CN107736007A - 介质扫描操作控制 - Google Patents
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Abstract
根据示例,用于控制介质扫描操作的装置可包括:扫描介质的段的第一扫描模块,随着介质穿过第一扫描模块移动而跟踪介质的跟踪机构,以及控制器。控制器可从跟踪机构接收对应于介质移动的信号,基于接收的信号来确定介质的当前位置,并且基于确定的介质的当前位置来改变第一扫描模块收集介质的段的扫描所用的定时。
Description
背景技术
扫描设备典型地用于扫描诸如纸之类的介质上的信息。特别地,扫描设备扫描介质上的图像信息,并将扫描的图像信息转换成可在计算设备的显示器上观看的数字图像。扫描设备典型地包括压板(platen)和用于扫描介质的扫描条。扫描条被典型地定位成邻近压板,并且包括光源、透镜和传感器。光源照亮介质的一部分,并且从介质的该部分反射的光撞击在透镜上,该透镜将反射的光聚焦到传感器上。传感器将接收的聚焦的光(其包括介质上的信息)转换成数字图像。使介质前进,并且在介质的另一段上执行扫描操作。重复该过程,直到已经扫描整个介质或期望的介质的段。
附图说明
本公开的特征通过示例来图示,并且在下面的一个或多个图中不受限制,在下面的一个或多个图中相同的数字指示相同的元素,其中:
图1是根据本公开的示例的扫描装置的简化示意图;
图2是根据本公开的示例的在图1中描绘的扫描装置的简化侧视图;
图3和图4分别示出根据本公开的其它两个示例的扫描装置的简化示意图;
图5-7分别描绘根据本公开的示例的用于控制介质扫描操作的方法的流程图;以及
图8是根据本公开的示例的可等效于图1-4中描绘的控制器的控制器的示意表示。
具体实施方式
为了简化和说明性目的,通过主要参考本公开的示例来描述本公开。在下面的描述中,阐述许多具体细节,以便提供对本发明的透彻理解。然而将显而易见的是:可实施本公开而不限于这些具体细节。在其它实例中,未详细描述一些方法和结构,以便不会不必要地模糊本公开。如本文所使用的,术语“一”和“一个”旨在表示特定元素中的至少一个,术语“包括”意味着包括但不限于,术语“包括了”意味着包括了但不限于,而术语“基于”意味着至少部分地基于。
本文公开的是用于控制介质扫描操作的装置和方法,其中控制器可基于实际检测的介质的位置来控制介质扫描操作。相比之下,扫描装置可仅仅基于定时来控制介质扫描操作,例如每1.5毫秒执行扫描操作。这些类型的扫描装置典型地在每次执行扫描操作时介质已经行进了正确距离的假设下操作。然而,介质典型地在介质穿过扫描条的整个前进中不维持恒定速度,因为介质典型地由多组辊处理。也就是说,当介质从一组辊切换到另一组辊时,介质可最初经历速度的突然降低,并且然后当新的一组辊作用在介质上时,介质可经历急剧加速。当在预定的时间表之后扫描介质,同时介质正经历这些不同速度时,扫描条可不在介质中的适当位置处收集扫描。因此,当收集的扫描被联结在一起时,联结误差可能是可见的。
用于控制本文公开的介质扫描操作的装置和方法可通过基于介质的实际移动定时扫描操作的执行来防止或减少在收集的扫描中发生联结误差。也就是说,该装置可包括跟踪机构,该跟踪机构将跟踪介质的实际移动(例如通过将介质与随着介质前进而旋转的轮直接接触)。编码器可跟踪轮的旋转,并且跟踪的旋转可用于确定介质的实际移动。另外,介质的移动可用于确定介质的当前位置,并且基于所确定的当前位置,控制器可延迟或加速扫描模块收集介质的段的扫描所用的定时。也就是说,控制器可确定:介质还未到达将执行扫描操作所在的适当位置,并且因此可延迟扫描操作的性能,直到确定介质已经到达适当位置。另外,控制器可确定介质已经在时间表之前到达适当位置,并且可使扫描操作比本应该在时基调度下执行更早地执行。
根据示例,校正函数可应用到由跟踪机构生成的信号,以防止或减少跳动误差。也就是说,补偿跟踪机构中的偏心或缺陷的校正函数例如可通过跟踪机构的测试来确定,并且可被应用以更精确地确定介质的移动和位置。
首先参照图1,示出有根据示例的扫描装置100的简化示意图。应当理解:图1中描绘的扫描装置100可包括附加元件,并且在其中描绘的元件中的一些可被去除和/或修改而不脱离扫描装置100的范围。
