JPH0321867B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0321867B2 JPH0321867B2 JP59154923A JP15492384A JPH0321867B2 JP H0321867 B2 JPH0321867 B2 JP H0321867B2 JP 59154923 A JP59154923 A JP 59154923A JP 15492384 A JP15492384 A JP 15492384A JP H0321867 B2 JPH0321867 B2 JP H0321867B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- calibration
- value
- section
- comparison
- cycle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 28
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 239000012482 calibration solution Substances 0.000 description 27
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 24
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 13
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 9
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 6
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 6
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 5
- 238000001139 pH measurement Methods 0.000 description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 230000005587 bubbling Effects 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 2
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- XNGIFLGASWRNHJ-UHFFFAOYSA-L phthalate(2-) Chemical compound [O-]C(=O)C1=CC=CC=C1C([O-])=O XNGIFLGASWRNHJ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/416—Systems
- G01N27/4163—Systems checking the operation of, or calibrating, the measuring apparatus
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
〈産業上の利用分野〉
本発明は、自動校正機能を有した濃度計に関す
る。 〈従来技術〉 一般に化学量を対象とする検出器は長期安定性
の劣るものが多いが、要求される測定項目からや
むなく補正、校正等の補修を行ないつつ使用して
いる。このような補修はなるべく手がかからない
ことが望ましく、そのため従来より自動校正機能
を付設した計器が多く使用されている。 しかるに、従来の自動校正機能付計器は、校正
動作を一定の決められた時間おきに行なうもので
あるため、校正と校正との間の測定中に検出器の
変質、劣化等によつて測定精度が低下していて
も、次の校正までの間はその低い精度のままで測
定を続けざるを得ないものであり、そのため測定
途中における精度の予測ができないといつた不都
合がある。このような事情は濃度計も例外ではな
く、特に濃度計の場合、測定中精度を低下する要
因が検出器の汚れ、変質、腐蝕、破損等々と多く
あり、それらが頻繁に生じるものであるから、上
記不都合の解消が急務となつている。 〈発明の目的〉 本発明は、測定中に精度を低下させる要因が生
じた場合、それに対応して次の校正時の校正量が
多くなることに鑑み、校正周期を長短制御して、
校正量が、測定精度をある限度以上に維持する上
で許容できる範囲内であるようにし、もつて上述
した不都合の解決を図つたものである。 〈発明の構成〉 上記目的を達成するため、本発明に係る自動校
正機能付濃度計は、試料及び校正用物質の濃度に
応じた信号を発する検出器と、検出器がある周期
で校正用物質の検出を行なうよう制御するプログ
