JPH03195955A - 画像検査装置 - Google Patents
画像検査装置Info
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- JPH03195955A JPH03195955A JP1337262A JP33726289A JPH03195955A JP H03195955 A JPH03195955 A JP H03195955A JP 1337262 A JP1337262 A JP 1337262A JP 33726289 A JP33726289 A JP 33726289A JP H03195955 A JPH03195955 A JP H03195955A
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 19
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 11
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 3
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 abstract 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 239000009566 Mao-to Substances 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Accessory Devices And Overall Control Thereof (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ）産業上の利用分野
この発明は、画像検出手段において検出されたサンプル
画像を予め記憶されている基準画像と比較し、サンプル
画像の良否を判断する画像検査装置に関する。
画像を予め記憶されている基準画像と比較し、サンプル
画像の良否を判断する画像検査装置に関する。
（ｂ）従来の技術
サンプル画像データを基準画像データと比較手段におい
て比較する場合、両者の画像位置を完全に一致させなけ
ればならず、このためにサンプル画像の読取タイミング
と基準画像の読取タイミングとを一致させなければなら
ない。そこで、従来の画像検査装置では、サンプル画像
の搬送経路中の所定位置におけるサンプル画像の検出タ
イミングに応じて比較手段における基準画像の読取タイ
ミングを設定するようにしていた。例えば、印刷用輪転
機の印刷物をサンプル画像として画像検査を行う場合、
ロール状の印刷用紙を収納した給紙部にロークリエンコ
ーダを設け、このロークリエンコーダの出力によって用
紙の給紙量を知り、この給紙量に基づいて基準画像の読
取タイミングを調節するようにしていた。
て比較する場合、両者の画像位置を完全に一致させなけ
ればならず、このためにサンプル画像の読取タイミング
と基準画像の読取タイミングとを一致させなければなら
ない。そこで、従来の画像検査装置では、サンプル画像
の搬送経路中の所定位置におけるサンプル画像の検出タ
イミングに応じて比較手段における基準画像の読取タイ
ミングを設定するようにしていた。例えば、印刷用輪転
機の印刷物をサンプル画像として画像検査を行う場合、
ロール状の印刷用紙を収納した給紙部にロークリエンコ
ーダを設け、このロークリエンコーダの出力によって用
紙の給紙量を知り、この給紙量に基づいて基準画像の読
取タイミングを調節するようにしていた。
（Ｃ）発明が解決しようとする課題
しかしながら、従来の画像検査装置では、サンプル画像
の移動量を機械的に検出し、この検出結果に基づいて基
準画像の読取タイミングを決定していたため、例えば、
長尺状の用紙に連続して画像が形成される場合、用紙の
伸縮による搬送方向の画像形成位置の誤差を検出するこ
とができず、サンプル画像データと基準画像データとを
比較する比較手段において、両者の画像位置を正確に一
致させることができず、画像の良否判別を行うことがで
きなくなる問題があった。
の移動量を機械的に検出し、この検出結果に基づいて基
準画像の読取タイミングを決定していたため、例えば、
長尺状の用紙に連続して画像が形成される場合、用紙の
伸縮による搬送方向の画像形成位置の誤差を検出するこ
