
センサと、上記紙葉類の存在を検知する検知手段
と、上記紙葉類の搬送速度に比例したタイミング
パルスを発生するタイミングパルス発生手段と、
上記光センサの受光出力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ
変換手段（Ａ／Ｄ変換器８）と、紙葉類の種類や
真偽等を鑑別するための標準的なパターンデータ
を記憶した制御手段とを備え、紙葉類からの透過
光または反射光を受光したときの各光センサ出力
に対応する上記Ａ／Ｄ変換手段からの出力を、上
記検知手段の紙葉類検知信号に応答する上記タイ
ミングパルス発生手段からのタイミングパルスに
同期して制御手段が順次読み取り、これにより得
られたパターンデータを上記標準的なパターンデ
ータと比較することにより上記紙葉類の種類や真
偽等を鑑別する紙葉類鑑別装置において、各光セ
ンサ出力毎に所定のＡ／Ｄ変換出力を得るため、
各光センサに対応して複数の下限基準電位の１つ
を選択すべき情報を設定する下限基準電位選択情
報設定手段（第１図の−VREF選択RAM１５）
と、各光センサに対応して上記下限基準電位選択
情報設定手段に設定される情報のアドレスを設定
するアドレス設定手段（第１図のサンプリングパ
ルスカウンタ１９）と、上記下限基準電位選択情
報設定手段に設定された情報に基づいて、各光セ
ンサ出力に対応した下限基準電位を上記Ａ／Ｄ変
換手段に与えるＡ／Ｄ変換出力可変手段（第１図
のアナログマルチプレクサ１２）と、装置の動作
を、通常の鑑別動作と特定の光学透過特性または
反射特性を有する試験用の紙葉類による試験動作
のいずれか一方に指示する動作指示手段（第１図
のモードスイツチ１８）とを備え、かつ上記制御
手段は、上記動作指示手段により指示された試験
動作時に、前記各手段を制御して各光センサ毎に
下限基準電位を求めるようにしたものである。
また、本発明の別の１つは、鑑別すべき紙葉類
に光を照射する光源、及びこの紙葉類からの透過
光または反射光を受光する受光素子から成る複数
の光センサと、上記紙葉類の存在を検知する検知
手段と、上記紙葉類の搬送速度に比例したタイミ
ングパルスを発生するタイミングパルス発生手段
と、上記光センサの受光出力をＡ／Ｄ変換する
Ａ／Ｄ変換手段（Ａ／Ｄ変換器８）と、紙葉類の
種類や真偽等を鑑別するための標準的なパターン
データを記憶した制御手段とを備え、紙葉類から
の透過光または反射光を受光したときの各光セン
サ出力に対応する上記Ａ／Ｄ変換手段からの出力
を、上記検知手段の紙葉類検知信号に応答する上
記タイミングパルス発生手段からのタイミングパ
ルスに同期して制御手段が順次読み取り、これに
より得られたパターンデータを上記標準的なパタ
ーンデータと比較することにより上記紙葉類の種
類や真偽等を鑑別する紙葉類鑑別装置において、
各光センサ出力毎に所定のＡ／Ｄ変換出力を得る
ため、各光センサに対応してその出力を増幅する
利得情報を設定する利得設定手段（第４図の利得
設定RAM２２）と、各光センサに対応して上記
利得設定手段に設定される利得情報のアドレスを
設定するアドレス設定手段と（第４図のサンプリ
ングパルスカウンタ１９）と、上記利得設定手段
に設定された利得情報に基づいて各光センサ出力
毎にその出力を増幅し、上記Ａ／Ｄ変換手段に入
力する可変利得増幅手段と、装置の動作を、通常
の鑑別動作と特定の光学透過特性または反射特性
を有する試験用の紙葉類による試験動作のいずれ
か一方に指示する動作指示手段（第４図のモード
スイツチ１８）とを備え、かつ上記制御手段は、
上記動作指示手段により指示された試験動作時
に、前記各手段を制御して各光センサ毎に利得情
報を求めるようにしたものである。
に光を照射する光源、及びこの紙葉類からの透過
光または反射光を受光する受光素子から成る複数
の光センサと、上記紙葉類の存在を検知する検知
手段と、上記紙葉類の搬送速度に比例したタイミ
ングパルスを発生するタイミングパルス発生手段
と、上記光センサの受光出力をＡ／Ｄ変換する
Ａ／Ｄ変換手段（Ａ／Ｄ変換器８）と、紙葉類の
種類や真偽等を鑑別するための標準的なパターン
データを記憶した制御手段とを備え、紙葉類から
の透過光または反射光を受光したときの各光セン
サ出力に対応する上記Ａ／Ｄ変換手段からの出力
を、上記検知手段の紙葉類検知信号に応答する上
記タイミングパルス発生手段からのタイミングパ
ルスに同期して制御手段が順次読み取り、これに
より得られたパターンデータを上記標準的なパタ
ーンデータと比較することにより上記紙葉類の種
類や真偽等を鑑別する紙葉類鑑別装置において、
各光センサ出力毎に所定のＡ／Ｄ変換出力を得る
ため、各光センサに対応してその出力を増幅する
利得情報を設定する利得設定手段（第４図の利得
設定RAM２２）と、各光センサに対応して上記
利得設定手段に設定される利得情報のアドレスを
設定するアドレス設定手段と（第４図のサンプリ
ングパルスカウンタ１９）と、上記利得設定手段
に設定された利得情報に基づいて各光センサ出力
毎にその出力を増幅し、上記Ａ／Ｄ変換手段に入
力する可変利得増幅手段と、装置の動作を、通常
の鑑別動作と特定の光学透過特性または反射特性
を有する試験用の紙葉類による試験動作のいずれ
か一方に指示する動作指示手段（第４図のモード
スイツチ１８）とを備え、かつ上記制御手段は、
上記動作指示手段により指示された試験動作時
に、前記各手段を制御して各光センサ毎に利得情
報を求めるようにしたものである。
上述した構成を有する本発明の作用は以下の通
りである。
りである。
まず、前者の発明では、上記動作指示手段によ
り指示された試験動作時に、上記制御手段は装置
に挿入された上記試験用の紙葉類からの透過光ま
たは反射光を受光した各光センサの出力に対応す
るＡ／Ｄ変換手段の出力を読み取ると共に、その
読み取つた出力からＡ／Ｄ変換出力が所定値ある
いは所定の範囲となるように各光センサ毎に下限
基準電位を求めて、その各光センサ毎の下限基準
電位の情報を下限基準電位選定情報設定手段に設
定する。そして、上記動作指示手段により鑑別動
作が指示されたとき、上記下限基準電位選択情報
設定手段に設定された情報に基づいてＡ／Ｄ変換
出力可変手段により各光センサ毎の下限基準電位
をＡ／Ｄ変換手段に与え、そのＡ／Ｄ変換出力に
