JPS593682B2 - 印刷余白の幅および平行度を検査する方法ならびに装置 - Google Patents

印刷余白の幅および平行度を検査する方法ならびに装置

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JPS593682B2
JPS593682B2 JP53135178A JP13517878A JPS593682B2 JP S593682 B2 JPS593682 B2 JP S593682B2 JP 53135178 A JP53135178 A JP 53135178A JP 13517878 A JP13517878 A JP 13517878A JP S593682 B2 JPS593682 B2 JP S593682B2
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クラウデ・グロスヴエルニ−ル
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ANDEYUSUTORIERU RAJIOEREKUTORITSUKU CO
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、印刷の支持体、例えば印刷された用紙、に対
して印刷を心出しする時にその支持体を光学電子読取装
置の前を移動させることにより、連続した余白、特に支
持体の移動方向と平行な余白の幅および平行度を検査す
る方法に関するものである。
すでに提案されている方法として、光ビームによつて側
方余白を掃引し、反射光をビツクアツプして方形パルス
を生じさせ、この方形パルスの前、後縁を区別して余白
の境界を定めるというのがある。
しかしかかる方法は精度が比較的低い。更にこの方法で
は平行度の検査ができない。また別の提案された、余白
幅検査方法においては光学繊維が用いられ、受光した光
学繊維の個数を数え、その計数値を標準値と比較する。
しかし、かかる測定装置の解像力はそれら光学繊維の寸
法のために比較的低い。従つて測定は不正確である。更
に、光学繊維式検出器を備えなければならない。この場
合も、平行度の検査はできない。従つて本発明の目的は
、測定の精度および速度を高めると共に、余白の幅だけ
でなく、それら余白の各々の、支持体の縁辺とその平行
度も検査することにある。
本発明による方法は印刷をその支持体に対して心出しし
て印刷余白の幅および平行度を検査する方法に卦いて、
前記支持体を該支持体および印刷を照射しつ\前記余白
に平行な方向に光学電子読取装置の前を移動せしめ、前
記光学電子読取装置は反射光によつて前記支持体および
前記印刷の余白を見ることができる位置におかれ前記支
持体の移動方向に対して横断する方向に直線配列された
感光素子配列と前記支持体卦よび前記印刷の余白の像を
前記感光素子配列に結ぶためのカメラをそなえ、前記読
取装置の前記感光素子の第1のカウントを行つて前記読
取装置を通過する前記支持体の第1の部分として閾値レ
ベルより大きい信号を発生する第1のカウント手段を動
作せしめ、カウントされた前記感光素子の数を第1の基
準値と比較し、ついで前記読取装置の前記感光素子の第
2のカウントを行つて前記読取装置を通過する前記支持
体の第2の部分として閾値レベルより大きい信号を発生
して、前記第2のカウントに訃いてカウントされた素子
の数を前記基準値と比較し前記第1卦よび第2のカウン
トにおいてカウントされた光電素子数の差を第2の基準
値と比較し、前記第1のカウント手段が前記光電素子の
あらかじめ定められた数をカウントして前記閾値レペル
よりも大きい信号を発生したときに前記第1のカウン卜
手段から第2のカウント手段にトリガして前記光電素子
のカウントにより前記閾値レベルより小さい信号を発生
せしめ、前記第2のカウント手段が前記光電素子のあら
かじめきめられた数をカウントしたときに前記第1のカ
ウント手段を禁止して前記余白の黒点が前記印刷の余白
として解釈されることを防ぐことを特徴とする。
本発明はまた上記方法を実施する装置であつて、2つの
光電読取装置と、前記支持体を前記読取装置の前を前記
余白に平行な方向に移動する手段と、前記支持体および
前記余白を照射する手段を含み、前記光電読取装置は前
