JPH03296073A

JPH03296073A - 静電記録装置及び静電潜像測定装置

Info

Publication number: JPH03296073A
Application number: JP2097667A
Authority: JP
Inventors: Toru Miyasaka; 徹宮坂; Takao Umeda; 梅田　高雄; Tetsuya Nagata; 徹也永田; Tatsuo Ikawa; 伊川　辰夫
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1990-04-16
Filing date: 1990-04-16
Publication date: 1991-12-26
Anticipated expiration: 2015-02-14
Also published as: JP3009179B2; EP0452818B2; KR100193704B1; EP0452818A2; US5177531A; EP0452818A3; DE69117563T3; DE69117563T2; EP0452818B1; DE69117563D1

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野］本発明は、静電潜像測定装置を具備した静電記録装置と
静電潜像測定装置に係わり、特に静電潜像の測定結果に
よる静電記録装置の制御手法および静電記録装置の感光
体上に形成された静電潜像を直接測定可能な静電潜像測
定装置に関する。

［従来の技術］従来の静電記録装置において、静電潜像測定手段が搭載
されているものはない。これまで、露光量や現像バイア
スなどは、予め決定された十分誘度のある設計値とされ
ており、装置毎に、人が微調整を行うのが一般的である
が、感光体の疲労補正として、印刷枚数から疲労補正プ
ログラムにより帯電系、露光系、現像系を制御するもの
も知られている（特公昭６２−２７３９０号公報）。ま
た、感光体の寿命などに対しても、印刷枚数などで判定
する方式が知られている（特公昭６２−５０５号公報）
。

また、従来、静電潜像を測定する方法としては、イオン
運動型、直流増幅型１回転セクタ型、電気光学効果型、
電気力型（浅野和俊：静電気高額における電界・電位測
定法、静電気学会誌、　１０．　ｐｐ、　２０５−２１
２（１９８６））などがある。感光体上の静電潜像は数
１００〜数１０μｍであるので、この分布を測定するた
めには、十分高い解像度を有する静電潜像測定手法が必
要である。解像度を向上するためにはを測定するために
は測定電極の面積を小さくし、測定電極と感光体とを近
接しなければならない。すでに、非常に測定面積の／Ｊ
Ｎさい電極を用いて、静電潜像を測定した報告はいくつ
かある。　（松井満：微小面積表面電位計、静電気学会
誌、１０．ｐｐ、２１７−２２４（１９８６））また、
測定電極を用いず静電潜像を電子顕微鏡で測定した報告
もある。（Ｇ、　Ｆ、　Ｆｒｉ　ｔｚ、　Ｄ、　Ｃ，Ｈ
ｏｅｓｔｅｒｅｙ　ａｎｄ　Ｌ、Ｅ、Ｂｒａｄｙ：０ｂ
ｓｅｒｖａｔｉｏｎ　ｏｆ　Ｘｅｒｏｇｒａｐｈｉｅ　
Ｅｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃ　Ｌａｔｅｎｔ　Ｉｍａｇ
ｅｓ　ｗｉｔｈ　ａ　Ｓｃａｎｎｉｎｇ　　Ｅｌｅｃｔ
ｒｏｎ　　Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ、Ａｐｐｌ、Ｐｈｙｓ
１Ｌｅｔｔ、、１９．ｐｐ、　２７７−２７８　（１９
７１）　）［発明が解決しようとする課題］静電記録装置上において、静電潜像を観測する手段が存
在しなかったために、静電記録装置の制御に関する従来
技術は、感光体側々にあった装置の微調整は困難であり
、完全に感光体の性能を出しきることが難しい。また、
静電潜像の有無を観測しないために、感光体の寿命を正
確に把握することもできない。

本発明は、静電記録装置の感光体上の静電潜像を測定で
きるような静電潜像測定手段を提供することを目的とし
ており、さらに、静電記録装置に静電潜像を測定する手
段を搭載することによって、感光体の状態や性能に見合
った最適な装置制御を行う手法とそれを用いた静電記録
装置を提供することにある。

また、測定電極の面積を小さくした静電潜像測定装置に
対する上記従来技術は、静電記録装置上において静電潜
像を測定する様には配慮がされいない。静電記録装置上
では感光体ドラムには偏心などがあり、測定電極を感光
体と微１Ｊｚ距離で近接させることができなかった。ま
た、感光体上の静電潜像の電位は１ｋＶ近くに達する場
合もあり、測定電極を感光体に近接させると放電してし
まう問題もあった。

また、電子顕微鏡を用いて静電潜像を測定する上記従来
技術は、測定環境が特殊であるために、静電記録装置の
感光体上の静電潜像を直接測定することはできない。

［課題を解決するための手段］感光体の状態に合わせた最適な制御を行うという上記目
的のために、静電記録装置に静電潜像を観測する手段を
設け、各部プロセスの制御と感光体の寿命判定を行うよ
うにしたものである。

さらに、静電記録装置上の感光体の偏心等のある静電記
録装置において測定電極を感光体に近接させるという上
記目的を達成するために、微小面積を有する測定電極と
感光体との距離を一定に制御する手段をもうけたもので
ある。

さらに、測定電極と感光体間の放電を防ぐという上記目
的のために、測定回路のコモン電位を測定対象の電位の
最大電位と最低電位の間の基準電源電位とする手段を設
けたものである。

さらに、測定電極と感光体の間に気体を充満させる手段
を設け、放電開始電位の高い気体を充満させるものであ
る。

［作用コ静電記録装置に、静電潜像測定手段を設けることによっ
て、感光体上の静電潜像の状態を検出することができる
。潜像が最適になるように印写プロセスを制御するため
に、感光体の状態に合わせた適切な制御ができる。また
、潜像の状態を観測しているので、感光体の寿命も正確
に判定することができる。

潜像測定のための露光パターンとして数ドット〜数十ド
ツト毎のｏｎ、　ｏｆｆを繰り返すパターンＡと１ドツ
ト毎のｏｎ、ｏｆｆを繰り返すパターンＢを組み合わせ
たものを用いることによって、露光部と非露光部により
形成された電荷パターンの幅や１ドツトの露光により形
成された電荷潜像の形成状態を知ることができる。

この電荷潜像の状態をもとに露光量、露光時間。

現像バイアス、感光体加熱時間を制御するので、最適な
印写プロセス制御が可能となる。また、感光体寿命も静
電潜像の状態から判定するために、正確に行うことがで
きる。

距離測定手段が測定電極を中心とする同心円上に配置さ
れ、かつ距離測定手段間の間隔が一定となる様に配置さ
れているので、感光体面が平面であるとすれば測定電極
と感光体面の高さは、距離測定手段の平均値で与えられ
る。

また、測定対象が感光体ドラムの場合、距離測定手段を
二つとし、この二つの距離測定手段を結ぶ線と感光体ド
ラム軸を並行にすることによって、感光体と測定電極の
距離は二つの距離センサの平均で与えられる。