如图1中所示,扫描装置100可包括控制器102、扫描模块104和跟踪机构106。一般而言,当介质110在进给方向112上进给穿过扫描模块104时,扫描装置100可扫描包含在介质110上的信息,该介质110可以是一张纸、透明片(transparency)、蓝图等。特别地,当介质110由辊108、114进给时,扫描模块104可逐段地捕获信息的图像。以虚线示出介质110和辊108、114,以表示它们可不形成扫描装置100的部件。例如相反,辊108、114可以是扫描装置100可被集成到的自动文档进给装置的组件。在这方面,辊108、114可由致动器(未示出)驱动以使介质110前进。另外,虽然未示出,但是扫描装置100可以是多功能设备(诸如还包括用于打印到介质上的打印头的设备)的部件。
根据示例,跟踪机构106可在给定的时间跟踪介质110的实际位置,并且因此可随着介质110在进给方向112上前进而跟踪介质110的移动。跟踪机构106可以是任何合适类型的编码器,诸如光学编码器、旋转编码器等。特别地,跟踪机构106可直接而不是通过辊108、114移动的检测来跟踪介质110的位置。
跟踪机构106还可向控制器102传送对应于介质110的移动的信号。另外,控制器102可从接收的信号确定介质110的实际当前位置,并且可基于确定的实际当前位置来改变扫描模块104收集介质110的段的扫描所用的定时。介质110可通过一系列辊来前进,该一系列辊例如是在图1中被描绘为在扫描模块104的下游的辊108,以及被定位在扫描模块104上游的辊114。介质110也可通过其它辊(未示出)前进。辊108、114可通过致动器(例如电机)旋转,该致动器将使介质110以相对高的速率前进,以使得能够相对快地扫描介质110。例如,对于300点每英寸(dpi)分辨率的扫描,介质110可按每秒近似1.5英寸的速率被进给,并且扫描模块104可近似每1.5毫秒执行一次扫描操作。
介质110前进的速度在介质110的整个前进中可能不保持恒定。也就是说,例如,介质110可在前进的一部分期间以第一速度、并且在前进的另一部分期间以不同的第二速度前进。由于介质110正由不同的单个辊移动、在辊与介质110之间滑动等,可出现速度的差异。例如,当介质110的前边缘最初接触一组辊时,介质110的速度可急剧下降,并且随着该组辊开始进给介质110,介质110可经历突然加速。速度的差异可导致该组辊之间的切换误差,这可导致扫描的介质110的图像中的可见误差。也就是说,例如,介质110可前进比预期的当前段的扫描之后的距离大或短的距离,并且因此随后的段的扫描可不发生在介质110上的预期位置处。结果,在两个扫描段之间可能可见联结误差,例如未对准误差。也就是说,一个扫描段可不与下一个扫描段正确对准,使得当扫描段联结在一起时出现可见的未对准。
根据示例,控制器102可控制扫描模块104扫描介质110的段(诸如行)所用的定时,以防止或最小化联结误差的发生。特别地,控制器102可基于介质110的实际位置或等效地介质110已经行进的实际距离来控制定时。因此,与仅仅基于随后的段的扫描之间经过的时间量来控制扫描操作的一些扫描技术相对比,本文公开的控制器102可更精确地控制扫描操作,以防止或最小化在扫描的介质110的版本中可见联结误差。
例如,如果控制器102确定实际当前位置不是将扫描下一段所在的位置,控制器102可加速或延迟扫描模块104捕获下一段的图像所在的时间。也就是说,如果介质110的实际位置在将扫描下一段所在的预定义位置之后,控制器102可延迟激活扫描模块104所用的定时,直到确定介质110已经移动足够的距离,以使下一段被精确地定位以用于由扫描模块104扫描。替代地,如果介质110的实际位置在将扫描下一段所在的预定义位置之前,控制器102可加速激活扫描模块104所用的定时。
根据示例,控制器102可进行关于是否将以比将发生扫描操作的速率大的速率延迟或加速扫描模块104所用的定时。例如,控制器102可为每个扫描操作进行大约4至6次确定。通过其中扫描操作速率以每4毫秒被设置的特定示例,控制器102可每毫秒进行确定。因此,例如,如果控制器102确定介质110的实际位置在将扫描下一段所在的预定义位置之前,控制器102可激活扫描模块104以在先前段的扫描之后的3毫秒时扫描下一段。
