JPH03289658A - ポジ画像の形成方法 - Google Patents

ポジ画像の形成方法

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JPH03289658A
JPH03289658A JP2091832A JP9183290A JPH03289658A JP H03289658 A JPH03289658 A JP H03289658A JP 2091832 A JP2091832 A JP 2091832A JP 9183290 A JP9183290 A JP 9183290A JP H03289658 A JPH03289658 A JP H03289658A
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Toshiaki Aoso
利明 青合
Tadayoshi Kokubo
小久保 忠嘉
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    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/039Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明はアルカリ可溶性樹脂、酸により分解しアルカリ
可溶性になる化合物、及び活性光線又は放射線の照射に
より酸を発生する、特定の酸発生剤からデ;る紫外線、
遠紫外線、X線、電子線、分子線、T線、シンクロトロ
ン放射線等の輻射線に感応する感光性樹脂組成物に関す
るものである。
就中フォトレジストに関するものであり、特に高い解像
力と感度、更に良好な保存安定性をそなえた微細加工用
フォトレジスト組成物に関するものである。本発明によ
るフォトレジストは半導体ウェハー、またはガラス、セ
ラミックス、金属等の基板上にスピン塗布法またはロー
ラー塗布法で0.5〜3μmの厚みに塗布される。その
後、加熱、乾燥し、露光マスクを解して回路パターン等
を紫外線照射などにより焼き付け、現像してポジ面像が
得られる。更にこのポジ画像をマスクとしてエツチング
する事により基板にパターン状の加工を施す事ができる
。代表的な応用分野にはICなどの半導体製造工程、液
晶、サーマルヘッドなどの回路基板の製造、更にその他
のフオトフアプリケーション工程などがある。
〈従来技術〉 ポジ型フォトレジスト組成物としては、一般にアルカリ
可溶性樹脂と感光物としてのナフトキノンジアジド化合
物とを含む組成物が用いられている。例えば、「ノボラ
ック型フェノール樹脂/ナフトキノンジアジド置換化合
物」として米国特許第3666473号、米国特許第4
115128号及び米国特許第4173470号等に、
また最も典型的な組成物として「タレゾール−ホルムア
ルデヒドより戊るノボラック樹脂/トリヒドロキシベン
ゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジドスルホン酸
エステル」の例がトンプソン「イントロダクション・ト
ウー・マイクロリングラフィJ  (L、 F、 Th
ompson rlntroduction t。
Microlithography J )  (A 
CS出版、No、219号、p112〜121)に記載
されている。
結合剤としてのノボラック樹脂は、膨潤することなくア
ルカリ水溶液に溶解可能であり、また生成した画像をエ
ツチングのマスクとして使用する際に特にプラズマエツ
チングに対して高い耐性を与えるが故に本用途に特に有
用である。また、感光物に用いるナフトキノンジアジド
化合物は、それ自身ノボラック樹脂のアルカリ溶解性を
低下せしめる溶解阻止剤として作用するが、光照射を受
けて分解するとアルカリ可溶性物質を生じてむしろノボ
ラック樹脂のアルカリ溶解度を高める働きをする点で特
異であり、この光に対する大きな性質変化の故にポジ型
フォトレジストの感光物として特に有用である。
これまで、かかる観点からノボラック樹脂とナフトキノ
ンジアジド系感光物を含有する数多くのポジ型フォトレ
ジストが開発、実用化され、1.5μm〜2μm程度ま
での線幅加工に於ては充分な成果をおさめてきた。
しかし、集積回路はその集積度を益々高めており、超L
SIなどの半導体基板の製造に於ては1μm以下の線幅
から成る超微細パターンの加工が必要とされる様になっ
てきている。かかる用途に於ては、特に高い解像力、露
光マスクの形状を正確に写しとる高いパターン形状再現
精度及び高生産性の観点からの高感度を有し更に保存安
定性に優れたフォトレジストが要求されている。
高い解像度を達成するためにキノンジアジド感光基の含
量を高める試みがなされている。例えば特開昭60−1
58440号には高トリエステル含量の感光物を用いる
方法が記載されている。また特開昭61−118744
号には感光物1分子中に含まれるキノンジアジド感光基
の個数を高める試みもなされている。
しかしこれらの感光物は通常用いられる溶剤に不溶性で
あったり、また溶解した場合においてもフォトレジスト
組成物の保存中に、析出物が生威しフォトフアプリケー
ション工程やデバイス製造工程において故障の原因とな
り、得率が悪化する問題があった。このような感光物の
析出を防止するために特開昭61−260239号には
溶解性パラメータ11〜12の有機溶剤を添加する方法
が記載されている。しかしジメチルスルホキシド等の溶
剤を使用しているためにレジスト組成物の保存安定性が
悪く、感度や解像力が経過日数に従って大きく変化する
欠点を有している。
また高い解像度を達成する為に、使用する光源の短波長
化が考えられている。即ち、従来のg線(436nm)
 、i線(365nm)からDeep −U V光(2
0C1〜300nm) 、KrFxキシマーレーザー(
248nm)の使用が検討されているが、良好な形状の
レジストパターンを形成する上で上記波長に対応する為
には、この波長領域での吸収が小さく、且つ露光の際、
露光波長におけるブリーチ性が大きいことが必要となる
。しかし、従来のナフトキノンジアジド感光物の場合、
Deep −U V領域での吸収が大きく、ブリーチ性
も小さい為、光源の短波長化の要望に対応し得ないのが
実状であった。
更にこれらのキノンジアジド化合物は、活性光線の照射
により分解を起こして5員環のカルボン酸を生じ、アル
カリ可溶性となる性質が利用されるものであるが、いず
れも感光性が不十分であるという欠点を有する。これは
、キノンジアジド化合物の場合、本質的に量子収率が1
を越えないということに由来するものである。
キノンジアジド化合物を含む感光性組成物の感光性を高