よるパターンデータと上記標準的なパターンデー
タとを上記制御手段が比較することにより紙葉類
の鑑別を行う。
り指示された試験動作時に、上記制御手段は装置
に挿入された上記試験用の紙葉類からの透過光ま
たは反射光を受光した各光センサの出力に対応す
るＡ／Ｄ変換手段の出力を読み取ると共に、その
読み取つた出力からＡ／Ｄ変換出力が所定値ある
いは所定の範囲となるように各光センサ毎に下限
基準電位を求めて、その各光センサ毎の下限基準
電位の情報を下限基準電位選定情報設定手段に設
定する。そして、上記動作指示手段により鑑別動
作が指示されたとき、上記下限基準電位選択情報
設定手段に設定された情報に基づいてＡ／Ｄ変換
出力可変手段により各光センサ毎の下限基準電位
をＡ／Ｄ変換手段に与え、そのＡ／Ｄ変換出力に
よるパターンデータと上記標準的なパターンデー
タとを上記制御手段が比較することにより紙葉類
の鑑別を行う。
また、後者の発明では、上記動作指示手段によ
り指示された試験動作時に、上記制御手段は装置
に挿入された上記試験用の紙葉類からの透過光ま
たは反射光を受光した各光センサの出力に対応す
るＡ／Ｄ変換手段の出力を読み取ると共に、その
読み取つた出力からＡ／Ｄ変換出力が所定値ある
いは所定の範囲となるように各光センサ毎に利得
情報を求めて、その各光センサ毎の利得情報を利
得設定手段に設定する。そして、上記動作指示手
段により鑑別動作が指示されたとき、上記利得設
定手段に設定された情報に基づいてＡ／Ｄ変換出
力可変手段により各光センサ毎の利得情報を可変
利得増幅手段に与え、そのときのＡ／Ｄ変換出力
によるパターンデータと上記標準的なパターンデ
ータとを上記制御手段が比較することにより紙葉
類の鑑別を行う。
り指示された試験動作時に、上記制御手段は装置
に挿入された上記試験用の紙葉類からの透過光ま
たは反射光を受光した各光センサの出力に対応す
るＡ／Ｄ変換手段の出力を読み取ると共に、その
読み取つた出力からＡ／Ｄ変換出力が所定値ある
いは所定の範囲となるように各光センサ毎に利得
情報を求めて、その各光センサ毎の利得情報を利
得設定手段に設定する。そして、上記動作指示手
段により鑑別動作が指示されたとき、上記利得設
定手段に設定された情報に基づいてＡ／Ｄ変換出
力可変手段により各光センサ毎の利得情報を可変
利得増幅手段に与え、そのときのＡ／Ｄ変換出力
によるパターンデータと上記標準的なパターンデ
ータとを上記制御手段が比較することにより紙葉
類の鑑別を行う。
以下図面を参照して実施例を説明する。
第１図は本発明による紙葉類鑑別装置の第１の
実施例を示す回路ブロツク図である。
実施例を示す回路ブロツク図である。
図において、１−１〜１−１６は光センサの受
光素子としてのフオトダイオード、５はアナログ
マルチプレクサ、７はサンプリング回路、８は
Ａ／Ｄ変換手段であるＡ／Ｄ変換器、１０はタイ
ミングパルス発生回路、１１はコンパレータで、
これらは上記第４図のものと同一部品であるので
その説明は省略する。
光素子としてのフオトダイオード、５はアナログ
マルチプレクサ、７はサンプリング回路、８は
Ａ／Ｄ変換手段であるＡ／Ｄ変換器、１０はタイ
ミングパルス発生回路、１１はコンパレータで、
これらは上記第４図のものと同一部品であるので
その説明は省略する。
１２と１３はＡ／Ｄ変換出力可変手段としての
アナログマルチプレクサで、一方のアナログマル
チプレクサ１２はＡ／Ｄ変換器８のＡ／Ｄ変換範
囲電圧の上限電圧を複数個の基準電位で＋VREF(1)
〜＋VREF(o)のうちから選択的に切換えてＡ／Ｄ変
換器８に供給し、他方のアナログマルチプレクサ
１３はＡ／Ｄ変換器８のＡ／Ｄ変換範囲電圧の下
限電圧を複数個の基準電位−VREF(1)〜−VREF(o)の
うちから選択切換えてＡ／Ｄ変換器８へ供給する
ものである。
アナログマルチプレクサで、一方のアナログマル
チプレクサ１２はＡ／Ｄ変換器８のＡ／Ｄ変換範
囲電圧の上限電圧を複数個の基準電位で＋VREF(1)
〜＋VREF(o)のうちから選択的に切換えてＡ／Ｄ変
換器８に供給し、他方のアナログマルチプレクサ
１３はＡ／Ｄ変換器８のＡ／Ｄ変換範囲電圧の下
限電圧を複数個の基準電位−VREF(1)〜−VREF(o)の
うちから選択切換えてＡ／Ｄ変換器８へ供給する
ものである。
本実施例での上記Ａ／Ｄ変換器８は、上記アナ
ログマルチプレクサ１２及び１３より供給される
基準電位＋VREF，−VREFの電圧をＡ／Ｄ変換電圧
範囲の最大値，最小値としてアナログマルチプレ
クサ５を介して供給される光センサの出力すなわ
ちアナログ信号をデジタル信号に変換するものと
なつている。
ログマルチプレクサ１２及び１３より供給される
基準電位＋VREF，−VREFの電圧をＡ／Ｄ変換電圧
範囲の最大値，最小値としてアナログマルチプレ
クサ５を介して供給される光センサの出力すなわ
ちアナログ信号をデジタル信号に変換するものと
なつている。
１４は＋VREF選択RAM、１５は−VREF選択
RAMで、この両者は本実施例において上限基準
電位選択情報設定手段及び下限基準電位選択情報
設定手段として機能する。
RAMで、この両者は本実施例において上限基準
電位選択情報設定手段及び下限基準電位選択情報
設定手段として機能する。
ここで＋VREF選択RAM１４は光センサ毎に対
応したアドレスを有し、このアドレスに制御回路
１６により各光センサの出力に応じたＡ／Ｄ変換
範囲の上限基準電位を＋VREF(1)〜＋VREF(o)のうち
からアナログマルチプレクサ１２に選択させる設
定値としての選択番号情報が書き込まれ、同様に
−VREF選択RAM１５は光センサ毎に対応したア
ドレスを有し、フオドダイオード１−１〜１−１
６の出力つまり各光センサ出力がＡ／Ｄ変換器８
に入力する際に最適の範囲に収まるように、その
最適な下限電位を−VREF(1)〜−VREF(o)の中からそ
れぞれ光センサ出力に応じた設定値として選択す
べく上記−VREF(1)〜−VREF(o)のいずれかに対応す
る選択番号情報が制御回路１６により書き込まれ
るもので、この両RAM１４，１５により各セン
サ毎にＡ／Ｄ変換範囲の電圧を独立して任意に選
択することができる。
応したアドレスを有し、このアドレスに制御回路
１６により各光センサの出力に応じたＡ／Ｄ変換
