JPH0335497A - 出力バッファ回路 - Google Patents
出力バッファ回路Info
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- JPH0335497A JPH0335497A JP1170262A JP17026289A JPH0335497A JP H0335497 A JPH0335497 A JP H0335497A JP 1170262 A JP1170262 A JP 1170262A JP 17026289 A JP17026289 A JP 17026289A JP H0335497 A JPH0335497 A JP H0335497A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は半導体記憶装置の出力バッファ回路に係り、
電源電圧が低い場合にHレベル出力電圧のマージンを保
障するとともに、出力ノイズを低減できるようにした出
カバソファ回路に関するものである。
電源電圧が低い場合にHレベル出力電圧のマージンを保
障するとともに、出力ノイズを低減できるようにした出
カバソファ回路に関するものである。
半導体集積回路装置のGND配線のインピーダンスは高
く、このときの発生するノイズにより、半導体集積回路
装置の動作マージンが少なくなることがある。第5図は
従来の出力バッフ1回路の回路図、第7図はノイズ対策
を行った従来の出力バッフ1回路の回路図である。
く、このときの発生するノイズにより、半導体集積回路
装置の動作マージンが少なくなることがある。第5図は
従来の出力バッフ1回路の回路図、第7図はノイズ対策
を行った従来の出力バッフ1回路の回路図である。
亀5図の出力バッフ1回路はPチャネルMOSトランジ
スタ(以下PMO5Tと呼ぶ)QIとnチャネルMOS
トランジスタ(以下nMO3Tと呼ぶ)Q、の直列接続
より構成されるP7n型出力駆動回路(3)で構成され
る。また、第7図の出力バッフ1回路は互いに相補する
信号を入力とするNMOS T(Q6)と(Q、)の直
列接続より構成されるN−N型出力駆動回路(4)で構
成される。
スタ(以下PMO5Tと呼ぶ)QIとnチャネルMOS
トランジスタ(以下nMO3Tと呼ぶ)Q、の直列接続
より構成されるP7n型出力駆動回路(3)で構成され
る。また、第7図の出力バッフ1回路は互いに相補する
信号を入力とするNMOS T(Q6)と(Q、)の直
列接続より構成されるN−N型出力駆動回路(4)で構
成される。
次に動作について説明する。第6図、第8図にそれぞれ
P−N型出力&勧回路(3〉、N−N型出力駆動回路(
4)の出力バッフ1への入力電圧(a)がGND電位か
ら電源電圧(以下Vccと呼ぶ)まで変化した時の出力
端子(2)の電圧(b)の変化の状態を示す。
P−N型出力&勧回路(3〉、N−N型出力駆動回路(
4)の出力バッフ1への入力電圧(a)がGND電位か
ら電源電圧(以下Vccと呼ぶ)まで変化した時の出力
端子(2)の電圧(b)の変化の状態を示す。
図に示すように出力電圧(b)の変化は比例的ではなく
、ある入力電圧で急激に変化している。第6図において
、P−N型出力駆動回路(3)のHレベルの出力電圧(
以下Vouと呼ぶ)はVooと等しく、また第8図にお
いて、N−N型出力駆動回路(4)のVOHはvooよ
りNMO5TQ6のしきい値電圧(以下VTHと呼ぶ)
を差し引いた値と等しくなる。出力端の電圧(b)が変
化する時ノイズ(へ)はN a Vou ・・・・・・
・・・(1)という上記(1)式であられされるので、
P−N型出力駆動回路(3)よりVTHだけVonが小
さいN−N型出力駆動回路(4)の方がノイズに強くな
る。
、ある入力電圧で急激に変化している。第6図において
、P−N型出力駆動回路(3)のHレベルの出力電圧(
以下Vouと呼ぶ)はVooと等しく、また第8図にお
いて、N−N型出力駆動回路(4)のVOHはvooよ
りNMO5TQ6のしきい値電圧(以下VTHと呼ぶ)
を差し引いた値と等しくなる。出力端の電圧(b)が変
化する時ノイズ(へ)はN a Vou ・・・・・・
・・・(1)という上記(1)式であられされるので、
P−N型出力駆動回路(3)よりVTHだけVonが小
さいN−N型出力駆動回路(4)の方がノイズに強くな
る。
しかし、N−N型出力駆動回路(4)のVOHはVoo
