JPH0731134B2 - 画像検査装置 - Google Patents
画像検査装置Info
- Publication number
- JPH0731134B2 JPH0731134B2 JP1337262A JP33726289A JPH0731134B2 JP H0731134 B2 JPH0731134 B2 JP H0731134B2 JP 1337262 A JP1337262 A JP 1337262A JP 33726289 A JP33726289 A JP 33726289A JP H0731134 B2 JPH0731134 B2 JP H0731134B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- sample
- reference image
- read
- reading
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Accessory Devices And Overall Control Thereof (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （ａ）産業上の利用分野 この発明は、画像検出手段において検出されたサンプル
画像を予め記憶されている基準画像と比較し、サンプル
画像の良否を判断する画像検査装置に関する。
画像を予め記憶されている基準画像と比較し、サンプル
画像の良否を判断する画像検査装置に関する。
（ｂ）従来の技術 サンプル画像データを基準画像データと比較手段におい
て比較する場合、両者の画像位置を完全に一致させなけ
ればならず、このためにサンプル画像の読取タイミング
と基準画像の読取タイミングとを一致させなければなら
ない。そこで、従来の画像検査装置では、サンプル画像
の搬送経路中の所定位置におけるサンプル画像の検出タ
イミングに応じて比較手段における基準画像の読取タイ
ミングを設定するようにしていた。例えば、印刷用輪転
機の印刷物をサンプル画像として画像検査を行う場合、
ロール状の印刷用紙を収納した給紙部にロータリエンコ
ーダを設け、このロータリエンコーダの出力によって用
紙の給紙量を知り、この給紙量に基づいて基準画像の読
取タイミングを調節するようにしていた。
て比較する場合、両者の画像位置を完全に一致させなけ
ればならず、このためにサンプル画像の読取タイミング
と基準画像の読取タイミングとを一致させなければなら
ない。そこで、従来の画像検査装置では、サンプル画像
の搬送経路中の所定位置におけるサンプル画像の検出タ
イミングに応じて比較手段における基準画像の読取タイ
ミングを設定するようにしていた。例えば、印刷用輪転
機の印刷物をサンプル画像として画像検査を行う場合、
ロール状の印刷用紙を収納した給紙部にロータリエンコ
ーダを設け、このロータリエンコーダの出力によって用
紙の給紙量を知り、この給紙量に基づいて基準画像の読
取タイミングを調節するようにしていた。
（ｃ）発明が解決しようとする課題 しかしながら、従来の画像検査装置では、サンプル画像
の移動量を機械的に検出し、この検出結果に基づいて基
準画像の読取タイミングを決定していたため、例えば、
長尺状の用紙に連続して画像が形成される場合、用紙の
伸縮による搬送方向の画像形成位置の誤差を検出するこ
とができず、サンプル画像データと基準画像データとを
比較する比較手段において、両者の画像位置を正確に一
致させることができず、画像の良否判別を行うことがで
きなくなる問題があった。
の移動量を機械的に検出し、この検出結果に基づいて基
準画像の読取タイミングを決定していたため、例えば、
長尺状の用紙に連続して画像が形成される場合、用紙の
伸縮による搬送方向の画像形成位置の誤差を検出するこ
とができず、サンプル画像データと基準画像データとを
比較する比較手段において、両者の画像位置を正確に一
致させることができず、画像の良否判別を行うことがで
きなくなる問題があった。
この発明の目的は、基準画像に対するサンプル画像の位
置的誤差をサンプル画像の投影パターンと基準画像の投
影パターンとの相関値演算により求め、その演算結果に
基づいて比較手段における基準画像の読取タイミングを
調整することにより、比較手段においてサンプル画像と
