JPH03250349A - 自己診断装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 Ａ産業上の利用分野 本発明は自己診断装置に関し、特に中継用のバスでＣＰ
Ｕ搭載基板及びＣＰＵ非搭載基板間が接続された電子機
器に適用して好適なものである。

Ｂ発明の概要 本発明は、自己診断装置において、第１及び第２のバス
で接続されたＣＰｔ、ｉ搭載基板からＣＰＵ非搭載基板
の障害を検出する際に、第１及び第２のバスの接続状態
を監視するようにしたことにより、確実にＣＰＵ非搭載
基板の障害か第１及び又は第２のバスの障害かを区別し
て検出し得る。

Ｃ従来の技術 従来、電子機器においてはＣＰ　Ｕ　（ｃｅｎｔｒａｌ
　ｐｒ。

ｃｅｓｓｉｎｇ　ｕｎｉｔ）の機能が向上したことによ
り、複数のＣＰＵを用いる構成に代えて、１個のＣＰｔ
Ｊが搭載されたＣＰＵ搭載基板（以下単にＣＰＵ基板と
呼ぶ）と、ＣＰＵに接続されたバスが配線されたＣＰＵ
非搭載基板（以下単に回路基板と呼ぶ）を用いるように
なされたものがある。

すなわち第２図に示すように、このような電子機器１に
おいてはＣＰＵ基板２のハス２Ａがバスハーネス３を通
じて回路基板４のバス４Ａに接続されている。

実際上ＣＰＵ基板２のバス２Ａは、アドレスバス、デー
タバス及びコントロールバスを含んでなり、バスバッフ
ァ２Ｂを通じて基板コネクタ２Ｃに導出され、同様に回
路基板４のバス４ＡもＣＰＵ基板２のバス２Ａと同様の
ビット構成でなり、パスバッファ４Ｂを通じて基板コネ
クタ４Ｃに導出されている。

またバスハーネス３も、ＣＰＵ基板２のバス２Ａ及び回
路基板４のバス４Ａと同様のビット構成でなり、その両
端にはそれぞれ基板コネクタ２Ｃ及び４Ｃに対応するコ
ネクタ３Ａ及び３Ｂが設けられ、それぞれコネクタ３Ａ
及び３Ｂを基板コネクタ２Ｃ及び４Ｃに接続することに
より、ＣＰＵ基板２及び回路基板４のバス２Ａ及び４Ａ
を接続し得るようになされている。

Ｄ発明が解決しようとする課題 ところがかかる構成の電子機器ｌのように、ＣＰＵ基板
２及び回路基板４をマザーボードを用いずにバスハーネ
ス３゛を用いて接続する場合には、例えば輸送時の衝撃
等によってパスハーネス３自体の断線が生したり、ＣＰ
Ｕ基板２、回路基板４及びバスハーネス３間のコネクタ
２Ｃ及び３Ａ、４Ｃ及び３Ｂに接触不良が生じたり、さ
らにメンテナンス時にコネクタ３Ａ及び３Ｂの差し忘れ
が発生するおそれがある。

このような状態が発生すると、ＣＰＵ基板２から回路基
板４側の障害を検出するいわゆる自己診断処理を実行し
、回路基板４側から転送されてくるデータが不良データ
のとき、実際に回路基板４に障害が発生したのかまたは
バスハーネス３による障害かを区別できず、結局内部を
詳細に検査する必要が生じ、使い勝手の点で未だ不十分
であった。

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、中継用バ
スで接続されたＣＰＵ搭載基板側からＣＰＵ非搭載基板
の障害を検出する際に、確実に中継用バスの障害かＣＰ
Ｕ非搭載基板の障害かを区別し得る自己診断装置を提案
しようとするものである。

８課題を解決するための手段 かかる課題を解決するため本発明においては、ＣＰ　Ｕ
搭載基板１１及びＣＰＵ非搭載基板１４間を第１及び第
２のバス１２．１３で接続し、ＣＰＵ搭載基板１１から
ＣＰＵ非搭載基板１４の障害を検出する際に、第１及び
第２のバス１２．１３の接続状態を監視するようにした
。

Ｆ作用 第１及び第２のバス１２．１３で接続されたＣＰＵ搭載
基板１１からＣＰＵ非搭載基板１４の障害を検出する際
に、第１及び第２のバス１２．１３の接続状態を監視す
るようにしたことにより、双方のバス１２．１３の接続
状態が不良のときＣＰＵ非搭載基板１４の障害を検出し
、一方のバス１２（又は１３）の接続状態が不良で他方
のバス１３（又は１２）の接続状態が良好のとき第１及
び又は第２のバス１２（又は１３）の障害を検出し得る
。

Ｇ実施例 以下図面について、本発明の一実施例を詳述する。

第１図において、１０は全体として電子機器を示し、Ｃ
ＰＵ基板１１のバスＩＩＡが２本のバスハーネス１２及
び１３を通じて回路基板１４のバス１４Ａに接続されて
いる。

