JPH10215166A - 高出力電圧生成用半導体回路 - Google Patents

高出力電圧生成用半導体回路

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JPH10215166A
JPH10215166A JP9348877A JP34887797A JPH10215166A JP H10215166 A JPH10215166 A JP H10215166A JP 9348877 A JP9348877 A JP 9348877A JP 34887797 A JP34887797 A JP 34887797A JP H10215166 A JPH10215166 A JP H10215166A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】出力端に加わる電圧の変動幅を大きくしながら
も、低いチャネルブレークダウン電圧を有するMOSト
ランジスタから構成される高出力電圧生成用半導体回路
を提供する。 【解決手段】本半導体回路は、第1コントロール信号V
C1を基にオン/オフ動作するトランジスタPM1,M
N1と、第2コントロール信号VC2を基にオン/オフ
動作するトランジスタPM2,MN2と、ゲート端子に
入力される第2コントロール信号VC2に応じてドレイ
ン端子の電圧をプルアップ/プルダウンするトランジス
タPM5,MN5と、トランジスタPM1,MN1の動
作に応じて入力信号VINがゲート端子に入力されるト
ランジスタMP3,MN3と、トランジスタPM2,M
N2の動作に応じて第1コントロール信号VC1がゲー
ト端子に入力されるトランジスタMP4,MN4と、を
含んで構成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、低いチャネルブレ
ークダウン電圧を有するCMOS素子を用いて構成され
る半導体回路に関し、特に、高い電圧を出力できるよう
にした高出力電圧生成用半導体回路に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体デバイスが高集積化され
るにつれて、MOSトランジスタのチャネル長が短くな
り、これがチャネルブレークダウン電圧の低下にも繋が
る。ここでチャネルブレークダウンとは、MOSトラン
ジスタにおける一般的なブレークダウン現象のことであ
り、特に、高い電圧を印加した場合の突き抜け現象(pu
nch-through phenomenon)を意味する。このため、高い
出力電圧が出せなくなるという問題点が生じる。かかる
問題点を解消するための従来の高出力電圧生成用半導体
回路としては、例えば、図5の構成図に示すような回路
などがある。
【0003】図5によれば、従来の高出力電圧生成用半
導体回路は、動作制御のための限界電圧VSHLDの入
力をゲート端子に受け、入力信号VINをソース端子に
受ける第1PMOSトランジスタP1と、第1PMOS
トランジスタP1のドレイン端子から出力される信号の
入力をゲート端子に受け、所定の正の電圧VDDの入力
をソース端子に受ける第2PMOSトランジスタP2
と、第2PMOSトランジスタP2のドレイン端子から
出力される信号の入力をソース端子に受け、限界電圧V
SHLDの入力をゲート端子に受けて動作する第3PM
OSトランジスタP3と、限界電圧VSHLDの入力を
ゲート端子に受け、入力信号VINをドレイン端子に受
ける第1NMOSトランジスタN1と、第1NMOSト
ランジスタN1のソース端子から出力される信号の入力
をゲート端子に受け、ソース端子が接地された第2NM
OSトランジスタN2と、第2NMOSトランジスタN
2のドレイン端子がソース端子に連結され、第3POS
トランジスタP3のドレイン端子の電圧がドレイン端子
に印加され、限界電圧VSHLDの入力をゲート端子に
受けて動作する第3NMOSトランジスタN3と、から
構成される。
【0004】この時、第1〜第3PMOSトランジスタ
P1〜P3の基板バイアス電圧は正の電圧VDDによっ
て設定され、第1〜第3NMOSトランジスタN1〜N
3の基板バイアス電圧は接地電位に設定される。このよ
うに構成される従来のチャネルブレークダウン現象を防
止するための半導体回路は、例えば、米国特許第5,4
65,054号明細書等に詳しく説明されている。ここ
では、その動作の概略について述べることにする。
【0005】限界電圧VSHLDをDC5Vに設定して
印加し、トランジスタ駆動用電圧として用いられる正の
電圧VDDを10Vに設定する場合、常時ターンオンさ
れるトランジスタは、第1、3PMOSトランジスタP
