JPS59176606A - 平板物体縁部検出装置 - Google Patents
平板物体縁部検出装置Info
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- JPS59176606A JPS59176606A JP58050642A JP5064283A JPS59176606A JP S59176606 A JPS59176606 A JP S59176606A JP 58050642 A JP58050642 A JP 58050642A JP 5064283 A JP5064283 A JP 5064283A JP S59176606 A JPS59176606 A JP S59176606A
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- Japan
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/028—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring lateral position of a boundary of the object
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D7/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency
- G07D7/16—Testing the dimensions
- G07D7/162—Length or width
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D7/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency
- G07D7/17—Apparatus characterised by positioning means or by means responsive to positioning
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ１発明の技術分野
本発明は物体位置を判定するための装置に係り、とくに
紙葉類等のような平板状の物体の縁部を検出することに
よってその位置を判定する方式の装置に関する。
紙葉類等のような平板状の物体の縁部を検出することに
よってその位置を判定する方式の装置に関する。
ｆｂｌ技術の背景
近時普及しつつある自動預金機あるいは両替機等におい
ては、該機器中における投入紙幣の位置が種々、変動す
るために、金種ならびに真偽鑑別の前提として、紙幣位
置を判定する必要がある。すなわち、該鑑別に用いられ
る紙幣上の特徴点（あるいは領域）は金種ごとに定めら
れているので、まず鑑別装置（上記自動預金機等に内蔵
されている）に対する当該紙幣の相対位置関係を判定し
、その上で該当特徴点等を検出するためのセンサを指定
する必要があるのである。
ては、該機器中における投入紙幣の位置が種々、変動す
るために、金種ならびに真偽鑑別の前提として、紙幣位
置を判定する必要がある。すなわち、該鑑別に用いられ
る紙幣上の特徴点（あるいは領域）は金種ごとに定めら
れているので、まず鑑別装置（上記自動預金機等に内蔵
されている）に対する当該紙幣の相対位置関係を判定し
、その上で該当特徴点等を検出するためのセンサを指定
する必要があるのである。
従来から光学的手段によって紙幣゛の縁部を検出する装
置を該鑑別装置に併設し、これによって当該紙幣の位置
および場合によっては該紙幣の幅の判定が行われている
。
置を該鑑別装置に併設し、これによって当該紙幣の位置
および場合によっては該紙幣の幅の判定が行われている
。
（Ｃ１従来技術と問題点
第１図および第２図に従来から行われている縁部検出方
式の概要構成を示す。
式の概要構成を示す。
第１図において、光源アレイ１ａと光センサアレイ２ａ
が所定の間隙を以て対向して設けられ、該間隙を紙幣等
の平板物体３が矢印の方向に走行する。
が所定の間隙を以て対向して設けられ、該間隙を紙幣等
の平板物体３が矢印の方向に走行する。
光源アレイ１ａおよび光センサアレイ２ａのそれぞれは
、第２１Ｄに示すように複数の、例えば発光タイオード
等の光源１１および、例えばフォトトランジスタ等の光
センサ２１から成っており、これらの対向する光源１１
と光センサ２１の１組ずつを順次選択して当該組の間隙
空間における光強度を測定し、遮光性の平板物体３の存
在による該光強度の変化から該平板物体３の縁部位置が
判定されるのである。
、第２１Ｄに示すように複数の、例えば発光タイオード
等の光源１１および、例えばフォトトランジスタ等の光
センサ２１から成っており、これらの対向する光源１１
と光センサ２１の１組ずつを順次選択して当該組の間隙