これらの平均値を一定に保つことによって測定電極と感
光体の高さを一定に保つことができる。

測定回路のコモン電位−を測定対象の最大電位と最小電
位の間の電位にすることによって、測定電極と感光体間
の電位差を小さくし、感光体と測定電極間の距離がＩＪ
ｓさくなったときの放電を防ぐことができる。また、測
定電極面積を小さくすると測定回路の出力が非常に小さ
くなり、この為に基準電源の持つリップルなどで測定回
路の出力が読み取れなくなってしまう。基準電源として
、電池を用いることによって安定した基準電圧を得るこ
とができる。

また電極先端を、感光体に面する方向に開口部を有する
ケース１と感光体に面する方向に開口部を有しケース１
を取り囲むケース２で囲まれており、ケースｌに放電開
始電圧の高い気体を充満させ、ケース２で外部の空気と
共にケース１の放電開始電圧の高い気体を吸気すること
によって、ケース２の外には放電開始電圧の高い気体を
放電することなく測定電極と感光体の間は放電開始電圧
の高い気体で充満させることができる。また、この様な
手法で、測定電極と感光体間に放電開始電圧の高い気体
を充満させることによって、測定電極と感光体間の距離
が小さくなった場合の放電を防止できる。

測定電極に誘起された電荷を測定用コンデンサで電圧に
変換し、インピーダンス変換して電荷測定を行う直流増
幅型の電荷測定回路において、ディスチャージ・スイッ
チを主ディスチャージ・スイッチと副ディスチャージ・
スイッチの２段構造とする。主ディスチャージ・スイッ
チは測定電極とコモン電位との接続と遮断を行う。副デ
ィスチャージ・スイッチは非測定時（ディスチャージ時
）に主ディスチャージ・スイッチを接続状態にするため
の駆動電圧とコモン電位を主ディスチャージ・スイッチ
に供給し、測定時には主ディスチャージ・スイッチの測
定電極に接続されていない全ての端子に、測定電極電位
出力をバッファアンプを通して、インピーダンス変換し
た出力を供給する。

これにより、測定時に主ディスチャージ・スイッチにお
ける測定電極側とその他の端子にかかる電位差をなくす
ることができ、見かけ上、ディスチャージ・スイッチ全
体の開放時抵抗を非常に大きくすることができる。この
ため、測定時の漏れ電流が測定用コンデンサに蓄積され
る為に発生するドリフトを非常に小さくすることができ
る。

また、副ディスチャージ・スイッチを測定時にのみ接続
される第１副ディスチャージ・スイッチと非測定時にの
み接続される第２副ディスチャージ・スイッチより構成
し、非測定状態（ディスチャージ状態）から、第１副デ
ィスチャージ・スイッチと第２副ディスチャージ・スイ
ッチがともに接続となる状態を経由して測定状態に切り
替える。

これにより、第１副ディスチャージ・スイッチを接続す
る際に発生する飛び込み電流は、第２副ディスチャージ
・スイッチから逃がすことができ、非測定状態から測定
状態に切り替える際に、測定用コンデンサに蓄積される
不用な電流は第２副ディスチャージ・スイッチを開放す
る際の飛び込み電流のみにすることができる。

また、測定回路ケース内の測定回路を振動吸収部材で保
持することによって、測定時の外部振動による測定回路
配線間の容量変化などによるノイズを防ぐことができる
。

［実施例］以下本発明の静電潜像測定装置を具備した静電記録装置
とその印写プロセス制御手法並びに静電記録装置に搭載
可能な静電潜像測定装置の実施例を第１〜１７図により
、説明する。

まず、第１〜１３図において、静電記録装置に搭載可能
な静電潜像測定装置の一実施例を説明し、第１４．１５
図において、その静電潜像測定装置を搭載した静電記録
装置を説明し、最後に第１６゜１７図を用いて、各印写
プロセスの制御手法を説明する。

第１図は、静電潜像測定装置の各部装置の一実施例を説
明するための図である。静電潜像測定回路ケース２の両
側にレーザ式非接触距離センサ１を有しており、測定回
路先端部３に測定電極（静電潜像測定センサ部）があり
、測定電極近傍に放電開始電圧の高い気体を充満させる
ために、測定電極を取り囲む内ケース４ａと外ケース４
ｂの二重のケースにより構成されるガスチャンバ４が取
り付けられている。

測定回路ケース２とレーザ式非接触距離センサ１と上記
の測定電極を取り囲むガスチャンバ４は、精密パルスス
テージ５上に取り付けられている。

レーザ式センサの出力８は、コンピュータに接続されて
おり、この出力に基づいて、コンピュータが精密パルス
ステージ５を制御し、感光体との距離を一定に保つこと
ができる。

第２図は、測定電極近傍に放電開始電圧の高い気体を充
満させるためのガスチャンバ４の構造の一実施例を説明
するための図である。内ケース４ａには、放電開始電圧
の高いＳＦ６が減圧弁を通して供給される７ａようにな
っており、外ケース４ｂは排気ポンプに接続７ｂされて
いる。これにより、内ケース４ａ内に放電開始電圧の高
いＳＦ６を充満させると共に、外ケース４ｂの外部にＳ
Ｆ６を漏らさずに回収することができる。静電記録装置
内で本潜像測定装置を使用する場合、放電開始電圧の高
いＳＦ６が装置内に漏れると帯電器などの放電を利用し
たプロセスに悪影響を及ぼすために、この様な放電開始
電圧の高い気体の回収手段が必要である。

第３図は、測定ケースｚ内の測定回路の一実施例を説明
するための図である。測定回路は、測定電極３ａを感光
体に近接させることにより電極３ａに誘起される電荷を
測定用コンデンサ１２により電圧に変換し、入力インピ
ーダンスの高い増幅器１３で増幅するのが基本原理であ
る。微小な電荷の測定であるので、外部からの微少な電
流の流入によっても出力電圧は大きく影響を受ける。こ
のため、アンプはバッファアンプ１３ａと増幅率２０倍
のアンプ１３ｂの２段構造となっている。測定電極に誘
起された電圧は、バッファアンプ１３ａ（増幅率１：１
の増幅器）で出力電圧のインピーダンス変換を行い、こ
の電圧を測定電極のガード電極３ｂや測定回路全体を取
り凹むシールドに印加することによって、外部からの電
流流入を極力小さくする構成としている。バッファアン
プ１３ａの出力は、増幅率２０倍のアンプ１３ｂで増幅
され、ノくツファアンプ出力でシールドされた測定回路
ケースの外部に出力される。２段目のアンプ１３ｂの増
幅は、測定回路ケース外に出力信号を出すときに、外部
ノイズの影響を少なくするためで、バッファアンプ１３
ａの出力電圧に応じて適当な増幅率を用いるとよい。