める方法については、今までいろいろと試みられてきた
が、現像時の現像許容性を保持したまま感光性を高める
ことは非常に困難であった。
一方、キノンジアジド化合物を用いずにポジチブに作用
させる感光性組成物に関して、いくつかの提案がされて
いる。その1つとして、例えば特公昭56−2696号
に記載されているオルトニトロカルビノールエステル基
を有するポリマー化合物が挙げられる。しかし、この場
合も、キノンジアジドの場合と同じ理由で感光性が十分
とは言えない。また、これとは別に接触作用により活性
化される感光系を使用し、感光性を高める方法として、
光分解で生成する酸によって第2の反応を生起させ、そ
れにより露光域を可溶化する公知の原理が適用されてい
る。
このような例として、例えば光分解により酸を発生する
化合物と、アセタール又は○、N−アセタール化合物と
の組合せ(特開昭48−89003号)、オルトエステ
ル又はアミドアセタール化合物との組号せ(特開昭51
−120714号)、主鎖にアセタール又はケタール基
を有するポリマーとの組合せ(特開昭53−13342
9号)、エノールエーテル化合物との組合せ(特開昭5
5−12995号)、N−アシルイミノ炭酸化合物と(
7Ja合せ(#開昭55−126236号)、主鎖にオ
ルトエステル基を有するポリマーとの組合せ(特開昭5
6−17345号)、シリルエステル化合物との組合せ
(特開昭60−10247号)及びシリルエーテル化合
物との組合せ(特開昭60−37549号、特開昭6O
−121446i号)などを挙げることができる。これ
らは原理的に量子収率が1を越える為、高い感光性を示
す。
同様に室温下経時では安定であるが、酸存在下加熱する
ことにより分解し、アルカリ可溶化する系として、例え
ば、特開昭59−45439号、同60−3.625号
、同62−229242号、同63−36240号、P
olym、Eng、Sci、 、  23巻、1012
頁(1983)、AC3,Sym、 242巻、11頁
(1934) 、Sem1conductor Wor
ld l 987年、11月号、91頁、Macrom
olecules、  21巻、1475頁(1988
)、SPI巳、920巻、42頁(1988)、などに
記載されている露光により酸を発生する化合物と、第3
級又は2級炭素(例えばt−ブチル、2−シクロヘキセ
ニルなど)のエステル又は炭酸エステル化合物との組合
せ系が挙げられる。これらの系も、高感度を有し、且つ
ナフトキノンジアジド/ノボラック樹脂系と比べて、D
eep −U V領域での吸収が小さいことから、前記
の光源短波長化に有効な系となり得るが、方で併用する
酸発生剤が光ブリーチしt:い為、良好な形状のレジス
トパターンを得るには十分ではなかった。特定の酸発生
剤としてジスルホン化合物の使用については、特開昭6
1−166544号並びに西独特許第3804533号
に、シリルエーテル化合物との組合せ系が記載されてい
るが、前者においては、Deep−UV領域での吸収が
大きく、後者では露光部のアルカリ現像性、及び未露光
部の現像液に対する溶解阻止性が十分ではないという問
題点があった。
〈発明が解決しようとする課題〉 本発明は、上記問題点を解決し、特に半導体デバイスの
製造において、高感度で且つ高い解像力を有するフォト
レジスト組成物を提供することを目的とする。
更に詳しくはDeep −U V領域での吸収が小さく
、更にこの領域での光ブリーチ性が大きい、短波長光源
に対応し得るフォトレジスト組成物を提供することを目
的とする。
く課題を解決するための手段〉 本発明者等は、上記緒特性に留意し、鋭意検討した結果
、本発明を完成させる至った。
即ち、本発明は、 (a)酸により分解し得る基を少なくとも1個有し、ア
ルカリ現像液中での溶解度が酸の作用により増大する化
合物  10〜95wt%、Q))下記一般式で示され
るジスルホン化合物0.01〜20wt%、及び (c)水不溶でアルカリ水に可溶な樹脂3〜g5wt% からなる組成物において、該組成物の1μmの皮膜の光
学濃度が248nmで1.4以下であり、且つ248n
ffl光照射により248nmの光学濃度が未照射時の
値よりも低下することを特徴とするポジ型感光性組成物
を提供するものである。
R’−3○2S○2  R2(I) 式中R’ 、R”は同一でも相異していてもよく、置換
又は未置換のアルキル、アルケニノペ又はアリール基を
示す。
以下、本発明の感光性組成物の各成分について説明する
成分(a)(酸により分解し得る化合物)本発明の成分
(a)は、酸により分解し得る基を少なくとも1個有し
、アルカリ現像液中での溶解度が酸の作用により増大す
る化合物である。
本発明の好ましい実施態様においては、酸により分解し
得る本発明の成分(a)は下記一般式(It)〜(VI
)の構造単位を有するポリマーである。
3 3 (II) (I) 3 一十−CH,−C−−汁一 OD −B (VT) 式中R3は水素原子又はアルキル基を示し、好ましくは
R3は水素原子又は炭素数1〜4個のアルキル基であり
、更に好ましくは水素原子又はメチル基である。
R’     R’      R’ Bは−C−R5−5i−R5又は−C−0−R9基を示
6R6R6 し、AはB又は−CO−B基を示す。
Yは単結合又は二価の芳香族基を示し、好ましくは単結
合、又は、炭素数6〜15個のアリーレン基であり、具
体的にはフェニレン、ナフチレン基などが挙げられる。
R4、R5、R6、R7及びR8は、それぞれ同一でも
相異していてもよく、水素原子、アルキル、シクロアル
キノヘアルケニノペ又はアリール基を示し、アルキル基
としては直鎖、分枝または環状のものであり、好ましく
は炭素原子数が1〜8個のものである。具体的には、例
えばメチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ヘキ
シル基、オクチル基、イソプロピル基、イソブチル基、
2−エチルヘキシル基などが含まれる。また、上記のよ
うなアルキル基に例えば塩素原子のようなハロゲン原子
、例えばメトキシ基のような炭素原子数1〜6個のアル
コキシ基、例えばフェニル基のようなアリール基、例え
ばフェノキシ基のようなアリールオキシ基などの置換し
たものが含まれ、具体的にはモノクロロメチル基、ジク
ロロメチル基、トリクロロメチル基、ブロモメチルL 
2−クロロエチル基、2−ブロモエチル基、2−メトキ
シエチル基、2−エトキシエチル基、フェニルメチル基
、フェノキシメチル基などが挙げられる。
シクロアルキル基としては、好ましくは炭素原子数が3
〜8個のものであり、具体的には、シアノフェニル基、
シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基