ラムコントローラと、校正用物質の検出信号によ
つて自動校正し、試料の検出信号によつて濃度を
求める演算を行なう演算部と、校正前と後におけ
る校正用物質の測定値を比較する第１比較部と、
要求される測定精度に応じた管理値が設定された
管理精度設定部と、第１比較部の比較値を管理精
度設定部の管理値と比較する第２比較部と、この
第２比較部の比較結果から校正周期を決定する周
期決定部をからなり、周期決定部で決定された周
期に従つて校正を行なうようプログラムコントロ
ーラを制御することを要旨としている。 〈実施例〉 第１図は本発明の基本構成を示すブロツク図
で、１は検出器、２はプログラムコントローラ、
３は演算部、４は第１比較部、５は管理精度設定
部、６は第２比較部、７は周期決定部である。検
出器１は試料及び校正用物質の濃度に応じた信号
を発する。濃度計としてPH計の場合には校正液は
２種の校正液を用い、また検出器１はPH測定用電
極と温度検出器を用いる。プログラムコントロー
ラ２はある周期で校正を行なうよう制御する。自
動校正は、検出器に校正液を流し、そのときの測
定値が校正液の濃度に一致するよう自動的校正す
ることをいう。従つて、自動校正には、校正液を
検出器に流すための弁の切換、ポンプの駆動とい
う作業、及び測定値に基づいて演算するための演
算作業を含む。演算部３では自動校正の結果を利
用し、試料の検出信号から試料の濃度が算出され
る。この濃度は図外の表示部を通じて表示され
る。演算部３は上記演算の他、記憶機能も有して
いる。第１比較部４は校正前と後における校正液
の測定値を比較する。校正前における校正液の測
定値は演算部３の前述した記憶機能によつて記憶
され、校正後の校正液の測定値と同時に出力され
る。第１比較部４の発する出力（比較値）は、ス
パンボリユームの回転量、即ち、いわゆる校正量
に相当し、濃度計に異常がない場合には、ある範
囲内の小さな値である。しかし、校正と校正との
間の測定中に検出器の汚れ、変質等の異常を生じ
た場合には、大きな値となる。管理精度設定部５
は測定精度上から要求される管理値が設定してあ
る。第２比較部６は第１比較部の出力と前記管理
値とを比較する。周期決定部７は、第２比較部６
の比較結果から周期を決定する。第１比較部４の
出力が、管理値を越えている場合、校正周期は短
かく、逆に管理値より小さい場合、校正周期は長
く決定される。前記プログラムコントローラ２
は、周期決定部７で決定された周期に従つて校正
を行なうよう制御される。 このように校正周期を長短制御すれば、校正と
校正の間の測定誤差を所定の範囲におさえること
ができ、測定精度の予測が可能となる。尚、検出
器１以外の構成は、マイクロコンピユータのプロ
グラミングによつて実現することができる。 次に、第２図は本発明の具体例で、電気メツキ
液のPHを測定するよう構成された測定計器を示
し、１１はメツキ槽、１２はメツキ槽１１とは別
個に設けた電極チヤンバである。メツキ槽11内の
試料（メツキ液）は、メツキ液導入弁１３が開状
態のときサンプリングポンプ１４によつて電極チ
ヤンバに導入され、測定に供される。一方、測定
を終えた試料はもどり管１５を通じてメツキ槽１
１に戻される。１６は洗浄液タンク、１７は第１
校正液タンク、１８は第２校正液タンクで、各タ
ンク内の液は各タンクの配管中に設けられた導入
弁１９，２０，２１を開き、導入ポンプ２２を作
動することにより電極チヤンバ１２内に導入する
ことができる。２３は圧力空気導入弁で、前記各
液を電極チヤンバ１２内に導入する際、この弁も
一定時間開いて圧力空気によるバブリングを行な
うようにている。２４は排出弁、２５は電極チヤ
ンバ１２内に設けたPH測定用電極、２６は温度検
出器である。PH測定用電極自体が温度検出器を内
装している場合にはそれを用いればよく、別個に
温度検出器を設ける必要はない。２７はPH測定用
電極２５内の比較電極に導入するKclを貯めたタ
ンク、２８はメツキ槽１１内の試料の温度を検出
するセンサー、２９はこのセンサーからの温度信
号及び前記PH測定用電極２５と温度検出器２６か
らの検出信号の３者から演算によつてメツキ槽１
１内の試料のPHを算出する演算部である。尚、メ
ツキ槽１１が一定温度に管理されている場合には
温度センサー２８は不要である。その場合、一定
温度を示す信号を抵抗器等によつて作り出し演算
部２９に入力するようにすればい。３０は上記各
弁、ポンプを一定の順序にしたがつて作動させ、
自動洗浄、校正液の導入、サンプリング動作を遂
行するプログラムコントローラである。 次に、プログラムコントローラ３０によつて遂
行される自動洗浄、校正液の導入、サンプリング
の各動作を説明する。 自動洗浄、校正液の導入 排出弁２４を開き、電極チヤンバ１２内の液
を排出した後、導入弁１９を開き、導入ポンプ
２２を作動させる。これにより、洗浄液が電極
チヤンバ１２内に導入される。このとき同時に