記支持体の移動方向に対して横断する方向に直線配列さ
れた感光素子配列と前記支持体および前記印刷の余白の
像を前記感光素子配列に結ぶためのカメラをそなえ、前
記光電読取装置のおのおのの前記感光素子をカウントし
て閾値レペルより大きい信号を発生する第1のカウント
手段と、前記支持体の第1の部分が前記光電読取装置を
通過したときに第1のカウントを行ないついで前記支持
体の第2の部分が前記光電読取装置を通過したときに第
2のカウントを行なう前記カウント手段を付勢する手段
と、前記光電読取装置の}の}のの感光素子の読みとら
れた数を第1の基準値と比較し前記第1卦よび第2のカ
ウント(IC}いてカウントされた光電素子の数の差を
第2の基準値と比較する手段と、感光素子をカウントし
て前記閾値レベルより低い信号を発生し前記第1のカウ
ント手段によつてトリガされる第2のカウント手段と、
前記第2のカウント手段が前記光電素子のあらかじめき
められた数をカウントしたときに前記第1のカウント手
段を禁止して前記余白の黒点が前記印刷の余白として解
釈されることを防ぐ禁止手段とをそなえることを特徴と
する印刷余白の幅および平行度を検査する装置を提供す
る。
高解像力のカメラRETICONを使用すれば、極めて
正確かつ高速度で測定を行なうことができる。
次に添付図面に従い、本発明を更に詳しく説明する。
第1図は印刷部分1と2つの側方余白2,3を有する長
方形の用紙を略示している。
この用紙は6.6m/Secの速度で進み、これと同時
にその用紙の始まりにおける2個所Aで2つの側方余白
の幅を、また用紙の終りにおける2個所Bでやはりその
余白幅が測定される。これらの測定値はまた、余白の平
行度、すなわち、用紙の縁辺と印刷部分の縁辺との平行
度を、後述のようにして検査するのに用いられる。上記
測定を行なうためには、第2図に略示したように設けら
れたRETICON形電子カメラが用いられる。
用紙4の表面には光源から2本の半可撓性光ガイド、あ
るいは光学繊維を通じて光があてられる。カメラ7は光
源と同じ側に置かれる。従つて用紙からの反射光の測定
が行なわれる。それ自体公知のカメラ感応部分は0.0
01インチずつ間隔をおいた1直線の256個のフオト
ダイオードで形成されている(第3図)。この感応素子
の全長は従つて0.256インチ、すなわち6.5r1
stである。第4図に略示するように、各フオトダイオ
ードD,,D2,D3等は、+5vの電圧源と実質的な
アースとの間のトランジスタT1等と直列に、またコン
デンサC1等と並列に接続されている。先ず、コンデン
サClVCは電圧−5vが充電される。対応のトランジ
スタが導通を阻止されている間、そのコンデンサはダイ
オードの逆電流のために放電させられる。この逆電流は
2種類の電流、すなわち、光電流と、ダイオードからの
漏れ電流とから構成されている。しかしその漏れ電流は
無視できる程度の大きさである。光電流はダイオードの
感度と光の強さとの積である、とすれば、コンデンサへ
の増大電荷は光電流と、再充電から再充電までの経過時
間との積である。各カメラによつて得られる信号、すな
わちビデオ信号は、サンプリング時のコンデンサ再充電
電流を示す。このように、ビデオ信号の振幅はサンプリ
ングからサンプリングまでの経過時間および光の強さと
比例する。トランジスタTl,T2,T3等は、それぞ
れ対応しているコンデンサの再充電用スイツチの役割を
果す。第1図に卦いてカメラの感応部分、すなわち「セ
ンサー」は8,9のところに略示されている。カメラは
センサーが10?の距離を見渡すように調整されており
、またカメラは余白がカメラの視野の真中に集るように
位置づけられている。256個のフオトダイオードが1
0?の距離を見渡すとすれば、1個のフオトダイオード
の見渡す距離は39。
6μmとなる。
従つて解像力は39μmとなる。各ダイオードのビデオ
信号の振幅は光の強さ}よびコンデンサの再充電から再
充電までに経過する時間に比例する。要するに、その振
幅は電荷、従つて時間T。llC}ける光電流の積分値
に比例する(第7図)。本発明においては、積分時間T
Oは各ダイオードに対して同じであるが、各ダイオード
毎に用紙の別々の部分を見渡す。更に、積分時間は常に
同じであり、時間T。VC}いて用紙の進む距離ができ
るだけ短くなるように小さくされている。各測定を行な
