JPH03214329A - 集積回路装置のテスト回路 - Google Patents
集積回路装置のテスト回路Info
- Publication number
- JPH03214329A JPH03214329A JP2011316A JP1131690A JPH03214329A JP H03214329 A JPH03214329 A JP H03214329A JP 2011316 A JP2011316 A JP 2011316A JP 1131690 A JP1131690 A JP 1131690A JP H03214329 A JPH03214329 A JP H03214329A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- operation mode
- mode
- test
- input
- terminal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 abstract 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005281 excited state Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、通常動作モードとテスト専用の動作モード（
以下、テスト・モードと呼ぶ）を有する集積回路装置に
おいて、テスト・モードの起動に専用の起動端子を不要
にしたテスト回路に関するものである。
以下、テスト・モードと呼ぶ）を有する集積回路装置に
おいて、テスト・モードの起動に専用の起動端子を不要
にしたテスト回路に関するものである。
従来の技術
集積回路装置のテスト・モード起動方法の従来例を第２
図に示す。第２図において、動作モード決定回路２は通
常動作モードとテスト・モードの決定回路であり、専用
のテスト・モード起動端子（ＴＥＳＴ）１の状態（“Ｈ
”又は“Ｌ”）に第３図にテスト・モード起動端子の一
使用例を示す。テスト・モード起動端子（ＴＥＳＴ）を
接地（第３図（ａ））すると通常動作モードとなり、Ｔ
ＥＳＴを電源電位（Ｖｏｏ） （第３図（ｂ））にす
るとテスト・モードとなる。
図に示す。第２図において、動作モード決定回路２は通
常動作モードとテスト・モードの決定回路であり、専用
のテスト・モード起動端子（ＴＥＳＴ）１の状態（“Ｈ
”又は“Ｌ”）に第３図にテスト・モード起動端子の一
使用例を示す。テスト・モード起動端子（ＴＥＳＴ）を
接地（第３図（ａ））すると通常動作モードとなり、Ｔ
ＥＳＴを電源電位（Ｖｏｏ） （第３図（ｂ））にす
るとテスト・モードとなる。
発明が解決しようとする課題
ところが、このテスト・モードの起動方法ではテスト・
モード起動用の専用の端子が必要となる。
モード起動用の専用の端子が必要となる。
通常、集積回路装置は限られた端子数で、より多くの機
能端子を有することを要求されており、通常動作モード
にとっては不要なテスト・モード起動用の専用端子を有
することは、結果的に集積回路装置の機能を低下させる
ことになる。
能端子を有することを要求されており、通常動作モード
にとっては不要なテスト・モード起動用の専用端子を有
することは、結果的に集積回路装置の機能を低下させる
ことになる。
本発明は、このような従来の問題点を解決する集積回路
装置のテスト回路を提供することを目的とする。
装置のテスト回路を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段
本発明は、通常動作モードにおいて、その論理的入出力
関係が一意的に決定されている自励発振端子の論理的入
出力関係を、通常動作モードでは発生しない論理に外部
より強制的に変更することによりテスト・モードを起動
するものである。
関係が一意的に決定されている自励発振端子の論理的入
出力関係を、通常動作モードでは発生しない論理に外部
より強制的に変更することによりテスト・モードを起動
するものである。
作用
このように、通常動作モードで使用する機能端子を利用
してテスト・モードを起動することにより、専用のテス
ト・モート起動端子が不要となり、集積回路装置の機能
を向上させることができる。
してテスト・モードを起動することにより、専用のテス
ト・モート起動端子が不要となり、集積回路装置の機能
を向上させることができる。
実施例
以下、本発明の一実施例を第１図を用いて説明する。
第１図は集積回路装置の自動発振端子の入出力信号を利
用してテスト・モーＩ・を起動するテスト回路の一実施
例である。
用してテスト・モーＩ・を起動するテスト回路の一実施
例である。
第１図ｉ．ａ’＋は通常動作モードを示すものであり、
自励発振の入出力端子７，８の外部に発振回路を設け、
内部クロツク３を発生する。自励発振モードにおいては
、入出力端子７，８の関係は互いに負論理であり、いか
なるタイミングにおいても互いに同電位になることはな
い。
自励発振の入出力端子７，８の外部に発振回路を設け、
内部クロツク３を発生する。自励発振モードにおいては
、入出力端子７，８の関係は互いに負論理であり、いか
なるタイミングにおいても互いに同電位になることはな
い。
動作モード決定回路５は入出力端子７，８の排他的論理
和によって動作モード決定信号を発生する回路である。
和によって動作モード決定信号を発生する回路である。
従って、入出力端子が互いに負論理となる自励発振モー
ドでは動作モード決定信号は“Ｈ”となり動作モードを
通常動作モードに決定する。
ドでは動作モード決定信号は“Ｈ”となり動作モードを
通常動作モードに決定する。
次に、第１図（ｂ）はテスト・モードを示すものであり
、入出力端子７．８に、外部より同相のクロックを入力
する他励状態にし、内部クロツク３を出力端子８から入
力する。このモードでは動作モード決定回路５の入力は
同相となるため、動作モード決定信号４は“Ｌ”となり
、半導体装置の動作モードをテスト・モードに決定する
。
、入出力端子７．８に、外部より同相のクロックを入力
する他励状態にし、内部クロツク３を出力端子８から入
力する。このモードでは動作モード決定回路５の入力は
同相となるため、動作モード決定信号４は“Ｌ”となり
、半導体装置の動作モードをテスト・モードに決定する
。
このように、通常動作モードの機能端子を用いてテスト
・モードを起動することにより、専用の起動用端子が不
要となる。文、本実施例に示すように集積回路装置の自
励発振端子を利用することにより、内部の動作状態を変
更することなくテスト・モードを起動することができる
。
・モードを起動することにより、専用の起動用端子が不
要となる。文、本実施例に示すように集積回路装置の自
励発振端子を利用することにより、内部の動作状態を変
更することなくテスト・モードを起動することができる
。
発明の効果
本発明は、通常動作モードとテスト・モードを有する集
積回路装置のテスト・モードの起動において、通常動作
モードで一意的な論理入出力関係にある自励発振端子に
、通常の動作モードでは発生しない論理入出力データを
外部より与えることにより、テスト・モードを起動する
テスト回路である。この構成により、テスト・モード起
動に専用の起動端子が不要となり、限られた端子数のな
かで多くの機能端子を有する集積回路装置の通常動作に
不要なテスト・モード起動用の専用端子を削除すること
により、集積回路装置の機能を著し《向上させることか