範囲の上限基準電位を＋VREF(1)〜＋VREF(o)のうち
からアナログマルチプレクサ１２に選択させる設
定値としての選択番号情報が書き込まれ、同様に
−VREF選択RAM１５は光センサ毎に対応したア
ドレスを有し、フオドダイオード１−１〜１−１
６の出力つまり各光センサ出力がＡ／Ｄ変換器８
に入力する際に最適の範囲に収まるように、その
最適な下限電位を−VREF(1)〜−VREF(o)の中からそ
れぞれ光センサ出力に応じた設定値として選択す
べく上記−VREF(1)〜−VREF(o)のいずれかに対応す
る選択番号情報が制御回路１６により書き込まれ
るもので、この両RAM１４，１５により各セン
サ毎にＡ／Ｄ変換範囲の電圧を独立して任意に選
択することができる。
１７は不揮発RAMで、この不揮発RAM１７
は上記＋VREF選択RAM１４及び−VREF選択
RAM１５へ書き込まれる各センサ毎のＡ／Ｄ変
換範囲の上限及び下限基準電位の選択番号情報す
なわち設定値が装置の電源断により消減しないよ
うに保持するための不揮発性記憶手段である。
は上記＋VREF選択RAM１４及び−VREF選択
RAM１５へ書き込まれる各センサ毎のＡ／Ｄ変
換範囲の上限及び下限基準電位の選択番号情報す
なわち設定値が装置の電源断により消減しないよ
うに保持するための不揮発性記憶手段である。
１８はモードスイツチで、このモードスイツチ
１８は後述する各センサ毎に最適なＡ／Ｄ変換範
囲の上限及び下限基準電位の選択番号情報を得る
ための試験動作と、通常の鑑別動作のいずれか一
方を装置に指示するための動作指示手段として設
けられている。
１８は後述する各センサ毎に最適なＡ／Ｄ変換範
囲の上限及び下限基準電位の選択番号情報を得る
ための試験動作と、通常の鑑別動作のいずれか一
方を装置に指示するための動作指示手段として設
けられている。
１９は本実施例においてアドレス設定手段とし
て機能するサンプリングパルスカウンタで、第４
図に示した従来の装置におけるサンプリングパル
スカウンタ６に対し、このサンプリングパルスカ
ウンタ１９はプリセツト機能のあるカウンタで構
成されている点で異なつている。
て機能するサンプリングパルスカウンタで、第４
図に示した従来の装置におけるサンプリングパル
スカウンタ６に対し、このサンプリングパルスカ
ウンタ１９はプリセツト機能のあるカウンタで構
成されている点で異なつている。
これは、＋VREF選択RAM１４にＡ／Ｄ変換範
囲の上限電位の選択番号情報を、また−VREF選択
RAM１５にＡ／Ｄ変換範囲の下限電位の選択番
号情報をそれぞれ書き込む際に使用される機能で
ある。
囲の上限電位の選択番号情報を、また−VREF選択
RAM１５にＡ／Ｄ変換範囲の下限電位の選択番
号情報をそれぞれ書き込む際に使用される機能で
ある。
すなわち、まず制御回路１６がサンプリングパ
ルスカウンタ１９にセンサ番号（光センサが16個
の場合１〜１６）に応じた値をプリセツトする
と、サンプリングパルスカウンタ１９はその出力
端子から上記プリセツト値を＋VREF選択RAM１
４と−VREF選択RAM１５へアドレス入力として
供給し、これにより選択された＋VREF選択RAM
１４と−VREF選択RAM１５の各アドレスに制御
回路１６が選択番号情報を書き込むことができ
る。
ルスカウンタ１９にセンサ番号（光センサが16個
の場合１〜１６）に応じた値をプリセツトする
と、サンプリングパルスカウンタ１９はその出力
端子から上記プリセツト値を＋VREF選択RAM１
４と−VREF選択RAM１５へアドレス入力として
供給し、これにより選択された＋VREF選択RAM
１４と−VREF選択RAM１５の各アドレスに制御
回路１６が選択番号情報を書き込むことができ
る。
尚、＋VREF選択RAM１４及び−VREF選択RAM
１５へ選択番号情報を書き込む際のアドレス指定
は上記の方法に限定する必要はなく、制御回路１
６からのアドレス出力とサンプリングパルスカウ
ンタ１９の出力をゲート回路やマルチプレクサセ
レクタ回路により切り換え、書き込み時は制御回
路１６からのアドレス出力を選択して書き込むよ
うにすることも可能である。
１５へ選択番号情報を書き込む際のアドレス指定
は上記の方法に限定する必要はなく、制御回路１
６からのアドレス出力とサンプリングパルスカウ
ンタ１９の出力をゲート回路やマルチプレクサセ
レクタ回路により切り換え、書き込み時は制御回
路１６からのアドレス出力を選択して書き込むよ
うにすることも可能である。
２０−１〜２０−１６は増幅器で、紙葉類鑑別
時における光センサのフオトダイオード１−１〜
１−１６の出力はこの増幅器２０−１〜２０−１
６を介してそれぞれアナログマルチプレクサ５に
入力されるが、本実施例における増幅器２０−１
〜２０−１６は第４図に示した従来の増幅器２−
１〜２〜１６とは異なつて可変抵抗器を有してい
ないものとなつている。
時における光センサのフオトダイオード１−１〜
１−１６の出力はこの増幅器２０−１〜２０−１
６を介してそれぞれアナログマルチプレクサ５に
入力されるが、本実施例における増幅器２０−１
〜２０−１６は第４図に示した従来の増幅器２−
１〜２〜１６とは異なつて可変抵抗器を有してい
ないものとなつている。
以上のような構成による紙葉類鑑別装置の作用
として、最適なＡ／Ｄ変換範囲の上限基準電位と
下限基準電位を任意のセンサＭについて決定する
ための処理例を第２図に示すフローチヤートによ
り説明する。
として、最適なＡ／Ｄ変換範囲の上限基準電位と
下限基準電位を任意のセンサＭについて決定する
ための処理例を第２図に示すフローチヤートによ
り説明する。
まず、制御回路１６は装置の動作開始後、試験
動作の指示があつたか否かをモードスイツチ１８
からの出力に基づいて判定する（Ｓ１）。
動作の指示があつたか否かをモードスイツチ１８
からの出力に基づいて判定する（Ｓ１）。
指示があつた場合、続いて制御回路１６は光セ
ンサＭに対応する＋VREF選択RAM１４のアドレ
スＭ−１に基準電位＋VREF(1)〜＋VREF(o)のうちの
最も低い電位である＋VREF(o)がアナログマルチプ
レクサ１２に選択されるように選択番号情報
“ｎ”を書き込み（Ｓ２）、更に光センサＭに対応
する−VREF選択RAM１５のアドレスＭ−１にも
−VREF(1)〜−VREF(o)のうちの最も高い電位である