圧力空気導入弁２３も開き、電極チヤンバ１２
内で洗浄液をバブリングさせ洗浄効果を高め
る。 洗浄を完了すれば、排出弁２４を開き、洗浄
液を排出し、次に導入弁２０を開く、これによ
つて第１校正液が電極チヤンバ１２内に導入さ
れる。この場合も圧力空気導入弁２３を開き、
第１の校正液をバブリングさせる。前液の影響
を除去するのに十分な時間バブリングした後、
排出弁２４を開き、排出する。排出完了後、再
び導入弁２０を開き、第１校正液を電極チヤン
バ１２内に導入する。そして、このときの電極
チヤンバ内の液温度TAと、電極電位EAとを検
出し、その検出信号TA，EAを演算に入力する。 検出を終わると、排出弁２４を開き、第１校
正液を排出した後、導入弁２１を開き、第２校
正液を電極チヤンバ１２内に導入する。この場
合も、の第１校正液の場合と同様、２回導入
する。１回目は前液の影響除去のため、２回目
は温度TBと電極電位EBの検出のためである。
２回目の導入によつて検出された検出信号TB，
EBは演算部２９に入力される。 サンプリング動作 上記動作を終わると、排出弁２４を開き、第２
の校正液を排出した後、サンプリングポンプ１４
が作動し、メツキ液導入弁１３が開いて、試料が
電極チヤンバ１２内に採取される。このときの電
極電位EX、電極チヤンバ内の液温度TXが検出さ
れ、メツキ槽１１内の温度Ttを示す温度信号と
共に演算部２９に入力される。 演算部での処理 上記各検出信号及び温度信号Ttが入力される
と、演算部は次の如き処理を行なう。 校正液のPH値算出 第１、第２校正液の温度検出値TA，TBから校
正液のPH値を次式に基づいて求める。 PH＝ａ／Ｔ＋ｂ＋cT＋dT2 …(1) 但し、Ｔは校正液の絶対温度である。上式中
ａ，ｂ，ｃ及びｄは液固有の定数で、一例として
しゆう酸塩とフタル酸塩についてのａ，ｂ，ｃ及
びｄの値を次表に示す。
る。 〈従来技術〉 一般に化学量を対象とする検出器は長期安定性
の劣るものが多いが、要求される測定項目からや
むなく補正、校正等の補修を行ないつつ使用して
いる。このような補修はなるべく手がかからない
ことが望ましく、そのため従来より自動校正機能
を付設した計器が多く使用されている。 しかるに、従来の自動校正機能付計器は、校正
動作を一定の決められた時間おきに行なうもので
あるため、校正と校正との間の測定中に検出器の
変質、劣化等によつて測定精度が低下していて
も、次の校正までの間はその低い精度のままで測
定を続けざるを得ないものであり、そのため測定
途中における精度の予測ができないといつた不都
合がある。このような事情は濃度計も例外ではな
く、特に濃度計の場合、測定中精度を低下する要
因が検出器の汚れ、変質、腐蝕、破損等々と多く
あり、それらが頻繁に生じるものであるから、上
記不都合の解消が急務となつている。 〈発明の目的〉 本発明は、測定中に精度を低下させる要因が生
じた場合、それに対応して次の校正時の校正量が
多くなることに鑑み、校正周期を長短制御して、
校正量が、測定精度をある限度以上に維持する上
で許容できる範囲内であるようにし、もつて上述
した不都合の解決を図つたものである。 〈発明の構成〉 上記目的を達成するため、本発明に係る自動校
正機能付濃度計は、試料及び校正用物質の濃度に
応じた信号を発する検出器と、検出器がある周期
で校正用物質の検出を行なうよう制御するプログ
ラムコントローラと、校正用物質の検出信号によ
つて自動校正し、試料の検出信号によつて濃度を
求める演算を行なう演算部と、校正前と後におけ
る校正用物質の測定値を比較する第１比較部と、
要求される測定精度に応じた管理値が設定された
管理精度設定部と、第１比較部の比較値を管理精
度設定部の管理値と比較する第２比較部と、この
第２比較部の比較結果から校正周期を決定する周
期決定部をからなり、周期決定部で決定された周
期に従つて校正を行なうようプログラムコントロ
ーラを制御することを要旨としている。 〈実施例〉 第１図は本発明の基本構成を示すブロツク図
で、１は検出器、２はプログラムコントローラ、
３は演算部、４は第１比較部、５は管理精度設定
部、６は第２比較部、７は周期決定部である。検
出器１は試料及び校正用物質の濃度に応じた信号
を発する。濃度計としてPH計の場合には校正液は
２種の校正液を用い、また検出器１はPH測定用電
極と温度検出器を用いる。プログラムコントロー
ラ２はある周期で校正を行なうよう制御する。自
動校正は、検出器に校正液を流し、そのときの測
定値が校正液の濃度に一致するよう自動的校正す
ることをいう。従つて、自動校正には、校正液を
検出器に流すための弁の切換、ポンプの駆動とい
う作業、及び測定値に基づいて演算するための演
算作業を含む。演算部３では自動校正の結果を利
用し、試料の検出信号から試料の濃度が算出され
る。この濃度は図外の表示部を通じて表示され
る。演算部３は上記演算の他、記憶機能も有して