感光体表面の電位をＶ、とし、感光体の静電容量をＣ３
とすると感光体上に存在する電荷量Ｑ、はＱｐ　”Ｖｓ
・Ｃ８となる。感光体に測定電極を非常に近接させると感光体
の表面電位は低くなる。これは、測定電極を非常に近接
させたことにより感光体表面の静電容量が変化する為で
ある。この測定時の静電容量はＣ３□は、測定電極と感
光体間の微／Ｊ１空隙の静電容量をＣ９，測定用コンデ
ンサ１２の静電容量をＣ６とすると次式で表される。

測定電極を感光体に非常に近接させた測定時の感光体表
面電位ｖ３Ｍは次式で表される。

Ｃ，。

この時の検出電極電圧つまりオペアンプ入力電圧Ｖ１Ｎ
は、測定電極と感光体間の微小空隙と測定用コンデンサ
１２の静電容量から次式となる。

測定電極直径を５０μｍであるとすると、測定面積は約
１．９６Ｘ　１０−３ｍｍ２である。

測定する感光体が約２０μｍ厚の有機感光体であるとす
ると感光体の比誘電率が約４であり、測定面積における
２０μｍ厚の有機感光体の静電容量Ｃ３は約３．５Ｘ１
０−ＩＳＦ程度である。また、測定ギャップをＧ（μｍ
）とすると測定電極と感光体間の微小空隙による静電容
量は、Ｃ９−１，７４Ｘ１０−１４／Ｇ（Ｆ）となる。

これらの値を用いて、この測定時の感光体表面電位が１
ｋＶの時、測定ギャップと測定用コンデンサ１２の静電
容量に対するオペアンプ１３ａ入力電圧を計算した結果
を第４図に示す。ノイズ等に対する出力の安定性から考
えると感光体表面電位が１ｋＶで約１００ｍＶ近くの電
圧が必要である。測定ギャップを５０μｍとすると数ｐ
Ｆ以下の測定用コンデンサを用いなくてはならない。測
定用コンデンサと５ｐＦを用いた場合のオペアンプ入力
電圧は、感光体表面電位が１ｋＶで、約６３ｍＶとなる
。

本実施例の回路方式では、測定前に測定用コンデンサに
充電されている電荷を放電するためのディスチャージ・
スイッチ１１を設ける必要がある。

ディスチャージ・スイッチ１１は、測定時に静電容量や
漏れ電流が発生しないようにしなければならない。ディ
スチャージ・スイッチとして通常のアナログスイッチや
リレー等を用いると電源線からの漏れ電流による急速な
ドリフトが観察された。

また、スイッチ部の容量によって測定用の静電容量が大
きくなってしまい十分な電極電圧が得られない。このた
め、ディスチャージ・スイッチは第３図に示すようなフ
ォトカプラによる主ディスチャージ・スイッチｌｌａと
アナログスイッチによる副ディスチャージ・スイッチｌ
ｌｂ、ｃの２段構造とし、測定時はフォトカプラの全端
子にバッファアンプの出力がフィードバックされるよう
に構成している。

第５図（ａ）に、この構成において、非測定状態（ディ
スチャージ状態）から測定状態に切り替えたとき出力変
化を実験用基板上で測定した結果を示す。、モード切り
替え時に、アナログスイッチ１１ｂ、ｃからの飛び込み
電流によるものと予測される０、　５ｍＶ程度の出力の
急激な変化が観察される。このようなモード切り替え時
の電圧上昇があると、２段目のアンプ１３ｂでの増幅の
際に出力がすぐ飽和してしまい、十分な増幅をすること
ができない。

第５図（ｂ）は遅延回路によって、第２副ディスチャー
ジ・スイッチｌｌｃの開放より第１副ディスチャージ・
スイッチｌｌｂの接続のタイミングを遅らせた場合の測
定結果である。図から第２副ディスチャージ・スイッチ
Ｉｌｃの飛び込み電流による電圧上昇は０．０５〜０．
１５ｍＶ、第１副ディスチャージ・スイッチｌｌｂから
の飛び込み電流は０．３５〜０．４ｍＶ程度であること
がわかる。第５図（Ｃ）は、第１副ディスチャージ・ス
イッチｌｌｂの接続より第２副ディスチャージ・スイッ
チｌｌｃの開放のタイミングを遅らせた場合の結果であ
る。このように、第１副ディスチャージ・スイッチＩｌ
ｂの接続より第２副ディスチャージ・スイッチｌｌｃの
開放のタイミングを遅らせることによって、第１副ディ
スチャージ・スイッチｌｌｂからの飛び込み電流の影響
を無くすことができる事がわかる。これは、両スイッチ
が接続された状態で、第１副ディスチャージ・スイッチ
Ｉｌｂより発生した電流はコモン電源に流れるためであ
る。このために、本実施例の回路構成では、副ディスチ
ャージ・スイッチを測定時のみ接続される第１副ディス
チャージ・スイッチ１１ｂと非測定時のみ接続される第
２副ディスチャージ・スイッチｌｌｃに分けた構造とし
、非測定状態から測定状態への切り替えの際、両スイッ
チが共に接続状態を経て切り替わるように遅延回路を設
けである。

第６図は、測定回路先端部の製作法の一実施例を説明す
るための図である。測定電極先端部は、測定時に静電潜
像を乱さ無いためや接触時に感光体表面を傷つけないた
めに、十分な面積のガード電極３ｂを有していることが
望ましい。この様な大きなガード電極３ｂを有する測定
電極先端部３は次のようにして製作することができる。

測定電極先端部３は、まず測定電極先端部母材１５（３
ｂ）に、測定電極直径よりやや大きい直径を有する微細
な穴を加工する。この加工には放電加工機などを用いる
ことができる。次に樹脂などにより表面が絶縁コートさ
れた極細４１！１６（３ａ）を挿入後、エポキシ系樹脂
１７などで接着を行う。挿入した極細線１６（３ａ）を
測定電極表面で切断後、測定電極表面を旋盤またはフラ
イス盤で平面加工を行い、研磨を行うことによって測定
電極表面を平滑にする。これによって１．ガード電極面
積の十分大きい測定電極先端部３を製作することができ
る。

第７図は、測定回路ケース外部の回路構成を説明するた
めの図である。測定回路のコモン電位は感光体の持つ最
大電圧と最／Ｊ）電圧の中間の電位を持つ基準電位電源
１９に接続されており、測定信号は絶縁アンプ２０を通
して、データ記憶手段２１に接続されている。データ記
憶手段２１は、タイミング信号発生手段２３からのタイ
ミング信号２２ｂに合わせて、ある時間間隔のだけの測
定データを記憶するようになっている。

測定回路のコモン電位を感光体の持つ最大電圧と最小電
圧の中間の電位にしているのは、測定電極を感光体に近
接させた場合の、感光体と測定電極間の電界強度を極力
ノノ）さくするためで、これによって、測定電極と感光
体間の放電を防ぐことができる。