−VREF(1)がアナログマルチプレクサ１３に選択さ
れるように選択番号情報“１”を書き込む（Ｓ
３）。
ンサＭに対応する＋VREF選択RAM１４のアドレ
スＭ−１に基準電位＋VREF(1)〜＋VREF(o)のうちの
最も低い電位である＋VREF(o)がアナログマルチプ
レクサ１２に選択されるように選択番号情報
“ｎ”を書き込み（Ｓ２）、更に光センサＭに対応
する−VREF選択RAM１５のアドレスＭ−１にも
−VREF(1)〜−VREF(o)のうちの最も高い電位である
−VREF(1)がアナログマルチプレクサ１３に選択さ
れるように選択番号情報“１”を書き込む（Ｓ
３）。
次に、制御回路１６は上記光センサＭまたは全
光センサの光源を減灯させ（Ｓ４）、光センサＭ
に対応するＡ／Ｄ変換器８の出力をサンプリング
する（Ｓ５）。このときＡ／Ｄ変換器８に与えら
れる基準電位は＋VREF選択RAM１４のアドレス
Ｍ−１に書き込まれた選択番号情報“ｎ”により
アナログマルチプレクサ１２が選択した基準電位
＋VREF(o)と、−VREF選択RAM１５のアドレスＭ−
１に書き込まれた選択番号情報“１”によりアナ
ログマルチプレクサ１３が選択した基準電位−
VREF(1)である。
光センサの光源を減灯させ（Ｓ４）、光センサＭ
に対応するＡ／Ｄ変換器８の出力をサンプリング
する（Ｓ５）。このときＡ／Ｄ変換器８に与えら
れる基準電位は＋VREF選択RAM１４のアドレス
Ｍ−１に書き込まれた選択番号情報“ｎ”により
アナログマルチプレクサ１２が選択した基準電位
＋VREF(o)と、−VREF選択RAM１５のアドレスＭ−
１に書き込まれた選択番号情報“１”によりアナ
ログマルチプレクサ１３が選択した基準電位−
VREF(1)である。
ここで制御回路１６はサンプリングした出力値
が最大限であるか否か、Ａ／Ｄ変換器８が４ビツ
トの変換器であれば“1111”あるか否か、また10
進法で数えれば“Ｆ”か否かを判定し（Ｓ６）、
最大値であつた場合は、＋VREF(o)をＡ／Ｄ変換範
囲の上限基準電位として、＋VREF選択RAM１４
のアドレスＭ−１の内容を“ｎ”と決定する（Ｓ
１２）。
が最大限であるか否か、Ａ／Ｄ変換器８が４ビツ
トの変換器であれば“1111”あるか否か、また10
進法で数えれば“Ｆ”か否かを判定し（Ｓ６）、
最大値であつた場合は、＋VREF(o)をＡ／Ｄ変換範
囲の上限基準電位として、＋VREF選択RAM１４
のアドレスＭ−１の内容を“ｎ”と決定する（Ｓ
１２）。
一方、サンプリングした出力値が最大値未満の
場合、制御回路１６が＋VREF選択RAM１４のア
ドレスＭ−１に選択番号情報“ｎ−１”を書き込
んで内容更新を行い（Ｓ７）、その後、制御回路
１６は再び光センサＭに対応するＡ／Ｄ変換器８
の出力をサンプリングする（Ｓ８）。このとき
Ａ／Ｄ変換器８に与えられる基準電位は＋VREF選
択RAM１４のアドレスＭ−１に書き込まれた選
択番号情報“ｎ−１”によりアナログマルチプレ
クサ１２が選択した基準電位＋VREF（ｎ−１）と、
−VREF選択RAM１５のアドレスＭ−１に書き込
まれた選択番号情報“１”によりアナログマルチ
プレクサ１３が選択した基準電位−VREF(1)であ
る。
場合、制御回路１６が＋VREF選択RAM１４のア
ドレスＭ−１に選択番号情報“ｎ−１”を書き込
んで内容更新を行い（Ｓ７）、その後、制御回路
１６は再び光センサＭに対応するＡ／Ｄ変換器８
の出力をサンプリングする（Ｓ８）。このとき
Ａ／Ｄ変換器８に与えられる基準電位は＋VREF選
択RAM１４のアドレスＭ−１に書き込まれた選
択番号情報“ｎ−１”によりアナログマルチプレ
クサ１２が選択した基準電位＋VREF（ｎ−１）と、
−VREF選択RAM１５のアドレスＭ−１に書き込
まれた選択番号情報“１”によりアナログマルチ
プレクサ１３が選択した基準電位−VREF(1)であ
る。
ここで、再び制御回路１６は、上記のサンプリ
ングした出力値が最大値であるか否かを判定して
（Ｓ９）、最大値であつた場合は＋VREF(o)をＡ／Ｄ
変換範囲の上限基準電位とし、＋VREF選択RAM
１４のアドレスＭ−１の内容を“ｎ−１”と決定
する（Ｓ１２）。
ングした出力値が最大値であるか否かを判定して
（Ｓ９）、最大値であつた場合は＋VREF(o)をＡ／Ｄ
変換範囲の上限基準電位とし、＋VREF選択RAM
１４のアドレスＭ−１の内容を“ｎ−１”と決定
する（Ｓ１２）。
しかし、上記のサンプリングした出力値が最大
値未満の場合は＋VREF選択RAMの該アドレスＭ
−１に“ｎ−２”，“ｎ−３”…“１”を順次書き
込み（Ｓ１０）、その都度Ａ／Ｄ変換器８の出力
値が最大値となるか否かを判定して（Ｓ１１）、
最大値を示した際の＋VREF(o-x)をＡ／Ｄ変換範囲
の上限基準電位とし、＋VREF選択RAM１４のア
ドレスＭ−１の内容を“ｎ−ｘ”と決定する（Ｓ
１２）。
値未満の場合は＋VREF選択RAMの該アドレスＭ
−１に“ｎ−２”，“ｎ−３”…“１”を順次書き
込み（Ｓ１０）、その都度Ａ／Ｄ変換器８の出力
値が最大値となるか否かを判定して（Ｓ１１）、
最大値を示した際の＋VREF(o-x)をＡ／Ｄ変換範囲
の上限基準電位とし、＋VREF選択RAM１４のア
ドレスＭ−１の内容を“ｎ−ｘ”と決定する（Ｓ
１２）。
そして、＋VREF(1)にてもＡ／Ｄ変換器８の出力
が最大値を示さない場合は異常終了として係員に
よる修理等を行う。
が最大値を示さない場合は異常終了として係員に
よる修理等を行う。
さて、上記の如く＋VREF選択RAM１４のアド
レスＭ−１の内容が決定された場合、制御回路１
６が光センサＭまたは全光センサの光源を点灯さ
せ（Ｓ１３）、−VREF選択RAM１４のアドレスＭ
−１に基準電位−VREF(1)〜−VREF(o)のうち最も低
い電位である−VREF(o)が選択されるように選択番
号情報“ｎ”を書き込む（Ｓ１４）。
レスＭ−１の内容が決定された場合、制御回路１
６が光センサＭまたは全光センサの光源を点灯さ
せ（Ｓ１３）、−VREF選択RAM１４のアドレスＭ
−１に基準電位−VREF(1)〜−VREF(o)のうち最も低
い電位である−VREF(o)が選択されるように選択番
号情報“ｎ”を書き込む（Ｓ１４）。
ここで、一面に特定の光学反射率または透過率