−VTH・・・・・・・・・(2)と上記(2)式で
あられされるため、次のような欠点がでてくる。
−VTH・・・・・・・・・(2)と上記(2)式で
あられされるため、次のような欠点がでてくる。
VTRはVORの減少に比例して増大するので、Vo。
が低い時点、例えばVoo : 4V、 VORのスペ
ックが14Vの時、VTHは1.5Vであるとすると、
実際のVouハVoo −VTH(7) 値15V ト
f! リ、vOHノスヘックz4■に対してほとんどマ
ージンを持たなくなる。
ックが14Vの時、VTHは1.5Vであるとすると、
実際のVouハVoo −VTH(7) 値15V ト
f! リ、vOHノスヘックz4■に対してほとんどマ
ージンを持たなくなる。
つまり、ノイズ対策をしたn−n型出力駆動回路(4)
は、■00が小さい時点ではvOllのレベルが十分に
出なくなるという問題点があった。
は、■00が小さい時点ではvOllのレベルが十分に
出なくなるという問題点があった。
従来の出力バッファ回路は以上のように構成されていた
ので、出力ノイズを抑えるといった対策と、Vonの下
限マージンを大きくするといった対策が互いに相反する
という問題点があった。
ので、出力ノイズを抑えるといった対策と、Vonの下
限マージンを大きくするといった対策が互いに相反する
という問題点があった。
この発明は上記の様な問題点を解消するためになされた
もので、Vonの下限マージンを大きくするとともに1
.出力ノイズを低減できる出力バッファ回路を得ること
を目的とする。
もので、Vonの下限マージンを大きくするとともに1
.出力ノイズを低減できる出力バッファ回路を得ること
を目的とする。
この発明に係る出力バッフ1回路は、P−N型出力駆動
回路に電圧降下回路を入れることにより、出力ノイズを
低減させるとともに、Voaの下限マージンが小さくな
らないようにしたものである。
回路に電圧降下回路を入れることにより、出力ノイズを
低減させるとともに、Voaの下限マージンが小さくな
らないようにしたものである。
この発明における出力バッファ回路は、vooが低い時
はVORはVooと等しくなりVORの下限マージンが
保障され、Vooが高い時は電圧降下回路が作用し出力
は一定の電圧となり、出力ノイズを低減させる。
はVORはVooと等しくなりVORの下限マージンが
保障され、Vooが高い時は電圧降下回路が作用し出力
は一定の電圧となり、出力ノイズを低減させる。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図はこの発明の一実施例による半導体記憶装置の出力バ
ッファ回路である。図において、前記従来のものと同一
符号は同一のものを示し、従来の出力バッファ回路と異
なる点を次に記す。
図はこの発明の一実施例による半導体記憶装置の出力バ
ッファ回路である。図において、前記従来のものと同一
符号は同一のものを示し、従来の出力バッファ回路と異
なる点を次に記す。
(9)はVooが高い場合、Hレベル出力電圧■o11
の電位を降下させる電圧降下回路、(6)はチップセレ
クト信号(Q)と出力制御電圧(VR)を入力とするN
0RIIl!l路、(7)はN (JRlalM(6J
(7)出力ヲ入力、!−スル(ンバータ回路で、その出
力はVooど出力トランジスタ(Q、)との間に接続さ
れているPMO5T (Qs)のゲートに入力される。
の電位を降下させる電圧降下回路、(6)はチップセレ
クト信号(Q)と出力制御電圧(VR)を入力とするN
0RIIl!l路、(7)はN (JRlalM(6J
(7)出力ヲ入力、!−スル(ンバータ回路で、その出
力はVooど出力トランジスタ(Q、)との間に接続さ
れているPMO5T (Qs)のゲートに入力される。
(Q、)はチップが選択されてる場合は常にON状態で
あるPMO3T、(QsJは■がGND電位より高い時
は常にON状態のNMO5Tである。(8)は高周波で
の発振を抑えるための容量である。
あるPMO3T、(QsJは■がGND電位より高い時
は常にON状態のNMO5Tである。(8)は高周波で
の発振を抑えるための容量である。
次に上記実施例の動作について説明する。第2図it
Vn 、 Von 、 N ORllil% (6)
(D L/きい値電圧の助依存性の状態を示す。図でV
ooが低い時、VBがNOR回路(6)のしきい値を超