、シクロヘプチル基、シクロオクチル基、シクロペンテ
ニル基、シクロヘキセニル基などが挙げられる。
アルケニル基は例えばビニル基であり、置換アルケニル
基は、ビニル基に例えばメチル基のようなアルキル基、
例えばフェニル基のようなアリール基などの置換したも
のが含まれ、具体的には1−メチルビニル基、2−メチ
ルビニル基、1.2−ジメチルビニル基、2−フェニル
ビニル基、2−(p−メチルフェニル)ビニル基、2−
(p−メトキシフェニル)ビニル基、2−(p−クロロ
フェニル)ビニルL2−(○−クロロフェニル)ビニル
基などが挙げられる。
また、アリール基は単環あるいは2環のものが好ましく
、例えばフェニル基、α−ナフチル基、β−ナフチル基
などが挙げられる。更に上記のようなアリール基に、例
えばメチル基、エチル基などの炭素原子数1〜6個のア
ルキル基、例えばメトキシ基、エトキシ基などの炭素原
子数l〜6個のアルコキシ基、例えば塩素原子などのハ
ロゲン原子、ニトロ基、フェニル基、シアノ基などが置
換したものが含まれ、具体的には4〜クロロフエニル基
、2−クロロフェニル基、4−ブロモフェニル基、4−
ニトロフェニル基、4−フェニルフェニル基、4−メチ
ルフェニル基、2−メチルフェニルL 4−エチルフェ
ニル基、4−メトキシフェニル基、2−メトキシフェニ
ル基、4−エトキシフェニル基、4−シアノフェニル基
、4−メチル−1−ナフチル基、4−クロロ−1−ナフ
チル基、5−ニトロ−1−ナフチル基、6−クロロ−2
−ナフチル基、4−ブロモ−2−ナフチル基などが挙げ
られる。
R9はアルキル、又はアリール基を示し、好ましくは、
炭素原子数1〜20個のアルキル、又は炭素原子数6〜
15個のアリール基を示す。更に好ましくは、炭素原子
数1〜8個のアルキル、又は炭素原子数6〜10個のア
リール基を示す。またこれらの基に、ハロゲン原子、ア
ルコキシ、ニトロ、シアノ基などの置換したものも含ま
れる。
但し、R4−R8のうち、少なくとも2つは水素原子以
外の基であり、またR4−R6、及びR7−R9のうち
の2つの基が結合して環を形成してもよい。
本発明に用いられる酸により分解し得る基を少なくとも
1個有する化合物としては、具体的には、特開昭59−
45439号記載のポリ (P−t−ブチルカルボニル
オキシスチレン)に代表されるポリマー、特開昭62−
229242号、並びにSPIε、631巻、68頁(
1986年)記載のポリ CN−(t−ブトキシカルボ
ニル)マレイミド−Co−スチレン〕に代表されるポリ
マー、特開昭63−36240号、並びにAC3sym
p、、 346巻、200頁(1987年)記載のポリ
 CN−(P−t−ブトキシカルボニルオキシフェニル
)マレイミド−Co−スチレン〕に代表されるポリマー
SPIε、771巻、24頁(1987年)記載のポリ
 (t−ブチル P−ビニルベンゾニー))1.JIl
:表されるポリマー、Macromolecules、
  21巻、14755頁(1988年)記載のポリ 
(t−ブチル メタクリレート)、ポリ (2−シクロ
ヘキセニルメタクリレート)、ポリ (2−シクロプロ
ピル−プロピルメタクリレート)、ポリ (2−フェニ
ル−プロピルメタクリレート〉に代表されるポリマー、
特開昭60−52845号、並びに5PIE、 926
巻、162頁(1988年)記載のポリ (P−トリメ
チルシロキシスチレン)に代表されるポリマー、特開昭
63−250642号記載のポリ (P−t−ブトキシ
スチレン)に代表されるポリマー、Polymer B
ull、、 20巻、427頁(1988年)記載のポ
リ (P−2−シクロヘキセニルオキシスチレン)に代
表されるポリマーAC3Polym、 Mater、 
Sci、Tech、、 61.417(1989年)記
載のポリ (P−2−ピラニルオキシスチレン)に代表
されるポリマー、特開昭62−40450号記載のポリ
 (シリルメタクリレート)に代表されるポリマーなど
が挙げられる。
またこの他、AC3Symp、、  242巻、11頁
(1984年)記載のポリフタルアルデヒドや、特開昭
62−136638号、J、 Imaging Sci
、 。
30巻、59頁(1986年)、並びにMakromo
l。
Chem、 、 Rapid Commun、  7巻
、121頁(1986年)記載のポリカーボネートも使
用することができる。
これらのポリマーの好ましい分子量は、重量平均で50
0以上、更に好ましくは1.000〜500.000で
ある。
また、本発明の感光性組成物における成分(a)の含有
量は、固型分で10〜95wt%、好ましくは20〜9
Qwt%、更に好ましくは25〜75wt%である。
成分Q))(ジスルホン化合物) 本発明に使用される成分(b)は一般式(■)で表わさ
れるジスルホン化合物である。この一般式(I)におい
て、アルキル基としては直鎖、分枝または環状のもので
あり、好ましくは炭素原子数が約1ないし約10のもの
である。具体的には、例えばメチル基、エチル基、プロ
ピル基、ブチル基、ヘキシル基、オクチル基、デシル基
、イソプロピル基、イソブチル基、tert−ブチル基
、2エチルヘキシル基、シクロヘキシル基などが含まれ
る。また、置換アルキル基は、上記のようなアルキル基
に例えば塩素原子のようt:ハロゲン原子、例えばメト
キシ基のような炭素原子数1〜6個のアルコキシ基、例
えばフェニル基のようなアリール基、例えばフェノキシ
基のようなアリールオキシ基などの置換したものが含ま
れ、具体的にはモノクロロメチル基、ジクロロメチル基
、トリクロロメチル基、ブロモメチル基、2−クロロエ
チル基、2′−ブロモエチル基、2−メトキシエチル基
、2−エトキシエチル基、フェニルメチル基、ナフチル
メチル基、フェノキシメチル基などが挙げられる。
アルケニル基は例えばビニル基であり、置換アルケニル
基は、ビニル基に例えばメチル基のようなアルキル基、
例えばフェニル基のようなアリール基などの置換したも
のが含まれ、具体的には1−メチルビニル基、2−メチ
ルビニル基、1.2−ジメチルビニルL 2−フェニル
ビニル基、2− (p−メチルフェニル)ビニル基、2
−(p−メトキシフェニル)ビニル基、2−(p−クロ
ロフェニル)ビニル基、2−(○−クロロフェニル)ビ
ニル基などが挙げられる。
また、アリール基は単環あるいは2環のものが好ましく
、例えばフェニル基、α−ナフチル基、β−ナフチル基
などが挙げられる。置換アリール基は上記のようなアリ
ール基に、例えばメチル基、エチル基などの炭素原子数
1〜6個のアルキル基、例えばメトキシ基、エトキシ基
などの炭素原子数1〜6個のアルコキシ基、例えば塩素
