JPS6083963A - 複写機の感光体表面電位測定装置 - Google Patents
複写機の感光体表面電位測定装置Info
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- JPS6083963A JPS6083963A JP58193083A JP19308383A JPS6083963A JP S6083963 A JPS6083963 A JP S6083963A JP 58193083 A JP58193083 A JP 58193083A JP 19308383 A JP19308383 A JP 19308383A JP S6083963 A JPS6083963 A JP S6083963A
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- G03G15/50—Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control
- G03G15/5033—Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control by measuring the photoconductor characteristics, e.g. temperature, or the characteristics of an image on the photoconductor
- G03G15/5037—Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control by measuring the photoconductor characteristics, e.g. temperature, or the characteristics of an image on the photoconductor the characteristics being an electrical parameter, e.g. voltage
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
く技術分野〉
本発明は複写機の感光体表面電位６（１ｊ定装置の改良
に関するものである。
に関するものである。
〈従来技術２
従来より、複写機の感光体の表面電位を測定する方法と
して２．感光体に電極を相対向させて、該電極に誘起す
る電圧により、前記感光体表面の電位を測定する方式が
知られている。
して２．感光体に電極を相対向させて、該電極に誘起す
る電圧により、前記感光体表面の電位を測定する方式が
知られている。
この方式として、従来より使用されている一般的な測定
回路は第１図にある通シである。即ち、同図において、
１が複写機の感光体ドラムであり、その感光体ドラム１
上には電向２が存在し所定の電位を生じている。そして
、前記感光体ドラム１の周辺の一箇所に該感光体ドラム
１の表面と対向する電位検出用電極３が配置される。前
記電位検出用電極３は破線で示した測定回路４に接続さ
れている。
回路は第１図にある通シである。即ち、同図において、
１が複写機の感光体ドラムであり、その感光体ドラム１
上には電向２が存在し所定の電位を生じている。そして
、前記感光体ドラム１の周辺の一箇所に該感光体ドラム
１の表面と対向する電位検出用電極３が配置される。前
記電位検出用電極３は破線で示した測定回路４に接続さ
れている。
それで、感光体ドラム１の表面電位ｖＸは測定回路４内
にあるコンデンサＣ２の電位ＶＩＮと正比例の関係にあ
る。即ち、 （ただし、Ｃ１ａ前記電位検出用電極３とそれに対向す
る感光体ドラム１の表面間に蓄積された電気容量、Ｃ２
：コンデンサＣ２に蓄積された電気容量である。） なお、測定回路４の出力電位Ｖ。ｕｔは前記Ｖ１とＡＭ
Ｐ（増幅器〕のゲインで決まるので、測定回路４の出力
電位Ｖ。ｕｔもｖｘと比例する◎コンデンサＣ２の電位
ＶＩＮはＡ−Ｂ間の全絶縁抵抗をＲ１とすると（ｃｌ
＋ Ｃ２）・Ｒ２の時定数にて電位減衰を起こす。従っ
て、感光体ドラム１０表面電位が一定であったとしても
、コンデンサｃ２の電位ＶＩＮが減衰するため、正確な