空間における光強度を測定し、遮光性の平板物体３の存
在による該光強度の変化から該平板物体３の縁部位置が
判定されるのである。
なお、第１図においては平板物体３の光源アレイ１ａお
よび光セン号アレイ２ａが設ＣＪられている縁部とは別
の縁部にも同様の光源アレイ１ｂおよび光センサアレイ
２ｂが設けられており、これにより平（反物体３の両縁
部の位置判定が行われて平板物体３の幅が測定可能とな
っている。
よび光セン号アレイ２ａが設ＣＪられている縁部とは別
の縁部にも同様の光源アレイ１ｂおよび光センサアレイ
２ｂが設けられており、これにより平（反物体３の両縁
部の位置判定が行われて平板物体３の幅が測定可能とな
っている。
詳細については後述するが、従来は各光センサ２１のア
ナログ出力信号を＾／Ｄ変換器によって２値化信号に変
換する回路方式を採っていたために、光源１１および光
センサ２１の走査速度（すなわら前記選択のための切り
換え速度）が該Ａ／Ｄ変換器の動作速度によって制限さ
れ、高速度の位置判定が不可能であり、かつコストが高
くなり、また該Ａ／Ｄ変換器出力に対するスライスレベ
ルの設定をプログラム上で行っていたためにプログラム
ステップ数が多くなる欠点があった。
ナログ出力信号を＾／Ｄ変換器によって２値化信号に変
換する回路方式を採っていたために、光源１１および光
センサ２１の走査速度（すなわら前記選択のための切り
換え速度）が該Ａ／Ｄ変換器の動作速度によって制限さ
れ、高速度の位置判定が不可能であり、かつコストが高
くなり、また該Ａ／Ｄ変換器出力に対するスライスレベ
ルの設定をプログラム上で行っていたためにプログラム
ステップ数が多くなる欠点があった。
ｆｄ）発明の目的
本発明は上記従来の方式の欠点が解決され、高速度で平
板物体位置判定が可能な方式の装置を提供することを目
的とする。
板物体位置判定が可能な方式の装置を提供することを目
的とする。
ｔｅ１発明の構成
本発明は、対向して配置された光源アレイと光センサア
レイにおける各対向組の光源と光センサとを順次選択し
て該光センサ出力が基準値以下となったことによって被
検物体の縁部を検出する装置において、該光源発光強度
を２値化データによって制御する一方、アナログコンパ
レータにより該光センサ出力を基準値と比較して検出信
号を得ることを特徴とする。
レイにおける各対向組の光源と光センサとを順次選択し
て該光センサ出力が基準値以下となったことによって被
検物体の縁部を検出する装置において、該光源発光強度
を２値化データによって制御する一方、アナログコンパ
レータにより該光センサ出力を基準値と比較して検出信
号を得ることを特徴とする。
（ｆ１発明の実施例
以下に本発明の実施例を図面を参照して説明する。以下
の図面において既掲の図と同じものには同一符号を付し
である。
の図面において既掲の図と同じものには同一符号を付し
である。
第３図は従来の平板物体縁部検出装置の回路構成図であ
って、制御回路４の指示によって光源切換回路５および
光センサ切換回路６はそれぞれ光源１１および光センサ
２１を順次切り換える（走査する）。光セン−！ｌ−２
１のアナログ出力信号はアンプ７で増幅されたのちＡＩ
Ｄ変換回路８により２値化信号に変換されメモリ９に格
納される。
って、制御回路４の指示によって光源切換回路５および
光センサ切換回路６はそれぞれ光源１１および光センサ
２１を順次切り換える（走査する）。光セン−！ｌ−２
１のアナログ出力信号はアンプ７で増幅されたのちＡＩ
Ｄ変換回路８により２値化信号に変換されメモリ９に格
納される。
まず、平板物体３の存在しない状態で上記の操作を行い
、この時の各光センサ２１からの出力値を基準値として
格納しておく。つぎに平板物体３が存在する状態で同様
の操作を行い、制御回路４はこの時の各光センサ２１か
らの出力値を前記基準値と比較し、その比が一定値、例
えば１／２以下、の場合には、当該光センサ２１の位置
に平板物体３が存在すると１り定され、出力口［？８１
０を通じて検出信号が出力される。
、この時の各光センサ２１からの出力値を基準値として
格納しておく。つぎに平板物体３が存在する状態で同様
の操作を行い、制御回路４はこの時の各光センサ２１か
らの出力値を前記基準値と比較し、その比が一定値、例
えば１／２以下、の場合には、当該光センサ２１の位置
に平板物体３が存在すると１り定され、出力口［？８１
０を通じて検出信号が出力される。
なお、同図において１２は光源駆動電源である。
しかしながら、前記のようにへ／Ｄ変換回路８は光源切
換回路５あるいは光センサ切換回路６よりも動作速度が
遅く、該縁部検出装置全体の動作速度を律する。
換回路５あるいは光センサ切換回路６よりも動作速度が
遅く、該縁部検出装置全体の動作速度を律する。
これに対して、本発明においては第４図に示すように光
源駆動電源１２の前段にＤ／Ａ変換回路１３を、また、
アンプ７の後段にアナログコンパレータ１４を設け、代