基準画像との画像位置を確実に一致させることができ、
サンプル画像の良否判断を正確に行うことができる画像
検査装置を提供することにある。
置的誤差をサンプル画像の投影パターンと基準画像の投
影パターンとの相関値演算により求め、その演算結果に
基づいて比較手段における基準画像の読取タイミングを
調整することにより、比較手段においてサンプル画像と
基準画像との画像位置を確実に一致させることができ、
サンプル画像の良否判断を正確に行うことができる画像
検査装置を提供することにある。
（ｄ）課題を解決するための手段 この発明の画像検査装置は、画像の読み取られるべきサ
ンプルを連続して搬送する搬送手段と、前記サンプルの
搬送経路の途中でサンプルの画像を読み出すサンプル画
像読出手段と、基準画像を記憶する基準画像記憶手段
と、前記サンプル画像読出手段で読みだしたサンプル画
像と前記基準画像記憶手段から読み取った前記基準画像
とを比較する比較手段と、を備えた画像検査装置であっ
て、 サンプル画像のＸ方向投影パターンまたはＹ方向投影パ
ターンと基準画像の投影パターンとの相関値を求める相
関値演算手段を備え、 前記比較手段に、相関値演算手段で得られた相関値の最
大値に基づいて前記基準画像記憶手段から基準画像を読
み取るタイミングを調整するタイミング補正手段と、を
設け、 該比較手段により連続して入力するサンプル画像と読取
タイミングの調整された基準画像とを比較することを特
徴する。
ンプルを連続して搬送する搬送手段と、前記サンプルの
搬送経路の途中でサンプルの画像を読み出すサンプル画
像読出手段と、基準画像を記憶する基準画像記憶手段
と、前記サンプル画像読出手段で読みだしたサンプル画
像と前記基準画像記憶手段から読み取った前記基準画像
とを比較する比較手段と、を備えた画像検査装置であっ
て、 サンプル画像のＸ方向投影パターンまたはＹ方向投影パ
ターンと基準画像の投影パターンとの相関値を求める相
関値演算手段を備え、 前記比較手段に、相関値演算手段で得られた相関値の最
大値に基づいて前記基準画像記憶手段から基準画像を読
み取るタイミングを調整するタイミング補正手段と、を
設け、 該比較手段により連続して入力するサンプル画像と読取
タイミングの調整された基準画像とを比較することを特
徴する。
（ｅ）作用 この発明においては、連続して搬送されるサンプルから
搬送経路の途中で画像を読み出す。そして、この読み出
したサンプル画像のＸ方向またはＹ方向の投影パターン
と基準画像の投影パターンとの相関値が演算により求め
られ、得られた相関値のうち最大値をとる偏差を基準画
像に対するサンプル画像の位置的誤差とし、この誤差に
応じて比較手段における基準画像の読取タイミングが調
整される。従って、比較手段においてサンプル画像の読
取タイミングと基準画像の読取タイミングとが一致す
る。
搬送経路の途中で画像を読み出す。そして、この読み出
したサンプル画像のＸ方向またはＹ方向の投影パターン
と基準画像の投影パターンとの相関値が演算により求め
られ、得られた相関値のうち最大値をとる偏差を基準画
像に対するサンプル画像の位置的誤差とし、この誤差に
応じて比較手段における基準画像の読取タイミングが調
整される。従って、比較手段においてサンプル画像の読
取タイミングと基準画像の読取タイミングとが一致す
る。
（ｆ）実施例 第２図は、この発明の実施例である画像検査装置が用い
られる印刷装置の構成を示す概略図である。
られる印刷装置の構成を示す概略図である。
新聞印刷用輪転機では、ロール状に収納された用紙21を
ゴムローラ25とプラテンローラ26との間に導く。ゴムロ
ーラ25には版ローラ22が接触する。この版ローラ22は水
ローラ23およびインクローラ24から水およびインクを供
給され、版ローラ22に巻着された版上にインクが選択的
に付着する。このインクが版ローラ22との接触によりゴ
ムローラ25にオフセットしたのち、ゴムローラ25とプラ
テンローラ26との間を通過する用紙に転写される。用紙
21の搬送経路を構成するローラ27には光学ラインセンサ
29が対向して備えられている。この光学ラインセンサ29
によりサンプル画像を検出し、画像検査装置１において
予め記憶されている基準画像と比較し、汚れや濃度分布
の不良などを生じている不良画像をカッタ28で切断後に
排除する。