えるまでは、NOR回路(6)は入力される信号にをL
レベルの信号とみなすので、NOR回路(6)の出力は
Lレベルになり、インバータ回路(7〉を介してP M
OS T (Qs)のゲートにHレベルの信号が入力
されP MOS T (Qs)はON状態となり第3図
に示すようにVouはVooに比例する。■がNOR回
路(6)のしきい値を超えるとNOR回路(6)の出力
はHレベルになり、インバータ回!16 (nを介して
)’MO5T(LJm)のゲートにLレベルの信号が入
力されるのでPMOS T (Q3)はOFF状態とな
り、vORはそれ以上電圧が上昇せず一定の電圧となる
。
Vn 、 Von 、 N ORllil% (6)
(D L/きい値電圧の助依存性の状態を示す。図でV
ooが低い時、VBがNOR回路(6)のしきい値を超
えるまでは、NOR回路(6)は入力される信号にをL
レベルの信号とみなすので、NOR回路(6)の出力は
Lレベルになり、インバータ回路(7〉を介してP M
OS T (Qs)のゲートにHレベルの信号が入力
されP MOS T (Qs)はON状態となり第3図
に示すようにVouはVooに比例する。■がNOR回
路(6)のしきい値を超えるとNOR回路(6)の出力
はHレベルになり、インバータ回!16 (nを介して
)’MO5T(LJm)のゲートにLレベルの信号が入
力されるのでPMOS T (Q3)はOFF状態とな
り、vORはそれ以上電圧が上昇せず一定の電圧となる
。
以上の動作で、Vooが低い場合VORはVooのレベ
ルそのままを出力してVORの下限マージンを作り、V
ooが高い場合はVooと出力Tr (Qρの間に接続
されたPMO3Tが供給されるwtaをカットするので
、必要以上にVonを上昇させて、出力ノイズが大きく
なることを避けている。
ルそのままを出力してVORの下限マージンを作り、V
ooが高い場合はVooと出力Tr (Qρの間に接続
されたPMO3Tが供給されるwtaをカットするので
、必要以上にVonを上昇させて、出力ノイズが大きく
なることを避けている。
尚、上記実施例では電圧降下回路(9)はNOR回路(
6)のしきい値で出力が制御される場合を示したが、第
4図に示すようにNAND回路α回路α色い値で制御さ
れる電圧降下回路(9)を用いてもよい。
6)のしきい値で出力が制御される場合を示したが、第
4図に示すようにNAND回路α回路α色い値で制御さ
れる電圧降下回路(9)を用いてもよい。
以上のようにこの発明によれば、電源電圧(Vao)が
低い時にはHレベル出力電圧(Vou)をVooまで上
昇させることにより、VO■下限マージンを保障し、
Vcaか丸い時にはVoaを、一定の電圧までしか上昇
させず出力ノイズを低減させる効果がある。
低い時にはHレベル出力電圧(Vou)をVooまで上
昇させることにより、VO■下限マージンを保障し、
Vcaか丸い時にはVoaを、一定の電圧までしか上昇
させず出力ノイズを低減させる効果がある。
第1図はこの発明の一実施例による半導体記憶装置の出
力バッファ回路回路図、@2図は第1図の電圧降下回路
に係る主な信号のVoo依存性を示した特性図、第4図
はこの発明の他の実施例を示す出力パッフ1回路の回路
図、第5図は従来の出力バッファ回路の回路図、第6図
は第5図の入力信号と出力信号の関係を示した特性図、
第7図はノイズ対策をした従来の出力バッフ1回路の回
路図、第8図は第7図の入出力信号の関係を示した図、
第3図はHレベル出力信号のVoo依存性を示した特性
図である。 図において、(2)は出力端子、(3)はP−N型出力
駆動回路、(6)はNOR回路、(7)はインバータ回
路、(8)はコンデンサ、(9)は電圧降下回路、Q(
JはNAND回路、Qt Qs Q−はP M OS
T 、 Q! Q5 QsはNMOST、(a)は出カ
バソファからの出力信号、(b)は出力端の信号、Vo
oは電源電圧、VonはHレベルの出力電圧、Vnは出
力制御電圧を示す。 尚、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
力バッファ回路回路図、@2図は第1図の電圧降下回路
に係る主な信号のVoo依存性を示した特性図、第4図
はこの発明の他の実施例を示す出力パッフ1回路の回路
図、第5図は従来の出力バッファ回路の回路図、第6図
は第5図の入力信号と出力信号の関係を示した特性図、