コモン電位を与える基準電源１９は、電源リップルの非
常に小さい必要があり、高圧の電池などを用いることが
できる。

前記の放電開始電圧の高いＳＦ、等の気体を用いた放電
防止策と基準電源によるバイアス印加による放電防止策
は、測定電極と感光体の間に発生する電界強度に応じて
、いずれか一方または、いずれも用いなくてもよい場合
がある。

第８図は、測定電極と感光体間の接触位置を検出する手
法の一実施例を説明する図であり、距離センサ出力によ
る精密パルス・ステージの制御プログラムの流れを説明
するための図である。

まず、測定電極と感光体間の設定距離Ｈ３を入力する。

次に、全距離測定手段の平均値として得られる距離デー
タＬ、を取り込み、次に静電潜像測定装置の取り付けら
れている精密パルス・ステージ５を感光体に向かって、
微小距離前進（例えば、精密パルス・ステージ１パルス
相当分）させる。

再び、距離測定手段から距離データＬ２を取り込む。

次にこれらの距離データの差（Ｌ２　　Ｌ＋）を計算し
、この値が、予め決定しておいた値△Ｌより／］）さけ
れば、そのときの距離センサの高力値が測定電極と感光
体の接触高さであるとして、この時の距離データを感光
体位置Ｈｓとして記憶手段に記憶する。距離データの差
（Ｌ２−Ｌ＋）が予め決定しておいた値△Ｌより大きい
場合は１Ｌ２をり、とし、精密パルス・ステージを感光
体に向かって前進させ、前記動作を繰り返す。

測定電極と感光体の接触位置の測定後は、精密パルス・
ステージを後退させる。測定電極と感光体との距離Ｈは
、距離測定手段の距離データＨＬがら、Ｈ＝ＨＬ−Ｈ，
として算出できる。

この操作は、測定電極が感光体と接触した場合、精密パ
ルス・ステージ５にパルスを送っても、ステージが前進
しなくなることを利用している。しかし、Ｎ密パルス・
ステージ５の前進動作により、静電潜像測定装置の各部
や感光体等が変形すると正確な測定が不可能となる。そ
こで、この距離設定の際の精密パルス・ステージ５の駆
動電圧を距離制御時などの通常時より小さくすることに
よって、駆動力を小さくし、測定電極と感光体の接触時
の各部変形を極力小さくする。前記の接触判定のための
値△Ｌは、この微少な変形を考慮して、実験的に決定す
ることができる。

第９図は、測定電極と感光体との接触位置を検出するた
めの他の一実施例を説明するための図でアリ、精密パル
ス・ステージ５の制御プログラムの流れを説明するため
の図である。

静電潜像測定装置の測定電極が感光体と接触した際に歪
が発生するような位置に応力センサまたは歪センサを取
り付ける。このセンサの高力変化を監視しつつ、精密パ
ルス・ステージ５を前進させてゆき、測定電極と感光体
の接触による歪を検出した位置における距離測定手段の
距離データを、感光体位置Ｈｅとして記憶手段に記憶す
る。

測定電極と感光体の接触位置の測定後、精密パルス・ス
テージを後退させる。測定電極と感光体との距離Ｈは、
距離測定手段の距離データＨＬから、Ｈ＝ＨＬ−Ｈ，と
して算出できる。

第１０図は、測定電極と感光体との接触位置を検出する
ための他の一実施例を説明するための図である。

測定回路ケース２は、精密パルス・ステージ５にステー
ジ移動方向へスライド可能な状態で取り付けられている
。（ａ）精密パルス・ステージ５が、後退した位置で測
定回路ケース２と感光体６を接触させる。（ｂ）次に、
予め決定しておいた距離測定手段の距離データ位置Ｈ８
まで、精密パルス・ステージ５を感光体側にゆっくりと
前進させ、測定回路ケース２を感光体６に押し付はスラ
イドさせる。

（Ｃ）その後、精密パルス・ステージ５を後退させるこ
とによって、測定電極と感光体との接触位置は、予め決
定しておいた距離測定手段の出力位置Ｈ０となる。この
とき、測定回路ケースの固定強さは重要であるので、回
路ケースの固定強さは容易に変えられる構造とされてい
る。

第１１図は、測定電極と感光体との距離制御の一実施例
を説明するための図であり、距離制御プログラムの流れ
を示している。

全距離測定測定手段の出力の和または平均値として出力
される距離測定手段の距離データＨ９を読み込み、距離
データＨ１と感光体位置距離データＨ１の差をとる事に
よって、測定電極と感光体との距離Ｈ（＝Ｈ，−Ｈ，）
を算出する。次に、距離Ｈが、距離設定値Ｈ３と等しく
なるように、精密パルス・ステージを前進または後退さ
せる。

第１２図は、測定電極と感光体の接触位置測定と距離制
御を含んだ精密パルス・ステージの制御プログラムの全
体構成の一実施例であり、プログラムの流れを示す図で
ある。

第１３図は、静電記録装置の静電潜像を測定した結果を
示す一実施例である。有機感光体をＬＥＤで露光した結
果であり、露光パターンは、ｒ８ドツト露光−８ドツト
非露光−４ドツト露光−４ドツト非露光−４ドツト露光
−４ドツト非露光−２ドツト露光−２ドツト非露光−２
ドツト露光−２ビット非露光−１ビット露光−１ドツト
非露光−１ドツト露光−１ドツト非露光」の繰り返しパターンである。

第１４図は、静電潜像測定装置を組み込んだ静電記録装
置の制御回路構成の一実施例を説明するための図である
。

測定装置３３は、精密パルスステージ制御部２８と放電
防止気体供給、排気機構部２４と制御部２７、タイミン
グ制御部２６が接続され、測定動作の制御が行われる。

測定回路３３の出力信号は絶縁アンプ２０を通して、測
定データ記憶手段２１に送られ、データ解析手段２５で
解析される。

静電潜像測定装置制御部３０によって、精密パルスステ
ージ制御部２８と放電防止気体供給、排気機構制御部２
７．タイミング制御部２６の制御が行われ、データ解析
手段２５の解析結果出力が、静電潜像測定装置制御部３
０に送られ、制御情報として、静電記録装置のプロセス
制御部３１に送られる。

第１５図は、静電潜像測定装置を組み込んだ静電記録装
置の潜像測定及び装置制御の流れの一実施例を説明する
ための図である。

まず、静電記録装置の感光体ドラム停止させ、測定電極
と感光体間の距離設定が行われ、測定ギャップ制御がな
される。次に、放電開始電圧の高い気体またはコモン電
位を基準電源電圧とすることによる放電防止部を動作さ
せる。静電記録装置を起動し、タイミング制御回路の３
つのタイミング信号より、露光系から診断用露光パター
ンの露光、静電潜像測定手段のモードをディスチャージ
状態から測定状態への切り替え、測定データの保持手段
への記憶が制御される。測定データの保持手段に記憶さ
れたデータはデータ解析手段により、分析されて、露光
量、露光時間、現像バイアス、感光体ヒータなどが制御
される。