とができず、サンプル画像データと基準画像データとを
比較する比較手段において、両者の画像位置を正確に一
致させることができず、画像の良否判別を行うことがで
きなくなる問題があった。
この発明の目的は、基準画像に対するサンプル画像の位
置的誤差をサンプル画像の投影パターンと基準画像の投
影パターンとの相関値演算により求め、その演算結果に
基づい′ζ比較手段における基準画像の読取タイミング
を調整することにより、比較手段においてサンプル画像
と１５ ｔｌＥ画像との画像位置を確実に一致させるこ
とができ、サンプル画像の良否判断を正確に行うことが
できる画像検査装置を提供することにある。
置的誤差をサンプル画像の投影パターンと基準画像の投
影パターンとの相関値演算により求め、その演算結果に
基づい′ζ比較手段における基準画像の読取タイミング
を調整することにより、比較手段においてサンプル画像
と１５ ｔｌＥ画像との画像位置を確実に一致させるこ
とができ、サンプル画像の良否判断を正確に行うことが
できる画像検査装置を提供することにある。
（ｄ）課題を解決するための手段
この発明の画像検査装置は、サンプル画像を基準画像と
比較する比較手段を備えた画像検査装置において、 サンプル画像のＸ方向投影パターンまたはＸ方向投影パ
ターンと基準画像の投影パターンとの相関値を求める相
関値演算手段と、相関値演算手段で得られた相関値の最
大値に基づいて前記比較手段における基準画像の読取タ
イミングを調整するタイミング補正手段と、を設けたこ
とを特徴とする。
比較する比較手段を備えた画像検査装置において、 サンプル画像のＸ方向投影パターンまたはＸ方向投影パ
ターンと基準画像の投影パターンとの相関値を求める相
関値演算手段と、相関値演算手段で得られた相関値の最
大値に基づいて前記比較手段における基準画像の読取タ
イミングを調整するタイミング補正手段と、を設けたこ
とを特徴とする。
（ｅ１作用
この発明においては、サンプル画像のＸ方向またはＸ方
向の投影パターンと基準画像の投影パターンとの相関値
が演算により求められ、得られた相関値のうし最大値を
とる偏差を基準画像に対するサンプル画像の位置的誤差
とし、この誤差番こ応じて比較手段における基準画像の
読取タイミングが調整される。従って、比較手段におい
てサンプル画像の読取タイミングと基準画像の読取タイ
ミングとが一致する。
向の投影パターンと基準画像の投影パターンとの相関値
が演算により求められ、得られた相関値のうし最大値を
とる偏差を基準画像に対するサンプル画像の位置的誤差
とし、この誤差番こ応じて比較手段における基準画像の
読取タイミングが調整される。従って、比較手段におい
てサンプル画像の読取タイミングと基準画像の読取タイ
ミングとが一致する。
（「）実施例
第２図は、この発明の実施例である画像検査装置が用い
られる印刷装置の構成を示す概略図である。
られる印刷装置の構成を示す概略図である。
新聞印刷用輪転機では、ロール状に収納された用紙２１
をゴムローラ２５とプラテンローラ２６との間に導く。
をゴムローラ２５とプラテンローラ２６との間に導く。
ゴムローラ２５には版ローラ２２が接触する。この版ロ
ーラ２２は水ローラ２３およびインクローラ２４から水
およびインクを供給され、版ローラ２２に巻着された版
上にインクが選択的に付着する。このインクが版ローラ
２２との接触によりゴムローラ２５にオフセットしたの
ち、ゴムローラ２５とプラテンローラ２６との間を通過
する用紙に転写される。用紙２１の搬送経絡を構成する
ローラ２７には光学ラインセンサ２９が対向して備えら
れている。この光学ラインセンサ２９によりサンプル画
像を検出し、画像検査装置１において予め記憶されてい
る基準画像と比較し、汚れや濃度分布の不良などを生じ
ている不良画像をカッタ２８で切断後に排除する。
ーラ２２は水ローラ２３およびインクローラ２４から水
およびインクを供給され、版ローラ２２に巻着された版
上にインクが選択的に付着する。このインクが版ローラ
２２との接触によりゴムローラ２５にオフセットしたの
ち、ゴムローラ２５とプラテンローラ２６との間を通過
する用紙に転写される。用紙２１の搬送経絡を構成する
ローラ２７には光学ラインセンサ２９が対向して備えら
れている。この光学ラインセンサ２９によりサンプル画
像を検出し、画像検査装置１において予め記憶されてい