感光体ドラム１の表面電位は測定できないわけで、この
ような測定によって得た値は必ず誤差金倉んでいるもの
吉なるのである。
にあるコンデンサＣ２の電位ＶＩＮと正比例の関係にあ
る。即ち、 （ただし、Ｃ１ａ前記電位検出用電極３とそれに対向す
る感光体ドラム１の表面間に蓄積された電気容量、Ｃ２
：コンデンサＣ２に蓄積された電気容量である。） なお、測定回路４の出力電位Ｖ。ｕｔは前記Ｖ１とＡＭ
Ｐ（増幅器〕のゲインで決まるので、測定回路４の出力
電位Ｖ。ｕｔもｖｘと比例する◎コンデンサＣ２の電位
ＶＩＮはＡ−Ｂ間の全絶縁抵抗をＲ１とすると（ｃｌ
＋ Ｃ２）・Ｒ２の時定数にて電位減衰を起こす。従っ
て、感光体ドラム１０表面電位が一定であったとしても
、コンデンサｃ２の電位ＶＩＮが減衰するため、正確な
感光体ドラム１の表面電位は測定できないわけで、この
ような測定によって得た値は必ず誤差金倉んでいるもの
吉なるのである。
このコンデンサｃ２の電位Ｖ１．Ｈの時間に対する変化
曲線を示したのが第２図であり、初期値電圧ｆｒ：（測
定直後の入力電圧）Ｖ＋ とすれば、時間ｔｒ分経過す
ると電圧がＶ２ ＝ ０．９ Ｖ １に減衰することが
わかる。
曲線を示したのが第２図であり、初期値電圧ｆｒ：（測
定直後の入力電圧）Ｖ＋ とすれば、時間ｔｒ分経過す
ると電圧がＶ２ ＝ ０．９ Ｖ １に減衰することが
わかる。
具体的に、Ｒ１をめる。
２
Ｖ２ ＝Ｖｓ ｅ−一一−
ＣＲ＋
（ただし、Ｃ＝Ｃ＋＋Ｃ２である。、）上記（１／式に
実験でめた値を代入してみると、Ｒ１の値は環境条件に
よりｉｏ”〜１０１４（Ω）の値を取った。この値は、
プリント基板や配線からアースへの漏れレベルの値であ
シ、常に１０′４（０９以上に安定させることは困難で
ある（Ｒｘｔ大きくするとｔ２も大きくなり減衰する度
合が小さくなる。）０ 〈発明の目的〉 本発明は上述したところの複写機の感光体表面の電位測
定にお−て減衰特性による測定誤差の原因を除去し、常
時安定した複写機の感光体表面電位の検出を行うことを
目的とするものである。
実験でめた値を代入してみると、Ｒ１の値は環境条件に
よりｉｏ”〜１０１４（Ω）の値を取った。この値は、
プリント基板や配線からアースへの漏れレベルの値であ
シ、常に１０′４（０９以上に安定させることは困難で
ある（Ｒｘｔ大きくするとｔ２も大きくなり減衰する度
合が小さくなる。）０ 〈発明の目的〉 本発明は上述したところの複写機の感光体表面の電位測
定にお−て減衰特性による測定誤差の原因を除去し、常
時安定した複写機の感光体表面電位の検出を行うことを
目的とするものである。
〈実施例〉
以下、本発明の構成を実施例とともに述べる。
第３図に本発明の一実施例に係る複写機の感光体表面電
位測定装置の構造図を掲けた。
位測定装置の構造図を掲けた。
ｒ８Ｊ図において、５が感光体ドラムであシ表面に感光
体（感光層）が形成されている。この感光体ドラム５は
その中心を貫通する支持軸６によって回転する。
体（感光層）が形成されている。この感光体ドラム５は
その中心を貫通する支持軸６によって回転する。
さて、本実施例の測定装置は、前記感光体ドラム５と間
隔を有して前記感光体ドラム５の母線方向に平行に走通
ずる電位検出用電極７と、前記電位検出用電極７の走行
方向に設けられたところの該電位検出用電極７を囲繞す
る中空円筒８とから成る。
隔を有して前記感光体ドラム５の母線方向に平行に走通
ずる電位検出用電極７と、前記電位検出用電極７の走行
方向に設けられたところの該電位検出用電極７を囲繞す
る中空円筒８とから成る。
そして、上記電位検出用電極７は前記感光体ドラム５の
母線方向の間隔で離れて対峠する２つの絶縁体９ａ、９
ｂに係止して該電極線を張架せしめられている０又、そ
の電位検出用電極７の電極線の一方は、前記絶縁体９ｂ
の係止端より端子ａを通過して測定・回路に接続される
。
母線方向の間隔で離れて対峠する２つの絶縁体９ａ、９
ｂに係止して該電極線を張架せしめられている０又、そ
の電位検出用電極７の電極線の一方は、前記絶縁体９ｂ
の係止端より端子ａを通過して測定・回路に接続される
。
又、上記中空円筒１１：その中心軸を枢軸として回転可
能な構造となっている。この中空円筒８は導電材で形成
されておＱ１接地されている。