ゴムローラ25とプラテンローラ26との間に導く。ゴムロ
ーラ25には版ローラ22が接触する。この版ローラ22は水
ローラ23およびインクローラ24から水およびインクを供
給され、版ローラ22に巻着された版上にインクが選択的
に付着する。このインクが版ローラ22との接触によりゴ
ムローラ25にオフセットしたのち、ゴムローラ25とプラ
テンローラ26との間を通過する用紙に転写される。用紙
21の搬送経路を構成するローラ27には光学ラインセンサ
29が対向して備えられている。この光学ラインセンサ29
によりサンプル画像を検出し、画像検査装置１において
予め記憶されている基準画像と比較し、汚れや濃度分布
の不良などを生じている不良画像をカッタ28で切断後に
排除する。
第１図は、上記画像検査装置の構成を示すブロック図で
ある。
ある。
光学ラインセンサ29の検出データはA/D変換器２および
センサ感度補正部３を介してＸ方向投影計算部４、Ｙ方
向投影計算部14および遅延回路９に入力される。Ｘ方向
投影計算部４は光学ラインセンサ29の出力を第３図に示
すＸ方向（画像の搬送方向に直交する方向）に積算し、
サンプル画像のＸ方向の投影値を求める。このＸ方向投
影計算部４における計算結果はサンプルメモリ５に記憶
される。このサンプルメモリ５は第４図に示すように、
画像の第０〜326行のそれぞれのＸ方向の投影値をメモ
リエリアMA0〜MA326に格納する。なお、スイッチSW1の
切換によりＸ方向投影計算部４の計算結果はＸ方向基準
投影メモリ６に入力される。このＸ方向基準投影メモリ
６はサンプルメモリ５と同様に構成されており、後述す
る比較手段においてサンプル画像と比較される基準画像
についての光学ラインセンサ29による読取結果をＸ方向
に積算した値を基準画像の第０〜326行について格納す
る。
センサ感度補正部３を介してＸ方向投影計算部４、Ｙ方
向投影計算部14および遅延回路９に入力される。Ｘ方向
投影計算部４は光学ラインセンサ29の出力を第３図に示
すＸ方向（画像の搬送方向に直交する方向）に積算し、
サンプル画像のＸ方向の投影値を求める。このＸ方向投
影計算部４における計算結果はサンプルメモリ５に記憶
される。このサンプルメモリ５は第４図に示すように、
画像の第０〜326行のそれぞれのＸ方向の投影値をメモ
リエリアMA0〜MA326に格納する。なお、スイッチSW1の
切換によりＸ方向投影計算部４の計算結果はＸ方向基準
投影メモリ６に入力される。このＸ方向基準投影メモリ
６はサンプルメモリ５と同様に構成されており、後述す
る比較手段においてサンプル画像と比較される基準画像
についての光学ラインセンサ29による読取結果をＸ方向
に積算した値を基準画像の第０〜326行について格納す
る。
相関演算部７はサンプルメモリ５に格納されているサン
プル画像のＸ方向投影パターンとＸ方向基準投影メモリ
６に記憶されている基準画像のＸ方向投影パターンとの
相関演算を行ない、その相関値が最大値となる変数ixを
基準画像メモリ８に出力する。
プル画像のＸ方向投影パターンとＸ方向基準投影メモリ
６に記憶されている基準画像のＸ方向投影パターンとの
相関演算を行ない、その相関値が最大値となる変数ixを
基準画像メモリ８に出力する。
Ｙ方向投影計算部14は光学ラインセンサ29の検出結果を
第３図に示すＹ方向について積算し、各列についての投
影値を計算する。このＹ方向投影計算部14の計算結果は
サンプルメモリ15に入力される。このサンプルメモリ15
は第５図に示すように第０〜ｎ列の投影値をメモリエリ
アMA0〜MAnのそれぞれに格納する。なお、この列数は光
学ラインセンサ29の解像度によって決定される。また、
Ｙ方向投影計算部14の計算値がスイッチSW2の操作によ
りＹ方向基準投影メモリ16に格納される点は、前述のＸ
方向と同様である。相関演算部17はサンプルメモリ15に
格納されているサンプル画像のＹ方向投影パターンとＹ
方向基準投影メモリ16に格納されている基準画像のＹ方
向投影パターンとの相関値を演算するとともに、その相
関値が最大値となる変数iyを基準画像メモリ８に出力す
る。
第３図に示すＹ方向について積算し、各列についての投
影値を計算する。このＹ方向投影計算部14の計算結果は
サンプルメモリ15に入力される。このサンプルメモリ15