原子などのハロケン原子、ニトロ基、フェニル基、カル
ボキシ基、ヒドロキシ基、アミド基、イミド基、シアノ
基などが置換したものが含まれ、具体的には4−タロロ
フエニル基、2−10ロフエニルL 4−ブロモフェニ
ル基、4−ニトロフェニル基、4−ヒドロキシフェニル
基、4−フェニルフェニルL 4−メチルフェニル基、
2−メチルフェニルL 4−エチルフェニル基、4−メ
トキシフェニル基、2−メトキシフェニル基、4−エト
キシフェニルL2.−カルホキジフェニル基、4−シア
ノフェニル基、4−メチル−1−ナフチル基、4−クロ
ロ−1−ナフチル基、5−ニトロ−1−ナフチル基、5
−ヒドロキシ−1−ナフチル基、6−クロロ−2−ナフ
チル基、4−ブロモ−2−ナフチル基、5−ヒドロキシ
−2−ナフチル基などがあげられる。
本発明で用いられる一般式(I)で表わされるジスルホ
ン化合物は、ジー、シー、デンサージュニア、ら著「ジ
ャーナル オブ オルガニックケミストリーj  (G
、C,Denser、  Jr  ら著、rJourn
al of Organic ChemistryJ 
) 313418′3419 (1966)記載の方法
、チー、ビーヒルドイッチ著「ジャーナル オブ ザ 
ケミカル ソサイアテイJ  (T、P、Hildit
ch著rJournalof  the  Chemi
cal 5ociety J ) 93.1524′1
527  (1908)記載の方法、あるいはオーヒン
ズベルク著「ペリヒテ デア ドイチェンへミシエ ゲ
ゼルシャフトJ  (0,flinsberg著、rB
erichtc der Deutschen Che
mischenGesellschaft J ) 4
9.2593〜2594 (1916)記載の方法等に
したがい合成できる。すなわち、硫酸水溶液中において
、硫酸コバルトを用い、一般式(■)で示されるスルフ
ィン酸より台底する方法、キサントゲン酸エチルを用い
、一般式(■)で示されるスルホン酸クロリドより台底
する方法、あるいは塩基性条件下、一般式(■)で示さ
れるスルフィン酸と一般式(■)で示されるスルホン酸
クロリドとを反応させ合成する方法等があげられる。
R’−3○2H(■) R2−8O2CI          (■)(ここで
、R1およびR2は一般式(1)で定義されたR’ お
よびR2と同一の意味である。)以下に本発明に使用さ
れる一般式(I)で示される具体的な化合物を例示する
(I−1) (I−3) (I 4) (r−5> (■ 2) (■ 6) (I−7) (I−8) (I−9) (I −10) NO□ (I −14) (I −15) (I−16) (I −11) (1−12) (I−13) (I −17) (I−18) (■ 19) CH。
(I−20) (I −21) (I −22) (1−27) (I 28) (I −29) (I−23) (I−24) (I−25) (I−26) (I−30) (r 31) (I −32> (I−33) 0 (I −34) 本発明の感光性組成物における、一般式(I)のジスル
ホン化合物の含有量は固型分で0.01〜2(1wt%
、好ましくは0.5〜15wt%、更に好ましくは1〜
lQwt%である。
親分(c)(アルカリ可溶性樹脂) 本発明のポジ型感光性組成物に使用されるアルカリ可溶
性樹脂は、好ましくはフェノール性水酸基、カルボン酸
基、スルホン酸基、イミド基、スルホンアミド基、N−
スルホニルアミド基、N−スルホニルウレタン基、活性
メチレン基等のpKa11以下の酸性水素原子を有する
ポリマーである。
好適なアルカリ可溶性ポリマーとしては、ノボラック型
フェノール樹脂、具体的にはフェノールホルムアルデヒ
ド樹脂、○−クレゾールーホルムアルr’r= ド樹脂
、m−タレゾール−ホルムアルデヒド樹脂、p−クレゾ
ール−ホルムアルデヒド樹脂、キシレノール−ホルムア
ルデヒド樹脂、またこれらの共縮合物などがある。更に
特開昭50−125806号公報に記されている様に上
記のようなフェノール樹脂と共に、t−ブチルフェノー
ルホルムアルデヒド樹脂のような炭素数3〜8のアルキ
ル基で置換されたフェノールまたはクレゾールとホルム
アルデヒドとの縮合物とを併用してもよい。またN−(
4−ヒドロキシフェニル)メタクリルアミドのようなフ
ェノール性ヒドロキシ基含有モノマーを共重合成分とす
るポリマー、p−ヒドロキシスチレン、○−ヒドロキシ
スチレン、m−イソブロペニルフェノーノペp−インプ
ロペニルフェノール等の単独又は共重合のポリマー更に
またこれらのポリマーを部分エーテル化、部分エステル
化したポリマーも使用できる。
更に、アクリル酸、メタクリル酸等のカルボキシル基含
有モノマーを共重合成分とするポリマー特開昭61−2
67042号公報記載のカルボキシル基含有ポリビニル
アセタール樹脂、特開昭63−124047号公報記載
のカルボキシル基含有ポリウレタン樹脂も好適に使用さ
れる。
更にまた、N−(4−スルファモイルフェニル)メタク
リルアミド、N−フェニルスルホニルメタ・クリルアミ
ド、マレイミドを共重合部分とするポリマー、特開昭6
3−127237号公報記載の活性メチレン基含有上ツ
マ−も使用できる。
これらのアルカリ可溶性ポリマーは単一で使用できるが
、数種の混合物として使用してもよい。
本発明の感光性組成物における成分(c)の含有量は、
感光性組成物全固形分に対し、3〜85vt%、好まし
くは5〜75wt%、更に好ましくは10〜65wt%
の範囲である。
(a)、(b)、及び(c)の化合物からなる本発明の
感光性組成物は、上記(a)、(b)、及び(c)の含
有量の範囲で使用されるが、該組成物の1μmの皮膜の
光学濃度が、248nmで1.4にI下、好ましくは1
.3以下、更に好ましくは1,0以下になるように組み
合わされ、且つ248nm光照射により248nmの光
学濃度が未照射時の値よりも低下することを特徴として
いる。
(その他の好ましい成分) 本発明のポジ型感光性組成物には必要に応じで、更に染
料、顔料、可塑剤及び光分解効率を増大させる化合物(
所謂増感剤)などを含有させることができる。
このようI:増感剤としては、ベンゾイン、ベンゾイン
メチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、9−フル
オレノン、2−40ロー9−7 ルオレノン、2−メチ
ル−9−フルオレノン、9−アントロン、2−ブロモ−
9−アントロン、2−エチル−9−アントロン、9.1
0−アントラキノン、2−エチル−9,10−アントラ
キノン、2−t−ブチル−9,10−アントラキノン、
2゜6−ジクロロ−9,10−アントラキノン、キサン
トン、2−メチルキサントン、2−メトキシキサントン