控制器102可以是微处理器、微控制器、专用集成电路(ASIC)等等。根据示例,控制器102是诸如电路之类的硬件组件。在另一个示例中,控制器102将访问使控制器102执行本文公开的操作的机器可读指令。机器可读指令可存储在易失性或非易失性存储器中,所述存储器诸如是动态随机存取存储器(DRAM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、磁阻随机存取存储器(MRAM)、忆阻器、快闪存储器、软盘、光盘只读存储器(CD-ROM)、数字视频盘只读存储器(DVD-ROM)或者可在其上存储软件的其它光或磁介质等等。
现在翻到图2,示出有根据示例的在图1中描绘的扫描装置100的简化侧视图。应当理解:图2中描绘的扫描装置100可包括附加元件,并且可移除和/或修改在其中描绘的元件中的一些而不脱离扫描装置100的范围。
如图2中所示,可被等效地表示为扫描条104的扫描模块104可包括光源202、透镜204和传感器206。在介质110的段208(例如段208)的扫描操作期间,光源202可被激活以照亮介质110的段208。介质110的段208的照明可使从介质110的该段反射光,其中反射的光可包括包含在照亮的介质110的段处的信息的图像。反射的光可由透镜204传送或聚焦到传感器206中,传感器206可检测包含在反射的光中的信息。该信息可被传送给控制器102,控制器102可在数据存储器220中存储该信息。另外,介质110可在进给方向112上前进,并且可为介质110的下一段重复扫描操作。可重复该过程,直到到达介质110的末端。
控制器102可在数据存储器220中存储在多个扫描操作期间从扫描模块104接收的信息,并且可将包含在邻近段208中的信息联结在一起以形成包含在介质110上的信息的数字表示。如本文所述,控制器102可控制扫描模块104收集介质110的下一段的扫描所用的定时,以防止或最小化在联结的段208中发生联结误差。数据存储器220可以是易失性的和/或非易失性存储器,诸如DRAM、EEPROM、MRAM、相变RAM(PCRAM)、忆阻器、快闪存储器等等。
还如图2中所示,跟踪机构106被描绘为具有将围绕轴212旋转的轮210。特别地,轮210可以是仅仅通过与介质110接触并且通过介质110的移动而旋转的自由旋转轮。在这方面,轮210可不由致动器驱动,而是相反直接跟踪介质110的移动。编码器盘214可连接到轮210,使得编码器盘214以与轮210相同的速率旋转。编码器216可检测编码器盘214旋转的速率,并且可生成对应于检测的速率的信号。编码器216还可向控制器102传送信号,控制器102可改变扫描模块104如本文所述地收集介质110上的下一段的扫描所用的定时。虽然未示出,但是分度轮可附接到轴212,使得分度轮可与轮210同时旋转。分度轮可包含标记或识别不同位置的其它形式的标志,使得可从标记确定分度轮以及因此轮210的旋转位置。在一个方面,分度轮可用于识别轮210的旋转位置并补偿轮210中的跳动误差,该跳动误差可由如本文所讨论的轮210中的缺陷引起。
应当理解:跟踪机构106可相对于扫描模块104而被定位在各种其它位置处,而不脱离本文公开的扫描装置100的范围。例如,跟踪机构106可被定位在介质110下方,并且正好在扫描模块104的下方。作为另一个示例,可正好与轮210相对地提供夹送辊(未示出),使得在轮210与夹送辊之间夹送介质110。作为又一个示例,可形成轮210的外表面以使轮210仅仅通过与介质210的摩擦接触而旋转。在任何方面,跟踪机构106可被定位成相对靠近地接近扫描模块104,以使得能够确定在扫描模块104处或附近的介质110的段的位置。