いる。第１比較部４は校正前と後における校正液
の測定値を比較する。校正前における校正液の測
定値は演算部３の前述した記憶機能によつて記憶
され、校正後の校正液の測定値と同時に出力され
る。第１比較部４の発する出力（比較値）は、ス
パンボリユームの回転量、即ち、いわゆる校正量
に相当し、濃度計に異常がない場合には、ある範
囲内の小さな値である。しかし、校正と校正との
間の測定中に検出器の汚れ、変質等の異常を生じ
た場合には、大きな値となる。管理精度設定部５
は測定精度上から要求される管理値が設定してあ
る。第２比較部６は第１比較部の出力と前記管理
値とを比較する。周期決定部７は、第２比較部６
の比較結果から周期を決定する。第１比較部４の
出力が、管理値を越えている場合、校正周期は短
かく、逆に管理値より小さい場合、校正周期は長
く決定される。前記プログラムコントローラ２
は、周期決定部７で決定された周期に従つて校正
を行なうよう制御される。 このように校正周期を長短制御すれば、校正と
校正の間の測定誤差を所定の範囲におさえること
ができ、測定精度の予測が可能となる。尚、検出
器１以外の構成は、マイクロコンピユータのプロ
グラミングによつて実現することができる。 次に、第２図は本発明の具体例で、電気メツキ
液のPHを測定するよう構成された測定計器を示
し、１１はメツキ槽、１２はメツキ槽１１とは別
個に設けた電極チヤンバである。メツキ槽11内の
試料（メツキ液）は、メツキ液導入弁１３が開状
態のときサンプリングポンプ１４によつて電極チ
ヤンバに導入され、測定に供される。一方、測定
を終えた試料はもどり管１５を通じてメツキ槽１
１に戻される。１６は洗浄液タンク、１７は第１
校正液タンク、１８は第２校正液タンクで、各タ
ンク内の液は各タンクの配管中に設けられた導入
弁１９，２０，２１を開き、導入ポンプ２２を作
動することにより電極チヤンバ１２内に導入する
ことができる。２３は圧力空気導入弁で、前記各
液を電極チヤンバ１２内に導入する際、この弁も
一定時間開いて圧力空気によるバブリングを行な
うようにている。２４は排出弁、２５は電極チヤ
ンバ１２内に設けたPH測定用電極、２６は温度検
出器である。PH測定用電極自体が温度検出器を内
装している場合にはそれを用いればよく、別個に
温度検出器を設ける必要はない。２７はPH測定用
電極２５内の比較電極に導入するKclを貯めたタ
ンク、２８はメツキ槽１１内の試料の温度を検出
するセンサー、２９はこのセンサーからの温度信
号及び前記PH測定用電極２５と温度検出器２６か
らの検出信号の３者から演算によつてメツキ槽１
１内の試料のPHを算出する演算部である。尚、メ
ツキ槽１１が一定温度に管理されている場合には
温度センサー２８は不要である。その場合、一定
温度を示す信号を抵抗器等によつて作り出し演算
部２９に入力するようにすればい。３０は上記各
弁、ポンプを一定の順序にしたがつて作動させ、
自動洗浄、校正液の導入、サンプリング動作を遂
行するプログラムコントローラである。 次に、プログラムコントローラ３０によつて遂
行される自動洗浄、校正液の導入、サンプリング
の各動作を説明する。 自動洗浄、校正液の導入 排出弁２４を開き、電極チヤンバ１２内の液
を排出した後、導入弁１９を開き、導入ポンプ
２２を作動させる。これにより、洗浄液が電極
チヤンバ１２内に導入される。このとき同時に
圧力空気導入弁２３も開き、電極チヤンバ１２
内で洗浄液をバブリングさせ洗浄効果を高め
る。 洗浄を完了すれば、排出弁２４を開き、洗浄
液を排出し、次に導入弁２０を開く、これによ
つて第１校正液が電極チヤンバ１２内に導入さ
れる。この場合も圧力空気導入弁２３を開き、
第１の校正液をバブリングさせる。前液の影響
を除去するのに十分な時間バブリングした後、
排出弁２４を開き、排出する。排出完了後、再
び導入弁２０を開き、第１校正液を電極チヤン
バ１２内に導入する。そして、このときの電極
チヤンバ内の液温度TAと、電極電位EAとを検
出し、その検出信号TA，EAを演算に入力する。 検出を終わると、排出弁２４を開き、第１校
正液を排出した後、導入弁２１を開き、第２校
正液を電極チヤンバ１２内に導入する。この場
合も、の第１校正液の場合と同様、２回導入
する。１回目は前液の影響除去のため、２回目
は温度TBと電極電位EBの検出のためである。
２回目の導入によつて検出された検出信号TB，
EBは演算部２９に入力される。 サンプリング動作 上記動作を終わると、排出弁２４を開き、第２
の校正液を排出した後、サンプリングポンプ１４
が作動し、メツキ液導入弁１３が開いて、試料が
電極チヤンバ１２内に採取される。このときの電
極電位EX、電極チヤンバ内の液温度TXが検出さ
れ、メツキ槽１１内の温度Ttを示す温度信号と
共に演算部２９に入力される。 演算部での処理 上記各検出信号及び温度信号Ttが入力される