第7図はノイズ対策をした従来の出力バッフ1回路の回
路図、第8図は第7図の入出力信号の関係を示した図、
第3図はHレベル出力信号のVoo依存性を示した特性
図である。 図において、(2)は出力端子、(3)はP−N型出力
駆動回路、(6)はNOR回路、(7)はインバータ回
路、(8)はコンデンサ、(9)は電圧降下回路、Q(
JはNAND回路、Qt Qs Q−はP M OS
T 、 Q! Q5 QsはNMOST、(a)は出カ
バソファからの出力信号、(b)は出力端の信号、Vo
oは電源電圧、VonはHレベルの出力電圧、Vnは出
力制御電圧を示す。 尚、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 出力信号に従い出力端子にHレベルまたはLレベルの信
号を出力するためのPチャネルMOSトランジスタ及び
nチャネルMOSトランジスタからなる半導体記憶装置
の出力駆動回路において、この出力駆動回路の電源電圧
を降下させる回路を具備したことを特徴とする出力バッ
ファ回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1170262A JPH0335497A (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 出力バッファ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1170262A JPH0335497A (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 出力バッファ回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0335497A true JPH0335497A (ja) | 1991-02-15 |
Family
ID=15901680
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1170262A Pending JPH0335497A (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 出力バッファ回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0335497A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100564553B1 (ko) * | 1999-06-22 | 2006-03-28 | 삼성전자주식회사 | 톨러런트 형 출력 드라이버 |
KR100937393B1 (ko) * | 2009-02-21 | 2010-01-18 | 주식회사 대성지티 | R면취용 인서트 팁 |
CN102608221A (zh) * | 2012-03-02 | 2012-07-25 | 中国航空工业集团公司北京航空制造工程研究所 | 用于复合材料检测的超声探头的换能传感器 |
JP2015526979A (ja) * | 2012-07-09 | 2015-09-10 | フィニサー コーポレイション | ドライバ回路 |
-
1989
- 1989-06-30 JP JP1170262A patent/JPH0335497A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100564553B1 (ko) * | 1999-06-22 | 2006-03-28 | 삼성전자주식회사 | 톨러런트 형 출력 드라이버 |
KR100937393B1 (ko) * | 2009-02-21 | 2010-01-18 | 주식회사 대성지티 | R면취용 인서트 팁 |
CN102608221A (zh) * | 2012-03-02 | 2012-07-25 | 中国航空工业集团公司北京航空制造工程研究所 | 用于复合材料检测的超声探头的换能传感器 |
JP2015526979A (ja) * | 2012-07-09 | 2015-09-10 | フィニサー コーポレイション | ドライバ回路 |
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