潜像状態の解析結果が正常となるまで、測定と制御が繰
り返される。また、各プロセスの制御範囲を越えても正
常な潜像測定結果が得られない場合、感光体寿命を判定
する。

潜像状態が正常になると、感光体ドラムを停止し、放電
防止部の動作を停止し、距離制御を停止し、測定電極を
感光体近傍から待避させ、一連の潜像測定及び装置状惹
設定動作を終了する。

また、距離設定を予めしておけば、印写中の感光体の一
部に測定・制御用の露光場所を設けることによって、静
電記録装置の印写動作を停止させる事なく、印写プロセ
スの制御を行うことも可能である。

上記実施例は、前記した実施例で示した静電潜像測定装
置を用いた場合の静電記録装置についての実施例であり
、静電潜像測定装置の構成や性能によっては、上記プロ
セス及び構成は、簡略化できるものである。

第１６図および第１７図は、静電潜像による露光系およ
び現像系の制御手法の一実施例を説明するための図であ
る。

第１６図は数ドツト毎の露光・非露光の繰り返し３５ａ
と一ドツト毎の露光非露光の繰り返し３５ｂによる感光
体上に形成された静電潜像を本実施例における潜像測定
装置により測定した結果を示している。露光量または露
光時間の変化に対して静電潜像は、図（ａ）　、　（ｂ
）　、　（ｃ）のように変化する。この時、美しい画像
を得るためには、図（ｂ）のように露光位置位置の潜像
の幅３４ｂと非露光位置の潜像幅３４ａを同一にする様
に制御を行えばよい。

また、静電潜像測定手段と表面電位測定手段を併用する
ことによって、溜置各部の絶対電位を知ることもできる
。表面電位測定手段で測定した露光領域及び非露光領域
における電位Ｖ、、、　ｙＲＤは、第１６図の静電潜像
測定手段の十分露光幅の広い潜像部３５ａの高力電圧Ｖ
８．　　Ｖ、の位置に相当する。

潜像の幅が小さい露光パターンにより形成される潜像部
３５ｂにおける、実際の最大電位Ｖ１Ｈと最小電位Ｖ、
ｃは、静電潜像測定手段の出力電圧Ｖ９．Ｖ、、Ｖｏ、
Ｖ、と表面電位測定手段による測定電圧Ｖ。

７．ｖＲＤから次式で求めることができる。

第１７図は、前記手法のよって１ドツトまたは２ドツト
毎の露光・非露光の繰り返しパターン部におけるコント
ラスト電位（最大電位と最外電位の差）を、実際の静電
潜像と表面電位の測定結果から前記手法で計算した結果
を示している。

美しい画像を形成するためには、露光量または露光時間
が、１ドツト毎の露光パターンにおける電位差が最大と
なる（傘）の位置をとなるように制御すればよい。

上記実施例は、静電潜像測定手段が感光体上の静電潜像
を感光体表面電位や電荷量の相対的変化として検出する
物の場合であり、静電潜像測定手段が感光体上の静電潜
像を感光体表面電圧の絶対値変化を検出できる物の場合
は、上記計算による潜像各部の絶対電圧値換算は不用で
あるとともに、測定手段は、静電潜像測定手段（高精細
な表面電位測定手段）のみでよい。

次に、静電潜像による現像バイアスの制御手法の一実施
例を説明する。

プリンタなどの反転現像の場合、現像バイアスが、第１
６図におけるｖ８の電位ｖＲ８の以上であると、細線は
黒くつぶれてしまう。また、現像バイアスが、第１６図
におけるＶ。の電位ｖＲｏ以下の場合、細線は現像され
ない。現像バイアスを、細線の最大電位ｖＲｅと最小電
位ｖＲｏの間の電位に設定することによって、図の静電
潜像は細線まで現像することができ、最大電位ｖＲＢと
最小電位Ｖ、Ｃの中間付近の電位で最も美しく画像を形
成することができる。現像バイアスが、細線の静電潜像
の最大電位と最小電位の中間付近になるように制御する
ことによって、感光体の種類や経時変化に対しても安定
な現像を行うことができる。

ａ−５ｉ感光体などは、湿度や温度によって潜像が像流
れを起こすことが知られている。静電潜像測定手段を用
いることによって、感光体上の静電潜像の状態を知る事
ができるので、感光体のヒータ等の作動停止の制御を行
うこともできる。

また、静電潜像測定手段を用いることによって感光体上
の静電潜像の状態を知る事ができるので、それによって
、感光体の寿命を判定することができる。実際は、露光
系の制御範囲内で、細線の潜像に十分な電位差を与える
ことができない場合や現像バイアスの制御範囲が細線の
最大電位と最小電位の間から外れてしまった場合などに
、感光体寿命と判定すればよい。

ａ−３ｉ悪感光などの湿度や温度によって潜像が像流れ
を起こす感光体の場合は、規定の温度、湿度または、感
光体のヒータを十分な時間動作させた後、上記寿命判定
を行えばよい。

［発明の効果コ本発明による静電記録装置は、以上説明したような構成
と制御手法によって以下に記載されるよう効果を奏する
。

静電潜像測定手段を静電記録装置に用いることによって
、感光体上の潜像状態を測定することができるために、
露光量、露光時間、現像バイアス感光体用ヒータなど潜
像形成に関係のある印写プロセスを最適に制御すること
ができるとともに、感光体の寿命を判定することができ
る。

また、本発明による静電潜像測定装置は、以上説明した
ように構成されているので、以下に記載されるような効
果をそうする。

測定電極と感光体間の距離を一定に保つ手段を有するた
めに、感光体ドラム偏心などを有する実機上での測定が
できる。また、複数の距離センサによって、測定電極部
分の距離制御ができる。

さらに、測定回路のコモン電位を感光体の最大電位と最
小電位の中間電位に設定することによって、測定電極と
感光体との放電を防ぐことができる。また、測定電極と
感光体の間に放電開始電圧の高い気体を充満させる手段
を設けることによって、測定電極と感光体間の放電を防
ぐことができる。

測定回路のディスチャージ・スイッチを上記のような構
成にすることによって、スイッチ切り替え時の飛び込み
電流や測定時の漏れ電流を小さくすることができ、安定
した静電温償測定ができる。