、チオキサントン、ベンジル、ジベンザルアセトン、p
−(ジメチルアミノ〉フェニルスチリルケトン、p−(
ジメチルアミノ)フェニルp−メチルスチリルケトン、
ベンゾフェノン、p−(ジメチルアミノ)ベンゾフェノ
ン(またはミヒラーケトン)、p−(ジエチルアミノ)
ベンゾフェノン、ベンズアントロンなどをあげることが
できる。これらの化合物のうち、ミヒラーケトンを用い
た場合が特に好ましい。
さらに、本発明における好ましい増感剤としては、特公
昭51−48516号公報中に記載されている下記一般
式(IX)で表わされる化合物があげられる。
D    C=CH−C−R11(IX)゛・N−’ 
    O 10 式中、R10はアルキル基(例えば、メチル基、エチル
基、プロピル基など)、または置換アルキル基(例えば
、2−ヒドロキシエチル基、2−メトキシエチル基、カ
ルボキシメチル基、2−カルボキシエチル基など)を表
わす。
R”はアルキル基(例えば、メチル基、エチル基など)
、またはアリール基(例えば、フェニル基、p−ヒドロ
キシフェニル基、ナフチル基、チエニル基など)を表わ
す。
Dは通常シアニン色素で用いられる窒素を含む複s通核
を形成するのに必要な非金属原子群、例えば、ベンゾチ
アゾール類(ベンゾチアゾール、5−クロロベンゾチア
ゾール、6−クロロベンゾチアゾールなど)、ナフトチ
アゾール類(α−ナフトチアゾール、β−ナフトチアゾ
ールなど)、ベンゾセレナゾール類(ベンゾセレナシー
ツへ5−クロロベンゾチアゾーノペ 6−メドキシベン
ゾセレナゾールなど)、ナフトセレナゾール類(α−ナ
フトセレナゾール、β−ナフトセレナゾールなど)、ベ
ンゾオキサゾール類(ベンゾオキサゾール、5−メチル
ベンゾオキサゾール、5−フェニルベンゾオキサゾール
など)、ナフトオキサゾール類(α−ナフトオキサゾー
ル、β−ナフトオキサゾールなど)を表わす。
一般式(IX)で表わされる化合物の具体例としては、
これ;D、R”およびRI +を組合せた化学構造を有
するものであり、多くのものが公知物質として存在する
。従って、これら公知のものから適宜選択して使用する
ことができる。
更に、本発明における好ましい増感剤としては、米国特
許第4,062,686号記載の増感剤、例えば、2−
〔ビス(2−フロイル)メチレンツー3−メチルベンゾ
チアゾリン、2−〔ビス(2−チエノイル)メチレンツ
ー3−メチルベンゾチアゾリン、2−[ビスく2−フロ
イル)メチレンツー3−メチルナフトC1,2−d)チ
アゾリンなどが挙げられる。
また、着色剤として染料を用いることができるが、好適
な染料としては油溶性染料及び塩基性染料がある。具体
的には、オイルイエロー#101、オイルイエロー#1
30、オイルピンク#312、オイルグリーンBG、オ
イルブルーBO3、オイルブルー#603、オイルブラ
ックBY、オイルブラックBS、オイルブラックT−5
05(以上、オリエント化学工業株式会社!iりクリス
タルバイオレット(cr42555)、メチルバイオレ
ット (cI42585)、ローダミンB (cI45
170B) 、マラカイトグリーン(c142000)
、メチレンブルー(cI52015)?;どをあげるこ
とができる。
本発明の組成物中には、更に感度を高めるために環状酸
無水物、露光後直ちに可視像を得るための焼出し剤、そ
の他のフィラーt;どを加えることができる。環状酸無
水物としては米国特許第4.115,128号明細書に
記載されているように無水フタル酸、テトラヒドロ無水
フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、3,6−ニンド
オキシΔ4−テトラヒドロ無水フタル酸、テトラクロル
無水フタル酸、無水マレイン酸、クロル無水マレイン酸
、α−フェニル無水マレイン酸、無水コハク酸、ピロメ
リット酸等がある。これらの環状酸無水物を全組成物中
の固形分に対して1から15重量%含有させることによ
って感度を最大3倍程度に高めることができる。露光後
直ちに可視像を得るための焼出し剤としては露光によっ
て酸を放出する感光性化合物と塩を形威し得る有機染料
の組合せを代表として挙げることができる。具体的には
特開昭50−36209号公報、特開昭53−8128
号公報に記載されている0−ナフトキノンジアジド−4
−スルホン酸ハロゲニドと塩形成有機染料の組合せや特
開昭53−36223号公報、特開昭54−74728
号公報に記載されているトリハロメチル化合物と塩形成
性有機染料の組合せを挙げることができる。
(溶 媒〉 本発明のポジ型感光性組成物を、半導体等のレジスト材
料用として使用する場合は、溶媒に溶解したままで使用
する。ここで使用する溶媒としては、エチレンジクロラ
イド、シクロヘキサノン、メチルエチルケトン、メタノ
ーノペエタノール、プロパツール、エチレングリコール
モノメチルエーテル、1−メトキシ−2−プロパツール
、エチレングリコールモノエチルエーテル、2−メトキ
シエチルアセテート、2−エトキシエチルアセテート、
1−メトキシ−2−プロピルアセテート、ジメトキシエ
タン、乳酸メチル、乳酸エチル、N。
N−ジメチルアセトアミド、N、N−ジメチルホルムア
ミド、テトラメチルウレア、N−メチルピロリドン、ジ
メチルスルホキシド、スルホラン、γ−ブチロラクトン
、トルエン、酢酸エチルなどがあり、これらの溶媒を単
独あるいは混合して使用する。そして上記成分中の濃度
(添加物を含む全固形分)は、2〜50重量%である。
(活性光線又は放射線) 本発明の感光性組成物の露光に用いられる活性光線の光
源としては例えば、水銀灯、メタル)zライドランプ、
キセノンランプ、ケミカルランプ、カーボンアーク灯な
どがある。放射線としては電子線、X線、イオンビーム
、遠紫外線などがある。
好ましくはフォトレジスト用の光源として、g線、i線
、Deep −UV光が使用される。また高密度エネル
ギービーム(レーザービーム又は電子線)による走査又
はパルス露光も本発明の感光性組成物の露光に使用する
ことができる。このようなレーザービームとしてはヘリ
ウム・ネオンレーザ−、アルゴンレーザー、クリプトン
イオンレーザ−ヘリウム・カドミウムレーザー KrF
エキシマレーザヒなどが挙げられる。
(現像液) 本発明のポジ型感光性組成物に対する現像液としては、
珪酸ナトリウム、珪酸カリウム、水酸化ナトリウム、水
酸化カリウム、水酸化リチウム、第三リン酸ナトリウム
、第ニリン酸ナトリウム、第三リン酸アンモニウム、第
ニリン酸アンモニウム、メタ珪酸ナトリウム、重炭酸ナ
トリウム、アンモニア水などのような無機アルカリ剤及
びテトラアルキルアンモモウム○H塩などのような有機
アルカリ剤の水溶液が適当であり、それらの濃度が0.