1,P3と第1、第3NMOSトランジスタN1,N3
とである。この際、第2NMOSトランジスタN2と第
2PMOSトランジスタP2とは、入力電圧VINの論
理状態に応じてターンオン/オフ動作を行う。
【0006】従って、入力電圧VINの論理状態がロー
であれば、第2PMOSトランジスタP2はターンオン
し、第2NMOSトランジスタN2はターンオフするた
めに、第3PMOSトランジスタP3と第3NMOSト
ランジスタN3の共通ドレイン端子の電圧は駆動電圧で
ある正の電圧VDDとなり、ハイ状態を保持する。その
逆の場合、即ち入力電圧VINの論理状態がハイであれ
ば、第2PMOSトランジスタP2はターンオフするの
に対して、第2NMOSトランジスタN2はターンオン
するために、第3PMOSトランジスタP3と第3NM
OSトランジスタN3の共通ドレイン端子は接地電位と
なって、ロー状態を保持する。
【0007】なお、入力信号VINの電位状態をロー状
態とハイ状態に区分したが、この時の電圧状態は相対的
なものであって、一般的な0Vと5Vなどの値に限られ
るものではない。上述したように、出力電圧VOUTが
0Vから10Vまで変わっても、プルアップ機能を行う
第2、3PMOSトランジスタP2,P3またはプルダ
ウン機能を行う第2、3NMOSトランジスタN2,N
3のそれぞれのソース端子とドレイン端子と間の電圧
は、5V程度に制限されているために、出力電圧VOU
Tの変動によるトランジスタチャネルのブレークダウン
現象を防止することが出来る。
【0008】従って、上記の効果を詳しく説明すると、
チャネルブレークダウン電圧の2倍に相当する電圧を出
力できるようになる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかし、図5に示した
従来の半導体回路を用いて、より大きい出力電圧VOU
Tを得るために正の駆動電圧VDDを10Vから15V
程度に高めると、第2、3PMOSトランジスタP2,
P3または第2、3NMOSトランジスタN2,N3の
それぞれのソース端子とドレイン端子との間の電圧は、
約7.5V程度になる。また、正の駆動電圧VDDを3
0Vに高めると、前記各トランジスタのソース端子とド
レイン端子との間の電圧は約15V程度になる。
【0010】このように従来の高出力電圧生成用半導体
回路では、正の電圧VDDを過度に高める場合、各トラ
ンジスタP2,P3,N2,N3のソース端子とドレイ
ン端子との間に過度に電圧が加わることにより、これら
各トランジスタP2,P3,N2,N3がチャネルブレ
ークダウン現象を生じて回路が正常的に動作しなくな
り、結局、正の電圧VDDの増加範囲を一定の限界値以
上に高めると、チャネルブレークダウン電圧の2倍以上
の出力を出すことはできないという問題点が生じた。
【0011】本発明は上記の問題点に着目してなされた
もので、電圧のプルアップ動作及びプルダウン動作を多
段階に分割して出力端子に加わる電圧の変動幅を大きく
しながらも、低いチャネルブレークダウン電圧を有する
MOSトランジスタから構成される高出力電圧生成用半
導体回路を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】このため、本発明の高出
力電圧生成用半導体回路は、互いに相反する位相を有し
一定の周期でレベル変化する第1、第2コントロール信
号のうちの第1コントロール信号に基づいて、互いに反
動的にオン/オフ動作を行い、外部から入力される入力
信号をオン動作時に出力する第1、第2スイッチング素
子と、前記第2コントロール信号に基づいて、互いに反
動的にオン/オフ動作を行い、入力される前記第1コン
トロール信号をオン動作時に出力する第3、第4スイッ
チング素子と、第1PMOSトランジスタのドレイン端
子と第1NMOSトランジスタのドレイン端子とを連結
したCMOS形インバータ構造を有し、各ゲート端子に
入力される前記第2コントロール信号のレベル状態に応
じて、前記連結されたドレイン端子に加わる電圧を前記
第1PMOSトランジスタのソース端子に加わる電圧に
略等しくするプルアップ動作、及び前記連結されたドレ
イン端子に加わる電圧を前記第1NMOSトランジスタ
のソース端子に加わる電圧に略等しくするプルダウン動
作のいずれかを行う信号出力部と、前記第1スイッチン
グ素子のオン動作時にロー状態の信号がゲート端子に入
力されてターンオンし、ソース端子に入力される駆動電
圧をドレイン端子に出力する第2PMOSトランジスタ
と、前記第3スイッチング素子のオン動作時にハイ状態
の信号がゲート端子に入力されてターンオフし、前記第