と、演算部は次の如き処理を行なう。 校正液のPH値算出 第１、第２校正液の温度検出値TA，TBから校
正液のPH値を次式に基づいて求める。 PH＝ａ／Ｔ＋ｂ＋cT＋dT2 …(1) 但し、Ｔは校正液の絶対温度である。上式中
ａ，ｂ，ｃ及びｄは液固有の定数で、一例として
しゆう酸塩とフタル酸塩についてのａ，ｂ，ｃ及
びｄの値を次表に示す。
【表】
電極感度Ａと不斉電位Ｂの算出
次式に基づいて電極感度Ａを算出する。
Ａ＝EA−EB／ａ｛TA（PHA−７）−TB（PHB−
７）｝…(2) 又、次式に基づいて不斉電位Ｂを算出する。 Ｂ＝EB・TA（PHA−７）−EA・TB（PHB−７）
／TA（PHA−７）−TB（PHB−７）…(3) ここに、PHAは第１校正液のPH値、PHBは第２校
正液のPH値で夫々第(1)式に従つて求められる。ａ
はガラス電極の温度補正係数（１／273.15）であ
る。これらＡ，Ｂを算出することによつて自動校
正が完了する。 電極チヤンバ内のPH値の算出 電極チヤンバ内のPH値（PHX）は次式によつて
求められる。 PHX＝EX−Ｂ／Ａ・ａ・TX＋７ …(4) 但し、EX：電極チヤンバ内試料の電極電位 TX：電極チヤンバ内試料の温度（゜Ｋ） メツキ槽内試料のPH値の算出 上記〜によつてPHXが求まると、メツキ槽
内温度Ttを示す温度信号と共に次式に従つて演
算することによりメツキ液槽内試料のPH値を求め
ることができる。 PHt＝PHX−ｋ（Tt−TX） …(5) 但し、ｋはメツキ液の温度補正係数である。こ
のｋはメツキ液の種類によつて異なる。ｋの値は
メツキ液の分析により求めることができる。例え
ばZn−Fe系メツキ液の場合、ｋは ｋ＝0.013−0.07WFe 3+ …(6) で与えられる。但し、WFe 3+はメツキ液のFe3+
濃度（ｗ／ｖ％）である。上記(6)式のようにｋの
値がイオン濃度によつて変化する場合には、(6)式
を演算部に記憶させておくと共に、測定の都度イ
オン濃度を入力してｋを演算によつて求めるよう
にしておけば、メツキ液のｋが刻々変化してもそ
れに対応してPHtを誤差なく求めることができ、
便利である。 上記の如くして求められたPHtは伝送出力とし
て演算部２９から出力され、図外表示部にて表示
される。尚、校正中において、第１校正液から第
２校正液に切替えた際、電極電位がEAからEBに
変化するが、その全変化量の90％に達する時間を
計測したり、或いは単位時間当りの電位変化量を
計測して電極の応答速度を算出するようにすれ
ば、電極の寿命の客観的な判断に供することがで
きる。 次に、第３図は演算部２９の出力信号を用いて
校正周期を自動調節するようにした回路で、第１
比較部３１と、管理精度設定部３２と第２比較部
３３と、周期決定部３４とから構成されている。
第１比較部３１は、校正前と後とにおける校正液
の測定値の差を求める。ここで校正前における校
正液の測定値とは、不斉電位や電極感度の調整を
する前に測定した校正液の測定値をいい、校正後
における校正液の測定値とは、そのような調整を
行なつた後の校正液の測定値をいう。管理精度設
定部３２は、校正前後における校正液測定値の差
として測定精度上許容できる限界の値が設定され
ている。第２比較部３３は前記比較値と管理精度
設定部３２の設定値とを比較する。周期決定部３
４は、第２比較部３３の比較結果から校正周期を
決定する。即ち、第１比較部３１の比較値が管理
精度設定部３２の設定値を越えている場合には、
校正周期を短かくし、逆に比較値が設定値を越え
ていない場合には校正周期を長くする。校正周期
を長く或いは短かくする方法としては、例えば校
正周期を単位時間ずつ長く或いは短かくするとい
う方法によればよい。周期決定部３４で決定され
た校正周期はプログラムコントローラ３０に入力
され、該コントローラ３０に設定された校正周期
を長短制御する。図中、３５は第１警報器で、第
１比較部３１の比較値が管理精度設定部３２の設
定値を越えた場合に作動する。３６は第２警報器
で、校正周期が最小周期設定部３７に設定された
最小校正周期よりも短かくなると作動する。３８
は比較器である。 尚、上記実施例で、第１警報部３５が作動すれ
ば、計器に何らかの異常が発生したと判断できる
が、このような異常判断は第４図に示す回路によ
つても実現できる。同図の回路は、記憶部３９
と、比較部４０と管理精度設定部４１と判定部４
２とから構成される。記憶部３９は、前回の校正
時における測定値を記憶している。比較部４０
は、記憶部３９から出力される前回の校正時の測
定値と、演算部２９から出力される今回の校正時
の測定値を比較する。通常、この比較値はある小
さな範囲内の値である筈であるが、前回の校正と
今回の校正との間に例えばガラス電極の応答膜の
破れ、汚れ、変質、比較電極の汚れ、内極の化学
変化等の異常が生じると、前記範囲を越える大き
な値となる。管理精度設定部４１は、前記比較値
として許容できる最大の値が設定してある。この