できる。
積回路装置のテスト・モードの起動において、通常動作
モードで一意的な論理入出力関係にある自励発振端子に
、通常の動作モードでは発生しない論理入出力データを
外部より与えることにより、テスト・モードを起動する
テスト回路である。この構成により、テスト・モード起
動に専用の起動端子が不要となり、限られた端子数のな
かで多くの機能端子を有する集積回路装置の通常動作に
不要なテスト・モード起動用の専用端子を削除すること
により、集積回路装置の機能を著し《向上させることか
できる。
さらに、この回路を実現するためには、簡単な回路を追
加するのみであり、既存の集積回路装置にも容易に応用
することかでき、しかも、自励発振端子以外の論理動作
が通常動作モードとテスト・モードで全《変わらないと
いう特徴かある。
加するのみであり、既存の集積回路装置にも容易に応用
することかでき、しかも、自励発振端子以外の論理動作
が通常動作モードとテスト・モードで全《変わらないと
いう特徴かある。
第１図（ａ） ， （ｂ）は本発明による自励発振端子
を用いたテスト・モード起動のテスト回路の一実施例の
回路図、第２図は従来のテスト・モード起動回路の回路
図、第３図は従来のテスト・モード起動端子の使用例を
示す図である。 １・・・・・・テスト・モード起動端子、２，５・・・
・・・動作モード決定回路、３・・・・・・クロック、
４・・・・・・動作モード決定信号、６・・・・・・ク
ロツク入力、７・・・・・・入力端子、８・・・・・・
出力端子。
を用いたテスト・モード起動のテスト回路の一実施例の
回路図、第２図は従来のテスト・モード起動回路の回路
図、第３図は従来のテスト・モード起動端子の使用例を
示す図である。 １・・・・・・テスト・モード起動端子、２，５・・・
・・・動作モード決定回路、３・・・・・・クロック、
４・・・・・・動作モード決定信号、６・・・・・・ク
ロツク入力、７・・・・・・入力端子、８・・・・・・
出力端子。
Claims (1)
- 通常動作モードで一意的な論理入出力関係にある自励発
振端子に、通常の動作モードでは発生しない論理入出力
データを外部より与えることにより、テスト専用の動作
モードを起動することを特徴とする集積回路装置のテス
ト回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2011316A JPH03214329A (ja) | 1990-01-19 | 1990-01-19 | 集積回路装置のテスト回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2011316A JPH03214329A (ja) | 1990-01-19 | 1990-01-19 | 集積回路装置のテスト回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03214329A true JPH03214329A (ja) | 1991-09-19 |
Family
ID=11774613
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2011316A Pending JPH03214329A (ja) | 1990-01-19 | 1990-01-19 | 集積回路装置のテスト回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03214329A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7518390B2 (en) * | 2004-01-20 | 2009-04-14 | Fujitsu Microelectronics Limited | Semiconductor integrated circuit device with a test circuit that measures a period to select a test mode |
-
1990
- 1990-01-19 JP JP2011316A patent/JPH03214329A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7518390B2 (en) * | 2004-01-20 | 2009-04-14 | Fujitsu Microelectronics Limited | Semiconductor integrated circuit device with a test circuit that measures a period to select a test mode |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH10208469A (ja) | 半導体メモリ装置 | |
| JPS62121374A (ja) | テストモ−ド起動回路 | |
| JP2550837B2 (ja) | スキャンパスのテスト制御回路 | |
| JPH03214329A (ja) | 集積回路装置のテスト回路 | |
| JPH05268016A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH09184870A (ja) | 集積回路装置 | |
| KR19980027922A (ko) | 다수개의 테스트 모드 설정 방법 및 그에 따른 장치 | |
| JPH0348468B2 (ja) | ||
| JP2897540B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
| JP2002311092A (ja) | スキャンフリップフロップと、スキャンパス回路およびその設計方法 | |
| JPH10290142A (ja) | 半導体集積回路のフリップフロップ回路とそのクロック制御回路 | |
| JP2702147B2 (ja) | 集積回路のテストモード設定回路 | |
| JPH11108995A (ja) | 関数クロック発生回路およびそれを用いたシフトレジスタ回路 | |
| JPH0682533A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH11296400A (ja) | モード設定回路 | |
| JPH0627200A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| JP2719809B2 (ja) | 自走クロック内蔵型回路の出力特性テスト方法 | |
| JPS59971B2 (ja) | シユウセキカイロソウチ | |
| JPH0818421A (ja) | リセットパルス発生回路 | |
| JPH06110582A (ja) | 信号同期回路 | |
| JPH07244124A (ja) | 集積回路チップ | |
| JPH11142478A (ja) | 半導体集積回路およびその使用方法 | |
| JPH04218936A (ja) | 集積回路装置 | |
| JPH02297683A (ja) | マイクロコンピュータ | |
| JP2001337139A (ja) | バーンインストレス回路を備えた半導体装置および半導体装置へのバーンインストレス印加方法 |