2PMOSトランジスタを介してソース端子に入力され
る前記駆動電圧を一旦貯蔵し、前記第3スイッチング素
子のオフ動作時にターンオンして、前記第1PMOSト
ランジスタのソース端子に前記一旦貯蔵した電圧を印加
する第3PMOSトランジスタと、前記第4スイッチン
グ素子のオン動作時にロー状態の信号がゲート端子に入
力されてターンオフし、ドレイン端子に入力される前記
第1NMOSトランジスタのソース端子に加わる電圧を
一旦貯蔵し、前記第4スイッチング素子のオフ動作時に
ターンオンして、前記ドレイン端子に一旦貯蔵した電圧
をソース端子へ出力する第2NMOSトランジスタと、
前記第2スイッチング素子のオン動作時にハイ状態の信
号がゲート端子に入力されてターンオンし、前記第2N
MOSトランジスタのソース端子に加わる電圧が印加さ
れるドレイン端子を接地レベルに導通させる第3NMO
Sトランジスタと、を含んで構成されるものである。
【0013】また、前記第1、第2コントロール信号
は、それぞれ最高レベル値が前記駆動電圧の略3分の2
(66%)であることが好ましく、更に、最低レベル値
が前記駆動電圧の略3分の1(33%)であるこが好ま
しい。また、前記第1コントロール信号は、前記外部か
らの入力信号の位相と同じ位相を有するようにしてもよ
く、更に、前記第2コントロール信号は、前記外部から
の入力信号の位相と相反した位相を有するようにしても
よい。
【0014】加えて、前記第2、第3PMOSトランジ
スタ及び前記第2、第3NMOSトランジスタは、それ
ぞれソース端子とドレイン端子との間に前記駆動電圧の
略3分の1(33%)に相当する電圧が印加されるよう
にするのが好ましい。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。図1は、本実施形態の高出力電圧生
成用半導体回路の構成図である。図1において、本高出
力電圧生成用半導体回路は、所定の電圧値を有する第1
コントロール信号VC1の入力をゲート端子に受け、入
力信号VINをソース端子に受ける第1スイッチング素
子としてのPMOSトランジスタMP1と、所定の電圧
値を有する第2コントロール信号VC2の入力をゲート
端子に受け、第1コントロール信号VC1の入力をソー
ス端子に受ける第3スイッチング素子としてのPMOS
トランジスタMP2と、PMOSトランジスタMP1の
ドレイン端子から出力される信号の入力をゲート端子に
受け、所定の正の駆動電圧VDDの入力をソース端子に
受ける第2PMOSトランジスタとしてのPMOSトラ
ンジスタMP3と、PMOSトランジスタMP3のドレ
イン端子から出力される信号の入力をソース端子に受
け、PMOSトランジスタMP2のドレイン端子から出
力される信号の入力をゲート端子に受けて動作する第3
PMOSトランジスタとしてのPMOSトランジスタM
P4と、第2コントロール信号VC2の入力をゲート端
子に受け、PMOSトランジスタMP4のドレイン端子
から出力される信号の入力をソース端子に受ける第1P
MOSトレンジスタとしてのPMOSトランジスタMP
5と、第1コントロール信号VC1の入力をゲート端子
に受け、入力信号VINをドレイン端子に受ける第2ス
イッチング素子としてのNMOSトランジスタMN1
と、第2コントロール信号VC2の入力をゲート端子に
受け、第1コントロール信号VC1の入力をドレイン端
子に受ける第4スイッチング素子としてのNMOSトラ
ンジスタMN2と、NMOSトランジスタMN1のソー
ス端子から出力される信号の入力をゲート端子に受け、
ソース端子が接地された第3NMOSトランジスタとし
てのNMOSトランジスタMN3と、NMOSトランジ
スタMN3のドレイン端子にソース端子が連結され、N
MOSトランジスタMN2のソース端子から出力される
信号の入力をゲート端子に受けて動作する第2NMOS
トランジスタとしてのNMOSトランジスタMN4と、
第2コントロール信号VC2の入力をゲート端子に受
け、NMOSトランジスタMN4のドレイン端子がソー
ス端子に連結され、PMOSトランジスタMP5のドレ
イン端子に加わる電圧の入力をドレイン端子に受けて動
作する第1NMOSトランジスタとしてのNMOSトラ
ンジスタMN5とから構成される。
【0016】次に、本実施形態の動作について図2〜図
4の波形図を参照して説明する。図2は、駆動電圧VD
Dが15Vの場合であり、図3は駆動電圧VDDが30
Vの場合であり、図4は駆動電圧VDDが10Vの場合
である。図2〜図4はそれぞれ共通して、(A)は各駆
動電圧VDDによる入出力信号VIN,VOUTの電圧
波形、(B)は第1、第2コントロール信号VC1,V