実際上ＣＰＵ基板１１のバスＩＩＡは、アドレスバス、
データバス及びコントロールバスを含んでなり、第１及
び第２のハスバッファ１１Ｂ及び１１Ｃを通じてそれぞ
れ基板コネクタ１１Ｄ及び１１已に導出されている。

また同様に回路基板１４のバス１４ＡもＣＰＵ基板１１
のバスＩＩＡと同様のビット構成でなり、第１及び第２
のパスバッファ１４Ｂ及び１４Ｃを通じて基板コネクタ
１４Ｄ及び１４Ｅに導出されている。

この実施例の場合、第１のバスハーネス１２はＣＰＵ基
板１１のバスＩＩＡ及び回路基板１４のバス１４Ａと同
様のビット構成でなり、その両端にはそれぞれ基板コネ
クタ１１Ｄ及び１４Ｄに対応するコネクタ１２Ａ及び１
２Ｂが設けられ、それぞれコネクタ１２Ａ及び１２Ｂが
基板コネクタｌＩＤ及び１４Ｄに接続される。

また第２のバスハーネス１３も第１のバスハーネス１２
と同様のビット構成でなり、その両端にはそれぞれ基板
コネクタＩＩＥ及び１４Ｅに対応するコネクタ１３Ａ及
び１３Ｂが設けられ、それぞれコネクタ１３Ａ及び１３
Ｂが基板コネクタ１１Ｅ及び１４Ｅに接続される。

これにより、ＣＰＵ基板１工及び回路基板１４のバス１
１Ａ及び１４Ａを２本のバスハーネス１２及び１３で接
続し得るようになされている。

以上の構成において、ＣＰＵ基板１１から回路基板１４
の障害を検出するいわゆる自己診断処理を実行する際、
回路基板１４から第１及び第２のバスハーネス１２及び
１３を通じて転送されてくるデータが正常データのとき
、ＣＰＵ基板１１のＣＰＵは回路基板１゛４が正常であ
ることを検出できる。

これに対して第１及び第２のバスハーネス１２及び１３
を通じて転送されてくるデータのうち、一方のバスハー
ネス（例えば第１のバスハーネス１２）を通じて転送さ
れてくるデータが不良データで、他方のバスハーネス（
第２のバスハーネス１３）を通じて転送されてくるデー
タが正常データのとき、ＣＰＵ基板１１のＣＰＵは回路
基板１４が正常であり、一方のバスハーネス（例えば第
１のバスハーネス１２）に断線やコネクタ（１２Ａ、１
２Ｂ）の差し忘れ等の障害が発生していることを検出で
きる。

また第１及び第２のバスハーネス１２及び１３を通じて
転送されてくるデータの双方が不良データのとき、ＣＰ
ｔＪ基板１１のＣＰＵは回路基板１４に例えばバッファ
１４Ｂ、１４Ｃが破壊された等の障害が発生しているこ
とを検出できる。

以上の構成によれば、ＣＰＵ基板１１のハス１１Ａ及び
回路基板１４のバス１４Ａを２本のバスハーネス１２及
び１３で接続し、ＣＰＵ基板１１から回路基板１４の障
害を検出する際に、２零のバスハーネス１２及び１３を
通して転送されるデータの良否を監視するようにしたこ
とにより、簡易な構成でバスハーネス１２及び１３の障
害か回路基［１４の障害かを確実に区別し得る電子機器
を実現できる。

なお上述の実施例においては、ＣＰＵ基板及び回路基板
のバスと同様のビット構成でなる２本のバスハーネスを
用いたが、これに代え、一方のバスハーネスを本線バス
としてＣＰＵ基板及び回路基板のバスと同様のビット構
成にし、他方を自己診断専用のバスとして少ないビット
数で構成するようにしても良い。

因にこの場合、本線バスの断線、コネクタの接触不良や
差し忘れによる障害について確実に自己診断し得る。

また上述の実施例においては、ＣＰＵ基板及び回路基板
のバスを２本のバスハーネスで接続した場合について述
べたが、これに代え中継用の基板上に形成した２本のバ
スで接続するようにしても良い。

Ｈ発明の効果 上述のように本発明によれば、第１及び第２のバスで接
続されたＣＰＵ搭ｆ２基板からＣＰＵ非搭載基板の障害
を検出する際に、第１及び第２のバスの接続状態を監視
するようにしたことにより、確実にＣＰＵ非搭載基板の
障害か第１及び又は第２のバスの障害かを区別し得る自
己診断装置を実現できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による自己診断装置を適用した電子機器
の一実施例を示すブロック図、第２図は従来の電子機器
を示すブロック図である。 １．１０・・・・・・電子機器、２．１１・・・・・・
ＣＰＵ基板、３．１２．１３・・・・・・バスバーぶス
、４．１４・・・・・・回路基板。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ＣＰＵ搭載基板及びＣＰＵ非搭載基板間を第１及び第２
   のバスで接続し、 上記ＣＰＵ搭載基板から上記ＣＰＵ非搭載基板の障害を
   検出する際に、上記第１及び第２のバスの接続状態を監
   視するようにした ことを特徴とする自己診断装置。