は第５図に示すように第０〜ｎ列の投影値をメモリエリ
アMA0〜MAnのそれぞれに格納する。なお、この列数は光
学ラインセンサ29の解像度によって決定される。また、
Ｙ方向投影計算部14の計算値がスイッチSW2の操作によ
りＹ方向基準投影メモリ16に格納される点は、前述のＸ
方向と同様である。相関演算部17はサンプルメモリ15に
格納されているサンプル画像のＹ方向投影パターンとＹ
方向基準投影メモリ16に格納されている基準画像のＹ方
向投影パターンとの相関値を演算するとともに、その相
関値が最大値となる変数iyを基準画像メモリ８に出力す
る。
一方、遅延回路９はセンサ感度補正部３において補正さ
れた光学ラインセンサ29の検出データを一定時間遅延し
て比較手段10に出力する。この遅延回路９における遅延
時間は光学ラインセンサ29が１ページ分（336行）の画
像を走査する時間にＸ方向投影計算部４および相関演算
部７とＹ方向投影計算部14および相関演算部17とにおけ
る処理時間を加えた時間である。なお、スイッチSW3の
操作により遅延回路９の出力は基準画像メモリ８に入力
される。このスイッチSW3の操作により、比較手段10に
おいてサンプル画像と比較される基準画像を光学ライン
センサ29により読み取らせ、この基準画像の画像データ
を基準画像メモリ８に記憶させておくことができる。比
較部10は遅延回路９から読み取ったサンプル画像データ
と基準画像データ８から読み取った基準画像データを１
画素ずつ比較し、この結果を判定部11に出力する。判定
部11は比較部10における比較結果に基づいてサンプル画
像における汚れや濃度分布の不良などを検出する。
れた光学ラインセンサ29の検出データを一定時間遅延し
て比較手段10に出力する。この遅延回路９における遅延
時間は光学ラインセンサ29が１ページ分（336行）の画
像を走査する時間にＸ方向投影計算部４および相関演算
部７とＹ方向投影計算部14および相関演算部17とにおけ
る処理時間を加えた時間である。なお、スイッチSW3の
操作により遅延回路９の出力は基準画像メモリ８に入力
される。このスイッチSW3の操作により、比較手段10に
おいてサンプル画像と比較される基準画像を光学ライン
センサ29により読み取らせ、この基準画像の画像データ
を基準画像メモリ８に記憶させておくことができる。比
較部10は遅延回路９から読み取ったサンプル画像データ
と基準画像データ８から読み取った基準画像データを１
画素ずつ比較し、この結果を判定部11に出力する。判定
部11は比較部10における比較結果に基づいてサンプル画
像における汚れや濃度分布の不良などを検出する。
第６図は、上記画像検査装置の処理手順を示すフローチ
ャートである。なお、同図はＸ方向についての投影計算
に係る処理を示している。
ャートである。なお、同図はＸ方向についての投影計算
に係る処理を示している。
Ｘ方向投影計算部４は光学ラインセンサ29の検出データ
を第０〜326行のそれぞれについて積算し（n1〜n5）、
この値がサンプルメモリ５に記憶される。第３図に示す
ように１頁の画像31は第０〜336行によって構成されて
いるが、Ｘ方向投影計算部４および相関演算部７におけ
る処理時間を短縮するため第326行目までのデータを用
いる。第326行目までの投影値がサンプルメモリ５に格
納されると、相関演算部７において次式で表される相関
値演算が行われる。
を第０〜326行のそれぞれについて積算し（n1〜n5）、
この値がサンプルメモリ５に記憶される。第３図に示す
ように１頁の画像31は第０〜336行によって構成されて
いるが、Ｘ方向投影計算部４および相関演算部７におけ
る処理時間を短縮するため第326行目までのデータを用
いる。第326行目までの投影値がサンプルメモリ５に格
納されると、相関演算部７において次式で表される相関
値演算が行われる。
ここで変数ｉの値としては−５〜５が与えられる（n6〜
n10）。
n10）。
上記相関演算部７の処理によりｉ＝−５からｉ＝５まで
の11個の相関値が得られる。この相関値Ｉにおいて最大
値をとる変数ｉを比較部10における基準画像メモリ８を
読取タイミングとして出力する（n11）。すなわち、第
７図に示すように、n7ではサンプル画像の投影パターン
PrjSと基準画像の投影パターンPrjRが各行について掛け