る基準画像と比較し、汚れや濃度分布の不良などを生じ
ている不良画像をカッタ２８で切断後に排除する。
第１図は、上記画像検査装置の構成を示すブロック図で
ある。
ある。
光学ラインセンサ２９の検出データはＡ／Ｄ変換器２お
よびセンサ感度補正部３を介してＸ方向投影計算部４、
Ｙ方向投影計算部１４および遅延回路９に入力される。
よびセンサ感度補正部３を介してＸ方向投影計算部４、
Ｙ方向投影計算部１４および遅延回路９に入力される。
Ｘ方向投影計算部４は光学ラインセンサ２９の出力を第
３図に示すＸ方向（画像の搬送方向に直交する方向）に
積算し、サンプル画像のＸ方向の投影値を求める。この
Ｘ方向投影計算部４における計算結果はサンプルメモリ
５に記憶される。このサンプルメモリ５は第４図に示す
ように、画像の第０〜３２６行のそれぞれのＸ方向の投
影値をメモリエリアＭＡＯ〜ＭＡ３２６に格納する。な
お、スイッチＳＷＩの切換によりＸ方向投影計算部４の
計算結果はＸ方向基準投影メモリ６に入力される。この
Ｘ方向基準投影メモリ６はサンプルメモリ５と同様に構
成されており、後述する比較手段においてサンプル画像
と比較される基準画像についての傘光学ラインセンサ２
９による読取結果をＸ方向に積算した値を基準画像の第
０〜３２６行について格納する。
３図に示すＸ方向（画像の搬送方向に直交する方向）に
積算し、サンプル画像のＸ方向の投影値を求める。この
Ｘ方向投影計算部４における計算結果はサンプルメモリ
５に記憶される。このサンプルメモリ５は第４図に示す
ように、画像の第０〜３２６行のそれぞれのＸ方向の投
影値をメモリエリアＭＡＯ〜ＭＡ３２６に格納する。な
お、スイッチＳＷＩの切換によりＸ方向投影計算部４の
計算結果はＸ方向基準投影メモリ６に入力される。この
Ｘ方向基準投影メモリ６はサンプルメモリ５と同様に構
成されており、後述する比較手段においてサンプル画像
と比較される基準画像についての傘光学ラインセンサ２
９による読取結果をＸ方向に積算した値を基準画像の第
０〜３２６行について格納する。
相関演算部７はサンプルメモリ５に格納されているサン
プル画像のＸ方向投影パターンとＸ方向基準投影メモリ
６に記憶されている基準画像のＸ方向投影パターンとの
相関演算を行ない、その相関値が最大値となる変数ｉイ
を基準画像メモリ１８に出力する。
プル画像のＸ方向投影パターンとＸ方向基準投影メモリ
６に記憶されている基準画像のＸ方向投影パターンとの
相関演算を行ない、その相関値が最大値となる変数ｉイ
を基準画像メモリ１８に出力する。
Ｙ方向投影計算部１４は光学ラインセンサ２９の検出結
果を第３図に示すＹ方向について積算し、各列について
の投影値を８１算する。このＹ方向投影計算部１４の計
算結果はサンプルメモリ１５に入力される。このサンプ
ルメモリ１５は第５図に示すように第０〜ｎ列の投影値
をメモリエリアＭＡＯ−ＭＡｎのそれぞれに格納する。
果を第３図に示すＹ方向について積算し、各列について
の投影値を８１算する。このＹ方向投影計算部１４の計
算結果はサンプルメモリ１５に入力される。このサンプ
ルメモリ１５は第５図に示すように第０〜ｎ列の投影値
をメモリエリアＭＡＯ−ＭＡｎのそれぞれに格納する。
なお、この列数は光学ラインセンサ２９の解像度によっ
て決定される。また、Ｙ方向投影計算部１４の計算値が
スイッチＳＷ２の操作によりＹ方向基準投影メモリ１６
に格納される点は、前述のＸ方向と同様である。相関演
算部１７はサンプルメモリ１５に格納されているサンプ
ル画像のＹ方向投影パターンとＹ方向基準投影メモリ１
６に格納されている基準画像のＹ方向投影パターンとの
相関値を演算するとともに、その相関値が最大値となる
変数ｉ、を基ｆ＄画像メモリ８に出力する。
て決定される。また、Ｙ方向投影計算部１４の計算値が
スイッチＳＷ２の操作によりＹ方向基準投影メモリ１６
に格納される点は、前述のＸ方向と同様である。相関演
算部１７はサンプルメモリ１５に格納されているサンプ
ル画像のＹ方向投影パターンとＹ方向基準投影メモリ１
６に格納されている基準画像のＹ方向投影パターンとの
相関値を演算するとともに、その相関値が最大値となる
変数ｉ、を基ｆ＄画像メモリ８に出力する。
一方、遅延回路９はセンサ感度補正部３において補正さ
れた光学ラインセンサ２９の検出データを一定時間遅延
して比較手段１０に出力する。この遅延回路９における