を有する紙葉類が作業者により挿入されて図示し
ない搬送手段により搬送され、そしてこの紙葉類
が図示しない検知手段により検知されると（Ｓ１
５）、それに基づいて制御回路１６は光センサＭ
に対応するＡ／Ｄ変換器８の出力をサンプリング
する（Ｓ１６）。このときＡ／Ｄ変換器８に与え
られる基準電位は＋VREF選択RAM１４のアドレ
スＭ−１に書き込まれた選択番号情報によりアナ
ログマルチプレクサ１２が選択した基準電位＋
VREFと、−VREF選択RAM１５のアドレスＭ−１に
書き込まれた選択番号情報“ｎ”によりアナログ
マルチプレクサ１３が選択した基準電位−VREF(o)
である。
を有する紙葉類が作業者により挿入されて図示し
ない搬送手段により搬送され、そしてこの紙葉類
が図示しない検知手段により検知されると（Ｓ１
５）、それに基づいて制御回路１６は光センサＭ
に対応するＡ／Ｄ変換器８の出力をサンプリング
する（Ｓ１６）。このときＡ／Ｄ変換器８に与え
られる基準電位は＋VREF選択RAM１４のアドレ
スＭ−１に書き込まれた選択番号情報によりアナ
ログマルチプレクサ１２が選択した基準電位＋
VREFと、−VREF選択RAM１５のアドレスＭ−１に
書き込まれた選択番号情報“ｎ”によりアナログ
マルチプレクサ１３が選択した基準電位−VREF(o)
である。
そして、このサンプリングした出力値に応じて
制御回路１６は最適なＡ／Ｄ変換範囲の下限基準
電位を算出し、それに対応する選択番号情報を決
定して−VREF選択RAM１５のアドレスＭ−１に
書き込み（Ｓ１７）、更に上記＋VREF選択RAM
１４及び−VREF選択RAM１５のそれぞれのアド
レスＭ−１に書き込んだ内容を読み出して不揮発
RAM１７に設定値として書き込む（Ｓ１８）。
制御回路１６は最適なＡ／Ｄ変換範囲の下限基準
電位を算出し、それに対応する選択番号情報を決
定して−VREF選択RAM１５のアドレスＭ−１に
書き込み（Ｓ１７）、更に上記＋VREF選択RAM
１４及び−VREF選択RAM１５のそれぞれのアド
レスＭ−１に書き込んだ内容を読み出して不揮発
RAM１７に設定値として書き込む（Ｓ１８）。
その後、制御回路１６は全ての光センサについ
て上記の各処理が行われたか否かを判定し（Ｓ１
９）、未実施の光センサがあればＳ２からの処理
を実行し、そしてすべての光センサについて上記
Ｓ１〜Ｓ１８の処理が実行されたと判断された場
合に限り、制御回路１６は上記一面に特定の光学
反射率または透過率を有する試験用の紙葉類を図
示しない搬送手段を介して搬送、排出する。
て上記の各処理が行われたか否かを判定し（Ｓ１
９）、未実施の光センサがあればＳ２からの処理
を実行し、そしてすべての光センサについて上記
Ｓ１〜Ｓ１８の処理が実行されたと判断された場
合に限り、制御回路１６は上記一面に特定の光学
反射率または透過率を有する試験用の紙葉類を図
示しない搬送手段を介して搬送、排出する。
つまり、本実施例はすべての光センサの出力
毎、言い換えるとフオトダイオード１−１〜１−
１６の出力について、一面に特定の光学反射率ま
たは透過率を有する試験用の紙葉類を用いて上記
Ｓ１〜Ｓ１８の処理を行うことにより、各光セン
サ出力毎にＡ／Ｄ変換器８の上限基準電位と下限
基準電位を＋VREF(1)〜＋VREF(o)と−VREF(1)〜−
VREF(o)のそれぞれ何れか１つに対応する選択番号
情報として＋VREF選択RAM１４と−VREF選択
RAM１５に設定すると共に、その選択番号情報
を不揮発RAM１７に記憶させる。
毎、言い換えるとフオトダイオード１−１〜１−
１６の出力について、一面に特定の光学反射率ま
たは透過率を有する試験用の紙葉類を用いて上記
Ｓ１〜Ｓ１８の処理を行うことにより、各光セン
サ出力毎にＡ／Ｄ変換器８の上限基準電位と下限
基準電位を＋VREF(1)〜＋VREF(o)と−VREF(1)〜−
VREF(o)のそれぞれ何れか１つに対応する選択番号
情報として＋VREF選択RAM１４と−VREF選択
RAM１５に設定すると共に、その選択番号情報
を不揮発RAM１７に記憶させる。
尚、上記Ｓ１で通常の鑑別が指示されていた場
合は、制御回路１６が前記不揮発RAM１７の内
容すなわち設定値を読み出して＋VREF選択RAM
１４及び−VREF選択RAM１５のそれぞれのアド
レスに書き込み、これによりＡ／Ｄ変換器８によ
る光センサ毎のＡ／Ｄ変換範囲の上限及び下限基
準電位を設定して、このＡ／Ｄ変換器８から得ら
れるデジタルパターンデータを標準的な紙葉類の
パターンデータと比較することで鑑別処理を行
う。
合は、制御回路１６が前記不揮発RAM１７の内
容すなわち設定値を読み出して＋VREF選択RAM
１４及び−VREF選択RAM１５のそれぞれのアド
レスに書き込み、これによりＡ／Ｄ変換器８によ
る光センサ毎のＡ／Ｄ変換範囲の上限及び下限基
準電位を設定して、このＡ／Ｄ変換器８から得ら
れるデジタルパターンデータを標準的な紙葉類の
パターンデータと比較することで鑑別処理を行
う。
但し、この通常の鑑別処理は、上記の如くＳ１
〜Ｓ１８の処理が行われて、各光センサ出力毎に
Ａ／Ｄ変換器８の上限基準電位と下限基準電位が
設定された後に行われるものとする。
〜Ｓ１８の処理が行われて、各光センサ出力毎に
Ａ／Ｄ変換器８の上限基準電位と下限基準電位が
設定された後に行われるものとする。
このように本実施例ではＡ／Ｄ変換器８に与え
る基準電位＋VREF，−VREFの設定値を得て、この
設定値により各センサ毎に最適なＡ／Ｄ変換出力
が得られるようにしているため、同一機種であれ
ば異なる装置であつても同一紙葉類からは同一
Ａ／Ｄ変換出力を得ることができる。
る基準電位＋VREF，−VREFの設定値を得て、この
設定値により各センサ毎に最適なＡ／Ｄ変換出力
が得られるようにしているため、同一機種であれ
ば異なる装置であつても同一紙葉類からは同一
Ａ／Ｄ変換出力を得ることができる。
尚、上記実施例ではＡ／Ｄ変換範囲の上限基準
電位をも補正したが、これは受光素子であるフオ
トダイオード１−１〜１−１６の暗電流や増幅器
２０−１〜２０−１６のオフセツト電圧を補正す
ることを目的としているためで、高精度部品が使
用できる場合や鑑別上若干の出力のばらつきによ
る影響が問題とならない場合においては、Ａ／Ｄ
変換範囲の下限基準電位のみを選択してＡ／Ｄ変