合わされ、その値が積算される。この時、基準画像の投
影パターンPrjRは、ｉの値によって−５〜５行の範囲に
渡って変位させた状態でサンプル画像の投影パターンPr
jSに掛け合わされる。従って、相関値Iiの値は基準画像
に対するサンプル画像の変位量に最も近い量だけ基準画
像の投影パターンを変位させたときの値が最大値とな
る。
の11個の相関値が得られる。この相関値Ｉにおいて最大
値をとる変数ｉを比較部10における基準画像メモリ８を
読取タイミングとして出力する（n11）。すなわち、第
７図に示すように、n7ではサンプル画像の投影パターン
PrjSと基準画像の投影パターンPrjRが各行について掛け
合わされ、その値が積算される。この時、基準画像の投
影パターンPrjRは、ｉの値によって−５〜５行の範囲に
渡って変位させた状態でサンプル画像の投影パターンPr
jSに掛け合わされる。従って、相関値Iiの値は基準画像
に対するサンプル画像の変位量に最も近い量だけ基準画
像の投影パターンを変位させたときの値が最大値とな
る。
例えば、第７図に示すようにサンプル画像が基準画像に
比較して３行分上方に位置ずれを生じている場合にはｉ
＝３のとき相関値Ｉが最大となる。この基準画像に対す
るサンプル画像の誤差を放置して比較部10における比較
処理を実行すると、サンプル画像の画像データは３行分
下方の基準データと比較されることになり、正確な画像
の良否判断を行うことができない。そこで、相関演算部
７から出力された変数ｉだけ基準画像メモリの読取タイ
ミングを早めることにより、比較部10において比較され
るサンプル画像と基準画像との画像データの位置を完全
に一致させることができる、正確な良否判断を行うこと
ができる。
比較して３行分上方に位置ずれを生じている場合にはｉ
＝３のとき相関値Ｉが最大となる。この基準画像に対す
るサンプル画像の誤差を放置して比較部10における比較
処理を実行すると、サンプル画像の画像データは３行分
下方の基準データと比較されることになり、正確な画像
の良否判断を行うことができない。そこで、相関演算部
７から出力された変数ｉだけ基準画像メモリの読取タイ
ミングを早めることにより、比較部10において比較され
るサンプル画像と基準画像との画像データの位置を完全
に一致させることができる、正確な良否判断を行うこと
ができる。
なお、以上の処理はＹ方向に積算された投影値を用いた
相関演算においても同様であり、相関演算部17から出力
される変数Iyを用いて画像データの水平方向の誤差を補
正できる。
相関演算においても同様であり、相関演算部17から出力
される変数Iyを用いて画像データの水平方向の誤差を補
正できる。
（ｇ）発明の効果 この発明によれば、相関値演算によりサンプル画像と基
準画像との画像位置の誤差を検出し、この検出結果に基
づいて比較手段における基準画像の読取タイミングを調
整することにより、サンプル画像の読取タイミングと基
準画像の読取タイミングとを完全に一致させることがで
き、画像の良否判断を正確に行うことができる利点があ
る。また、サンプル画像と基準画像との比較において、
基準画像の読み取りタイミングを調整するため、サンプ
ル画像を読み出すタイミングに制約がないため、サンプ
ルの搬送速度を自由に設定することができる。
準画像との画像位置の誤差を検出し、この検出結果に基
づいて比較手段における基準画像の読取タイミングを調
整することにより、サンプル画像の読取タイミングと基
準画像の読取タイミングとを完全に一致させることがで
き、画像の良否判断を正確に行うことができる利点があ
る。また、サンプル画像と基準画像との比較において、
基準画像の読み取りタイミングを調整するため、サンプ
ル画像を読み出すタイミングに制約がないため、サンプ
ルの搬送速度を自由に設定することができる。
第１図はこの発明の実施例である画像検査装置の構成を
示す図、第２図は同画像検査装置が用いられる印刷機の
構成を示す図、第３図は同画像検査装置において検査さ
れる画像およびその投影パターンを示す図、第４図およ
び第５図は同画像検査装置の一部を構成するサンプルメ
モリのメモリマップ、第６図は同画像検査装置における
処理手順を示すフローチャート、第７図は同画像装置に
おける相関値演算を示す図である。 １……画像検査装置、 ４……Ｘ方向投影計算部、 14……Ｙ方向投影計算部、 7,17……相関演算部、 10……比較部。