遅延時間は光学ラインセンサ２９が１ペ一ジ分（３３６
行）の画像を走査する時間にＸ方向投影計算部４および
相関演算部７とＹ方向投影計算部１４および相関演算部
１７とにおける処理時間を加えた時間である。なお、ス
イッチＳＷ３の操作により遅延回路９の出力は基準画像
メモリ８に入力される。このスイッチＳＷ３の操作によ
り、比較手段ｌＯにおいて−サンプル画像と比較される
基準画像を光学ラインセンサ２９により読み取らせ、こ
の基準画像の画像データを基準画像メモリ８に記憶させ
ておくことができる。比較部１０は遅延回路９から読み
取ったサンプル画像データと基準画像データ８から読み
取った基準画像データを１画素ずつ比較し、この結果を
判定部１）に出力する。判定部１）は比較部ｌＯにおけ
る比較結果に基づいてサンプル画像における汚れや濃度
分布の不良などを検出する。
れた光学ラインセンサ２９の検出データを一定時間遅延
して比較手段１０に出力する。この遅延回路９における
遅延時間は光学ラインセンサ２９が１ペ一ジ分（３３６
行）の画像を走査する時間にＸ方向投影計算部４および
相関演算部７とＹ方向投影計算部１４および相関演算部
１７とにおける処理時間を加えた時間である。なお、ス
イッチＳＷ３の操作により遅延回路９の出力は基準画像
メモリ８に入力される。このスイッチＳＷ３の操作によ
り、比較手段ｌＯにおいて−サンプル画像と比較される
基準画像を光学ラインセンサ２９により読み取らせ、こ
の基準画像の画像データを基準画像メモリ８に記憶させ
ておくことができる。比較部１０は遅延回路９から読み
取ったサンプル画像データと基準画像データ８から読み
取った基準画像データを１画素ずつ比較し、この結果を
判定部１）に出力する。判定部１）は比較部ｌＯにおけ
る比較結果に基づいてサンプル画像における汚れや濃度
分布の不良などを検出する。
第６図は、上記画像検査装置の処理手順を示すフローチ
ャートである。なお、同図はＸ方向についての投影計算
に係る処理を示している。
ャートである。なお、同図はＸ方向についての投影計算
に係る処理を示している。
Ｘ方向投影８１算部４は光学ラインセンサ２９の検出デ
ータを第０〜３２６行のそれぞれについて積算しくり１
〜ｎ５）、この値がサンプルメモリ５４に記憶される。
ータを第０〜３２６行のそれぞれについて積算しくり１
〜ｎ５）、この値がサンプルメモリ５４に記憶される。
第３図に示すように１頁の画像３１は第０〜３３６行に
よって構成されているが、Ｘ方向投影計算部４および相
関演算部７における処理時間を短縮するため第３２６行
目までのデータを用いる。第３２６行目までの投影値が
サンプルメモリ５に格納されると、相関演算部７におい
て次式で表される相関値演算が行われる。
よって構成されているが、Ｘ方向投影計算部４および相
関演算部７における処理時間を短縮するため第３２６行
目までのデータを用いる。第３２６行目までの投影値が
サンプルメモリ５に格納されると、相関演算部７におい
て次式で表される相関値演算が行われる。
ここで変数ｉの値としては−５〜５が与えられる（ｎ６
〜ｎ１Ｏ）。
〜ｎ１Ｏ）。
上記相関演算部７の処理により１＝−５からｉ−５まで
の１）個の相関値が得られる。この相関値１において最
大値をとる変数ｉを比較部１０における基準画像メモリ
８の読取タイミングとして出力する（ｎｉｌ）。すなわ
ち、第７図に示すように、ｎ７ではサンプル画像の投影
パターンＰｒｊＳと基準画像の投影パターンＰｒｊＲが
各行について掛は合わされ、その値が積算される。この
時、基準画像の投影パターンＰｒ１Ｐは、ｉの値によっ
て一５〜５行の範囲に渡って変位さゼた状態でサンプル
画像の投影パターンＰｒ ｊＳに掛は合わされる。従っ
て、相関値ＩｔＯ値は基準画像に対するサンプル画像の
変位量に最も近い量だけ基準画像の投影パターンを変位
させたときの値が最大値となる。
の１）個の相関値が得られる。この相関値１において最
大値をとる変数ｉを比較部１０における基準画像メモリ
８の読取タイミングとして出力する（ｎｉｌ）。すなわ
ち、第７図に示すように、ｎ７ではサンプル画像の投影
パターンＰｒｊＳと基準画像の投影パターンＰｒｊＲが
各行について掛は合わされ、その値が積算される。この
時、基準画像の投影パターンＰｒ１Ｐは、ｉの値によっ
て一５〜５行の範囲に渡って変位さゼた状態でサンプル
画像の投影パターンＰｒ ｊＳに掛は合わされる。従っ
