JPH03252990A - 半導体スタティックメモリ - Google Patents
半導体スタティックメモリInfo
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- JPH03252990A JPH03252990A JP2049217A JP4921790A JPH03252990A JP H03252990 A JPH03252990 A JP H03252990A JP 2049217 A JP2049217 A JP 2049217A JP 4921790 A JP4921790 A JP 4921790A JP H03252990 A JPH03252990 A JP H03252990A
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- Japan
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- 230000015654 memory Effects 0.000 title claims abstract description 39
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 14
- 230000003068 static effect Effects 0.000 title claims abstract description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 20
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、半導体スタティックメモリに関し、特に、高
速動作に適した構成を有する半導体スタティックメモリ
に関する。
速動作に適した構成を有する半導体スタティックメモリ
に関する。
「従来の技術]
半導体メモリは、近年、大容量化、高密度化が進行する
とともに高速化が強く要求されるようになってきている
。アクセスの高速化を実現するためには、トランジスタ
能力等を決定するプロセス技術の向上だけではなく、回
路上での高速化が不可欠となる。しかしながら、従来の
半導体スタティックメモリでは、回路設計上、アクセス
速度を悪化させる方向のタイミングマージンを必要とす
る部分は少なくなく、これが高速化の妨げになっていた
。この点に関し、従来例について、図面を参照して説明
する。
とともに高速化が強く要求されるようになってきている
。アクセスの高速化を実現するためには、トランジスタ
能力等を決定するプロセス技術の向上だけではなく、回
路上での高速化が不可欠となる。しかしながら、従来の
半導体スタティックメモリでは、回路設計上、アクセス
速度を悪化させる方向のタイミングマージンを必要とす
る部分は少なくなく、これが高速化の妨げになっていた
。この点に関し、従来例について、図面を参照して説明
する。
第4図は、従来の半導体スタティックメモリを示すブロ
ック図である。同図において、1aはメモリセルアレイ
、1bはデジット線対をデータ読み出しに先立って等電
位にするデジットイコライザ、2はアドレス入力Add
を受けアドレス信号αとアドレス変化検知信号φを出力
するアドレスバッファ及びアドレス変化検知回路、3a
はデータ出力バッファ、4はワードセレクタ及びセンス
アンプである。また、ωはワード線選択信号、δはメモ
リセルデータ、δ0はセンスアンプ出力、DouLは出
力データて・ある。
ック図である。同図において、1aはメモリセルアレイ
、1bはデジット線対をデータ読み出しに先立って等電
位にするデジットイコライザ、2はアドレス入力Add
を受けアドレス信号αとアドレス変化検知信号φを出力
するアドレスバッファ及びアドレス変化検知回路、3a
はデータ出力バッファ、4はワードセレクタ及びセンス
アンプである。また、ωはワード線選択信号、δはメモ
リセルデータ、δ0はセンスアンプ出力、DouLは出
力データて・ある。
第5図は、第4図の装置の動作波形図である。
第5図に示されるように、アドレス人力が時点aで変化
すると、時点すでアドレスバッファ及びアドレス変化検
知回路2からアドレス変化検知信号φがjl力される。
すると、時点すでアドレスバッファ及びアドレス変化検
知回路2からアドレス変化検知信号φがjl力される。
この信号によりデジットイコライザが活性化され、時点
Cでイコライズ動作が完了する。次に、ワード線選択信
号ωが切り替えられるが、この際に、ワード線■を選択
するワード線選択信号は、デジット線のイコライズが完
了した後で、かつ、前アドレス入力によりワード線のを
選択していた選択信号がローレベルとなった後の時点d
でハイレベルになるように調整されている。
Cでイコライズ動作が完了する。次に、ワード線選択信
号ωが切り替えられるが、この際に、ワード線■を選択
するワード線選択信号は、デジット線のイコライズが完
了した後で、かつ、前アドレス入力によりワード線のを
選択していた選択信号がローレベルとなった後の時点d
でハイレベルになるように調整されている。
なお、デジット線をイコライズする理由は、荊データの
影響を受けないようにするためであり、また、前アドレ
スによって選ばれていたワード線がローレベルになるの
を待つのは、複数のワード線が同時に選択されることに
よりメモリセルのデータが破壊されるのを防ぐためであ
る。
影響を受けないようにするためであり、また、前アドレ
スによって選ばれていたワード線がローレベルになるの
を待つのは、複数のワード線が同時に選択されることに
よりメモリセルのデータが破壊されるのを防ぐためであ
る。
[発明が解決しようとする課M]
上述の従来の半導体スタティックメモリでは、デジット
線のイコライズに時間がかかり高速化に支障をきたすと
いう問題がある。これは、アドレスが変化してからデジ
ット線がイコライズされること、デジット線の容量が重
いのでイコライズに時間がかかること、及び、イコライ
ズ信号幅が、1つのアドレスが変化したときに完全にイ
コライズできるように設定されているため全アドレスが
変化したときには必要以上のイコライズ信号幅になって
しまうことなどによる。
線のイコライズに時間がかかり高速化に支障をきたすと
いう問題がある。これは、アドレスが変化してからデジ
ット線がイコライズされること、デジット線の容量が重
いのでイコライズに時間がかかること、及び、イコライ
ズ信号幅が、1つのアドレスが変化したときに完全にイ
コライズできるように設定されているため全アドレスが
変化したときには必要以上のイコライズ信号幅になって
しまうことなどによる。
また、従来例では、複数のワード線が同時に選択される
のを防ぐために、新しく選択されるワード線の選択が、
前サイクルで選択されたワード線がローレベルになるま
で遅延されるという問題もある。
のを防ぐために、新しく選択されるワード線の選択が、
前サイクルで選択されたワード線がローレベルになるま
で遅延されるという問題もある。
これらの調整による遅延時間は、全体の遅延時間、即ち
、半導体スタティックメモリのアクセスタイムの内の約
15%を占めている。
、半導体スタティックメモリのアクセスタイムの内の約
15%を占めている。
このように、従来の半導体スタティックメモリでは、内
部のタイミング調整の必要性により、高速化が著しく妨
げられていた。
部のタイミング調整の必要性により、高速化が著しく妨
げられていた。
[課題を解決するための手段]
本発明の半導体スタティックメモリは、行および列方向
に配列された複数のメモリセルと、各メモリセル行毎に
設けられた第1および第2のワード線と、各メモリセル
列毎に設けられた第1組および第2組のデジット線と、
複数の第1のワード線の中から一つのワード線を選択す
る第1のワード線選択回路と、複数の第2のワード線の
中から一つのワード線を選択する第2のワード線選択回
路と、アドレス入力を受けアドレス入力が変化したとき
にアドレス変化検知信号を発生ずるアドレス変化検知回
路と、アドレス変化検知信号を受け該信号を受ける度に
出力が切り換わり、活性化すべきワード線選択回路を第
1から第2へまたはその逆に交互に切り換えるポートセ
レクタと、前記第1組および第2組のデジット線のデー
タのうちの一方のデータを選択的に出力するデータ出力
バッファと、を具備するものである。
に配列された複数のメモリセルと、各メモリセル行毎に
設けられた第1および第2のワード線と、各メモリセル
列毎に設けられた第1組および第2組のデジット線と、
複数の第1のワード線の中から一つのワード線を選択す
る第1のワード線選択回路と、複数の第2のワード線の
中から一つのワード線を選択する第2のワード線選択回
路と、アドレス入力を受けアドレス入力が変化したとき
にアドレス変化検知信号を発生ずるアドレス変化検知回
路と、アドレス変化検知信号を受け該信号を受ける度に
出力が切り換わり、活性化すべきワード線選択回路を第
1から第2へまたはその逆に交互に切り換えるポートセ
レクタと、前記第1組および第2組のデジット線のデー
タのうちの一方のデータを選択的に出力するデータ出力
バッファと、を具備するものである。
[実施例コ
次に、本発明の実施例について、図面を参照して説明す
る。
る。
第1図(a>は、本発明の第1の実施例を示すブロック
図、第1図(b)は、その中で用いられるメモリセルの
回路図、第3図(c)は、第1の実施例の回路図である
。
図、第1図(b)は、その中で用いられるメモリセルの
回路図、第3図(c)は、第1の実施例の回路図である
。
この実施例で用いられるメモリセルは、第1図(b)に
示すように、ドライバートランジスタQ1、Q2、抵抗
R,R、トランスファトランジスタQ3〜Q6から槽底
されている。メモリセルデータδA、δ8は、ワード4
!7Aを選択するワード線選択信号ωAにより、トラン
ジスタQ3、Q4を介してデジット&i1!8Aへ、ま
た、ワード線7Bを選択するワード線選択信号ωBによ
り、トランジスタQ5、Q6を介してデジット線8Bに
読み出される。
示すように、ドライバートランジスタQ1、Q2、抵抗
R,R、トランスファトランジスタQ3〜Q6から槽底
されている。メモリセルデータδA、δ8は、ワード4
!7Aを選択するワード線選択信号ωAにより、トラン
ジスタQ3、Q4を介してデジット&i1!8Aへ、ま
た、ワード線7Bを選択するワード線選択信号ωBによ
り、トランジスタQ5、Q6を介してデジット線8Bに
読み出される。
第1図(a)において、1は第1図(b)のメモリセル
がマトリクス状に配列されたメモリセルアレイ、2はア
ドレスバッファ及びアドレス変化検知回路、3はデータ
出力バッファ、4A、4Bは、それぞれワードセレクタ
及びセンスアンプ機能(第4図の4の機能と同等)を有
するボートA及びボートB、6はアドレス変化検知信号
φを受けてトグル動作により互に相補のボート選択信号
λA、λBを発生ずるボートセレクタである。ここで、
ポートセレクタ6はT−フリップフロップにより構成で
きるものである。ボートA4A、ボート85Bは、ボー
1へ選択信号λA、λBにより交互に活性化される。
がマトリクス状に配列されたメモリセルアレイ、2はア
ドレスバッファ及びアドレス変化検知回路、3はデータ
出力バッファ、4A、4Bは、それぞれワードセレクタ
及びセンスアンプ機能(第4図の4の機能と同等)を有
するボートA及びボートB、6はアドレス変化検知信号
φを受けてトグル動作により互に相補のボート選択信号
λA、λBを発生ずるボートセレクタである。ここで、
ポートセレクタ6はT−フリップフロップにより構成で
きるものである。ボートA4A、ボート85Bは、ボー
1へ選択信号λA、λBにより交互に活性化される。
なお、各信号にはポートA側、ボートB側を示すために
A、Bが付されているが、以下において特にいずれかの
ボートであることを示す必要のない場合には適宜A、B
を省略するものとする。
A、Bが付されているが、以下において特にいずれかの
ボートであることを示す必要のない場合には適宜A、B
を省略するものとする。
第1図(c)は、書き込み回路をも含めた本実施例の回
路図である。同図において、10はライトデータバス、
9A、9Bは、ライトデータバス10とデジット線8A
、8Bとを接続するトランジスタQ7〜Q10ヘゲート
信号を伝達するライトコントロールバス、11は第1図
(b)に記載されたメモリセルである。
路図である。同図において、10はライトデータバス、
9A、9Bは、ライトデータバス10とデジット線8A
、8Bとを接続するトランジスタQ7〜Q10ヘゲート
信号を伝達するライトコントロールバス、11は第1図
(b)に記載されたメモリセルである。
第1図(c)に示されるように、データ出力バッファ3
はANDゲート31〜33、ORゲート34.35、イ
ンバータ34、トランジスタQ11−Q]2から構成さ
れ、また、ボート4A、4Bは、それぞれ、センスアン
プ41、ワード線を選択するANDゲート7+2及びセ
ンスアンプ41を選択するANDゲート43から構成さ
れる。
はANDゲート31〜33、ORゲート34.35、イ
ンバータ34、トランジスタQ11−Q]2から構成さ
れ、また、ボート4A、4Bは、それぞれ、センスアン
プ41、ワード線を選択するANDゲート7+2及びセ
ンスアンプ41を選択するANDゲート43から構成さ
れる。
本実施例においては、ワード線の選択には、従来のよう
なタイミング調整は行われず、そのタイミング遅れは、
アドレス変化検知回路、ポートセレクタタ6及びボート
の動作遅れのみにより決定される。選択されたボートは
、ワード線選択信号ωA(またはωB)によりメモリセ
ルのワード線をハイレベルにする。読み出されたメモリ
セルデータδA(またはδB)は、各ボートのセンスア
ンプで増幅されてセンスアンプ出力δAo(またはδB
o)としてデータ出力バッファ3に伝達される。一方、
データ出力バッファは、ボート選択信号λにより選択さ
れたボートからの出力のみを出力するように制御される
。
なタイミング調整は行われず、そのタイミング遅れは、
アドレス変化検知回路、ポートセレクタタ6及びボート
の動作遅れのみにより決定される。選択されたボートは
、ワード線選択信号ωA(またはωB)によりメモリセ
ルのワード線をハイレベルにする。読み出されたメモリ
セルデータδA(またはδB)は、各ボートのセンスア
ンプで増幅されてセンスアンプ出力δAo(またはδB
o)としてデータ出力バッファ3に伝達される。一方、
データ出力バッファは、ボート選択信号λにより選択さ
れたボートからの出力のみを出力するように制御される
。
第2図に、本実施例での主要部の論理波形図を示す。
時点aにおいて、アドレス入力Addが変化すると、時
点Cでボート選択信号λが切り換わる。ここでは、この
ときボートAが選択されるものとする。その場合には、
ボートA側のデジット線8Aは前サイクルにおいて十分
にイコライズされているので、イコライズマージンは不
要となり、ボートAは、ボート選択信号λにより活性化
されると直ちにワード線選択信号ωAを立ち上がらせる
ことができる(時点d)。この場合に、ボートAとボー
トBとはメモリセルをそれぞれ別個のデジット線と関係
づけているので、ワード4i選択信号ωAを立ち上がら
せるのにワード線選択信号ωBの立ち下がりを待つ必要
はない。
点Cでボート選択信号λが切り換わる。ここでは、この
ときボートAが選択されるものとする。その場合には、
ボートA側のデジット線8Aは前サイクルにおいて十分
にイコライズされているので、イコライズマージンは不
要となり、ボートAは、ボート選択信号λにより活性化
されると直ちにワード線選択信号ωAを立ち上がらせる
ことができる(時点d)。この場合に、ボートAとボー
トBとはメモリセルをそれぞれ別個のデジット線と関係
づけているので、ワード4i選択信号ωAを立ち上がら
せるのにワード線選択信号ωBの立ち下がりを待つ必要
はない。
第3図(a)は、本発明の第2の実施例を示すブロック
図であり、第3図(b)は、その回路図である。これら
の図において、第1図の部分と同等の部分には同一の参
照記号が付されている。
図であり、第3図(b)は、その回路図である。これら
の図において、第1図の部分と同等の部分には同一の参
照記号が付されている。
本実施例においては、ボートA5A、ボートB5Bは、
センスアンプ51、ANDゲート52及び53で権威さ
れており、そしてセンスアンプ51の出力も、ボート選
択信号λによって制御される。従って、データ出力バッ
ファ3aへのデータは、第3図(a)に示されるように
両ボート共用のデータバスを介して転送される。
センスアンプ51、ANDゲート52及び53で権威さ
れており、そしてセンスアンプ51の出力も、ボート選
択信号λによって制御される。従って、データ出力バッ
ファ3aへのデータは、第3図(a)に示されるように
両ボート共用のデータバスを介して転送される。
本実施例においても、先の実施例と同様に、デジット線
のイコライズマージンや前サイクルで選択されたワード
線とのタイミング調整の必要はなくなる。
のイコライズマージンや前サイクルで選択されたワード
線とのタイミング調整の必要はなくなる。
[発明の効果コ
以上説明したように、本発明は、2つのボートによる互
いに独立した回路動作を各サイクル毎に交互に行わせる
ようにしたものであるので、本発明によれば、従来必要
とされてきたデジット線のイコライズのための待ち時間
や、複数のワード線が同時に選択されるのを防ぐために
新しく選択されるワード線の選択待ち時間の必要がなく
なる。
いに独立した回路動作を各サイクル毎に交互に行わせる
ようにしたものであるので、本発明によれば、従来必要
とされてきたデジット線のイコライズのための待ち時間
や、複数のワード線が同時に選択されるのを防ぐために
新しく選択されるワード線の選択待ち時間の必要がなく
なる。
従って、本発明によれば、アクセス時にこれらのマージ
ン分の時間、すなわち、全体の遅延時間の約15%を短
縮することが可能となり、高速動作の半導体スタティッ
クメモリを提供できるようになる。
ン分の時間、すなわち、全体の遅延時間の約15%を短
縮することが可能となり、高速動作の半導体スタティッ
クメモリを提供できるようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)、第1図(c)は、それぞれ、本発明の第
1の実施例を示すブロック図と回路図、第1図(b)は
、第1の実施例に用いられるメモリセルの回路図、第2
図は、第1の実施例の動作説明図、第3図(a)、第3
図(b)は、それぞれ、本発明の第2の実施例を示すブ
ロック図と回路図、第4図は、従来例を示すブロック図
、第5図は、その動作説明図である。 1.1a・・・メモリセルアレイ、 1b・・デジ
ットイコライザ、 2・・・アドレスバッファ及び
アドレス変化検知回路、 3.3a・・・データ出力
バッファ、 4・・・ワードセレクタ及びセンスア
ンプ、 4A、5A・・・ボートA、 4B、5B
・・・ボートB、 6・・・ボートセレクタ、7A、
7B・・・ワード線、 8A、8B・・・デジット
線、 9A、9B・・・ライトコントロールバス、10
・・・ライトデータバス、 11・・・メモリセル、
Add・・・アドレス入力、 α・・アドレス信号、
φ・・・アドレス変化検知信号、 λ、λA、λB・
・・ボート選択信号、 ω、ωA、ωB・・・ワード
線選択信号、 δ、δA、δB・・・メモリセルデー
タ、 δ0、δAo、δBo・・・センスアンプ出力
、 D out・・・出力データ、 DOE・・・
出力イネーブル信号。
1の実施例を示すブロック図と回路図、第1図(b)は
、第1の実施例に用いられるメモリセルの回路図、第2
図は、第1の実施例の動作説明図、第3図(a)、第3
図(b)は、それぞれ、本発明の第2の実施例を示すブ
ロック図と回路図、第4図は、従来例を示すブロック図
、第5図は、その動作説明図である。 1.1a・・・メモリセルアレイ、 1b・・デジ
ットイコライザ、 2・・・アドレスバッファ及び
アドレス変化検知回路、 3.3a・・・データ出力
バッファ、 4・・・ワードセレクタ及びセンスア
ンプ、 4A、5A・・・ボートA、 4B、5B
・・・ボートB、 6・・・ボートセレクタ、7A、
7B・・・ワード線、 8A、8B・・・デジット
線、 9A、9B・・・ライトコントロールバス、10
・・・ライトデータバス、 11・・・メモリセル、
Add・・・アドレス入力、 α・・アドレス信号、
φ・・・アドレス変化検知信号、 λ、λA、λB・
・・ボート選択信号、 ω、ωA、ωB・・・ワード
線選択信号、 δ、δA、δB・・・メモリセルデー
タ、 δ0、δAo、δBo・・・センスアンプ出力
、 D out・・・出力データ、 DOE・・・
出力イネーブル信号。
Claims (2)
- (1)行および列方向に配列された複数のメモリセルと
、 各メモリセル行毎に設けられた第1および第2のワード
線と、 各メモリセル列毎に設けられた第1組および第2組のデ
ジット線と、 複数の第1のワード線の中から一つのワード線を選択す
る第1のワード線選択回路と、 複数の第2のワード線の中から一つのワード線を選択す
る第2のワード線選択回路と、 アドレス入力を受けアドレス入力が変化したときにアド
レス変化検知信号を発生するアドレス変化検知回路と、 アドレス変化検知信号を受け該信号を受ける度に出力が
切り換わり、活性化すべきワード線選択回路を第1から
第2へまたはその逆に交互に切り換えるポートセレクタ
と、 前記第1組および第2組のデジット線のデータのうちの
一方のデータを選択的に出力するデータ出力バッファと
、 を具備する半導体スタティックメモリ。 - (2)前記出力バッファが、前記ポートセレクタの出力
を受け、出力すべきデジット線のデータを第1組のもの
から第2組のものへまたはその逆に交互に切り換えるよ
うに構成されている請求項1記載の半導体スタティック
メモリ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2049217A JP2847862B2 (ja) | 1990-03-02 | 1990-03-02 | 半導体スタティックメモリ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2049217A JP2847862B2 (ja) | 1990-03-02 | 1990-03-02 | 半導体スタティックメモリ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03252990A true JPH03252990A (ja) | 1991-11-12 |
JP2847862B2 JP2847862B2 (ja) | 1999-01-20 |
Family
ID=12824785
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2049217A Expired - Fee Related JP2847862B2 (ja) | 1990-03-02 | 1990-03-02 | 半導体スタティックメモリ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2847862B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07134897A (ja) * | 1993-11-11 | 1995-05-23 | Nec Corp | メモリ回路 |
WO2012025960A1 (ja) * | 2010-08-25 | 2012-03-01 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
US8198680B2 (en) | 2003-04-23 | 2012-06-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element, semiconductor device and methods for manufacturing thereof |
-
1990
- 1990-03-02 JP JP2049217A patent/JP2847862B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07134897A (ja) * | 1993-11-11 | 1995-05-23 | Nec Corp | メモリ回路 |
US8198680B2 (en) | 2003-04-23 | 2012-06-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element, semiconductor device and methods for manufacturing thereof |
WO2012025960A1 (ja) * | 2010-08-25 | 2012-03-01 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2847862B2 (ja) | 1999-01-20 |
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