換器８に与えてもさしつかえない。
電位をも補正したが、これは受光素子であるフオ
トダイオード１−１〜１−１６の暗電流や増幅器
２０−１〜２０−１６のオフセツト電圧を補正す
ることを目的としているためで、高精度部品が使
用できる場合や鑑別上若干の出力のばらつきによ
る影響が問題とならない場合においては、Ａ／Ｄ
変換範囲の下限基準電位のみを選択してＡ／Ｄ変
換器８に与えてもさしつかえない。
またＡ／Ｄ変換範囲の上限基準電位の設定値を
得る際、光センサの光源を減灯して設定値を求め
たが、Ａ／Ｄ変換範囲の下限基準電位の設定値を
得るときと同様に、光源を減灯するのと同等な効
果の得られる光を透過しないかあるいは反射しな
い黒色の模擬紙葉類を挿入して設定値を求めるこ
とも可能である。
得る際、光センサの光源を減灯して設定値を求め
たが、Ａ／Ｄ変換範囲の下限基準電位の設定値を
得るときと同様に、光源を減灯するのと同等な効
果の得られる光を透過しないかあるいは反射しな
い黒色の模擬紙葉類を挿入して設定値を求めるこ
とも可能である。
更に、上記実施例では不揮発RAM１７を備え
た例を示したが、上記＋VREF選択RAM１４及び
−VREF選択RAM１５をバツテリーバツクアツプ
等の手段により不揮発RAMとしてもよく、また
図示しない表示手段及びスイツチ等の設定手段を
用いてもよい。
た例を示したが、上記＋VREF選択RAM１４及び
−VREF選択RAM１５をバツテリーバツクアツプ
等の手段により不揮発RAMとしてもよく、また
図示しない表示手段及びスイツチ等の設定手段を
用いてもよい。
この、表示手段及びスイツチ等の設定手段を用
いる場合、Ａ／Ｄ変換範囲の上限及び下限基準電
位の設定値を得るための手順は上記実施例と同じ
であるが、得られた設定値を表示手段により作業
者に表示し、その作業者が設定手段により設定値
を＋VREF選択RAM１４及び−VREF選択RAM１
５のそれぞれのアドレスに設定することになる。
いる場合、Ａ／Ｄ変換範囲の上限及び下限基準電
位の設定値を得るための手順は上記実施例と同じ
であるが、得られた設定値を表示手段により作業
者に表示し、その作業者が設定手段により設定値
を＋VREF選択RAM１４及び−VREF選択RAM１
５のそれぞれのアドレスに設定することになる。
第３図は本発明による紙葉類鑑別装置の第２実
施例を示す回路ブロツク図である。
施例を示す回路ブロツク図である。
この第２実施例が第１実施例と異なるのは、第
１実施例がアナログマルチプレクサ１２，１３、
＋VREF選択RAM１４及び−VREF選択RAM１５
を用いてＡ／Ｄ変換器８の出力を可変させている
のに対し、第２実施例はそれらに代えて可変利得
増幅手段としての可変利得増幅器２１と、利得設
定手段としての利得設定RAM２２を用い、この
両者によつて受光出力の利得つまり増幅度を光セ
ンサ毎に個別に可変させるようにした点にあり、
設定値を得る方法や記憶方法は第１実施例と同様
である。
１実施例がアナログマルチプレクサ１２，１３、
＋VREF選択RAM１４及び−VREF選択RAM１５
を用いてＡ／Ｄ変換器８の出力を可変させている
のに対し、第２実施例はそれらに代えて可変利得
増幅手段としての可変利得増幅器２１と、利得設
定手段としての利得設定RAM２２を用い、この
両者によつて受光出力の利得つまり増幅度を光セ
ンサ毎に個別に可変させるようにした点にあり、
設定値を得る方法や記憶方法は第１実施例と同様
である。
また、この第２実施例においても表示手段及び
スイツチ等の設定手段とを用いることができ、こ
の場合、可変利得増幅器２１の利得の設定値を得
るための手順は上記実施例と同じであるが、得ら
れた設定値を表示手段により作業者に表示し、そ
の作業者が設定手段により設定値を利得設定
RAM２２のアドレスに設定することになる。
スイツチ等の設定手段とを用いることができ、こ
の場合、可変利得増幅器２１の利得の設定値を得
るための手順は上記実施例と同じであるが、得ら
れた設定値を表示手段により作業者に表示し、そ
の作業者が設定手段により設定値を利得設定
RAM２２のアドレスに設定することになる。
〔発明の効果〕
以上説明した本発明によると、前者の発明で
は、動作指示手段により指示された試験動作時
に、制御手段は装置に挿入された特定の光学透過
特性あるいは反射特性を有する試験用の紙葉類か
らの透過光または反射光を受光した各光センサの
出力に対応するＡ／Ｄ変換手段の出力を読み取る
と共に、その読み取つた出力からＡ／Ｄ変換出力
が所定値あるいは所定の範囲となるように各光セ
ンサ毎に下限基準電位を求めて、その各光センサ
毎の下限基準電位の情報を下限基準電位選択情報
設定手段に設定することにより、鑑別時における
各光センサ毎のＡ／Ｄ変換出力が所定値あるいは
所定の範囲となるようにしている。
は、動作指示手段により指示された試験動作時
に、制御手段は装置に挿入された特定の光学透過
特性あるいは反射特性を有する試験用の紙葉類か
らの透過光または反射光を受光した各光センサの
出力に対応するＡ／Ｄ変換手段の出力を読み取る
と共に、その読み取つた出力からＡ／Ｄ変換出力
が所定値あるいは所定の範囲となるように各光セ
ンサ毎に下限基準電位を求めて、その各光センサ
毎の下限基準電位の情報を下限基準電位選択情報
設定手段に設定することにより、鑑別時における
各光センサ毎のＡ／Ｄ変換出力が所定値あるいは
所定の範囲となるようにしている。
従つて、熟練された作業者でなくとも短時間で
Ａ／Ｄ変換出力の調整が可能となり、従来熟練さ
れた作業者により多大な時間を費やして行つてい
た調整作業が大幅に軽減されると共に、保守性が
向上し、かつアナログマルチプレクサ，サンプリ
ング回路，及びＡ／Ｄ変換器による変動分も含め
て各光センサ毎のＡ／Ｄ変換出力を一定にできる
ので鑑別精度を向上できるという効果が得られ
る。
Ａ／Ｄ変換出力の調整が可能となり、従来熟練さ
れた作業者により多大な時間を費やして行つてい
た調整作業が大幅に軽減されると共に、保守性が
向上し、かつアナログマルチプレクサ，サンプリ
ング回路，及びＡ／Ｄ変換器による変動分も含め
て各光センサ毎のＡ／Ｄ変換出力を一定にできる
ので鑑別精度を向上できるという効果が得られ
る。
また、鑑別精度を向上させるためにセンサ数を