測定回路を振動吸収部材で支持することによって、実機
上における測定時において実機の振動によるノイズの無
い測定を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、静電潜像測定装置の各部装置の一実施例を説
明するための三面図である。第２図は、測定電極近傍に放電開始電圧の高い気体を充
満させるための内ケースと外ケースの構造の一実施例を
説明するための図である。第３図は、測定回路の一実施例を説明するための図であ
る。第４図は、測定時の感光体表面電位が１ｋＶの時、測定
ギャップと測定用コンデンサの静電容量に対するオペア
ンプ入力電圧を計算した結果を示す図である。第５図は、第１副ディスチャージ・スイッチと第２副デ
ィスチャージ・スイッチの切り換えタイミングを、ずら
したときの効果を説明するための図である。第５図（ａ）は、非測定状態（ディスチャージ状机から
測定状態に切り替えたとき出力変化を実験用基板上で測
定した結果を示す。第５図（ｂ）は遅延回路によって、第２副ディスチャー
ジ・スイッチの開放より第１副ディスチャージ・スイッ
チの接続のタイミングを遅らせた場合の測定結果である
。第６図は、測定回路先端部の製作法の一実施例を説明す
るための図である。第７図は、回路ケース外部の構成を説明するための図で
ある。第８図は、測定電極と感光体間の接触位置を検出する手
法の一実施例を説明する為の図であり、距離センサ出力
による精密パルス・ステージの制御プログラムの流れを
説明するための図である。第９図は、測定電極と感光体との接触位置を検出するた
めの他の一実施例を説明するための図であり、精密パル
ス・ステージの制御プログラムの流れを説明するための
図である。第１０図は、測定電極と感光体との接触位置を検出する
ための他の一実施例を説明するための図である。第１１図は、測定電極と感光体との距離制御の一実施例
を説明するための図であり、距離制御プログラムの流れ
を示している。第１２図は、測定電極と感光体の接触位置測定と距離制
御を含んだ精密パルス・ステージの制御プログラムの全
体構成の一実施例であり、プログラムの流れを示す図で
ある。第１３図は、静電記録装置の静電潜像を測定した結果を
示す一実施例である。第１４図は、静電潜像測定装置を組み込んだ静電記録装
置の制御回路構成の一実施例を説明するための図である
潜像測定及び装置制御の流れの一実施例を説明するため
の図である。第１５図は、静電潜像測定装置を組み込んだ静電記録装
置の潜像測定及び装置制御の流れの一実施例を説明する
ための図である。第１６図および第１７図は、静電潜像による露光系およ
び現像系の制御手法の一実施例を説明するための図であ
る。第１６図は数ドツト毎の露光・非露光の繰り返しと一ド
ツト毎の露光非露光の繰り返しによる感光体上に形成さ
れた静電潜像を本実施例における潜像測定装置により測
定した結果を示す図である。第１７図は、１ドツトまたは２ドツト毎の露光・非露光
の繰り返しパターン部におけるコントラスト電位を、計
算した結果を示している。１・・・距離測定手段（レーザ式非接触距離センサ）２
・・・静電潜像測定回路ケース３・・・測定回路先端部（静電潜像測定センサ部）３ａ
・・・測定電極、３ｂ・・・ガード電極４・・・ガスチ
ャンバ４ａ・・・内ケース、４ｂ・・・外ケース５・−°精密
パルスステージ６・−・感光体ドラム７・・・放電防止ガス供給・排気線７ａ・・・ガス供給、７ｂ・・・ガス排気８・・・距離
測定手段出力９・・・測定回路制御及び出力線１０・・・精密パルスステージ制御線１１・・・ディスチャージ・スイッチ１１ａ・・・主ディスチャージ・スイッチ１１ｂ・・・
第１副ディスチャージ・スイッチ１１ｃ・・・第２副デ
ィスチャージ・スイッチ１２・・・測定用コンデンサ１３・・・増幅器１３ａ・・・バッファアンプ１３ｂ・・・増幅率２０倍のアンプ１４・・・コモン・シールド１５・・・測定電極先端部母材（３ｂ）１６・・・表面
が絶縁コートされた極細線１６（３ａ）１７・・・エポ
キシ系樹脂１８・・・測定ケース内の測定回路１９・・・基準電位電源２０・・・絶縁アンプ２１・・・データ記憶手段２２・・・タイミング信号２２ａ・・・測定タイミング２２ｂ・・・記憶タイミング２２ｃ・・・露光タイミング２３・・・タイミング信号発生手段２４・・・放電防止気体供給、排気機構部２５・・・デ
ータ解析手段２６・・・タイミング制御部２７・・・放電防止気体供給、排気制御部２８・・・精
密パルス・ステージ制御部２７．夕２　第２９・・・静
電潜像測定装置制御部の制御信号２９ａ・・・タイミン
グ制御部制御信号２９ｂ・・・放電防止気体制御部制御
信号２９ｃ・・・精密パルス・ステージ制御部制御信号
３０・・・静電潜像測定装置制御部３１・・・静電記録装置のプロセス制御部３１３２・・
・露光制御部３３・・・測定装置部３４ａ・・・非露光部潜傷３４ｂ・・・露光部潜像３５ａ・・・数ドツト毎の露光・非露光の繰り返しによ
り形成された静電潜像３５ｂ・・・一ドット毎の露光・非露光の繰り返しによ
り形成された静電潜像第５図０Ｐアンプ入力電圧（ｍＶ　）第６図ａ）測定電極先端部ｂ）＠部詳細第図第図第図第３図田代ｗ田ヨさｗ日＋ｌＲｗ田