う前に、イニシヤライズ、すなわちコンデンサの再充電
が行なわれる。従つて、カメラの走査をトリツプするこ
とが必要である。第7図において、走査時間はTsで示
されて卦り、走査そのものは用紙の余白3にハツチング
された帯域で示されている。一・ツチング帯域10,1
2は開始準備、すなわちコンデンサの再充電に対応して
いるが、ハツチング帯域11,13は時間TOの間かつ
距離DOVC亘つて用紙が反射した光の積分結果の測定
が行なわれる時間を示している。余白の1つの検査につ
いてのプロツク図が第6図に示されている。
本発明の装置はカメラ7と、制御論理回路14と、ダイ
オードからなる第1カウンタ15と、ダイオードからな
る第2カウンタ16と、3個の比較器17,18,19
と、データ予選択回路20と、受けた情報を処理する処
理回路21とから構成されて}り、この処理回路21は
また22のところで、第2カメラと組合わされた回路か
らの情報を受ける。回路21は更に、入力23VC卦い
て、用紙の横断方向余白の検査装置からのエラー信号を
受ける。カメラ7は市販されているものである。
このカメラは可調閾値との比較を行なう内部機構を備え
ている。この閾値はポテンシヨメータで変更できる。カ
メラは更に、閾値を用紙の余白の明るさに自動適合させ
る回路24と組合わされている。第5図は信号DATA
と称する有効信号の形成を略示している。ビデオ信号2
5の振幅は可調閾値26のレベルと比較され、超過部分
の包絡線により信号[)ATAあるいは許可信号が定め
られ、この信号DATAは、ビデオ信号の振幅が閾値よ
りも大きい場合に、゛ビとなる。信号DATAはカウン
タを抑止するあるいはしない、また閾値以上の信号を出
すフオトダイオードの個数を数えるのに用いられる。従
つて余白の測定とは、結局のところ、信号DATAがt
′1nの間にサンプリングされたフオトダイオードの個
数を数えることである。本発明の装置の動作原理を第7
図に示すタイムチヤートを用いて、カメラについて説明
する。制御論理回路14は第1のイニシヤルイズ走査を
生じさせ、次に積分時点TOに達し、測定走査を制御す
る。こうしてビデオ信号が閾値と比較され、余白を形成
するダイオードの個数が第1カウンタ15により数えら
れる。数えられたダイオードの個数Nは比較器17VC
より最小個数Nminと、また比較器18により最大個
数Nm&Xど比較される。これらNminとNmaxは
許容範囲を定めるものであり、データ予選択回路20に
より送られる。第2カウンタ16は余白の各端において
数えられるダイオードの個数の差を絶対値で計数する。
この計数された差は比較器19へ送られ、この比較器に
}いて、測定値が回路20の受ける標準値と比較される
。この標準値は許容最大値であり、この比較は平行度の
検査である。比較器からの結果値は回路21へ送られ、
この回路が検査された用紙の破棄か否かを決定する。公
知の手段、例えば光電池を用いて、2つの信号PGl,
PG2が発生させられる(第7図)。信号PG2はカメ
ラの感応部分(センサー)の前に到着した用紙の始まり
を示し、測定プロセスをイニシヤライズするが、信号P
Glはイニシヤライズ走査を制御し、測定走査用の、制
御論理回路14中の遅延トリツプ系統をセツトする。遅
延トリツプ系統はパルスPGl,PG2から信号CLE
ARl,CLEAR2,積分時間の可変長tぃおよび、
カメラを作動させるための制御信号Sを生じさせること
ができる。走査の継続時間は信号ENABLEにより定
められる。次に第8図の詳細プロツク図および第9図、
第10図の対応回路図を用いて本発明の測定装置をより
詳しく説明する。ブロツク図は第2カメラ7′と組合わ
さつた回路を加えて完全にされている。第8図のプロツ
ク図において、プロツク25は第6図のブロツク15,
17,18の結合されたものに対応し、またブロツク2
6はブロツク16,19の結合されたものに対応してい
る。カメラ7からの信号はインターフエイス28を通じ
て信号DATA処理回路27に与えられる。このブロツ
ク図には、遅延トリツプ命令回路29も示されている。
第2カメラrには、それぞれ回路24〜28と同じ回路
24′〜285が組合わさつている。データ予選択回路
20は線路30,311ICより、適宜のプログラムに
より系統を制御するデータ処理装置へ接続されている。
次に第9図}よび第10図に従つて説明する。
遅延トリツブ回路29は前記のように、信号CLEAR
l(CLl)卦よびCLEAR2(CL2)、積分時間
の可変長TOl、およびカメラの制御信号S″を、制御
パルスPGl,PG2から得ることができる。この回路
は基本的には2個のカウンタ32,33からなり、これ
らカウンタはPGlにより、8個のスイツチ34により
予め選択された値でイニシヤライズされる。これらのカ
ウンタは、積分時間TOを定めかつパルスCLEARl
,CLEAR2およびSを発生させる際に、状態[0」
に達するまでカウントダウンする。パルスCLEAR2
が通過するのはフリツプフロツブ35をゼロにりセツト
するパルスPG2の後だけである。時間TOは最小刻み
100Itsのスイツチ34で2進数で予め選択される
。クロツク周波数は10幻である。カメラを制御するパ
ルスSはPGl(イニシヤライズ走査)およびCLEA
Rl(測定走査)の0R関数である。信号DATAは回
路27VCより処理される。
パルス、すなわちフオトダイオードは回路25VCより
計数される。回路27はダイオードMOINS(マイナ
ス)のカウンタ36からなり、回路25は2つの、カス
ケード接続された、ダイオードPLUS(ブラス)のカ
ウンタ37,40からなつている。ダイオードPLUS
は閾値以上のビデオ信号を受けるダイオードであり、ま
たダイオードMOINSは閾値以下のビデオ信号を受け
るダイオードである。カウンタ36,37の入力E(E
NABLE)はそれぞれ、信号DATA,DATAと接
続されている。ダイオードMOINSのカウンタ36は
カウンタ37が8個のダイオードPLUSを数えると直
ちにフリツプフロツプ38VCよりセツトされる。また
、4個のダイオードMOINSが計数されると、すなわ
ち、余白外の時、直ちにダイオードPLUSのカウンタ
37は次の測定走査までフリツプフロツプ39VCより
抑止される。本発明の装置は余白の、黒点等の欠陥につ
いても考慮を払われている。
計数がダイオードMOINS4個以下の時、カウンタ3
6は2つのダイオードPLUS毎に、ダイオードPLU
Sのカウンタ37により発生させられるパルスにより自
動的にゼロにりセツトされる。走査が終るとカウンタ3
6は、信号ENABLEVCより生じさせられるパルス
でフリツプフロツプ38VCより抑止される。信号CL
EARlは各測定走査の始まりで装置をイニシヤライズ
する働きをなす。カウンタPLUS3T,4Oはフリツ
プフロツプ39}よび信号DATAVCより抑止するこ
とができる。
回路25,27は2本の線路A,BIICより接続され
ている。線路AはダイオードMOLISのカウンタ36
をセツトし、線路Bは4個以下のダイオードMOINS
を計数した場合にカウンタ36を[0」にりセツトする
。数えられたダイオードの個数Nは値Nrnin,Nm
axと比較される。信号CLEARlは2つのカウンタ
PLUS37,4Oを、各測定走査の開始時に「0Uに
りセツトする。回路26は平行度の検査を行なう。
この回路は2個のカウンタ41,42からなる。最初の
測定の時、これら2個のカウンタは値N1、すなわちA
における数えられたダイオードの個数al図)を計数す
る。次に、第2測定に卦いて、それらカウンタは新しい
値N2(個所B)をカウントダウンする。このN2がN
1以上であれば、状態[0」の検出で、常に絶対値1N
2−N2lが得られるように再計数が行なわれる。この
値は標準値と比較される。回路24はその閾値が自動適
合する、すなわち用紙の余白の明るさに自動的に適合す
る。
この回路は信号IDEOに従つて決まる可変閾値をカメ
ラの固定閾値に重ね合わせる。ビデオ信号に対する可変
閾値の高さはポテンシヨメータ43により調節される。
このポテンシヨメータによれば、信号VIDEOの、増
幅器61に加えられる部分が控除される。信号VIDE
Oの振幅が光の強さが低下するにつれて小さくなると、
可変閾値のレベルは同じ割合で下がり、こうした余白の
大きさの正常な検出が保証される。データ予選択回路2
0は信号SELの状態(第8図)に従つて2つの動作を
モード、すなわちデータ処理装置モード}よび手動モー
ドのいずれかで動作する。
これらモードの各々に対応する信号は2個の4ピツト選
択器43,44VCより選択される。回路20がデータ
処理装置モードで動作する場合、データ処理装置は線路
31へ電荷パルスを、また対応のデータDMO〜DM7
を線路30へ出す。
手動モードにおいて、値は5個の多接点接触器45,4
6,47,48,49で予め選択され、各多接点接触器
は8個のダイオード51,52,53,54,55を通
じてデマルテプレクサ回路50により順番に選ばれる。
こうして線路SO〜S4は高インピーダンス状態から0
Vの状態へ周期的に移行する。同時に、論理回路57,
58と組合わさつたデコーダ56は手動モードでの使用
時に用いられる電荷パルスAVO〜A4を出す。データ
処理装置モードでは、決定要因となるのは、選択器61
を経て線路31から到るパルスAMO〜AM3である。
絶えず増分されるカウンタ59は周期的な動作を行なう
。回路21(出力処理)は各測定毎に各カメラからの3
通りの比較の結果を解釈する機能を有する。
この動作は走査終り信号ENABLEにより増分される
カウンタ601fCより制御される。このカウンタ60
は4個の出力Q1〜Q4を備えている。そのうちQl,
Q2は各測定走査後に比較の結果を記憶するのに用いら
れる。出力信号0UTは原則として、同時出願の発明の
目的をなす、横断方向余白ERRの検査結果の関数であ
る。信号0UTは1枚の用紙の全ての測定が行なわれた
後、次の用紙の測定が開始するまで使用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は測定原理の概略図、第2図はカメラの「センタ
ー」部の概略図、第3図はカメラによる検出の電子工学
的原理を示し、第4図は測定手段の配置の概略図、第5
図は計数信号の形成を示し、第6図は2台のカメラのう
ち1台に対する制御装置の簡略プロツク図、第7図は測
定タイムチヤート、第8図は装置の全体的プロツク図、
第9図および第10図は第8図に示すプロツクの電気接
続図である。 7・・・・・・カメラ、8,9・・・・・・カメラのセ
ンサー部、14・・・・・・制御論理回路、15・・・
・・・第1ダイオードカウンタ、16・・・・・・第2
ダイオードカウンタ、17,18,19・・・・・・比
較器、20・・・・・・データ予選択回路、21・・・
・・・処理回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 印刷をその支持体に対して心出しして印刷余白の幅
    および平行度を検査する方法において、前記支持体を該
    支持体および印刷を照射しつゝ前記余白に平行な方向に
    光学電子読取装置の前を移動せしめ、前記光学電子読取
    装置は反射光によつて前記支持体および前記印刷の余白
    を見ることができる位置におかれ前記支持体の移動方向
    に対して横断する方向に直線配列された感光素子配列と
    前記支持体および前記印刷の余白の像を前記感光素子配
    列に結ぶためのカメラをそなえ、前記読取装置の前記感
    光素子の第1のカウントを行つて前記読取装置を通過す
    る前記支持体の第1の部分として閾値レベルより大きい
    信号を発生する第1のカウント手段を動作せしめ、カウ
    ントされた前記感光素子の数を第1の基準値と比較し、
    ついで前記読取装置の前記感光素子の第2のカウントを
    行つて前記読取装置を通過する前記支持体の第2の部分
    として閾値レベルより大きい信号を発生して、前記第2
    のカウントにおいてカウントされた素子の数を前記基準
    値と比較し前記第1および第2のカウントにおいてカウ
    ントされた光電素子数の差を第2の基準値と比較し、前
    記第1のカウント手段が前記光電素子のあらかじめ定め
    られた数をカウントして前記閾値レベルよりも大きい信
    号を発生したときに前記第1のカウント手段から第2の
    カウント手段にトリガして前記光電素子のカウントによ
    り前記閾値レベルより小さい信号を発生せしめ、前記第
    2のカウント手段が前記光電素子のあらかじめきめられ
    た数をカウントしたときに前記第1のカウント手段を禁
    止して前記余白の黒点が前記印刷の余白として解釈され
    ることを防ぐことを特徴とする印刷余白の幅および平行
    度を検査する方法。 2 前記感光素子のおのおのに並列にキャパシタが接続
    され、前記キャパシタの充電は閾値より大なる信号を発
    生する感光素子を決定するために予かじめ決められた一
    定時間に光電電流を積分することによつて測定されるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の方法。 3 印刷をその支持体に対して心出しして印刷余白の幅
    および平行度を検査する装置であつて、2つの光電読取
    装置と、前記支持体を前記読取装置の前を前記余白に平
    行な方向に移動する手段と、前記支持体および前記余白
    を照射する手段を含み、前記光電読取装置は前記支持体
    の移動方向に対して横断する方向に直線配列された感光
    素子配列と前記支持体および前記印刷の余白の像を前記
    感光素子配列に結ぶためのカメラをそなえ、前記光電読
    取装置のおのおのの前記感光素子をカウントして閾値レ
    ベルより大きい信号を発生する第1のカウント手段と、
    前記支持体の第1の部分が前記光電読取装置を通過した
    ときに第1のカウントを行ないついで前記支持体の第2
    の部分が前記光電読取装置を通過したときに第2のカウ
    ントを行なう前記カウント手段を付勢する手段と、前記
    光電読取装置のおのおのの感光素子の読みとられた数を
    第1の基準値と比較し前記第1および第2のカウントに
    おいてカウントされた光電素子の数の差を第2の基準値
    と比較する手段と、感光素子をカウントして前記閾値レ
    ベルより低い信号を発生し前記第1のカウント手段によ
    つてトリガされる第2のカウント手段と、前記第2のカ
    ウント手段が前記光電素子のあらかじめきめられた数を
    カウントしたときに前記第1のカウント手段を禁止して
    前記余白の黒点が前記印刷の余白として解釈されること
    を防ぐ禁止手段とをそなえることを特徴とする印刷余白
    の幅および平行度を検査する装置。 4 前記光電読取装置の前記感光素子がフォトダイオー
    ドを含むことを特徴とする特許請求の範囲第3項記載の
    装置。 5 前記光電読取装置のおのおのがさらに前記照射手段
    による余白の照射に対応して自動調整する調整閾値レベ
    ルをそなえた比較手段を有することを特徴とする特許請
    求の範囲第3項記載の装置。 6 前記付勢する手段が制御論理回路手段を含み、該制
    御論理回路手段は前記支持体の前縁をカメラの前面に到
    達したときに検出し前記第1のカウントを行なうカウン
    ト手段を付勢する手段と前記カウント手段につゞいて前
    記第2のカウントを付勢するための遅延カウント手段を
    そなえることを特徴とする特許請求の範囲第3項記載の
    装置。 7 前記比較手段が基準値を含むレジスタと、カウント
    されたダイオードの数を最大許容余白幅に対応する基準
    値と比較する第1のコンパレータと、カウントされたダ
    イオードの数を最小許容余白幅に対応する基準値と比較
    する第2のコンパレータと、前記第1および第2のカウ
    ントでカウントされたダイオードの数の差を不平行許容
    値に対応する基準値と比較する第3のコンパレータより
    なることを特徴とする特許請求の範囲第3項記載の装置
JP53135178A 1977-11-04 1978-11-04 印刷余白の幅および平行度を検査する方法ならびに装置 Expired JPS593682B2 (ja)

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ES474793A1 (es) 1979-04-01
CH617131A5 (ja) 1980-05-14
GB2006952B (en) 1982-03-24
US4277176A (en) 1981-07-07
GB2006952A (en) 1979-05-10
FR2407818A1 (fr) 1979-06-01
IT7829290A0 (it) 1978-10-31
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