わりに第３図におけるＡ／Ｄ変換回路８を省いている。
源駆動電源１２の前段にＤ／Ａ変換回路１３を、また、
アンプ７の後段にアナログコンパレータ１４を設け、代
わりに第３図におけるＡ／Ｄ変換回路８を省いている。
なお、第４図において第３図と同じものには同一符号を
付しである。
付しである。
第４図の動作においては光源１１と光センサ２１の走査
については第３図と同じであるが、光源駆動電源１２の
出力電流はＤ／Ａ変換回路１３により制御される。すな
わち、制御回路４の指示により、光源切換回路５および
光センサ切換回路６が、まず、前記平板物体の存在しな
い状態で光源１１および光センサ２１を走査し、この時
の光センサ２１がアンプ７で増幅されたのちアナログコ
ンパレータ１４に入力する。
については第３図と同じであるが、光源駆動電源１２の
出力電流はＤ／Ａ変換回路１３により制御される。すな
わち、制御回路４の指示により、光源切換回路５および
光センサ切換回路６が、まず、前記平板物体の存在しな
い状態で光源１１および光センサ２１を走査し、この時
の光センサ２１がアンプ７で増幅されたのちアナログコ
ンパレータ１４に入力する。
該アナログコンパレータ１４には、３レベルの基準値、
すなわちＳＬｌ、・ＳＬ２およびＳＬ３が設定されてお
り、これら基準値と前記各光センサ２１が走査されてい
る時のアンプ７の出力値ＳＸが比較される。
すなわちＳＬｌ、・ＳＬ２およびＳＬ３が設定されてお
り、これら基準値と前記各光センサ２１が走査されてい
る時のアンプ７の出力値ＳＸが比較される。
いま、平板物体の存在しない状態であるので、制御回路
４はＤ／Ａ変換回路１３に対し、Ｓｘ ＝ ＳＬＩとな
るように制御信号を送出する。この制御信号によりＤ／
Ａ変換回路１３は光源駆動電源Ｊ２の出力電流を調節す
る。この時の制御信号は光源光量補正データメモリ１５
に格納される。
４はＤ／Ａ変換回路１３に対し、Ｓｘ ＝ ＳＬＩとな
るように制御信号を送出する。この制御信号によりＤ／
Ａ変換回路１３は光源駆動電源Ｊ２の出力電流を調節す
る。この時の制御信号は光源光量補正データメモリ１５
に格納される。
つぎに、平板物体が存在する状態で各光センサ２１が走
査さている時のアンプ７の出力値Ｓχか同械にしてアナ
ログコンパレーク１４により前記３つの基準値と比較さ
れ、２種の信号のいずれかが出力される。すなわち、Ｓ
ＬＩ≧Ｓｘ≧ＳＬ２ならば２値化信号“Ｉ”が、またＳ
Ｌ３≧Ｓｘならば２値化信号“０”が出力され、制御回
路４はこれらの２値化信号にもとづいて、′１”ならば
当該光センツ・２１の位置に平板物体が存在しないとし
て、また“０”ならば当該光センサ位置に平板物体が存
在すると判定を行う。
査さている時のアンプ７の出力値Ｓχか同械にしてアナ
ログコンパレーク１４により前記３つの基準値と比較さ
れ、２種の信号のいずれかが出力される。すなわち、Ｓ
ＬＩ≧Ｓｘ≧ＳＬ２ならば２値化信号“Ｉ”が、またＳ
Ｌ３≧Ｓｘならば２値化信号“０”が出力され、制御回
路４はこれらの２値化信号にもとづいて、′１”ならば
当該光センツ・２１の位置に平板物体が存在しないとし
て、また“０”ならば当該光センサ位置に平板物体が存
在すると判定を行う。
上記の場合、各光源１１の発光強度は光源光型補正デー
タメモリ１５に格納されている前記制御信号に基づいて
制御されるので、Ｓｘは常に平板物体が存在しない状態
でのＳ Ｘ ％すなわちＳＬＩによって基準化されてお
り、例えば発光ダイオードのような光源１１の発光強度
のバラツキや温度変化等に起因する変動の影響、あるい
は光センサ２１の感度のバラツキによる影響等が排除さ
れる。
タメモリ１５に格納されている前記制御信号に基づいて
制御されるので、Ｓｘは常に平板物体が存在しない状態
でのＳ Ｘ ％すなわちＳＬＩによって基準化されてお
り、例えば発光ダイオードのような光源１１の発光強度
のバラツキや温度変化等に起因する変動の影響、あるい
は光センサ２１の感度のバラツキによる影響等が排除さ
れる。
なお、一般にＳＬ３は５Ｌ３＝ （５ＬＩ） ／２に設
定され、また、ＳＬ２ ＞ Ｓｘ ＞ ＳＬ３の範囲値
のＳｘは、例えば紙幣ごとの紙質、被検出特徴点等の色
および濃度等め変動による誤差が生じやすいために用い
られない。
定され、また、ＳＬ２ ＞ Ｓｘ ＞ ＳＬ３の範囲値
のＳｘは、例えば紙幣ごとの紙質、被検出特徴点等の色
および濃度等め変動による誤差が生じやすいために用い
られない。
上記のようにして、本発明によれば各光センサ２１の出
力をＡ／Ｄ変換しないために光源切換回路５および光セ
ンサ切換回路６は高速度の走査が可能となり、かつ従来
の方式におけるように各光センサ２１の走査にともなっ
てＡ／Ｄ変換回路の出力をプログラム上でスライスする
必要も、また基準値をメモリから読出しては上記のスラ
イスによって得られた２値化信号と比較する必要もなく
なり、制御の簡単化ならびに処理の高速化が可能となる
。
力をＡ／Ｄ変換しないために光源切換回路５および光セ