1〜10重量%、好ましくは0.5〜5重量%になるよ
うに添加される。
また、該アルカリ性水溶液には、必要に応じ界面活性剤
やアルコールなどのような有機溶媒を加えることもでき
る。
〈発明の効果〉 本発明のポジ型感光性組成物は、高感度を有し、Dee
p −U V領域の短波長光源に対する適性があり、解
像力に優れている。
〈実施例〉 以下、本発明を実施例により更に詳細に説明するが、本
発明の内容がこれにより限定されるものではない。
実施例1 分子量が3380でメタ/パラ(m/p)仕込比が50
150であるメタ−パラクレゾールノボラック樹脂2g
とニー14で示される構造を有するジスルホン化合物0
,2gを6.0gのジメチルアセトアミド(以後D M
Acと略記する)に溶解したのち、0.4μmのポアサ
イズをもつメンブランフィルタ−で濾過し、感光性組成
物を得た。この組成物の光学濃度を測定したところ、2
48nlTIの波長において未露光時は約1.2μm−
’程度であるが、露光後は約0.9μrrr’lこ低下
していた。前記感光性組成物をヘキサメチルジシラザン
処理を施した3インチベアシリコン上に塗布し、100
℃に保持したホットプレート上で90秒間プリベークを
行ない、約8000人の膜厚を有する塗膜を形成した。
露光には低圧水銀灯を光源とし254nmの波長の遠紫
外光を透過するバンドパスフィルターを取り付けたキャ
ノン製PLA501Fコンタクトアライナを用いた。コ
ンタクトモードで露光後、濃度が約l、43%のテトラ
メチルアンモニウムハイドロオキサイド水溶液(以後T
MAHと省略する)で60秒間パドル現像を行なった。
この結果、残膜率が95%のポジ画像が得られた。
Eta感度はおよそ50mj/cI]lであり、解像力
は0、75 μm L/Sであった。
実施例2 分子量が3400のm/p仕込比が50150であるメ
タ−パラクレゾールノボラック樹脂と分子置駒8000
の H なるアルカリ可溶性樹脂とを、60:40の割合で混合
し、(それぞれ、↓、2g及び0.8g)、I−7で示
される構造を有するジスルホン化合物を0.2g(樹脂
に対し10%)添加した。溶剤には、7.9gのD M
Acを用いた。完全に溶解したのち実施例1と同様に0
.4μmのメンブランフィルタ−で濾過して感光性組成
物を得た。この組成物の光学濃度は、248nmの波長
においては、未露光特約1.0μrn−1、露光後0.
8μm−’に低下した。
実施例1と同様にしてシリコンウェハー上に約8000
人の塗膜を形成した。露光後、濃度が1.19%のTM
AH水溶液を現像液として45秒のパドル現像を行なっ
た。この結果残膜率が約90%のポジ画像が得られた。
解像力は0.75 μm L/Sで、Eta感度は約3
0mj/cn?であった。
実施例3 分子量が約6000のm/p=60/40の仕込比のメ
タ−バラクレゾールノボラック樹脂1.4gと次に示す
ような構造を有するシリルエーテルポリマー1.4g及
びl−16で示される構造を有するジスルホン化合物 H3 0、12gを7.5gのD MAcに溶解し、0.4μ
mのメンブランフィルタ−で濾過して感光性組成物を得
た。この組成物の光学濃度は248nmで未露光特約0
.79μm−’露光時0.73μm−’に減少した。
実施例1と同様にして、シリコンウェハー上に塗膜形成
を行ない、8000人の膜を得た。実施例1で述べた露
光装置を使い露光後は、1.19%のTMAH水溶液を
現像液として45秒のパドル現像を行なった。この結果
残膜率が90%のポジ画像を得た。0.7μmL/Sを
解像した。Eta感度は20m」/cdであった。
実施例4 実施例3で用いたジスルホン化合物■−16のかわりに
■−13で示される構造を有するジスルホン化合物を使
い、添加量を0.3 gとして、感光性組成物を得た。
248nmでの光学濃度を測定したところ、未露光時、
約1.0μm’であったが、露光により0.85μm7
’に減力した。
画像形成能を、実施例1と同様の操作で1.19%のT
MAH水溶液を現像液として評価した。
0、8 μm L/Sを解像しEta感度は65mj/
Crlであった。
実施例5〜10 次の式で示される構造を有するシリルエーテルポリマー
を、表−1に示すような C)+3 組成で、m/pノボラック樹脂及びジスルホン化合物と
混合し感光性組成物を調製した。実施例1に示すような
手順で塗布、露光、現像を行ない画像形成能を調べた。
その結果下表に記すような結果が得られた。いずれの場
合も、マスクの最小寸法0.7μmを解像した。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)(a)酸により分解し得る基を少なくとも1個有
    し、アルカリ現像液中での溶解度が酸の作 用により増大する化合物10〜95wt%、(b)下記
    一般式( I )で示されるジスルホン化合物0.01〜
    20wt%、及び (c)水不溶でアルカリ水に可溶な樹脂 3〜85wt% からなる組成物において、該組成物の1μmの皮膜の光
    学濃度が248nmで1.4以下であり、且つ248n
    m光照射により248nmの光学濃度が未照射時の値よ
    りも低下することを特徴とするポジ型感光性組成物。 R^1−SO_2−SO_2−R^2( I )式中R^
    1、R^2は同一でも相異していてもよく、置換又は未
    置換のアルキル、アルケニル、又はアリール基を示す。
  2. (2)上記(a)の化合物が下記(II)〜(VI)の構造
    単位を有するポリマーであることを特徴とする請求項(
    1)のポジ型感光性組成物。 ▲数式、化学式、表等があります▼(II)▲数式、化学
    式、表等があります▼(III) ▲数式、化学式、表等があります▼(IV)▲数式、化学
    式、表等があります▼(V) ▲数式、化学式、表等があります▼(VI) 式中R^3は水素原子又はアルキル基を示し、Bは▲数
    式、化学式、表等があります▼、▲数式、化学式、表等
    があります▼又は▲数式、化学式、表等があります▼基
    を示 す。AはB又は▲数式、化学式、表等があります▼基を
    示し、Yは単結 合又は二価の芳香族基を示す。R^4、R^5、R^6
    、R^7及びR^8は、それぞれ同一でも相異していて
    もよく、水素原子、アルキル、シクロアルキル、アルケ
    ニル、又はアリール基を示し、R^9はアルキル、又は
    アリール基を示す。但し、R^4〜R^6のうち、少な
    くとも2つは水素原子以外の基であり、またR^4〜R
    ^6、及びR^7〜R^9のうちの2つの基が結合して
    環を形成してもよい。
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US07/680,733 US5110709A (en) 1990-04-06 1991-04-05 Light-sensitive positive working composition containing a pisolfone compound
DE4111060A DE4111060B4 (de) 1990-04-06 1991-04-05 Positiv arbeitende lichtempfindliche Zusammensetzung

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04149445A (ja) * 1990-10-12 1992-05-22 Mitsubishi Electric Corp ポジ型感光性組成物
JPH06266106A (ja) * 1992-12-31 1994-09-22 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 放射線感受性レジスト組成物及びその使用
JPH075687A (ja) * 1993-06-18 1995-01-10 Mitsui Toatsu Chem Inc 液状エッチングレジスト及びエッチングレジスト被膜を形成した銅張り積層板
JPH07140666A (ja) * 1993-06-04 1995-06-02 Internatl Business Mach Corp <Ibm> マイクロリトグラフィックレジスト組成物、酸不安定化合物、マイクロリトグラフィックレリーフ画像形成方法及び酸感知性ポリマー組成物
JP2011184434A (ja) * 2010-02-10 2011-09-22 Sumitomo Chemical Co Ltd 塩、酸発生剤、レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法

Families Citing this family (61)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3826363A1 (de) * 1988-08-03 1990-02-08 Merck Patent Gmbh Saeurehaertbare bindemittelsysteme mit 1,2-disulfonen
DE69029104T2 (de) * 1989-07-12 1997-03-20 Fuji Photo Film Co Ltd Polysiloxane und positiv arbeitende Resistmasse
JPH0480758A (ja) * 1990-07-23 1992-03-13 Fuji Photo Film Co Ltd 感光性組成物
US5403695A (en) * 1991-04-30 1995-04-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Resist for forming patterns comprising an acid generating compound and a polymer having acid decomposable groups
JP3030672B2 (ja) * 1991-06-18 2000-04-10 和光純薬工業株式会社 新規なレジスト材料及びパタ−ン形成方法
DE4121199A1 (de) * 1991-06-27 1993-01-07 Basf Ag Positiv arbeitendes strahlungsempfindliches gemisch und verfahren zur herstellung von reliefmustern
US5348838A (en) * 1991-07-31 1994-09-20 Kabushiki Kaisha Toshiba Photosensitive composition comprising alkali soluble binder and photoacid generator having sulfonyl group
JP2764771B2 (ja) * 1991-10-01 1998-06-11 富士写真フイルム株式会社 感光性組成物
US5576143A (en) * 1991-12-03 1996-11-19 Fuji Photo Film Co., Ltd. Light-sensitive composition
DE4202845A1 (de) * 1992-01-31 1993-08-05 Basf Ag Strahlungsempfindliches gemisch
DE4225830A1 (de) * 1992-08-05 1994-02-10 Hoechst Ag Positiv arbeitendes strahlungsempfindliches Gemisch und damit hergestelltes Aufzeichnungsmaterial
EP0588544A3 (en) * 1992-09-14 1994-09-28 Wako Pure Chem Ind Ltd Fine pattern forming material and pattern formation process
DE4306152A1 (de) * 1993-02-27 1994-09-01 Hoechst Ag Positiv arbeitendes strahlungsempfindliches Gemisch und damit hergestelltes Aufzeichnungsmaterial
JP3290234B2 (ja) * 1993-03-26 2002-06-10 富士写真フイルム株式会社 ポジ型感光性組成物
US5865471A (en) 1993-08-05 1999-02-02 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Photo-erasable data processing forms
US5645964A (en) 1993-08-05 1997-07-08 Kimberly-Clark Corporation Digital information recording media and method of using same