Claims

【特許請求の範囲】１、帯電手段により感光体上を一様に帯電し、露光手段
によって、画像パターンにしたがった露光を行い、感光
体上に静電潜像を形成し、現像手段により可視画像とし
、転写手段により用紙上に可視画像を転写することによ
り画像を形成する静電記録装置において、感光体上の静
電潜像の状態を測定する手段を有し、印写プロセスの少
なくとも一つ以上を制御することを特徴とする静電記録
装置。２、帯電手段により感光体上を一様に帯電し、露光手段
によって、画像パターンにしたがった露光を行い、感光
体上に静電潜像を形成し、現像手段により可視画像とし
、転写手段により用紙上に可視画像を転写することによ
り画像を形成する静電記録装置において、１ライン露光
時に形成される感光体の電荷量変化を測定できる手段を
有し、印写プロセスの少なくとも一つ以上を制御するこ
とを特徴とする静電記録装置。３、測定を行う静電潜像の露光パターンとして一定ドッ
ト毎のＯＮ、ＯＦＦの繰り返しパターンを用いることを
特徴とする特許請求範囲第１、２項記載の静電記録装置
。４、測定を行う静電潜像の露光パターンとして、数ドッ
ト〜数十ドット毎のｏｎ、ｏｆｆを繰り返すパターンＡ
と１ドット毎のｏｎ、ｏｆｆを繰り返すパターンＢを組
合せたものを用いることを特徴とする特許請求範囲第１
、２項記載の静電記録装置。５、静電潜像測定手段が電位変化または電荷量変化を相
対的に検出するものであることを特徴とする特許請求範
囲第１、２項記載の静電気録装置。６、一定ドット毎にＯＮ、ＯＦＦが繰り返される露光に
よって形成された静電潜像の露光部と非露光部の幅が同
一となるように露光部の露光量、露光時間の少なくとも
一方を制御することを特徴とする特許請求範囲第１、２
項記載の静電記録装置。７、低温や多湿よって静電潜像の状態が悪影響を受ける
感光体と感光体ヒータ等の感光体の温度や湿度を調整す
る手段を有している静電記録装置において、潜像の測定
結果が規定の状態となるまで、感光体の温度や湿度を調
整する手段を動作させることを特徴とする特許請求範囲
第１、２項記載の静電記録装置。８、特許請求範囲第４項記載のパターンＡの露光によっ
て感光体上に形成された静電潜像の静電潜像測定手段に
よる測定出力の最大値を最小値の差をＷ、パターンＢの
露光によって感光体上に形成された静電潜像の静電潜像
測定手段による測定出力の最大値と最小値の差をＳとし
たとき、Ｓ／Ｗが予め決定しておいた規定値を越えない
場合、感光体の交換信号を発生することを特徴とする特
許請求範囲第１、２項記載の静電記録装置。９、低温や多湿よって静電潜像の状態が悪影響を受ける
感光体と感光体ヒータ等の感光体の温度や湿度を調整す
る手段を有している静電記録装置において、感光体の温
度や湿度を調整する手段の作動時間、温度、湿度の少な
くとも一つ以上を測定し、その値が規定値の範囲内にあ
るにもかかわらず、特許請求範囲第４項記載のパターン
Ａの露光によって感光体上に形成された静電潜像の静電
潜像測定手段による測定出力の最大値を最小値の差をＷ
、パターンＢの露光によって感光体上に形成された静電
潜像の静電潜像測定手段による測定出力の最大値と最小
値の差をＳとしたとき、Ｓ／Ｗが予め決定しておいた規
定値を越えることがない場合、感光体の交換信号を発生
することを特徴と特許請求範囲第１、２項記載の静電記
録装置。１０、電位変化または電荷量変化を相対的に検出する静
電潜像測定手段と数ドット幅の比較的広い領域の電位の
絶対値を測定する表面電位測定手段を有する事を特徴と
する特許請求範囲１、２項記載の静電記録装置。１１、全面露光時と全面非露光時の感光体表面電位の差
をＶ、特許請求範囲第４項記載のパターンＡの露光によ
り形成された静電潜像の静電潜像測定手段による測定出
力の最大値と最小値の差をＷ、パターンＢの露光により
形成された静電潜像の静電潜像測定手段による測定出力
の最大値と最小値の差をＳとしたとき、Ｖ×Ｓ／Ｗが最
大となるように露光部の露光量、露光時間の少なくとも
一方を制御することを特徴とする特許請求範囲第１０項
記載の感光体の表面電位測定手段と静電潜像測定手段を
有する静電記録装置。１２、低温や多湿よって静電潜像の状態が悪影響を受け
る感光体と感光体ヒータ等の感光体の温度や湿度を調整
する手段を有している静電記録装置において、全面露光
時と全面非露光時の感光体表面電位の差をＶ、特許請求
範囲第４項記載のパターンＡの露光により形成された静
電潜像の静電潜像測定手段による測定出力の最大値と最
小値の差をＷ、パターンＢの露光により形成された静電
潜像の静電潜像測定手段による測定出力の最大値と最小
値の差をＳとしたとき、Ｖ×Ｓ／Ｗが予め決定しておい
た規定値以上となるまで、感光体の温度や湿度を調整す
る手段を動作させることを特徴とする特許請求範囲第１
０項記載の感光体の表面電位測定手段と静電潜像測定手
段を有する静電記録装置。１３、特許請求範囲第１０項記載の感光体の表面電位測
定手段と静電潜像測定手段を有する静電記録装置におい
て、表面電位測定手段によって測定された全面露光時と
全面非露光時の感光体表面電位と、静電潜像測定手段に
よって測定された特許請求範囲第４項記載のパターンＡ
の露光により形成された静電潜像の静電潜像測定手段に
よる測定出力の最大値と最小値、パターンＢの露光によ
り形成された静電潜像の静電潜像測定手段による測定出
力の最大値と最小値をもちいて、１ドット毎の潜像の最
大電位Ｖ＿１＿Ｈと最小電位Ｖ＿１＿Ｌを算出し、現像
バイアスが最大電位Ｖ＿１＿Ｈ以下かつ最小電位Ｖ＿１
＿Ｌ以上となるように制御することを特徴とした静電記
録装置。１４、全面露光時と全面非露光時の感光体表面電位の差
をＶ、特許請求範囲第４項記載のパターンＡの露光によ
り形成された静電潜像の静電潜像測定手段による測定出
力の最大値と最小値の差をＷ、パターンＢの露光により
形成された静電潜像の静電潜像測定手段による測定出力
の最大値と最小値の差をＳとしたとき、Ｖ×Ｓ／Ｗが予
め決定しておいた規定値を越えることがない場合、感光
体の交換信号を発生することを特徴とする特許請求範囲
第１０項記載の感光体の表面電位測定手段と静電潜像測
定手段を有する静電記録装置。１５、低温や多湿よって静電潜像の状態が悪影響を受け
る感光体と感光体ヒータ等の感光体の温度や湿度を調整
する手段を有している静電記録装置において、感光体の
温度や湿度を調整する手段の作動時間、温度、湿度の少
なくとも一つ以上を測定し、その値が規定値の範囲内に
あるにもかかわらず、全面露光時と全面非露光時の感光
体表面電位の差をＶ、特許請求範囲第４項記載のパター
ンＡの露光により形成された静電潜像の静電潜像測定手
段による測定出力の最大値と最小値の差をＷ、パターン
Ｂの露光により形成された静電潜像の静電潜像測定手段
による測定出力の最大値と最小値の差をＳとしたとき、
Ｖ×Ｓ／Ｗが予め決定しておいた規定値を越えることが
ない場合、感光体の交換信号を発生することを特徴とす
る特許請求範囲第１０項記載の静電記録装置。１６、静電潜像測定手段が感光体上の静電潜像を感光体
表面電圧の絶対値変化として検出できる表面電位測定手