ンサ切換回路６は高速度の走査が可能となり、かつ従来
の方式におけるように各光センサ２１の走査にともなっ
てＡ／Ｄ変換回路の出力をプログラム上でスライスする
必要も、また基準値をメモリから読出しては上記のスラ
イスによって得られた２値化信号と比較する必要もなく
なり、制御の簡単化ならびに処理の高速化が可能となる
。
なお、第４図において１６はタイミング等の制御データ
メモリである。
メモリである。
上記の実施例においては、平板物体の縁部を検出する場
合について説明を行ったが、第４図に示した検出系によ
り平板物体の平行する２つの縁部を検出することによっ
て、従来と同様に平板物体のＩＩ′ｍを測定可能である
ことは言うまでもない。
合について説明を行ったが、第４図に示した検出系によ
り平板物体の平行する２つの縁部を検出することによっ
て、従来と同様に平板物体のＩＩ′ｍを測定可能である
ことは言うまでもない。
（ｇ１発明の効果
本発明によれば、平板物体の縁部検出を高速度で実施可
能とし、また制御方式が簡単化されることによるブリグ
ラム作成および部品コストの低減を可能とする効果があ
る。
能とし、また制御方式が簡単化されることによるブリグ
ラム作成および部品コストの低減を可能とする効果があ
る。
第１図および第２図は光源アレイと光センサアレイを用
いる光学的方式の平板物体縁部検出装置の楯要を説明す
るための図、第３図および第４図はそれぞれ光学的方式
の平板物体縁部検出装置の従来および本発明に係る方式
の制御フロック図である。 図において、１ａおよび１ｂは光源アレイ、２ａおよび
２ｂば光センサアレイ、３は平板物体、４は制御回路、
５は光源切換回路、６は光センサ切換回路、７はアンプ
、８はＡ／Ｄ変換回路、９はメモリ、１０は出力回路、
１１は光源、１２は光源駆動電源、１３はＤ／Δ変換回
路、１４はアナログコンパレータ、１５は光源光量補正
データメモリ、１６は制御データメモリである。 略２図 察Ｊ国
いる光学的方式の平板物体縁部検出装置の楯要を説明す
るための図、第３図および第４図はそれぞれ光学的方式
の平板物体縁部検出装置の従来および本発明に係る方式
の制御フロック図である。 図において、１ａおよび１ｂは光源アレイ、２ａおよび
２ｂば光センサアレイ、３は平板物体、４は制御回路、
５は光源切換回路、６は光センサ切換回路、７はアンプ
、８はＡ／Ｄ変換回路、９はメモリ、１０は出力回路、
１１は光源、１２は光源駆動電源、１３はＤ／Δ変換回
路、１４はアナログコンパレータ、１５は光源光量補正
データメモリ、１６は制御データメモリである。 略２図 察Ｊ国
Claims (1)
- 対向して配置された光源アレイと光センサアレイにおけ
る各対向組の光源と光センサとを順次選択して該光セン
サ出力が基準値以下となったことによって被検物体の縁
部を検出する装置において、該光源光量を２値化データ
によって制御する一方、該光センサ出力をアナログコン
パレークにより基準値と比較して検出信号を得ることを
特徴とする平板物体縁部検出装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58050642A JPS59176606A (ja) | 1983-03-26 | 1983-03-26 | 平板物体縁部検出装置 |
| US06/498,726 US4559452A (en) | 1982-06-02 | 1983-05-27 | Apparatus for detecting edge of semitransparent plane substance |
| ES522906A ES522906A0 (es) | 1982-06-02 | 1983-06-01 | "un aparato para detectar un borde de una sustancia semitransparente plana". |
| BR8302933A BR8302933A (pt) | 1982-06-02 | 1983-06-01 | Aparelho de deteccao de uma aresta de uma substancia plana semitransparente |
| EP83303197A EP0095948B1 (en) | 1982-06-02 | 1983-06-02 | Detecting article edges |
| DE8383303197T DE3382131D1 (de) | 1982-06-02 | 1983-06-02 | Detektieren der kanten von gegenstaenden. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58050642A JPS59176606A (ja) | 1983-03-26 | 1983-03-26 | 平板物体縁部検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59176606A true JPS59176606A (ja) | 1984-10-06 |