US5700850A (en) 1993-08-05 1997-12-23 Kimberly-Clark Worldwide Colorant compositions and colorant stabilizers
US5681380A (en) 1995-06-05 1997-10-28 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Ink for ink jet printers
US6017471A (en) 1993-08-05 2000-01-25 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Colorants and colorant modifiers
US6211383B1 (en) 1993-08-05 2001-04-03 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Nohr-McDonald elimination reaction
CA2120838A1 (en) 1993-08-05 1995-02-06 Ronald Sinclair Nohr Solid colored composition mutable by ultraviolet radiation
US5733693A (en) 1993-08-05 1998-03-31 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Method for improving the readability of data processing forms
US6017661A (en) 1994-11-09 2000-01-25 Kimberly-Clark Corporation Temporary marking using photoerasable colorants
US5721287A (en) 1993-08-05 1998-02-24 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Method of mutating a colorant by irradiation
US5643356A (en) 1993-08-05 1997-07-01 Kimberly-Clark Corporation Ink for ink jet printers
US5773182A (en) 1993-08-05 1998-06-30 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Method of light stabilizing a colorant
US6071979A (en) 1994-06-30 2000-06-06 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Photoreactor composition method of generating a reactive species and applications therefor
US5739175A (en) 1995-06-05 1998-04-14 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Photoreactor composition containing an arylketoalkene wavelength-specific sensitizer
US6242057B1 (en) 1994-06-30 2001-06-05 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Photoreactor composition and applications therefor
US5685754A (en) 1994-06-30 1997-11-11 Kimberly-Clark Corporation Method of generating a reactive species and polymer coating applications therefor
US5558971A (en) * 1994-09-02 1996-09-24 Wako Pure Chemical Industries, Ltd. Resist material
JP3060153B2 (ja) * 1994-09-30 2000-07-10 信越化学工業株式会社 部分tert−ブトキシ化ポリ(p−ヒドロキシスチレン)の製造方法
US6008268A (en) 1994-10-21 1999-12-28 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Photoreactor composition, method of generating a reactive species, and applications therefor
US5786132A (en) 1995-06-05 1998-07-28 Kimberly-Clark Corporation Pre-dyes, mutable dye compositions, and methods of developing a color
US5798015A (en) 1995-06-05 1998-08-25 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Method of laminating a structure with adhesive containing a photoreactor composition
US5849411A (en) 1995-06-05 1998-12-15 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Polymer film, nonwoven web and fibers containing a photoreactor composition
US5811199A (en) 1995-06-05 1998-09-22 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Adhesive compositions containing a photoreactor composition
US5747550A (en) 1995-06-05 1998-05-05 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Method of generating a reactive species and polymerizing an unsaturated polymerizable material
DE69609967T2 (de) 1995-06-05 2001-04-12 Kimberly Clark Co Farbstoffvorläufer und diese enthaltende zusammensetzungen
CA2221565A1 (en) 1995-06-28 1997-01-16 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Novel colorants and colorant modifiers
US5855655A (en) 1996-03-29 1999-01-05 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Colorant stabilizers
EP0854896B1 (en) 1995-11-28 2002-04-03 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Light-stabilized dyestuff compositions
US5782963A (en) 1996-03-29 1998-07-21 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Colorant stabilizers
US6099628A (en) 1996-03-29 2000-08-08 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Colorant stabilizers
US5891229A (en) 1996-03-29 1999-04-06 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Colorant stabilizers
US5945248A (en) * 1996-07-24 1999-08-31 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Chemical-sensitization positive-working photoresist composition
US5746903A (en) * 1996-07-26 1998-05-05 Fujitsu Limited Wet chemical processing techniques for plating high aspect ratio features
EP0887707B1 (en) * 1997-06-24 2003-09-03 Fuji Photo Film Co., Ltd. Positive photoresist composition
US6524379B2 (en) 1997-08-15 2003-02-25 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Colorants, colorant stabilizers, ink compositions, and improved methods of making the same
EP1452312A1 (en) * 1997-10-17 2004-09-01 Fuji Photo Film Co., Ltd. A positive type photosensitive image-forming material for an infrared laser and a positive type photosensitive composition for an infrared laser
BR9906513A (pt) 1998-06-03 2001-10-30 Kimberly Clark Co Fotoiniciadores novos e aplicações para osmesmos
JP2002517540A (ja) 1998-06-03 2002-06-18 キンバリー クラーク ワールドワイド インコーポレイテッド インク及びインクジェット印刷用のネオナノプラスト及びマイクロエマルション技術
US6228157B1 (en) 1998-07-20 2001-05-08 Ronald S. Nohr Ink jet ink compositions
DE69930948T2 (de) 1998-09-28 2006-09-07 Kimberly-Clark Worldwide, Inc., Neenah Chelate mit chinoiden gruppen als photoinitiatoren
DE60002294T2 (de) 1999-01-19 2003-10-30 Kimberly Clark Co Farbstoffe, farbstoffstabilisatoren, tintenzusammensetzungen und verfahren zu deren herstellung
US6331056B1 (en) 1999-02-25 2001-12-18 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Printing apparatus and applications therefor
US6294698B1 (en) 1999-04-16 2001-09-25 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Photoinitiators and applications therefor
US6368395B1 (en) 1999-05-24 2002-04-09 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Subphthalocyanine colorants, ink compositions, and method of making the same
MXPA02012011A (es) 2000-06-19 2003-04-22 Kimberly Clark Co Fotoiniciaodres novedosos y aplicaciones para los mismos.