段を有する事を特徴とする特許請求範囲１、２項記載の
静電記録装置。１７、一ドット毎にｏｎ、ｏｆｆを繰り返す露光によっ
て形成された静電潜像のコントラスト電位（最大電位部
と最低電位部の電位差）が最大となるように、露光部の
露光量、露光時間の少なくとも一方を制御する事を特徴
とする特許請求範囲第１６項記載の静電記録装置。１８、低温や多湿よって静電潜像の状態が悪影響を受け
る感光体と感光体ヒータ等の感光体の温度や湿度を調整
する手段を有している静電記録装置において、一ドット
毎にｏｎ、ｏｆｆを繰り返す露光によつて形成された静
電潜像のコントラスト電位（最大電位部と最低電位部の
電位差）が予め決定しておいた規定値以上となるまで、
感光体の温度や湿度を調整する手段を動作させることを
特徴とする特許請求範囲第１６項記載の静電記録装置。１９、一ドット毎にｏｎ、ｏｆｆを繰り返す露光によっ
て形成された静電潜像の最大電位Ｖ＿１＿Ｈと最低電位
Ｖ＿１＿Ｌを測定し、現像バイアスが最大電位Ｖ＿１＿
Ｈ以下かつ最小電位Ｖ＿１＿Ｌ以上となるように制御す
ることを特徴とする特許請求範囲第１６項記載の静電記
録装置。２０、一ドット毎にｏｎ、ｏｆｆを繰り返す露光のよっ
て形成された静電潜像のコントラスト電位（最大電位部
と最低電位部の電位差）が、予め決定しておいた規定値
を越えない場合、感光体の交換信号を発生することを特
徴とする特許請求範囲第１６項記載の静電記録装置。２１、低温や多湿よって静電潜像の状態が悪影響を受け
る感光体と感光体ヒータ等の感光体の温度や湿度を調整
する手段を有している静電記録装置において、一ドット
毎にｏｎ、ｏｆｆを繰り返す露光によって形成された静
電潜像のコントラスト電位（最大電位部と最低電位部の
電位差）が、予め決定しておいた規定値を越えない場合
、感光体の交換信号を発生することを特徴とする特許請
求範囲第１６項記載の静電記録装置。２２、静電潜像測定手段と測定データ保持手段とと測定
データの解析手段とタイミング制御手段と印写プロセス
制御手段からなり、タイミング制御手段より発生するタ
イミング信号により露光手段、静電潜像測定手段、測定
データ保持手段を制御し、静電潜像測定し、測定データ
解析手段により測定データを解析した結果に基づいて、
少なくとも一つ以上の印写プロセスを制御することを特
徴とした特許請求範囲第１、２項記載の静電記録装置。２３、静電潜像測定手段を具備した静電記録装置におい
て、静電潜像の非測定時には、感光体の偏心量より大き
く静電潜像測定センサ部を感光体から待避させるととも
に、静電潜像の測定時は静電潜像測定センサ部と感光体
の距離を規定値まで接近させ、感光体偏心に対して静電
潜像測定センサ部と感光体との距離を一定に制御するこ
とを特徴とする特許請求範囲第１、２項記載の静電記録
装置。２４、測定電極を測定対象に近接させ、静電潜像を測定
する装置において、測定電極と測定対象の距離を一定に
保つための距離制御手段を有することを特徴とする静電
潜像測定装置。２５、第２４項記載の距離制御手段が距離測定手段と測
定電極駆動手段より成ることを特徴とする静電潜像測定
装置。２６、距離測定手段を２個以上有するとともに、距離測
定手段が測定電極を中心とする円周上に配置され、かつ
距離測定手段間の間隔が一定となるように配置されてい
ることを特徴とする第２５項記載の静電潜像測定装置。２７、距離測定手段が２個でありかつ測定対象が回転す
るドラムである場合、２個の距離センサを結ぶ軸とドラ
ム軸が並行となるように配置されていることを特徴とす
る第２６項記載の静電潜像測定装置。２８、距離測定手段の出力値の加算値または平均値を算
出し、その加算値または平均値が一定となるように測定
電極駆動手段を制御することによって、測定電極と感光
体間の距離を一定に保つことを特徴とする特許請求範囲
第２項記載の静電潜像測定装置。２９、測定対象の最大電圧と最低電圧の間の電位を有す
る一つ以上の基準電源を有し、測定回路のコモン電位を
基準電源電圧とすることを特徴とする静電潜像測定装置
。３０、測定回路のコモン電位を一つ以上の基準電源電圧
と接地電位の間で切り変える手段を有する事を特徴とす
る特許請求範囲第２９項記載の一つ以上の基準電源を有
する静電潜像測定装置。３１、測定回路のコモン電位を、測定電極と感光体との
距離が予め決定しておいた一定値以下の場合は基準電源
電圧とし、測定電極と感光体との距離が予め決定してお
いた一定値以上の場合は接地電位とすることを特徴とす
る特許請求範囲第２９項記載の一つ以上の基準電位電源
を有する静電潜像測定装置。３２、基準電源として電池を用いることを特徴とする第
２９項記載の一つ以上の基準電源を有する静電潜像測定
装置。３３、測定電極と測定対象の間に気体を充満させる機構
を有することを特徴とする静電潜像測定装置。３４、測定電極が測定対象に面する方向に開口部を有す
るケース１で囲まれているとともに、ケース１が測定対
象に面する方向に開口部を有しかつ、ケース１より大き
い開口面積を有するケース２で囲まれており、ケース１
には気体を供給する手段が接続されているとともに、ケ
ース２には排気手段が接続されていることを特徴とする
第３３項記載の測定電極と測定対象間に気体を充満させ
る機構を有する静電潜像測定装置。３５、測定電極と測定対象の間に充満させる気体として
、ＳＦ＿６（六ふっ化硫黄）を用いることを特徴とする
特許請求範囲第３３項記載の測定電極と測定対象間に気
体を充満させる機構を有する静電潜像測定装置。３６、感光体に近接させるガード電極を有する測定電極
と感光体上の電荷を電圧に変換するための測定用コンデ
ンサと出力信号のインピーダンス変換をするためのバッ
ファアンプと測定前に測定用コンデンサの電荷を除去す
るためのディスチャージ・スイッチからなる直流増幅型
静電潜像測定回路において、ディスチャージ・スイッチ
がコモン電位との接続と遮断を切り変える主ディスチャ
ージ・スイッチ部と、主ディスチャージ・スイッチが遮
断状態でのリーク電流をより少なくするために、測定時
には主ディスチャージ・スイッチ部の測定電極に接続さ
れている端子以外全ての端子にバッファアンプの出力電
位が接続される用に切り変える副ディスチャージ・スイ
ッチ部よりなることを特徴とする静電潜像測定装置。３７、主ディスチャージ・スイッチ部として、駆動端子
をすべて同一電位にしたときｏｐｅｎ状態になるスイッ
チを用いることを特徴とする特許請求範囲第３６項記載
の静電潜像測定装置。３８、副ディスチャージ・スイッチ部が、測定時にのみ
接続される第１副ディスチャージ・スイッチ部と非測定
時にのみ接続される第２副ディスチャージ・スイッチ部
より構成されていることを特徴とする特許請求範囲第３
６項記載の静電潜像測定装置。３９、非測定状態から測定状態に切り変える時に、第１
４項記載の第１副ディスチャージ・スイッチ部の動作タ
イミングが第２副ディスチャージ・スイッチ部の動作タ
イミングより遅らせる手段を有することを特徴とする特
許請求範囲第３８項記載の静電潜像測定装置。４０、測定回路が測定回路ケース内において振動吸収部
材で保持されていることを特徴とする静電潜像測定装置
。