能な構造となっている。この中空円筒８は導電材で形成
されておＱ１接地されている。
この中空円筒８１−１：外周周囲が一部分走行方向に連
続して切り欠かれて開口を形成しておりつまりＣカット
されており（開口部を１０で示している。す完全に前記
電位検出用電極７を包囲するものでけない。即ち、前記
開口部ｌＯが、該中空円筒８の回転によって、前記感光
体ドラム５と前記電位検出用電極７の間隙部若しくはそ
れ以外の扁分に移動するようになっている。
続して切り欠かれて開口を形成しておりつまりＣカット
されており（開口部を１０で示している。す完全に前記
電位検出用電極７を包囲するものでけない。即ち、前記
開口部ｌＯが、該中空円筒８の回転によって、前記感光
体ドラム５と前記電位検出用電極７の間隙部若しくはそ
れ以外の扁分に移動するようになっている。
（−′ｒ）開口部１０が感光体ドラム５と電位検出用電
極７の間隙部にあって、該電位検出用電極７が遮蔽（シ
ールド）されていない場合 この状態を第４図にて示した。この場合、感光体ドラム
５上の電荷１１によって前記電位検出用電極７に誘起電
位が発生する。
極７の間隙部にあって、該電位検出用電極７が遮蔽（シ
ールド）されていない場合 この状態を第４図にて示した。この場合、感光体ドラム
５上の電荷１１によって前記電位検出用電極７に誘起電
位が発生する。
←）開口部１０が感光体ドラム５と電位検出用電極７の
間隙部になく、該電位検出用電極７が遮蔽（シールド〕
されている場合 この状態を第５図に示した。この場合、前記電位検出用
電極７の周囲の電界は零になり、図示の如く、該電位検
出用電極７と測定回Ｗ６１２とを結ぶ回路の中途（Ａ−
Ｂ間）ヲリレー１３にて短絡すると前記（イ）における
電位検出用電極７に誘起された電荷は接地し消える。
間隙部になく、該電位検出用電極７が遮蔽（シールド〕
されている場合 この状態を第５図に示した。この場合、前記電位検出用
電極７の周囲の電界は零になり、図示の如く、該電位検
出用電極７と測定回Ｗ６１２とを結ぶ回路の中途（Ａ−
Ｂ間）ヲリレー１３にて短絡すると前記（イ）における
電位検出用電極７に誘起された電荷は接地し消える。
）−首うわげで一木実施（＋１１にあっては前訃１中ゆ
円筒８を回転させて上記（イ）、（ロ）を繰り返すとと
拠よシ感光体ドラム５の表面電位全測定するのである。
円筒８を回転させて上記（イ）、（ロ）を繰り返すとと
拠よシ感光体ドラム５の表面電位全測定するのである。
最初、測定開始前においては、（ロ）の状態にし、その
際はリレー１３は閉じておく。そして測定を開始する時
は、まず前記中空円筒８の回転を始めて、該中空円筒８
の開口部１０が前記感光体ドラム５と対向し合う直前に
前記リレー１３を開く。
際はリレー１３は閉じておく。そして測定を開始する時
は、まず前記中空円筒８の回転を始めて、該中空円筒８
の開口部１０が前記感光体ドラム５と対向し合う直前に
前記リレー１３を開く。
続いて、（インの状態となると測定準備が完了し、回転
する感光体ドラム５の表面電位の測定が実行される。こ
の測定値を基準にして、帯電量・露光量・現像バイアス
を制御し、ｉｉ！ｉｌ質の安定を図る。
する感光体ドラム５の表面電位の測定が実行される。こ
の測定値を基準にして、帯電量・露光量・現像バイアス
を制御し、ｉｉ！ｉｌ質の安定を図る。
こうして、１回測定が終了すると、再び前記中空円筒８
を回転させ、（ロ）の状態にしてリレー１３を閉じ、再
度測定を開始するまで待機する。以下、同様の操作が反
覆される。この中空円筒８の回転はタイミング回路にて
適宜制御される。
を回転させ、（ロ）の状態にしてリレー１３を閉じ、再
度測定を開始するまで待機する。以下、同様の操作が反
覆される。この中空円筒８の回転はタイミング回路にて
適宜制御される。
このような方法であると、１回の測定り間を数秒以内に
おさめることができ、減衰特性による電圧の減衰量（誤
差）は１％以内に押えることが達成できる。さらに、毎
回測定終了ごとにイニシャライズされるため、誤差の累
積がなく、正確な測定が行え得る。
おさめることができ、減衰特性による電圧の減衰量（誤
差）は１％以内に押えることが達成できる。さらに、毎
回測定終了ごとにイニシャライズされるため、誤差の累
積がなく、正確な測定が行え得る。