値は計器として要求される測定精度から決定され
る。判定部４２は、比較値が管理精度設定部４１
の設定値を越えているかどうかをみ、越えている
場合、異常信号を発する。このようにして異常動
作の検出を行なうことにより、校正と校正との間
の測定時における計器精度を管理することができ
ると共に、要求される測定精度の範囲で出来るだ
け校正周期を長くすることができるし、またそれ
に伴なつて高価な校正液の有効利用が図れるとい
つた利点がある。 〈発明の効果〉 本発明に係る自動校正機能付濃度計は上述の如
く構成したので次のような効果がある。 各校正時において校正前と後との校正用物質
の測定値の差が一定の管理値の範囲内におさま
るよう校正周期が調整されるため、校正と校正
との間の測定中における精度が予測でき、測定
の信頼度も高まる。 校正周期が自動的に最適に調整される結果、
高価な校正用物質の有効利用、ランニングコス
トの低下を図ることができる。 校正周期の長さの変化から検出器の寿命を把
握することができ、検出器の交換を適正時期に
実施できる。
７）｝…(2) 又、次式に基づいて不斉電位Ｂを算出する。 Ｂ＝EB・TA（PHA−７）−EA・TB（PHB−７）
／TA（PHA−７）−TB（PHB−７）…(3) ここに、PHAは第１校正液のPH値、PHBは第２校
正液のPH値で夫々第(1)式に従つて求められる。ａ
はガラス電極の温度補正係数（１／273.15）であ
る。これらＡ，Ｂを算出することによつて自動校
正が完了する。 電極チヤンバ内のPH値の算出 電極チヤンバ内のPH値（PHX）は次式によつて
求められる。 PHX＝EX−Ｂ／Ａ・ａ・TX＋７ …(4) 但し、EX：電極チヤンバ内試料の電極電位 TX：電極チヤンバ内試料の温度（゜Ｋ） メツキ槽内試料のPH値の算出 上記〜によつてPHXが求まると、メツキ槽
内温度Ttを示す温度信号と共に次式に従つて演
算することによりメツキ液槽内試料のPH値を求め
ることができる。 PHt＝PHX−ｋ（Tt−TX） …(5) 但し、ｋはメツキ液の温度補正係数である。こ
のｋはメツキ液の種類によつて異なる。ｋの値は
メツキ液の分析により求めることができる。例え
ばZn−Fe系メツキ液の場合、ｋは ｋ＝0.013−0.07WFe 3+ …(6) で与えられる。但し、WFe 3+はメツキ液のFe3+
濃度（ｗ／ｖ％）である。上記(6)式のようにｋの
値がイオン濃度によつて変化する場合には、(6)式
を演算部に記憶させておくと共に、測定の都度イ
オン濃度を入力してｋを演算によつて求めるよう
にしておけば、メツキ液のｋが刻々変化してもそ
れに対応してPHtを誤差なく求めることができ、
便利である。 上記の如くして求められたPHtは伝送出力とし
て演算部２９から出力され、図外表示部にて表示
される。尚、校正中において、第１校正液から第
２校正液に切替えた際、電極電位がEAからEBに
変化するが、その全変化量の90％に達する時間を
計測したり、或いは単位時間当りの電位変化量を
計測して電極の応答速度を算出するようにすれ
ば、電極の寿命の客観的な判断に供することがで
きる。 次に、第３図は演算部２９の出力信号を用いて
校正周期を自動調節するようにした回路で、第１
比較部３１と、管理精度設定部３２と第２比較部
３３と、周期決定部３４とから構成されている。
第１比較部３１は、校正前と後とにおける校正液
の測定値の差を求める。ここで校正前における校
正液の測定値とは、不斉電位や電極感度の調整を
する前に測定した校正液の測定値をいい、校正後
における校正液の測定値とは、そのような調整を
行なつた後の校正液の測定値をいう。管理精度設
定部３２は、校正前後における校正液測定値の差
として測定精度上許容できる限界の値が設定され
ている。第２比較部３３は前記比較値と管理精度
設定部３２の設定値とを比較する。周期決定部３
４は、第２比較部３３の比較結果から校正周期を
決定する。即ち、第１比較部３１の比較値が管理
精度設定部３２の設定値を越えている場合には、
校正周期を短かくし、逆に比較値が設定値を越え
ていない場合には校正周期を長くする。校正周期
を長く或いは短かくする方法としては、例えば校
正周期を単位時間ずつ長く或いは短かくするとい
う方法によればよい。周期決定部３４で決定され
た校正周期はプログラムコントローラ３０に入力
され、該コントローラ３０に設定された校正周期
を長短制御する。図中、３５は第１警報器で、第
１比較部３１の比較値が管理精度設定部３２の設
定値を越えた場合に作動する。３６は第２警報器
で、校正周期が最小周期設定部３７に設定された
最小校正周期よりも短かくなると作動する。３８
は比較器である。 尚、上記実施例で、第１警報部３５が作動すれ
ば、計器に何らかの異常が発生したと判断できる
が、このような異常判断は第４図に示す回路によ
つても実現できる。同図の回路は、記憶部３９
と、比較部４０と管理精度設定部４１と判定部４