US7022455B2 (en) * 2001-12-28 2006-04-04 Shipley Company, L.L.C. Photoacid-labile polymers and photoresists comprising same
US9182669B2 (en) 2013-12-19 2015-11-10 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Copolymer with acid-labile group, photoresist composition, coated substrate, and method of forming an electronic device

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5883844A (ja) * 1981-11-13 1983-05-19 Fuji Photo Film Co Ltd 感光性組成物
JPS5945439A (ja) * 1982-08-23 1984-03-14 インタ−ナシヨナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−シヨン レジスト組成物
JPS6052845A (ja) * 1983-09-02 1985-03-26 Japan Synthetic Rubber Co Ltd パタ−ン形成材料
JPS61166544A (ja) * 1985-01-18 1986-07-28 Fuji Photo Film Co Ltd 光可溶化組成物
JPS6240450A (ja) * 1985-08-19 1987-02-21 Fuji Photo Film Co Ltd 光可溶化組成物
JPS62229242A (ja) * 1986-02-24 1987-10-08 ヘキスト・セラニーズ・コーポレーション イミド含有ポリマ−の高解像力ホトレジスト
JPS6336240A (ja) * 1986-07-28 1988-02-16 インターナシヨナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーシヨン レジスト構造の作成方法
JPS63250642A (ja) * 1987-03-30 1988-10-18 マイクロサイ,インコーポレイテッド ホトレジスト組成物
JPH0271270A (ja) * 1988-02-13 1990-03-09 Ciba Geigy Ag ポジティブフォトレジスト組成物

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4330671A (en) * 1979-09-18 1982-05-18 Rca Corporation Positive resist for electron beam and x-ray lithography and method of using same
US4931329A (en) * 1983-09-28 1990-06-05 Sun Robert J Enclosure forming adaptors and related apparatus
EP0164083B1 (de) * 1984-06-07 1991-05-02 Hoechst Aktiengesellschaft Positiv arbeitende strahlungsempfindliche Beschichtungslösung
DE3528929A1 (de) * 1985-08-13 1987-02-26 Hoechst Ag Strahlungsempfindliches gemisch, dieses enthaltendes strahlungsempfindliches aufzeichnungsmaterial und verfahren zur herstellung von reliefbildern
JPH0727208B2 (ja) * 1987-04-20 1995-03-29 富士写真フイルム株式会社 感光性組成物
CA1316622C (en) * 1987-05-28 1993-04-20 Nippon Paint Co., Ltd. Positive type photosensitive resinous composition

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5883844A (ja) * 1981-11-13 1983-05-19 Fuji Photo Film Co Ltd 感光性組成物
JPS5945439A (ja) * 1982-08-23 1984-03-14 インタ−ナシヨナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−シヨン レジスト組成物
JPS6052845A (ja) * 1983-09-02 1985-03-26 Japan Synthetic Rubber Co Ltd パタ−ン形成材料
JPS61166544A (ja) * 1985-01-18 1986-07-28 Fuji Photo Film Co Ltd 光可溶化組成物
JPS6240450A (ja) * 1985-08-19 1987-02-21 Fuji Photo Film Co Ltd 光可溶化組成物
JPS62229242A (ja) * 1986-02-24 1987-10-08 ヘキスト・セラニーズ・コーポレーション イミド含有ポリマ−の高解像力ホトレジスト
JPS6336240A (ja) * 1986-07-28 1988-02-16 インターナシヨナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーシヨン レジスト構造の作成方法
JPS63250642A (ja) * 1987-03-30 1988-10-18 マイクロサイ,インコーポレイテッド ホトレジスト組成物
JPH0271270A (ja) * 1988-02-13 1990-03-09 Ciba Geigy Ag ポジティブフォトレジスト組成物

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04149445A (ja) * 1990-10-12 1992-05-22 Mitsubishi Electric Corp ポジ型感光性組成物
JPH06266106A (ja) * 1992-12-31 1994-09-22 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 放射線感受性レジスト組成物及びその使用
JPH07140666A (ja) * 1993-06-04 1995-06-02 Internatl Business Mach Corp <Ibm> マイクロリトグラフィックレジスト組成物、酸不安定化合物、マイクロリトグラフィックレリーフ画像形成方法及び酸感知性ポリマー組成物
JPH075687A (ja) * 1993-06-18 1995-01-10 Mitsui Toatsu Chem Inc 液状エッチングレジスト及びエッチングレジスト被膜を形成した銅張り積層板
JP2011184434A (ja) * 2010-02-10 2011-09-22 Sumitomo Chemical Co Ltd 塩、酸発生剤、レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法

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DE4111060B4 (de) 2004-07-29
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JP2632066B2 (ja) 1997-07-16
US5110709A (en) 1992-05-05

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