て、相関値ＩｔＯ値は基準画像に対するサンプル画像の
変位量に最も近い量だけ基準画像の投影パターンを変位
させたときの値が最大値となる。
例えば、第７図に示すようにサンプル画像が基準画像に
比較して３行分上方に位置ずれを生じている場合には１
−３のとき相関値■が最大となる。この基準画像に対す
るサンプル画像の誤差を放置して比較部ｌＯにおける比
較処理を実行すると、サンプル画像の画像データは３行
分下方の基準データと比較されることになり、正確な画
像の良否判断を行うことができない。そこで、相関演）
：部７から出力された変数ｉだけ基準画像メモリの読取
タイミングを早めることにより、比較部１０において比
較されるサンプル画像と基準画像との画像データの位置
を完全に一致させることができ、正確な良否判断を行う
ことができる。
比較して３行分上方に位置ずれを生じている場合には１
−３のとき相関値■が最大となる。この基準画像に対す
るサンプル画像の誤差を放置して比較部ｌＯにおける比
較処理を実行すると、サンプル画像の画像データは３行
分下方の基準データと比較されることになり、正確な画
像の良否判断を行うことができない。そこで、相関演）
：部７から出力された変数ｉだけ基準画像メモリの読取
タイミングを早めることにより、比較部１０において比
較されるサンプル画像と基準画像との画像データの位置
を完全に一致させることができ、正確な良否判断を行う
ことができる。
なお、以上の処理はＹ方向に積算された投影値を用いた
相関演算においても同様であり、相関演算部１７から出
力される変数１．を用いて画像データの水平方向の誤差
を補正できる。
相関演算においても同様であり、相関演算部１７から出
力される変数１．を用いて画像データの水平方向の誤差
を補正できる。
（ｇ）発明の効果
この発明によれば、相関値演算によりサンプル画像と基
準画像との画像位置の誤差を検出し、この検出結果に基
づいて比較手段におけるり単画像の読取タイミングを調
整することにより、→ノンプル画像の読取タイミングと
基準画像の読取タイミングとを完全に一致させることが
きでき、画像の良否判断を正確に行うことができる利点
がある。
準画像との画像位置の誤差を検出し、この検出結果に基
づいて比較手段におけるり単画像の読取タイミングを調
整することにより、→ノンプル画像の読取タイミングと
基準画像の読取タイミングとを完全に一致させることが
きでき、画像の良否判断を正確に行うことができる利点
がある。
第１図はこの発明の実施例である画像検査装置の構成を
示す図、第２図は同画像検査装置が用いられる印刷機の
構成を示す図、第３図は同画像検査装置において検査さ
れる画像およびその投影パターンを示す図、第４図およ
び第５図は同画像検査装置の一部を構成するサンプルメ
モリのメモリマツプ、第６図は同画像検査装置における
処理手順を示すフローチャート、第７図は同画像装置に
おける相関値演算を示す図である。 画像検査装置、 Ｘ方向投影計算部、 Ｙ方向投影計算部、 １７−相関演算部、 比較部。
示す図、第２図は同画像検査装置が用いられる印刷機の
構成を示す図、第３図は同画像検査装置において検査さ
れる画像およびその投影パターンを示す図、第４図およ
び第５図は同画像検査装置の一部を構成するサンプルメ
モリのメモリマツプ、第６図は同画像検査装置における
処理手順を示すフローチャート、第７図は同画像装置に
おける相関値演算を示す図である。 画像検査装置、 Ｘ方向投影計算部、 Ｙ方向投影計算部、 １７−相関演算部、 比較部。
Claims (1)
- （１）サンプル画像を基準画像と比較する比較手段を備
えた画像検査装置において、 サンプル画像のＸ方向投影パターンまたはＹ方向投影パ
ターンと基準画像の投影パターンとの相関値を求める相
関値演算手段と、相関値演算手段で得られた相関値の最
大値に基づいて前記比較手段における基準画像の読取タ
イミングを調整するタイミング補正手段と、を設けたこ
とを特徴とする画像検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1337262A JPH0731134B2 (ja) | 1989-12-25 | 1989-12-25 | 画像検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1337262A JPH0731134B2 (ja) | 1989-12-25 | 1989-12-25 | 画像検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03195955A true JPH03195955A (ja) | 1991-08-27 |