２とから構成される。記憶部３９は、前回の校正
時における測定値を記憶している。比較部４０
は、記憶部３９から出力される前回の校正時の測
定値と、演算部２９から出力される今回の校正時
の測定値を比較する。通常、この比較値はある小
さな範囲内の値である筈であるが、前回の校正と
今回の校正との間に例えばガラス電極の応答膜の
破れ、汚れ、変質、比較電極の汚れ、内極の化学
変化等の異常が生じると、前記範囲を越える大き
な値となる。管理精度設定部４１は、前記比較値
として許容できる最大の値が設定してある。この
値は計器として要求される測定精度から決定され
る。判定部４２は、比較値が管理精度設定部４１
の設定値を越えているかどうかをみ、越えている
場合、異常信号を発する。このようにして異常動
作の検出を行なうことにより、校正と校正との間
の測定時における計器精度を管理することができ
ると共に、要求される測定精度の範囲で出来るだ
け校正周期を長くすることができるし、またそれ
に伴なつて高価な校正液の有効利用が図れるとい
つた利点がある。 〈発明の効果〉 本発明に係る自動校正機能付濃度計は上述の如
く構成したので次のような効果がある。 各校正時において校正前と後との校正用物質
の測定値の差が一定の管理値の範囲内におさま
るよう校正周期が調整されるため、校正と校正
との間の測定中における精度が予測でき、測定
の信頼度も高まる。 校正周期が自動的に最適に調整される結果、
高価な校正用物質の有効利用、ランニングコス
トの低下を図ることができる。 校正周期の長さの変化から検出器の寿命を把
握することができ、検出器の交換を適正時期に
実施できる。
第１図は本発明の基本的な構成を示すブロツク
図、第２図、第３図は電気メツキ液のPH測定装置
に本発明を適用した例を示す図、第４図は第２図
の装置の異常判断を行なう回路を示す図である。 １，２５……検出器、２，３０……プログラム
コントローラ、３，２９……演算部、４，３１…
…第１比較部、５，３２……管理精度設定部、
６，３３……第２比較部、７，３４……周期決定
部。
図、第２図、第３図は電気メツキ液のPH測定装置
に本発明を適用した例を示す図、第４図は第２図
の装置の異常判断を行なう回路を示す図である。 １，２５……検出器、２，３０……プログラム
コントローラ、３，２９……演算部、４，３１…
…第１比較部、５，３２……管理精度設定部、
６，３３……第２比較部、７，３４……周期決定
部。
Claims (1)
- １ 試料及び校正用物質の濃度に応じた信号を発
する検出器と、検出器がある周期で校正用物質の
検出を行なうよう制御するプログラムコントロー
ラと、校正用物質の検出信号によつて自動校正
し、試料の検出信号によつて濃度を求める演算を
行なう演算部と、校正前と後における校正用物質
の測定値を比較する第１比較部と、要求される測
定精度に応じた管理値が設定された管理精度設定
部と、第１比較部の比較値を管理精度設定部の管
理値と比較する第２比較部と、この第２比較部の
比較結果から校正周期を決定する周期決定部とか
らなり、周期決定部で決定された周期に従つて校
正を行なうようプログラムコントローラを制御す
ることを特徴とする自動校正機能付濃度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15492384A JPS6131952A (ja) | 1984-07-25 | 1984-07-25 | 自動校正機能付濃度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15492384A JPS6131952A (ja) | 1984-07-25 | 1984-07-25 | 自動校正機能付濃度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6131952A JPS6131952A (ja) | 1986-02-14 |
| JPH0321867B2 true JPH0321867B2 (ja) | 1991-03-25 |
Family
ID=15594901
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15492384A Granted JPS6131952A (ja) | 1984-07-25 | 1984-07-25 | 自動校正機能付濃度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6131952A (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0197850A (ja) * | 1987-03-02 | 1989-04-17 | Japan Storage Battery Co Ltd | 自動更正付酸素濃度警報器 |