现在翻到图3和图4,分别示出有根据其它两个示例的扫描装置100的简化示意图。图3和图4中描绘的扫描装置100可包括与图1中描绘的扫描装置100相同的所有特征。然而,图3和图4中描绘的扫描装置100与图1中描绘的扫描装置100的不同在于:图3和图4中描绘的扫描装置100包括多个扫描模块,而图1中描绘的扫描装置100包括单个扫描模块。例如,因为与制造或获得不延伸介质110的整个宽度的较小扫描模块相关联的成本可显著低于与制造或获得延伸介质110的整个宽度的扫描模块相关联的成本,所以扫描装置100可具有如图3和图4中所示的多个扫描模块。对于将扫描诸如蓝图、建筑图、地图等之类的大文档的扫描装置100,成本的差异可能相对较大,并且因此具有在其上执行扫描操作的相对大的宽度。
图3中描绘的扫描装置100被示为具有第一扫描模块302和第二扫描模块304。第一扫描模块302和第二扫描模块304中的每一个可具有与图2中描绘的扫描模块104相似的配置。第一扫描模块302被描绘为被定位成扫描介质110的第一宽度段,并且第二扫描模块304被定位成扫描介质110的第二宽度段。第二扫描模块304还被描绘为被定位成在进给方向112上在第一扫描模块302的下游,使得第二扫描模块304相对于第一扫描模块302处于交错关系。因为在第一扫描模块302和第二扫描模块304中的每一个中的传感器206可不延伸到模块302、304的边缘(例如由于模块302、304的外壳可不允许传感器206延伸到边缘),所以第二扫描模块304可被定位成相对于第一扫描模块302处于交错关系。因此,第二扫描模块304直接靠近第一扫描模块304并与第一扫描模块304成直线的放置可导致模块302、304之间的介质110中的间隙,该间隙不由模块302、304中的任一个扫描。
图4中描绘的扫描装置100被示为具有第一扫描模块402、第二扫描模块404和第三扫描模块406。第一、第二和第三扫描模块402-406中的每一个可具有与图2中描绘的扫描模块104相似的配置。第一扫描模块402被描绘为被定位成扫描介质110的第一宽度段,第二扫描模块404被定位成扫描介质110的第二宽度段,并且第三扫描模块404被描绘为被定位成扫描介质110的第三宽度段。第三扫描模块406被描绘为被定位成沿着垂直于进给方向112的方向与第一扫描模块402成直线。第二扫描模块404被描绘为被定位成在进给方向112上在第一扫描模块402和第三扫描模块406的下游,使得第二扫描模块404相对于第一扫描模块402和第三扫描模块406处于交错关系。
因为第一扫描模块402、第二扫描模块404和第三扫描模块406中的每一个中的传感器206不可延伸到模块402-406的边缘(例如由于模块402-406的壳体可不允许传感器206延伸到边缘),所以第二扫描模块404可被定位成相对于第一扫描模块402和第三扫描模块406处于交错关系。
根据示例,控制器102可在特定时间存储涉及由扫描模块中的每一个扫描的介质110的信息,并且可将该信息联结在一起以形成包含在介质110上的图像的数字副本。例如,控制器102可将由第二扫描模块404在第一次扫描期间获得的信息与由第一扫描模块402和第三扫描模块404在第二次扫描期间获得的信息联结。也就是说,控制器102可在将由这些模块402-406中的每一个捕获的信息联结在一起时补偿第一扫描模块402、第二扫描模块404和第三扫描模块406之间的交错关系。
相对于分别在图5-7中描绘的方法500-700更详细地讨论可实现控制器102所用的各种方式。特别地,图5-7分别描绘根据各种示例的用于控制介质扫描操作的方法500-700的流程图。应当对本领域普通技术人员显而易见的是:方法500-700可表示一般化的图示,并且可添加其它操作或者可去除、修改或重排现有操作而不偏离方法500-700的范围。一般而言,图1-4中描绘的控制器102可实现方法500-700中的任一个以控制介质扫描操作,例如,以减少或去除在组合扫描的介质110的图像时(特别是当实现多个交错的扫描模块以捕获扫描的图像时)发生联结误差。
为了说明的目的,参照图1-4中图示的扫描装置100进行方法500-700的描述。然而,应当清楚地理解:可实现具有其它配置的扫描装置以执行方法500-700中的任何一个而不脱离方法500-700的范围。