Family
ID=12864601
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58050642A Pending JPS59176606A (ja) | 1982-06-02 | 1983-03-26 | 平板物体縁部検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59176606A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02266202A (ja) * | 1989-04-06 | 1990-10-31 | Dowa Mining Co Ltd | 光学的位置検出装置 |
| JPH0333679A (ja) * | 1989-06-30 | 1991-02-13 | Dowa Mining Co Ltd | 光学的検出装置 |
| EP1546651A1 (en) * | 2002-08-21 | 2005-06-29 | Honeywell International Inc. | Optical alignment detection system |
| JP2007017471A (ja) * | 2005-07-05 | 2007-01-25 | Shicoh Eng Co Ltd | 移動体の位置検出装置及びレンズ駆動装置 |
| JP2018132344A (ja) * | 2017-02-14 | 2018-08-23 | ウインテック株式会社 | 位置検出装置 |
| CN108492446A (zh) * | 2018-02-07 | 2018-09-04 | 深圳怡化电脑股份有限公司 | 一种纸币边缘查找方法以及系统 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50126132A (ja) * | 1974-03-23 | 1975-10-03 | ||
| JPS50156954A (ja) * | 1974-06-08 | 1975-12-18 | ||
| JPS54128756A (en) * | 1978-03-29 | 1979-10-05 | Sumitomo Metal Ind | Optical measuring device |
| JPS5780506A (en) * | 1980-11-07 | 1982-05-20 | Fuji Electric Co Ltd | Sensing method for body |
-
1983
- 1983-03-26 JP JP58050642A patent/JPS59176606A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS50126132A (ja) * | 1974-03-23 | 1975-10-03 | ||
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPH02266202A (ja) * | 1989-04-06 | 1990-10-31 | Dowa Mining Co Ltd | 光学的位置検出装置 |
| JPH0695005B2 (ja) * | 1989-04-06 | 1994-11-24 | 同和鉱業株式会社 | 光学的位置検出装置 |
| JPH0333679A (ja) * | 1989-06-30 | 1991-02-13 | Dowa Mining Co Ltd | 光学的検出装置 |
| EP1546651A1 (en) * | 2002-08-21 | 2005-06-29 | Honeywell International Inc. | Optical alignment detection system |
| JP2007017471A (ja) * | 2005-07-05 | 2007-01-25 | Shicoh Eng Co Ltd | 移動体の位置検出装置及びレンズ駆動装置 |
| JP2018132344A (ja) * | 2017-02-14 | 2018-08-23 | ウインテック株式会社 | 位置検出装置 |
| CN108492446A (zh) * | 2018-02-07 | 2018-09-04 | 深圳怡化电脑股份有限公司 | 一种纸币边缘查找方法以及系统 |
| CN108492446B (zh) * | 2018-02-07 | 2020-09-15 | 深圳怡化电脑股份有限公司 | 一种纸币边缘查找方法以及系统 |
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