| JPH03134552A (ja) * | 1989-10-20 | 1991-06-07 | Hitachi Ltd | 自己較正機能付検出装置 |
| JP4591105B2 (ja) * | 2004-05-31 | 2010-12-01 | 横河電機株式会社 | 校正方法 |
| JP2006253556A (ja) * | 2005-03-14 | 2006-09-21 | Jeol Ltd | 荷電粒子ビーム描画装置の校正方法 |
| CN102128871A (zh) * | 2010-11-29 | 2011-07-20 | 西安热工研究院有限公司 | 一种流动加入式钠表检验方法及装置 |
| EP3111204A4 (en) * | 2014-02-24 | 2017-12-06 | Mocon, Inc. | Rugged target-analyte permeation testing instrument employing a consolidating block manifold |
| JP7451751B2 (ja) * | 2020-10-09 | 2024-03-18 | 三菱重工業株式会社 | 分析システム及び管理システム、並びに分析方法、並びに分析プログラム |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6311633Y2 (ja) * | 1981-05-22 | 1988-04-05 |
-
1984
- 1984-07-25 JP JP15492384A patent/JPS6131952A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6131952A (ja) | 1986-02-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4514174B2 (ja) | 自動検査システムにおける、吸引液量を検証する方法 | |
| US4675834A (en) | Pressure variation detecting type leakage inspection system with temperature compensation | |
| US6931925B2 (en) | Method for determining the current filling level of a liquid in a container | |
| JP2511062B2 (ja) | ガス検定方法及び装置 | |
| US5268852A (en) | Self diagnostic pH sensor | |
| US11156584B2 (en) | Predictive lifespan of analytical sensors | |
| JPH0321867B2 (ja) | ||
| EP1232382B1 (en) | Method and apparatus for detection of a bubble in a liquid | |
| JP2005030885A (ja) | 漏洩検出装置およびこれを用いた漏洩検出システム | |
| JP2022536720A (ja) | 毛細管制限型のセンサへの問い合わせ | |
| JPS6131951A (ja) | 異常判断機能付濃度計 | |
| EP0517339A1 (en) | Method of determining, with the aid of an ion-selective electrode, the concentration of a substance to be determined, and apparatus to be used in said method | |
| JPH01110218A (ja) | 気体流量計及び気体流量制御装置 | |
| JPS6131959A (ja) | 電気メツキ液のｐＨ測定方法 | |
| JPH05322843A (ja) | イオン電極を用いた電解質分析装置 | |
| JPH04132948A (ja) | 寿命予測表示付ｐＨ計 | |
| JPH04191650A (ja) | イオン測定装置 | |
| JPH08220049A (ja) | 電解質測定法及び装置 | |
| JPH0122156Y2 (ja) | ||
| JPS62240848A (ja) | 体液成分定量計 | |
| JPH0643133A (ja) | 生化学分析装置 | |
| JPS5840698B2 (ja) | イオン濃度分析方法 | |
| US20240027388A1 (en) | Auto-calibration ph sensor | |
| JP3059564B2 (ja) | アルコール濃度検出装置 | |
| JPS62168045A (ja) | 成分測定法 |