首先参照图5中描绘的方法500,在块502处,可在控制器102中从跟踪机构106接收对应于介质110的移动的信号。如以上关于图2所述,跟踪机构106可包括将仅仅基于与介质110的摩擦接触而旋转的轮210。在这方面,轮210的旋转可与介质110的移动正好一致。另外,轮210的旋转可由编码器216以相对高的分辨率(例如以微米级、以毫米级等)来跟踪。如图2中所示,编码器盘214可与轮210同时旋转,并且编码器216可检测编码器盘214的旋转。另外,编码器216可生成对应于检测的编码器盘214的旋转的信号,并且可向控制器102传送生成的信号。
在块504处,控制器102可基于接收的信号来确定介质110的当前位置。例如,控制器102可确定接收一定数量的信号,并且可基于接收的信号数量来确定介质110行进的距离。也就是说,控制器102可访问接收的信号数量与介质110行进的距离之间的相关性,以确定介质110已经行进的距离。控制器102还可通过将介质110行进的距离添加到先前位置(例如介质110的最后已知位置)来确定介质110的当前位置。
在块506处,控制器102可确定所确定的介质110的当前位置是否与预定义位置匹配。预定义位置可以是当扫描操作将发生时期望介质110所在的位置。也就是说,预定义位置可以是介质110的位置,该位置对应于将执行介质110的扫描操作所在的正确位置,使得在扫描操作期间收集的图像可与紧之前收集的图像联结在一起,同时减少或最小化图像之间的联结误差。
在块508处,响应于确定所确定的介质110的当前位置与预定义位置不匹配,控制器102可改变扫描模块104(扫描条104)收集介质110的段的扫描所用的定时。也即是说,如果控制器102将使扫描模块104在时间T1收集介质110的段的扫描,并且如果所确定的介质110的当前位置与预定义位置不匹配,控制器102可使扫描模块104收集扫描所用的定时或者在时间T1之前或者在时间T1之后发生。另外,在块508处,在其中扫描装置100包括多个扫描模块的实例中,如图3和图4中所示,控制器102可改变多个扫描模块中的每一个收集介质110的段的扫描所用的定时。例如,控制器102可延迟扫描模块402-406同时收集介质110的各自的段所用的定时。
根据示例,控制器102可按比介质110中的段或邻近段的扫描操作之间的标称快的速率来实现或执行方法500。因此,例如,如果第一段与第二段的扫描之间的标称定时是1.5毫秒,控制器102可大约每0.3秒实现或执行该方法。以这种方式,控制器102可确定介质110已经比预期介质110到达预定义位置早地到达预定义位置,并且可改变扫描收集的定时,使得收集发生得比1.5毫秒早。相比之下,控制器102可确定介质还未到达预定义位置,并且可延迟扫描模块104收集介质的段的扫描所用的定时,直到方法500的另一个迭代导致确定介质110在预定义位置处。
现在翻到图6,示出有可在方法500之后或结合方法500实现的方法600的流程图。在块602处,可分析在块502(方法500)处接收的信号以确定介质110行进的距离。例如,控制器102可分析对应于介质110的所有接收的信号(例如从介质110的扫描的开始到结束),以确定介质110行进的总距离。
在块604处,控制器102可从确定的介质110行进的总距离来计算介质110的总长度。另外,在块606处,控制器102可基于计算的总长度来缩放扫描的介质110的图像。也就是说,例如,控制器102可缩放扫描的介质110的图像,使得扫描的图像与包含在介质110上的信息的大小相当。
现在翻到图7,示出有根据另一个示例的用于控制介质扫描操作的方法700的流程图。方法700包括与以上关于方法500所描述的特征相同的特征中的一些。特别地,例如,在块702处,类似于块502,可在控制器102中从跟踪机构106接收对应于介质110的移动的信号。
在块704处,控制器102可对接收的信号应用校正函数。一般而言,校正函数将补偿在跟踪介质110的移动时在跟踪机构106中的缺陷,并且可以是变换或传递函数。跟踪机构106中的缺陷可导致跳动误差(runout error),并且例如可包括轮210的缺陷,诸如轮210不是完美的圆形或具有瑕疵。其它缺陷可包括轮210未被完美地安装在轴212上,使得从轴212到轮210的半径在整个轮210上不均匀。在跟踪机构106包含缺陷的情况下,校正函数可等于一,或者在块704处可不被应用。