| JPH0731134B2 JPH0731134B2 (ja) | 1995-04-10 |
Family
ID=18306969
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1337262A Expired - Lifetime JPH0731134B2 (ja) | 1989-12-25 | 1989-12-25 | 画像検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0731134B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001018476A (ja) * | 1999-07-07 | 2001-01-23 | Fujitsu Ltd | 連続媒体印刷装置 |
| US8792128B2 (en) | 2011-08-16 | 2014-07-29 | Ricoh Company, Ltd. | Apparatus, system, and method of inspecting image, and recording medium storing image inspection control program |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57208441A (en) * | 1981-06-19 | 1982-12-21 | Hitachi Ltd | Detection system of deviation in pattern position by 2-chip comparison |
| JPS63168788A (ja) * | 1987-01-06 | 1988-07-12 | Nec Corp | パタ−ン比較検査装置 |
-
1989
- 1989-12-25 JP JP1337262A patent/JPH0731134B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57208441A (en) * | 1981-06-19 | 1982-12-21 | Hitachi Ltd | Detection system of deviation in pattern position by 2-chip comparison |
| JPS63168788A (ja) * | 1987-01-06 | 1988-07-12 | Nec Corp | パタ−ン比較検査装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001018476A (ja) * | 1999-07-07 | 2001-01-23 | Fujitsu Ltd | 連続媒体印刷装置 |
| US8792128B2 (en) | 2011-08-16 | 2014-07-29 | Ricoh Company, Ltd. | Apparatus, system, and method of inspecting image, and recording medium storing image inspection control program |
| US9088745B2 (en) | 2011-08-16 | 2015-07-21 | Ricoh Company, Ltd. | Apparatus, system, and method of inspecting image, and recording medium storing image inspection control program |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0731134B2 (ja) | 1995-04-10 |
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