C2の電圧波形である。また、(C)はPMOSトラン
ジスタMP3のドレイン端子から出力され、PMOSト
ランジスタMP4のソース端子に印加される電圧波形
(図1で点C)であり、(D)はPMOSトランジスタ
MP4のドレイン端子から出力され、PMOSトランジ
スタMP5のソース端子に印加される電圧波形(図1で
点D)であって、これらの波形は出力端のプルアップ側
ノードに加わる電圧波形を示している。更に、(E)は
NMOSトランジスタMN3のドレイン端子とNMOS
トランジスタMN4のソース端子とに加わる電圧波形
(図1で点E)であり、(F)はNMOSトランジスタ
MN4のドレイン端子とNMOSトランジスタMN5の
ソース端子とに加わる電圧波形(図1で点F)であっ
て、これらのは波形は出力端のプルダウン側ノードに加
わる電圧波形を示している。
【0017】まず、駆動電圧VDDが15Vの場合に
は、図2(A)に示されるような電圧波形の入力信号V
INに対して、図2(B)に示されるような電圧値が5
Vと10V(駆動電圧VDDの略1/3と略2/3の電
圧値)の間で変化する波形の第1、第2コントロール信
号VC1,VC2を用いると、入力信号VINがロー状
態のとき、図2(C)(D)及び(A)の出力信号VO
UTに示されるように、各PMOSトランジスタMP3
〜MP5のドレイン端子電圧は略15Vとなり、各NM
OSトランジスタMN3〜MN5のソース−ドレイン間
の電圧は、図2(E)(F)及び(A)の出力信号VO
UTに示される各電圧値の差からわかるように、約5V
程度に制限される。また、入力信号VINがハイ状態の
ときには、各PMOSトランジスタMP3〜MP5のソ
ース−ドレイン間の電圧は、図2(C)(D)及び
(A)の出力信号VOUTに示される各電圧値の差から
わかるように、約5V程度に制限され、図2(E)
(F)及び(A)の出力信号VOUTに示されるよう
に、各NMOSトランジスタMN3〜MN5のドレイン
端子電圧は接地電位の略0Vとなる。このように、PM
OSトランジスタMP3〜MP5及びNMOSトランジ
スタMN3〜MN5の各ソース−ドレイン間の電圧は全
て約5V程度(駆動電圧VDDの略1/3)に制限され
るため、チャネルブレークダウン現象の発生を防止する
ことになって回路が正常に動作する。
【0018】また、駆動電圧VDDが30Vの場合に
も、図3(A)に示されるような電圧波形の入力信号V
INに対して、図3(B)に示されるような電圧値が1
0Vと20Vの間で変化する波形の第1、第2コントロ
ール信号VC1,VC2を用いると、上記駆動電圧VD
Dが15Vの場合と同様、図2(C)〜(F)及び
(A)の出力信号VOUTに示されるように、PMOS
トランジスタMP3〜MP5及びNMOSトランジスタ
MN3〜MN5の各ソース−ドレイン間の電圧は全て約
10V程度に制限されるため、チャネルブレークダウン
現象の発生を防止することになって回路が正常に動作す
る。
【0019】更に、駆動電圧VDDが10Vの場合に
も、図4(A)に示されるような電圧波形の入力信号V
INに対して、図4(B)に示されるような電圧値が
3.3Vと6.6Vの間で変化する波形の第1、第2コ
ントロール信号VC1,VC2を用いると、上記の場合
と同様、図4(C)〜(F)及び(A)の出力信号VO
UTに示されるように、PMOSトランジスタMP3〜
MP5及びNMOSトランジスタMN3〜MN5のソー
ス−ドレイン間の電圧は全て約3. 5V程度に制限され
るため、チャネルブレークダウン現象の発生を防止する
ことになって回路が正常に動作する。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、駆動電
圧を出力端子に導くための多段階に分割した回路を従来
と同様の工程により構成したことによって、本回路を構
成する各トランジスタのソース−ドレイン間の電圧がチ
ャネルブレークダウン電圧以下になるため、従来の回路
構成ではトランジスタのチャネルブレークダウン電圧の
2倍に相当する電圧までしか出力することができなかっ
たが、本回路ではチャネルブレークダウン電圧の3倍に
相当する電圧を出力することができる。これにより、チ
ャネルブレークダウン現象の発生を防止しながら、各ト
ランジスタのチャネル長を一層短くすことが可能となっ
て、半導体チップの大きさをより小さくすることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる実施形態の高出力電圧生成用半
導体回路の構成図である。
【図2】同上実施形態における駆動電圧が15Vの場合
の各部の電圧波形を示す図である。