増加しても調整を短時間で行うことができるとい
う利点もある。
増加しても調整を短時間で行うことができるとい
う利点もある。
そして、後者の発明では、動作指示手段により
指示された試験動作時に、制御手段は装置に挿入
された上記試験用の紙葉類からの透過光または反
射光を受光した各光センサの出力に対応するＡ／
Ｄ変換手段の出力を読み取ると共に、その読み取
つた出力からＡ／Ｄ変換出力が所定値あるいは所
定の範囲となるように各光センサ毎に利得情報を
求めて、その各光センサ毎の利得情報を利得設定
手段に設定することにより、鑑別時における各光
センサ毎のＡ／Ｄ変換出力が所定値あるいは所定
の範囲となるようにしている。
指示された試験動作時に、制御手段は装置に挿入
された上記試験用の紙葉類からの透過光または反
射光を受光した各光センサの出力に対応するＡ／
Ｄ変換手段の出力を読み取ると共に、その読み取
つた出力からＡ／Ｄ変換出力が所定値あるいは所
定の範囲となるように各光センサ毎に利得情報を
求めて、その各光センサ毎の利得情報を利得設定
手段に設定することにより、鑑別時における各光
センサ毎のＡ／Ｄ変換出力が所定値あるいは所定
の範囲となるようにしている。
従つて、この後者の発明でも、前者の発明と同
様に調整作業が大幅に軽減されると共に、保守性
が向上し、かつ試験用の紙葉類を用いた時のＡ／
Ｄ変換出力から各光センサ毎に利得情報を求めて
いるため、やはり前者の発明と同様にアナログマ
ルチプレクサ，サンプリング回路，及びＡ／Ｄ変
換器による変動分も含めて各光センサ毎のＡ／Ｄ
変換出力を一定にできるので鑑別精度を向上でき
るという効果が得られる。
様に調整作業が大幅に軽減されると共に、保守性
が向上し、かつ試験用の紙葉類を用いた時のＡ／
Ｄ変換出力から各光センサ毎に利得情報を求めて
いるため、やはり前者の発明と同様にアナログマ
ルチプレクサ，サンプリング回路，及びＡ／Ｄ変
換器による変動分も含めて各光センサ毎のＡ／Ｄ
変換出力を一定にできるので鑑別精度を向上でき
るという効果が得られる。
第１図は本発明による紙葉類鑑別装置の第１実
施例を示す回路ブロツク図、第２図は第１図の実
施例の作用を示すフローチヤート、第３図は本発
明による紙葉類鑑別装置の第２実施例を示す回路
ブロツク図、第４図は従来例を示す回路ブロツク
図、第５図は第４図におけるセンサ出力のＡ／Ｄ
変換の状態を示すタイムチヤートである。 １…フオトダイオード、５…アナログマルチプ
レクサ、７…サンプリング回路、８…Ａ／Ｄ変換
器、１０…タイミングパルス発生回路、１２，１
３…アナログマルチプレクサ、１４…＋VREF選択
RAM、１５…−VREF選択RAM、１６…制御回
路、１７…不揮発RAM、１８…モードスイツ
チ、１９…サンプリングパルスカウンタ−、２０
…増幅器、２１…可変利得増幅器、２２…利得設
定RAM。
施例を示す回路ブロツク図、第２図は第１図の実
施例の作用を示すフローチヤート、第３図は本発
明による紙葉類鑑別装置の第２実施例を示す回路
ブロツク図、第４図は従来例を示す回路ブロツク
図、第５図は第４図におけるセンサ出力のＡ／Ｄ
変換の状態を示すタイムチヤートである。 １…フオトダイオード、５…アナログマルチプ
レクサ、７…サンプリング回路、８…Ａ／Ｄ変換
器、１０…タイミングパルス発生回路、１２，１
３…アナログマルチプレクサ、１４…＋VREF選択
RAM、１５…−VREF選択RAM、１６…制御回
路、１７…不揮発RAM、１８…モードスイツ
チ、１９…サンプリングパルスカウンタ−、２０
…増幅器、２１…可変利得増幅器、２２…利得設
定RAM。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 鑑別すべき紙葉類に光を照射する光源、及び
この紙葉類からの透過光または反射光を受光する
受光素子から成る複数の光センサと、 上記紙葉類の存在を検知する検知手段と、 上記紙葉類の搬送速度に比例したタイミングパ
ルスを発生するタイミングパルス発生手段と、 上記光センサの受光出力をＡ／Ｄ変換するＡ／
Ｄ変換手段と、 紙葉類の種類や真偽等を鑑別するための標準的
なパターンデータを記憶した制御手段とを備え、 紙葉類からの透過光または反射光を受光したと
きの各光センサ出力に対応する上記Ａ／Ｄ変換手
段からの出力を、上記検知手段の紙葉類検知信号
に応答する上記タイミングパルス発生手段からの
タイミングパルスに同期して制御手段が順次読み
取り、これにより得られたパターンデータを上記
標準的なパターンデータと比較することにより上
記紙葉類の種類や真偽等を鑑別する紙葉類鑑別装
置において、 各光センサ出力毎に所定のＡ／Ｄ変換出力を得
るため、各光センサに対応して複数の下限基準電
位の１つを選択すべき情報を設定する下限基準電
位選択情報設定手段と、 各光センサに対応して上記下限基準電位選択情
報設定手段に設定される情報のアドレスを設定す
るアドレス設定手段と、 上記下限基準電位選択情報設定手段に設定され
た情報に基づいて、各光センサ出力に対応した下
限基準電位を上記Ａ／Ｄ変換手段に与えるＡ／Ｄ
変換出力可変手段と、 装置の動作を、通常の鑑別動作と特定の光学透
過特性または反射特性を有する試験用の紙葉類に
よる試験動作のいずれか一方に指示する動作指示
手段とを備え、 上記制御手段は、上記動作指示手段により指示
された試験動作時に、装置に挿入された上記試験
用の紙葉類からの透過光または反射光を受光した
各光センサの出力に対応するＡ／Ｄ変換手段の出
力を読み取ると共に、その読み取つた出力から
Ａ／Ｄ変換出力が所定値あるいは所定の範囲とな
るように各光センサ毎に下限基準電位を求めて、
その各光センサ毎の下限基準電位の情報を下限基
準電位選択情報設定手段に設定し、上記動作指示
手段により鑑別動作が指示されたとき、上記下限
基準電位選択情報設定手段に設定された情報に基
づいてＡ／Ｄ変換出力可変手段により各光センサ
毎の下限基準電位をＡ／Ｄ変換手段に与え、その
Ａ／Ｄ変換出力によりパターンデータと上記標準
的なパターンデータとを比較することにより紙葉
類の鑑別を行うことを特徴とする紙葉類鑑別装
置。 ２ 鑑別すべき紙葉類に光を照射する光源、及び
この紙葉類からの透過光または反射光を受光する
受光素子から成る複数の光センサと、 上記紙葉類の存在を検知する検知手段と、 上記紙葉類の搬送速度に比例したタイミングパ