なお、上記リレー１３は他の接点、例えば第６図にある
様な半導体スイッチング素子１３’に代替できる。
様な半導体スイッチング素子１３’に代替できる。
引き続き、本発明の他の実施例を掲げる。
本実施例の複写機の感光体表面電位測定装置は、第７図
にある通シ、感光体ドラム５に相対向する電位検出用電
極７と、前記電位検出用電極７を収納するところの断面
コの字状の電極ケース１４及び前記電極ケース１４の開
孔部全開閉する移動可能な可動板１５とから成る。なお
、前記電極ケース１４並びに可動板工５は導電材で形成
され共に接地されている。
にある通シ、感光体ドラム５に相対向する電位検出用電
極７と、前記電位検出用電極７を収納するところの断面
コの字状の電極ケース１４及び前記電極ケース１４の開
孔部全開閉する移動可能な可動板１５とから成る。なお
、前記電極ケース１４並びに可動板工５は導電材で形成
され共に接地されている。
上記可動板１５が上記電極クー２１４の開孔部を閉じて
いる場合即ち電位検出用電極７が遮蔽（シールド）され
ている場合に、第７図の場合であるが、前記電位検出用
電極７の電界を零にして測定スタンバイ状態として、測
定時に第８図の通り、前記可動板１５を移動（スライド
）させて前記電極クー２１４の開孔部を関数させて前記
電位検出用電極７が遮蔽（シールド）されてない状態に
して所定の電位測定を実行する。この可動板１５のスラ
イドはタイミング回路にて適宜制御される。
いる場合即ち電位検出用電極７が遮蔽（シールド）され
ている場合に、第７図の場合であるが、前記電位検出用
電極７の電界を零にして測定スタンバイ状態として、測
定時に第８図の通り、前記可動板１５を移動（スライド
）させて前記電極クー２１４の開孔部を関数させて前記
電位検出用電極７が遮蔽（シールド）されてない状態に
して所定の電位測定を実行する。この可動板１５のスラ
イドはタイミング回路にて適宜制御される。
本発明は上記２実施例に限定されるわけではなく、複写
機の感光体ドラムと対向する電位検出用電極の周囲に接
地された導電祠を配設して該電位検出用電極を電気的に
遮蔽（シールド）する手段を形成し、その遮蔽（シール
ド）の解除された状態において前記電位検出用電極に発
生した前記感光体ドラム表面の電位に比例する誘起電位
を測定し、遮蔽（シールド〕状態においては前記電位検
出用電極の電位を短絡によって零にするようなスイッチ
ング制御を行う構成のものは本発明の技術的範囲に入る
と言えよう。
機の感光体ドラムと対向する電位検出用電極の周囲に接
地された導電祠を配設して該電位検出用電極を電気的に
遮蔽（シールド）する手段を形成し、その遮蔽（シール
ド）の解除された状態において前記電位検出用電極に発
生した前記感光体ドラム表面の電位に比例する誘起電位
を測定し、遮蔽（シールド〕状態においては前記電位検
出用電極の電位を短絡によって零にするようなスイッチ
ング制御を行う構成のものは本発明の技術的範囲に入る
と言えよう。
く効 果〉
以上の様に本発明の複写機の感光体表面電位測定装置に
よれは、電圧測定値の経時変化による誤差を１回測定分
当たり数秒単位の経時変化量にとであることができるの
で、感光体表面の電位測定の精度を数１０倍上昇させる
ことができる。
よれは、電圧測定値の経時変化による誤差を１回測定分
当たり数秒単位の経時変化量にとであることができるの
で、感光体表面の電位測定の精度を数１０倍上昇させる
ことができる。
第１図は従来の複写機の感光体表面電位測定装置の構成
図、第２図は複写機の感光体表面電位測定装置による測
定電位の時間変化曲線を示す図、第３図は本発明の一実
施例に係る複写機の感光体表面電位測定装置の描造図、
第４図は前記水先すイの一実施例に係る複写機の感光体
表面電位測定装置の電位を測定している状態側断面図、
第５図は前記本発明の一実施例に係る複写機の感光体表
面電位測定装置の電位を測定しない状態の側断面図、第
６図は前記本発明の一実施例に係る複写機の感光体表面
電位測定装置のスイッチング素子図、第７図は本発明の
他の実施例に係る複写機の感光体表面電位測定装置の電
圧を測定しない状態の側断面図、第８図は前記本発明の
他の実施例に係る複写機の感光体表面電位測定装置の電
圧を測定している状態の側断面図である。 ５ 感光体ドラム、６・・支持軸、７・・電位検出用電