【図3】同上実施形態における駆動電圧が30Vの場合
の各部の電圧波形を示す図である。
【図4】同上実施形態における駆動電圧が10Vの場合
の各部の電圧波形を示す図である。
【図5】従来の高出力電圧生成用半導体回路の構成図で
ある。
【符号の説明】
MP1〜MP5 PMOSトランジスタ MN1〜MN5 NMOSトランジスタ VIN 入力信号 VOUT 出力信号 VC1,VC2 コントロール信号 VDD 駆動電圧

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 互いに相反する位相を有し一定の周期で
    レベル変化する第1、第2コントロール信号のうちの第
    1コントロール信号に基づいて、互いに反動的にオン/
    オフ動作を行い、外部から入力される入力信号をオン動
    作時に出力する第1、第2スイッチング素子と、 前記第2コントロール信号に基づいて、互いに反動的に
    オン/オフ動作を行い、入力される前記第1コントロー
    ル信号をオン動作時に出力する第3、第4スイッチング
    素子と、 第1PMOSトランジスタのドレイン端子と第1NMO
    Sトランジスタのドレイン端子とを連結したCMOS形
    インバータ構造を有し、各ゲート端子に入力される前記
    第2コントロール信号のレベル状態に応じて、前記連結
    されたドレイン端子に加わる電圧を前記第1PMOSト
    ランジスタのソース端子に加わる電圧に略等しくするプ
    ルアップ動作、及び前記連結されたドレイン端子に加わ
    る電圧を前記第1NMOSトランジスタのソース端子に
    加わる電圧に略等しくするプルダウン動作のいずれかを
    行う信号出力部と、 前記第1スイッチング素子のオン動作時にロー状態の信
    号がゲート端子に入力されてターンオンし、ソース端子
    に入力される駆動電圧をドレイン端子に出力する第2P
    MOSトランジスタと、 前記第3スイッチング素子のオン動作時にハイ状態の信
    号がゲート端子に入力されてターンオフし、前記第2P
    MOSトランジスタを介してソース端子に入力される前
    記駆動電圧を一旦貯蔵し、前記第3スイッチング素子の
    オフ動作時にターンオンして、前記第1PMOSトラン
    ジスタのソース端子に前記一旦貯蔵した電圧を印加する
    第3PMOSトランジスタと、 前記第4スイッチング素子のオン動作時にロー状態の信
    号がゲート端子に入力されてターンオフし、ドレイン端
    子に入力される前記第1NMOSトランジスタのソース
    端子に加わる電圧を一旦貯蔵し、前記第4スイッチング
    素子のオフ動作時にターンオンして、前記ドレイン端子
    に一旦貯蔵した電圧をソース端子へ出力する第2NMO
    Sトランジスタと、 前記第2スイッチング素子のオン動作時にハイ状態の信
    号がゲート端子に入力されてターンオンし、前記第2N
    MOSトランジスタのソース端子に加わる電圧が印加さ
    れるドレイン端子を接地レベルに導通させる第3NMO
    Sトランジスタと、 を含んで構成されることを特徴とする高出力電圧生成用
    半導体回路。
  2. 【請求項2】 前記第1、第2コントロール信号は、そ
    れぞれ最高レベル値が前記駆動電圧の略3分の2である
    ことを特徴とする請求項1記載の高出力電圧生成用半導
    体回路。
  3. 【請求項3】 前記第1、第2コントロール信号は、そ
    れぞれ最低レベル値が前記駆動電圧の略3分の1である
    ことを特徴とする請求項1又は2記載の高出力電圧生成
    用半導体回路。
  4. 【請求項4】 前記第1コントロール信号は、前記外部
    からの入力信号の位相と同じ位相を有することを特徴と
    する請求項1〜3のいずれか1つに記載の高出力電圧生
    成用半導体回路。
  5. 【請求項5】 前記第2コントロール信号は、前記外部
    からの入力信号の位相と相反した位相を有することを特
    徴とする請求項1〜4のいずれか1つに記載の高出力電
    圧生成用半導体回路。
  6. 【請求項6】 前記第2、第3PMOSトランジスタ及
    び前記第2、第3NMOSトランジスタは、それぞれソ
    ース端子とドレイン端子との間に前記駆動電圧の略3分
    の1に相当する電圧が印加されることを特徴とする請求
    項1〜5のいずれか1つに記載の高出力電圧生成用半導
    体回路。
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