ルスを発生するタイミングパルス発生手段と、 上記光センサの受光出力をＡ／Ｄ変換するＡ／
Ｄ変換手段と、 紙葉類の種類や真偽等を鑑別するための標準的
なパターンデータを記憶した制御手段とを備え、 紙葉類からの透過光または反射光を受光したと
きの各光センサ出力に対応する上記Ａ／Ｄ変換手
段からの出力を、上記検知手段の紙葉類検知信号
に応答する上記タイミングパルス発生手段からの
タイミングパルスに同期して制御手段が順次読み
取り、これにより得られたパターンデータを上記
標準的なパターンデータと比較することにより上
記紙葉類の種類や真偽等を鑑別する紙葉類鑑別装
置において、 各光センサ出力毎に所定のＡ／Ｄ変換出力を得
るため、各光センサに対応してその出力を増幅す
る利得情報を設定する利得設定手段と、 各光センサに対応して上記利得設定手段に設定
される利得情報のアドレスを設定するアドレス設
定手段と、 上記利得設定手段に設定された利得情報に基づ
いて各光センサ出力毎にその出力を増幅し、上記
Ａ／Ｄ変換手段に入力する可変利得増幅手段と、 装置の動作を、通常の鑑別動作と特定の光学透
過特性または反射特性を有する試験用の紙葉類に
よる試験動作のいずれか一方に指示する動作指示
手段とを備え、 上記制御手段は、上記動作指示手段により指示
された試験動作時に、装置に挿入された上記試験
用の紙葉類からの透過光または反射光を受光した
各光センサの出力に対応するＡ／Ｄ変換手段の出
力を読み取ると共に、その読み取つた出力から
Ａ／Ｄ変換出力が所定値あるいは所定の範囲とな
るように各光センサ毎に利得情報を求めて、その
各光センサ毎の利得情報を利得設定手段に設定
し、上記動作指示手段により鑑別動作が指示され
たとき、上記利得設定手段に設定された情報に基
づいてＡ／Ｄ変換出力可変手段により各光センサ
毎の利得情報を可変利得増幅手段に与え、そのと
きのＡ／Ｄ変換出力によるパターンデータと上記
標準的なパターンデータとを比較することにより
紙葉類の鑑別を行うことを特徴とする紙葉類鑑別
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60070068A JPS61229183A (ja) | 1985-04-04 | 1985-04-04 | 紙葉類鑑別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60070068A JPS61229183A (ja) | 1985-04-04 | 1985-04-04 | 紙葉類鑑別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61229183A JPS61229183A (ja) | 1986-10-13 |
| JPH0338634B2 true JPH0338634B2 (ja) | 1991-06-11 |
Family
ID=13420847
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60070068A Granted JPS61229183A (ja) | 1985-04-04 | 1985-04-04 | 紙葉類鑑別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61229183A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01295391A (ja) * | 1987-06-24 | 1989-11-29 | I M Denshi Kk | 印刷物の識別装置 |
| JP3806506B2 (ja) * | 1998-04-01 | 2006-08-09 | 株式会社日本コンラックス | 紙幣処理方法および装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54134699A (en) * | 1978-04-12 | 1979-10-19 | Toshiba Corp | Genuineness discriminating apparatus of printed matter |
| JPS54153098A (en) * | 1978-05-23 | 1979-12-01 | Omron Tateisi Electronics Co | Discriminating system of genuineness of banknotes |
| JPS5557987A (en) * | 1978-10-25 | 1980-04-30 | Omron Tateisi Electronics Co | Test data indicating system in bill discriminator unit |
-
1985
- 1985-04-04 JP JP60070068A patent/JPS61229183A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54134699A (en) * | 1978-04-12 | 1979-10-19 | Toshiba Corp | Genuineness discriminating apparatus of printed matter |
| JPS54153098A (en) * | 1978-05-23 | 1979-12-01 | Omron Tateisi Electronics Co | Discriminating system of genuineness of banknotes |
| JPS5557987A (en) * | 1978-10-25 | 1980-04-30 | Omron Tateisi Electronics Co | Test data indicating system in bill discriminator unit |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61229183A (ja) | 1986-10-13 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |