JPH03252908A - 薄膜磁気ヘッド - Google Patents
薄膜磁気ヘッドInfo
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- JPH03252908A JPH03252908A JP4854090A JP4854090A JPH03252908A JP H03252908 A JPH03252908 A JP H03252908A JP 4854090 A JP4854090 A JP 4854090A JP 4854090 A JP4854090 A JP 4854090A JP H03252908 A JPH03252908 A JP H03252908A
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- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、薄膜磁気ヘットに関し、コイル導体膜に接続
されるリード導体膜のうち、少なくとも、取出電極が形
成される領域の表面層を銅膜て構成し、取出電極を銅膜
の上に形成することにより、基体とリード導体膜との間
に生しるストレスを小さくし、取出電極剥離を生じにく
い薄膜磁気ヘッドを提供できるようにしたものである。
されるリード導体膜のうち、少なくとも、取出電極が形
成される領域の表面層を銅膜て構成し、取出電極を銅膜
の上に形成することにより、基体とリード導体膜との間
に生しるストレスを小さくし、取出電極剥離を生じにく
い薄膜磁気ヘッドを提供できるようにしたものである。
〈従来の技術〉
第10図は従来よりよく知られているtV膜磁気ヘット
の要部の斜視図、第11図は同しく要部の拡大断面図、
第12図は取出電極部分の拡大断面図である。これらの
図において、1はセラミツつて構成された基体、2は下
部磁性膜、3はアルミナ等でなるキャップ膜、4は上部
磁性膜、5はコイル導体膜、6はノボラック樹脂等の有
機樹脂て構成された絶縁膜、7.8はリード導体膜、9
.10は取出電極、11は各部を覆うアルミナ等の保護
膜である。
の要部の斜視図、第11図は同しく要部の拡大断面図、
第12図は取出電極部分の拡大断面図である。これらの
図において、1はセラミツつて構成された基体、2は下
部磁性膜、3はアルミナ等でなるキャップ膜、4は上部
磁性膜、5はコイル導体膜、6はノボラック樹脂等の有
機樹脂て構成された絶縁膜、7.8はリード導体膜、9
.10は取出電極、11は各部を覆うアルミナ等の保護
膜である。
基体1は、スライダとなる部分てあって、Al2O3−
TiC等てなる主部101の表面にAl2O3等の絶縁
膜102を被着させたセラミック構造体となっている。
TiC等てなる主部101の表面にAl2O3等の絶縁
膜102を被着させたセラミック構造体となっている。
下部磁性膜2及び上部磁性膜4の先端部は、微小厚みの
ギャップ膜3を隔てて対向するボール部21.41とな
っており、ボール部21.41において読み書きを行な
う。22.42はヨーク部てあり、ボール部21.41
とは反対側の端部で結合させである。
ギャップ膜3を隔てて対向するボール部21.41とな
っており、ボール部21.41において読み書きを行な
う。22.42はヨーク部てあり、ボール部21.41
とは反対側の端部で結合させである。
絶縁膜6は複数層から構成されていて、絶縁膜6の上に
、ヨーク部22.42の結合部のまわりを渦巻状にまわ
るように、コイル導体膜5を形成しである。コイル導体
膜5は、通常、下地膜の上に銅膜をメツキ等の手段によ
って付着させた構造となっている。
、ヨーク部22.42の結合部のまわりを渦巻状にまわ
るように、コイル導体膜5を形成しである。コイル導体
膜5は、通常、下地膜の上に銅膜をメツキ等の手段によ
って付着させた構造となっている。
リード導体膜7.8は銅膜71.81の上にパーマロイ
(Ni−Fe)膜72.82を被着させた構造となって
いる。銅膜71.81はコイル導体膜51を形成する工
程において同時に形成されるものてあり、パーマロイ@
72.82は上部磁性膜4のメツキ工程において同時に
形成される。パーマロイ膜72.82は、主として、イ
オンミーリング等の製造工程において、銅@71.81
の膜減りを防止するために設けられている。
(Ni−Fe)膜72.82を被着させた構造となって
いる。銅膜71.81はコイル導体膜51を形成する工
程において同時に形成されるものてあり、パーマロイ@
72.82は上部磁性膜4のメツキ工程において同時に
形成される。パーマロイ膜72.82は、主として、イ
オンミーリング等の製造工程において、銅@71.81
の膜減りを防止するために設けられている。
取出室M19.10は、当業者間ではバンプと呼ばれて
いるものであって、後でリード線等の外部導体か接続さ
れる。取出電極9.10は銅メツキ膜としてリード導体
膜7.8を構成するパーマロイ膜72.82の上に形成
される。
いるものであって、後でリード線等の外部導体か接続さ
れる。取出電極9.10は銅メツキ膜としてリード導体
膜7.8を構成するパーマロイ膜72.82の上に形成
される。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかしながら、パーマロイ膜72.82の上に、取出室
Vi9.10を形成した従来の薄膜磁気ヘットでは、取
出’tVi9.10が剥離してしまうどう事故がしばし
ば生した。特に、A1203−Ticてなる主部101
の表面にAl2O3の絶縁膜102を被着させた構造の
薄膜磁気ヘットにおいては、取出電極9.10の下方領
域において、絶縁膜102が付着した状態て、取出’t
Vi9.10か剥離する事故かしはしは見られた。剥離
の主原因は、取出電極9.10を構成する銅バンブの熱
応力と、パーマロイ膜72.82の引っ張り応力にある
と考えられる。即ち、取出電極9.10を構成する銅バ
ンブの引っ張り応力P1及びパーマロイ@72.82の
引っ張り応力P2の影響を受けて、絶縁膜102にクラ
ックAが発生するというものである。絶縁膜102とし
て、Al2O3を使用した場合には、圧縮応力P3が生
じるため、引っ張り応力PI、P2と圧縮応力P3との
相互作用により、ますますクラックか入り易くなる。
Vi9.10を形成した従来の薄膜磁気ヘットでは、取
出’tVi9.10が剥離してしまうどう事故がしばし
ば生した。特に、A1203−Ticてなる主部101
の表面にAl2O3の絶縁膜102を被着させた構造の
薄膜磁気ヘットにおいては、取出電極9.10の下方領
域において、絶縁膜102が付着した状態て、取出’t
Vi9.10か剥離する事故かしはしは見られた。剥離
の主原因は、取出電極9.10を構成する銅バンブの熱
応力と、パーマロイ膜72.82の引っ張り応力にある
と考えられる。即ち、取出電極9.10を構成する銅バ
ンブの引っ張り応力P1及びパーマロイ@72.82の
引っ張り応力P2の影響を受けて、絶縁膜102にクラ
ックAが発生するというものである。絶縁膜102とし
て、Al2O3を使用した場合には、圧縮応力P3が生
じるため、引っ張り応力PI、P2と圧縮応力P3との
相互作用により、ますますクラックか入り易くなる。
パーマロイ膜72.82を除去して、その引っ張り応力
による電極剥離を防止しようとすると、銅膜71.81
がイオンミーリング等のドライエツチングに曝れて膜減
りを起こし、断線もしくは電気抵抗増大を招く。
による電極剥離を防止しようとすると、銅膜71.81
がイオンミーリング等のドライエツチングに曝れて膜減
りを起こし、断線もしくは電気抵抗増大を招く。
そこて、本発明の課題は、上述する従来の問題点を解決
し、基体とリード導体膜との間に生しるストレスを小さ
くし、取出電極剥離を防止し得る薄膜磁気ヘットを提供
することにある。
し、基体とリード導体膜との間に生しるストレスを小さ
くし、取出電極剥離を防止し得る薄膜磁気ヘットを提供
することにある。
〈課題を解決するための手段〉
上述した課題解決のため、本発明に係る薄膜磁気ヘット
は、基体上に、磁性膜及びコイル導体膜を含む薄膜磁気
変換素子と、前記コイル導体膜に導通させたリード導体
膜と、前記リード導体膜上に形成された取出電極とを有
する薄膜磁気ヘットであって、 前記リード導体膜は、少なくとも前記取出電極を形成す
る領域の表面層が銅膜となっており、前記取出電極は、
前記銅膜の上に設りられていること を特徴とする。
は、基体上に、磁性膜及びコイル導体膜を含む薄膜磁気
変換素子と、前記コイル導体膜に導通させたリード導体
膜と、前記リード導体膜上に形成された取出電極とを有
する薄膜磁気ヘットであって、 前記リード導体膜は、少なくとも前記取出電極を形成す
る領域の表面層が銅膜となっており、前記取出電極は、
前記銅膜の上に設りられていること を特徴とする。
〈作用〉
リード導体膜は取出電極を形成する領域の表面層が銅膜
であり、取出電極は銅膜の上に設けられていて、取出電
極の位置する領域には引っ張り応力の発生原因となるパ
ーマロイ膜が存在しない。
であり、取出電極は銅膜の上に設けられていて、取出電
極の位置する領域には引っ張り応力の発生原因となるパ
ーマロイ膜が存在しない。
しかも、取出電極の熱応力はリード導体膜の展性により
吸収される。このため、基体表面層におけるクラック、
それに伴う電極剥離か生しにくくなる。
吸収される。このため、基体表面層におけるクラック、
それに伴う電極剥離か生しにくくなる。
リード導体膜は、取出電極を形成した領域外の部分か、
レジスト膜もしくは磁性膜と実質的に同の組成を有する
膜によって覆う。こうすることにより、製造工程中おけ
るイオンミーリング等のドライエツチングによる膜減り
が防止され、所定の膜厚及び電気抵抗のリード導体膜を
有する薄膜磁気ヘッドが得られる。
レジスト膜もしくは磁性膜と実質的に同の組成を有する
膜によって覆う。こうすることにより、製造工程中おけ
るイオンミーリング等のドライエツチングによる膜減り
が防止され、所定の膜厚及び電気抵抗のリード導体膜を
有する薄膜磁気ヘッドが得られる。
リード導体膜を、磁性膜と実質的に同一の組成を有する
膜、例えばパーマロイによって覆った場合、取出電極を
形成した領域外であるのて、パーマロイ膜の引っ張り応
力による取出電極剥離を生しることはない。
膜、例えばパーマロイによって覆った場合、取出電極を
形成した領域外であるのて、パーマロイ膜の引っ張り応
力による取出電極剥離を生しることはない。
本発明は、面内記録再生用薄膜磁気ヘッドに限らず、垂
直記録再生用薄膜磁気ヘッドにも適用が可能である。
直記録再生用薄膜磁気ヘッドにも適用が可能である。
〈実施例〉
第1図は本発明に係る薄膜磁気ヘッドの斜視図、第2図
は同じく取出電極部分の拡大断面図である。図において
、第10図〜第12図と同一の参照符号は同一性ある構
成部分を示している。図示するように、リード導体膜7
.8は取出電極を形成する領域の表面層が銅膜71.8
1となっており、取出電極9.10は銅膜71.81の
上に設けられている。図示はされていないか、銅膜71
.81は下地膜を有する。
は同じく取出電極部分の拡大断面図である。図において
、第10図〜第12図と同一の参照符号は同一性ある構
成部分を示している。図示するように、リード導体膜7
.8は取出電極を形成する領域の表面層が銅膜71.8
1となっており、取出電極9.10は銅膜71.81の
上に設けられている。図示はされていないか、銅膜71
.81は下地膜を有する。
12はフォトレジスト等によるレジスト膜である。リー
ド導体膜7.8は、取出電極9.1oを形成した領域外
の部分か、このレジスト膜12によって覆われている。
ド導体膜7.8は、取出電極9.1oを形成した領域外
の部分か、このレジスト膜12によって覆われている。
レジスト@12の代りに、磁性膜4と実質的に同一の組
成を有するパーマロイ膜を用いることもできる。
成を有するパーマロイ膜を用いることもできる。
上述のように、取出電極9.10の位置する領域には引
っ張り応力の発生原因となるパーマロイ膜が存在しない
。このため、基体1の表面層となる絶縁膜102におけ
るクラック、それに伴う電極剥離を確実に防止できるよ
うになる。
っ張り応力の発生原因となるパーマロイ膜が存在しない
。このため、基体1の表面層となる絶縁膜102におけ
るクラック、それに伴う電極剥離を確実に防止できるよ
うになる。
しかも、リード導体膜7.8は、取出1H8i9.10
を形成した領域外の部分が、レジスト膜12によって覆
われているのて、製造工程中におけるイオンミーリング
等のドライエツチングによる膜減りか防止される。
を形成した領域外の部分が、レジスト膜12によって覆
われているのて、製造工程中におけるイオンミーリング
等のドライエツチングによる膜減りか防止される。
上述のような構造を有するリード導体膜7.8及び取出
電極9.10は、この種の薄膜磁気ヘット製造工程にお
いて周知のパターン形成技術によって簡単に製造できる
。第3図〜第9図にその1例を示す。第3図〜第9図で
は1つの薄膜磁気変換素子を示しているだけであるが、
薄膜磁気ヘット製造工程は、基体1をウェハーとして、
薄膜磁気変換素子を多数個整列した状態て、工程が進め
られる。
電極9.10は、この種の薄膜磁気ヘット製造工程にお
いて周知のパターン形成技術によって簡単に製造できる
。第3図〜第9図にその1例を示す。第3図〜第9図で
は1つの薄膜磁気変換素子を示しているだけであるが、
薄膜磁気ヘット製造工程は、基体1をウェハーとして、
薄膜磁気変換素子を多数個整列した状態て、工程が進め
られる。
まず、第3図の工程では、ウェハーである基体1上に下
部磁性膜2、ギャップ膜3、コイル導体膜5及び眉間の
絶縁膜6等を形成した後、上部磁性膜を形成する前に、
銅膜71.81の上に、取出電極用のパターンP1が生
しるようにパ−マロイ膜されたレジスト膜12を形成す
る。このレジスト膜12は絶縁膜6と同時に形成しても
よいし、別工程で形成してもよい。
部磁性膜2、ギャップ膜3、コイル導体膜5及び眉間の
絶縁膜6等を形成した後、上部磁性膜を形成する前に、
銅膜71.81の上に、取出電極用のパターンP1が生
しるようにパ−マロイ膜されたレジスト膜12を形成す
る。このレジスト膜12は絶縁膜6と同時に形成しても
よいし、別工程で形成してもよい。
次に、第4図に示すように、取出電極用のパターンP1
をマスク13した上て、上部磁性膜4を形成する。
をマスク13した上て、上部磁性膜4を形成する。
次に、第5図に示すように、マスク13を除去すると共
に、薄膜磁気変換素子の上に保護用としてレジストマス
ク14を付着させる。
に、薄膜磁気変換素子の上に保護用としてレジストマス
ク14を付着させる。
次に、第6図に示すように、銅メツキ処理を行なうこと
により、レジスト膜12によって画定されたパターンP
1内の銅膜71.81上に銅メツキ膜を成長させる。こ
れにより、銅膜71.81の上に銅メツキ膜でなる取出
電極9.1oが形成される。
により、レジスト膜12によって画定されたパターンP
1内の銅膜71.81上に銅メツキ膜を成長させる。こ
れにより、銅膜71.81の上に銅メツキ膜でなる取出
電極9.1oが形成される。
この後、第7図に示すようにレジストマスク14を除去
した後、第8図に示すように、保護膜11をスパッタリ
ング等の手段によって形成し、次に第9図に示すように
、保護膜11の表面を研磨して、取出電極9.1oの面
出しを行なう。
した後、第8図に示すように、保護膜11をスパッタリ
ング等の手段によって形成し、次に第9図に示すように
、保護膜11の表面を研磨して、取出電極9.1oの面
出しを行なう。
レジスト膜12の代りに、磁性膜4と実質的に同一の組
成を有するパーマロイ膜を用いる場合も、当業者にとっ
て容易に憇到し得る少しの変更を伴うたけて製造できる
。
成を有するパーマロイ膜を用いる場合も、当業者にとっ
て容易に憇到し得る少しの変更を伴うたけて製造できる
。
上述した製造方法は1例てあり、種々の製造力?去をと
り得ることはいうまてもない。
り得ることはいうまてもない。
〈発明の効果〉
以上述べたように、本発明によれは、次のような効果が
得られる。
得られる。
(a)コイル導体膜に導通ずるリード導体膜は、取出電
極を形成する領域の表面層が銅膜となっており、取出電
極は前述の銅膜の上に設けられているのて、基体とリー
ド導体膜との間に生しるストレスが小さくし、取出電極
剥離などを生じにくい高信頼度の薄膜磁気ヘッドを提供
てきる。
極を形成する領域の表面層が銅膜となっており、取出電
極は前述の銅膜の上に設けられているのて、基体とリー
ド導体膜との間に生しるストレスが小さくし、取出電極
剥離などを生じにくい高信頼度の薄膜磁気ヘッドを提供
てきる。
(b)リード導体膜は、取出電極を形成した領域外の部
分が、レジスト膜もしくは磁性膜と実質的に同一の組成
を有する膜によって覆われているのて、所定の膜厚及び
電気抵抗のリード導体膜を有する薄膜磁気ヘッドを提供
できる。
分が、レジスト膜もしくは磁性膜と実質的に同一の組成
を有する膜によって覆われているのて、所定の膜厚及び
電気抵抗のリード導体膜を有する薄膜磁気ヘッドを提供
できる。
第1図は本発明に係るW#膜磁気ヘッドの要部の斜視図
、第2図は同じく取出電極部分の拡大断面図、第3図〜
第9図は本発明に係る薄膜磁気ヘットの製造方法の1例
を示す図、第10図は従来の薄膜磁気ヘットの要部にお
ける斜視図、第11図は同しく要部の断面図、第12図
は同じく取出電極部分における拡大断面図である。 1・・・基体 2・・・下部磁性膜3・・・
キャップ膜 4・・・上部磁性膜5・・・コイル導
体膜 6・・・絶縁膜7.8・・・リード導体膜 9.10・・・取出室8i 12・・・レジスト膜71
.81・・・銅膜
、第2図は同じく取出電極部分の拡大断面図、第3図〜
第9図は本発明に係る薄膜磁気ヘットの製造方法の1例
を示す図、第10図は従来の薄膜磁気ヘットの要部にお
ける斜視図、第11図は同しく要部の断面図、第12図
は同じく取出電極部分における拡大断面図である。 1・・・基体 2・・・下部磁性膜3・・・
キャップ膜 4・・・上部磁性膜5・・・コイル導
体膜 6・・・絶縁膜7.8・・・リード導体膜 9.10・・・取出室8i 12・・・レジスト膜71
.81・・・銅膜
Claims (2)
- (1)基体上に、磁性膜及びコイル導体膜を含む薄膜磁
気変換素子と、前記コイル導体膜に導通させたリード導
体膜と、前記リード導体膜上に形成された取出電極とを
有する薄膜磁気ヘッドであって、 前記リード導体膜は、少なくとも前記取出電極を形成す
る領域の表面層が銅膜となっており、前記取出電極は、
前記銅膜の上に設けられていること を特徴とする薄膜磁気ヘッド。 - (2)前記リード導体膜は、前記取出電極を形成した領
域外の部分が、レジスト膜もしくは前記磁性膜と実質的
に同一の組成を有する膜によって覆われていること を特徴とする請求項1に記載の薄膜磁気ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2048540A JP2809466B2 (ja) | 1990-02-28 | 1990-02-28 | 薄膜磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2048540A JP2809466B2 (ja) | 1990-02-28 | 1990-02-28 | 薄膜磁気ヘッド |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03252908A true JPH03252908A (ja) | 1991-11-12 |
JP2809466B2 JP2809466B2 (ja) | 1998-10-08 |
Family
ID=12806201
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2048540A Expired - Lifetime JP2809466B2 (ja) | 1990-02-28 | 1990-02-28 | 薄膜磁気ヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2809466B2 (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63187412A (ja) * | 1987-01-28 | 1988-08-03 | Fujitsu Ltd | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
-
1990
- 1990-02-28 JP JP2048540A patent/JP2809466B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63187412A (ja) * | 1987-01-28 | 1988-08-03 | Fujitsu Ltd | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2809466B2 (ja) | 1998-10-08 |
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