示す図、第２図は同画像検査装置が用いられる印刷機の
構成を示す図、第３図は同画像検査装置において検査さ
れる画像およびその投影パターンを示す図、第４図およ
び第５図は同画像検査装置の一部を構成するサンプルメ
モリのメモリマップ、第６図は同画像検査装置における
処理手順を示すフローチャート、第７図は同画像装置に
おける相関値演算を示す図である。 １……画像検査装置、 ４……Ｘ方向投影計算部、 14……Ｙ方向投影計算部、 7,17……相関演算部、 10……比較部。
Claims (1)
- 【請求項１】画像の読み取られるべきサンプルを連続し
て搬送する搬送手段と、前記サンプルの搬送経路の途中
でサンプルの画像を読み出すサンプル画像読出手段と、
基準画像を記憶する基準画像記憶手段と、前記サンプル
画像読出手段で読みだしたサンプル画像と前記基準画像
記憶手段から読み取った前記基準画像とを比較する比較
手段と、を備えた画像検査装置であって、 サンプル画像のＸ方向投影パターンまたはＹ方向投影パ
ターンと基準画像の投影パターンとの相関値を求める相
関値演算手段を備え、 前記比較手段に、相関値演算手段で得られた相関値の最
大値に基づいて前記基準画像記憶手段から基準画像を読
み取るタイミングを調整するタイミング補正手段と、を
設け、 該比較手段により連続して入力するサンプル画像と読取
タイミングの調整された基準画像とを比較することを特
徴する画像検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1337262A JPH0731134B2 (ja) | 1989-12-25 | 1989-12-25 | 画像検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1337262A JPH0731134B2 (ja) | 1989-12-25 | 1989-12-25 | 画像検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03195955A JPH03195955A (ja) | 1991-08-27 |
| JPH0731134B2 true JPH0731134B2 (ja) | 1995-04-10 |
Family
ID=18306969
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1337262A Expired - Lifetime JPH0731134B2 (ja) | 1989-12-25 | 1989-12-25 | 画像検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0731134B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3552598B2 (ja) * | 1999-07-07 | 2004-08-11 | 富士ゼロックス株式会社 | 連続媒体印刷装置 |
| JP6015189B2 (ja) | 2011-08-16 | 2016-10-26 | 株式会社リコー | 画像検査装置、画像形成装置、画像検査方法及び画像形成システム |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57208441A (en) * | 1981-06-19 | 1982-12-21 | Hitachi Ltd | Detection system of deviation in pattern position by 2-chip comparison |
| JPS63168788A (ja) * | 1987-01-06 | 1988-07-12 | Nec Corp | パタ−ン比較検査装置 |
-
1989
- 1989-12-25 JP JP1337262A patent/JPH0731134B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03195955A (ja) | 1991-08-27 |
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