根据示例,可测试跟踪机构106以识别跟踪机构106包含缺陷。另外,校正函数可以是应用在从编码器216接收的信号上以补偿缺陷的变换函数。校正函数可通过合适的测试程序(诸如通过接收的信号数量与介质110已经行进的距离之间的相关性的确定)来确定。
在块706处,控制器102可基于接收的信号、用应用到接收的信号的校正函数来确定介质110的当前位置。在这方面,控制器102可基于从跟踪机构106接收的信号来更精确地确定介质110的当前位置。
在块708处,控制器102可确定所确定的介质110的当前位置是否与预定义位置匹配。控制器102可以与以上关于方法500中的块506所述的方式类似的方式来进行该确定。
响应于当前位置与预定义位置匹配的确定,控制器102可使扫描模块104收集介质110的段208的扫描,如在块710处所指示。在其中扫描装置100包括多个扫描模块302、304或402-406的实例中,控制器102可使扫描模块302、304或402-406收集介质110的各自的段的扫描,如在块710处所指示。
响应于在块708处确定当前位置与预定义位置不匹配,控制器102可确定当前位置是否在预定义位置之后,如在块712处所指示。响应于确定当前位置不在预定义位置之后(即当前位置在预定义位置之前),控制器102可在块710处使一个或多个扫描模块收集介质110的一个或多个段的扫描。换句话说,介质110的当前位置可能在介质110到达预定义位置所在的标称时间之前已经到达预定义位置,并且因此控制器102可使得比标称时间早地扫描一个或多个段。应当理解:可在块712处确定替代方案。也就是说,例如,可进行关于当前位置是否在预定义位置之前的确定,在这种情况下,“是”和“否”可被反转。
然而,响应于在块712处确定当前位置在预定义位置之后,控制器102可延迟由一个或多个扫描模块扫描。另外,在块702处,控制器102可从跟踪机构106接收对应于介质110的移动的信号。另外,可重复块702-712,直到控制器102使一个或多个扫描模块收集介质110的一个或多个段的扫描。例如,当已经扫描整个介质110时,也可在块710处的扫描收集之后重复块702-712,直到终止方法700。
在方法500-700中阐述的操作中的一些或全部可作为实用程序、程序或子程序而被包含在任何期望的计算机可访问介质中。另外,方法500-700可通过计算机程序来体现,该计算机程序可按活动和非活动两者的各种形式存在。例如,它们可作为机器可读指令存在,包括源代码、目标代码、可执行代码或其它格式。以上中的任何一个可被体现在非暂时性计算机可读存储介质上。
非暂时性计算机可读存储介质的示例包括计算机系统RAM、ROM、EPROM、EEPROM以及磁盘或光盘或磁带。因此将理解:能够执行上述功能的任何电子设备可执行以上列举的那些功能。
现在翻到图8,示出有根据示例的可等效于图1-4中描绘的控制器102的控制器800的示意表示。控制器800可包括处理器802、显示器804;接口808,处理器802可通过该接口808与跟踪机构106和扫描模块104通信;以及计算机可读介质810。这些组件中的每一个可操作地耦合到总线812。例如,总线812可以是EISA、PCI、USB、FireWire、NuBus或PDS。
计算机可读介质108可以是参与向处理器802提供指令以用于执行的任何合适的介质。例如,计算机可读介质810可以是诸如光盘或磁盘之类的非易失性介质;诸如内存(memory)之类的易失性介质。计算机可读介质810还可存储介质扫描控制机器可读指令814,该指令814在被执行时可使处理器802执行图5-7中描绘的方法500-700中的一些或全部。
虽然在整个本公开的整体中进行具体描述,但是本公开的代表性示例在广泛的应用中具有实用性,并且以上讨论不旨在并且不应当被解释为限制性的,而是被提供为该公开的方面的说明性讨论。
本文已经描述和图示的是该公开的示例连同其变型中的一些。本文使用的术语、描述和图仅仅通过说明的方式来阐述,而不意味着限制。在本公开的精神和范围内,许多变型是可能的,本公开旨在由下面的权利要求(及其等同物)来限定,其中除非另有说明,否则所有术语都以其最宽的合理意义来表示含义。
Claims (15)
1.一种装置,包括:
第一扫描模块,用于扫描介质的段;
跟踪机构,用于随着介质穿过第一扫描模块移动而跟踪介质;
控制器,用于:
从跟踪机构接收对应于介质移动的信号;
基于接收的信号,确定介质的当前位置;以及
基于所确定的介质的当前位置,改变第一扫描模块收集介质的段的扫描所用的定时。
2.根据权利要求1所述的装置,其中控制器将进一步用于:
基于所确定的介质的当前位置,确定介质当前是否在预定义位置处;以及
响应于确定介质当前不在预定义位置处,通过延迟由第一扫描模块收集介质的段而改变定时。
3.根据权利要求2所述的装置,其中为了确定介质的当前位置,控制器将进一步对接收的信号应用校正函数,其中校正函数补偿在跟踪介质时在跟踪机构中的缺陷。
4.根据权利要求1所述的装置,进一步包括:
第二扫描模块,其中第二扫描模块在穿过第一扫描模块进给介质所在的方向上被定位在第一扫描模块的下游,并且其中与第一扫描模块相比,第二扫描模块将沿着介质的不同宽度段扫描;以及
其中控制器还将基于所确定的介质的当前位置来改变第二扫描模块收集介质的另一段的扫描所用的定时。
5.根据权利要求4所述的装置,进一步包括:
第三扫描模块,其中与第一扫描模块和第二扫描模块相比,第三扫描模块将沿着介质的不同宽度段扫描;以及
其中控制器还将基于所确定的介质的当前位置来改变第三扫描模块收集介质的进一步的段的扫描所用的定时。
6.根据权利要求1所述的装置,其中跟踪机构包括:
用于接触介质的轮,其中轮将仅仅通过介质的移动而旋转;以及
编码器,用于检测轮的旋转并向控制器传送对应于检测的轮的旋转的信号。
7.根据权利要求6所述的装置,其中编码器具有微米级分辨率。
8.根据权利要求1所述的装置,其中控制器将进一步用于:
分析从跟踪机构接收的信号,以确定介质行进的距离;
从确定的介质行进的距离来计算介质的总长度;以及
基于计算的总长度来缩放扫描的介质的图像。
9.一种方法,包括:
在控制器中从直接跟踪介质的移动的跟踪机构接收对应于介质的移动的信号;
由控制器基于接收的信号来确定介质的当前位置;
由控制器确定所确定的介质的当前位置是否与预定义位置匹配;以及
响应于确定所确定的介质的当前位置与预定义位置不匹配,由控制器改变扫描条收集介质的段的扫描所用的定时。
10.根据权利要求9所述的方法,进一步包括:
对接收的信号应用变换函数,其中变换函数将补偿在跟踪介质时在跟踪机构中的缺陷,并且其中确定介质的当前位置进一步包括:基于接收的信号、用应用到接收的信号的变换函数来确定介质的当前位置。
11.根据权利要求9所述的方法,进一步包括:
响应于确定介质的当前位置与预定义位置不匹配,改变被定位成同时收集介质的不同段的扫描的多个扫描条收集不同段的扫描所用的定时。
12.根据权利要求9所述的方法,进一步包括:
确定介质的当前位置在预定义位置之后还是之前;
响应于确定介质的当前位置在预定义位置之后,延迟扫描条收集介质的段的扫描所用的定时;以及
响应于确定介质的当前位置在预定义位置之前,加速扫描条收集介质的段的扫描所用的定时。
13.根据权利要求9所述的方法,进一步包括:
分析从跟踪机构接收的信号以确定介质行进的距离;
从确定的介质行进的距离来计算介质的总长度;以及
基于计算的总长度来缩放扫描的介质的图像。
14.一种系统,包括:
控制器;
多个扫描模块,用于同时扫描介质的不同段;
跟踪机构,用于随着介质穿过多个扫描模块移动而跟踪介质,其中跟踪机构将直接跟踪介质的移动;
其中控制器将从跟踪机构接收对应于介质移动的信号,基于接收的信号来确定介质的当前位置,以及响应于确定所确定的介质的当前位置在预定义位置之后,延迟由多个扫描模块收集介质的段的扫描。
15.根据权利要求14所述的系统,其中跟踪机构包括:用于接触介质的轮,以及用于检测轮的旋转和位置的编码器,其中轮将仅仅通过介质的移动而旋转,其中编码器将向控制器传送对应于检测的轮的旋转和位置的信号,并且其中控制器将对接收的信号应用校正函数,其中校正函数补偿在跟踪介质时在跟踪机构中的缺陷。
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