極、８・・・中空円筒、９ａ、９ｂ・・・絶縁体、１０
・開口部、１１・・・電荷、１２・・・測定回路、１
３・リレー、１３′・・半導体スイッチング素子、１４
・・・電極ケース、１５・・・可動板。 代理人 弁理士 福 士 愛 彦（他２名）１１１１１ ＪＩＪ’ｌｌｉ 第９日 箋１１同
図、第２図は複写機の感光体表面電位測定装置による測
定電位の時間変化曲線を示す図、第３図は本発明の一実
施例に係る複写機の感光体表面電位測定装置の描造図、
第４図は前記水先すイの一実施例に係る複写機の感光体
表面電位測定装置の電位を測定している状態側断面図、
第５図は前記本発明の一実施例に係る複写機の感光体表
面電位測定装置の電位を測定しない状態の側断面図、第
６図は前記本発明の一実施例に係る複写機の感光体表面
電位測定装置のスイッチング素子図、第７図は本発明の
他の実施例に係る複写機の感光体表面電位測定装置の電
圧を測定しない状態の側断面図、第８図は前記本発明の
他の実施例に係る複写機の感光体表面電位測定装置の電
圧を測定している状態の側断面図である。 ５ 感光体ドラム、６・・支持軸、７・・電位検出用電
極、８・・・中空円筒、９ａ、９ｂ・・・絶縁体、１０
・開口部、１１・・・電荷、１２・・・測定回路、１
３・リレー、１３′・・半導体スイッチング素子、１４
・・・電極ケース、１５・・・可動板。 代理人 弁理士 福 士 愛 彦（他２名）１１１１１ ＪＩＪ’ｌｌｉ 第９日 箋１１同
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、複写機の感光体に対向する電位検出用電極と、前記
電位検出用電極を遮蔽（シールド）する手段と を有し、 遮蔽（シールド）を解除した状態において前記電位検出
用電極に発生した前記感光体表面の電位に比例する誘起
電位を測定するようにしたことを特徴とする複写機の感
光体表面電位測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58193083A JPS6083963A (ja) | 1983-10-14 | 1983-10-14 | 複写機の感光体表面電位測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58193083A JPS6083963A (ja) | 1983-10-14 | 1983-10-14 | 複写機の感光体表面電位測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6083963A true JPS6083963A (ja) | 1985-05-13 |
Family
ID=16301937
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58193083A Pending JPS6083963A (ja) | 1983-10-14 | 1983-10-14 | 複写機の感光体表面電位測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6083963A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0267342U (ja) * | 1988-11-08 | 1990-05-22 | ||
| JPH03296073A (ja) * | 1990-04-16 | 1991-12-26 | Hitachi Ltd | 静電記録装置及び静電潜像測定装置 |
-
1983
- 1983-10-14 JP JP58193083A patent/JPS6083963A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0267342U (ja) * | 1988-11-08 | 1990-05-22 | ||
| JPH03296073A (ja) * | 1990-04-16 | 1991-12-26 | Hitachi Ltd | 静電記録装置及び静電潜像測定装置 |
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