JPH03194727A - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体の製造方法Info
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- JPH03194727A JPH03194727A JP33408189A JP33408189A JPH03194727A JP H03194727 A JPH03194727 A JP H03194727A JP 33408189 A JP33408189 A JP 33408189A JP 33408189 A JP33408189 A JP 33408189A JP H03194727 A JPH03194727 A JP H03194727A
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Landscapes
- Magnetic Record Carriers (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
(産業上の利用分野)
本発明は、磁気記録装置に使用される磁気記録媒体を製
造するのに利用される磁気記録媒体の製造方法に関する
ものである。 (従来の技術) 従来、この種の磁気記録媒体を製造するに際しては、例
えば、AM−Mgよりなる基板に、純Arガス中で、C
rまたはCr基合金よるなるターゲットを用いてスパッ
タリング成膜することにより下地膜を形成したのち、同
じく純Arガス中で、GoまたはCo基合金よりなるタ
ーゲットを用いてスパッタリング成膜することにより薄
膜を形成する工程を採用することがあった。 そしてこの場合、純Arガス中でのスパッタリング成膜
に際し、磁気記録媒体の保磁力(Hc)を向上させるた
めに、前記基板の温度を250℃以上に高める必要があ
った。 マタ、スパッタリング成膜をArガス:N2ガス=1=
1の混合ガス中で行ったのち、高温での熱処理を施して
保磁力(He)を向上させようとする例(例えば、特開
昭61−153827号)もあった。 (発明が解決しようとする課題) しかしながら、上述した従来の磁気記録媒体の製造方法
では、磁気記録媒体の保磁力(Hc)を向上させるため
に、基板の温度を250℃以上に高めたり、スパッタリ
ング成膜後に高温での熱処理を施したりするなど、いず
れも加熱冷却という時間や手間のかかる工程を必要とす
ると共に、高温であることから基板と薄膜との間で反応
を生ずることもありうるという問題点があった。 そして、このような反応を防止するために下地膜の厚さ
を増加することも考えられるが、下地膜として使用する
高価なCrまたはCr基合金の必要量が増大することか
らコスト高につくという問題点があり、これらの問題点
を解決することが課題として存在していた。 (発明の目的) 本発明は、このような従来の課題にかんがみてなされた
もので、保磁力を向上させるために、スパッタリング成
膜時に基板温度を250℃以上の高温としたり、スパッ
タリング成膜後に高温での熱処理を行ったりする手段を
必らずしも採用しなくとも、高い保磁力を有する磁気記
録媒体を得ることが可能である磁気記録媒体の製造方法
を提供することを目的としている。
造するのに利用される磁気記録媒体の製造方法に関する
ものである。 (従来の技術) 従来、この種の磁気記録媒体を製造するに際しては、例
えば、AM−Mgよりなる基板に、純Arガス中で、C
rまたはCr基合金よるなるターゲットを用いてスパッ
タリング成膜することにより下地膜を形成したのち、同
じく純Arガス中で、GoまたはCo基合金よりなるタ
ーゲットを用いてスパッタリング成膜することにより薄
膜を形成する工程を採用することがあった。 そしてこの場合、純Arガス中でのスパッタリング成膜
に際し、磁気記録媒体の保磁力(Hc)を向上させるた
めに、前記基板の温度を250℃以上に高める必要があ
った。 マタ、スパッタリング成膜をArガス:N2ガス=1=
1の混合ガス中で行ったのち、高温での熱処理を施して
保磁力(He)を向上させようとする例(例えば、特開
昭61−153827号)もあった。 (発明が解決しようとする課題) しかしながら、上述した従来の磁気記録媒体の製造方法
では、磁気記録媒体の保磁力(Hc)を向上させるため
に、基板の温度を250℃以上に高めたり、スパッタリ
ング成膜後に高温での熱処理を施したりするなど、いず
れも加熱冷却という時間や手間のかかる工程を必要とす
ると共に、高温であることから基板と薄膜との間で反応
を生ずることもありうるという問題点があった。 そして、このような反応を防止するために下地膜の厚さ
を増加することも考えられるが、下地膜として使用する
高価なCrまたはCr基合金の必要量が増大することか
らコスト高につくという問題点があり、これらの問題点
を解決することが課題として存在していた。 (発明の目的) 本発明は、このような従来の課題にかんがみてなされた
もので、保磁力を向上させるために、スパッタリング成
膜時に基板温度を250℃以上の高温としたり、スパッ
タリング成膜後に高温での熱処理を行ったりする手段を
必らずしも採用しなくとも、高い保磁力を有する磁気記
録媒体を得ることが可能である磁気記録媒体の製造方法
を提供することを目的としている。
(課題を解決するための手段)
本発明に係わる磁気記録媒体の製造方法は、Crまたは
Cr基合金の下地膜を介してCoまたはCo基合金の薄
膜を設けた薄膜磁気記録媒体をスパッタリング成膜によ
り製造するに際し、Arガス二N2ガス=100:0.
05〜2のガス分圧比、もしくはArガス二N2ガス=
02ガス=100二〇、05〜2:0.01〜0.1の
ガス分圧比を有する混合ガス中でスノ(+7タリング成
膜を行う構成としたことを特徴としており、このような
磁気記録媒体の製造方法の構成を前述した従来の課題を
解決するための手段としている。 本発明に係わる磁気記録媒体の製造方法において、基板
としては、A文、A交−Mg、Si、ガラス、セラミッ
クス(AIL203など)等々の各種のものの中から選
んで使用されるが、とくに限定はされない。 また、下地膜となるCrまたはCr基合金のう−ちCr
基合金としては各種の二元系(Cr−Ag、Cr−Zr
等々)ないしは三元系以上(Cr−Ag−Y 、Cr−
Zn−3n等々)の合金が使用されるが、とくに限定は
されない。 さらに、薄膜となるCoまたはCo基合金のうちCo基
合金としては各種の二元系(Co−Ni、Co−Cr等
々)ないしは三元系以上(Co−Ni−Cr、Co−C
r−Ta等々)の合金が使用されるが、とくに限定はさ
れない。 そして、前記基板に、前記CrまたはCr基合金の下地
膜を介して前記CoまたはCo基合金の薄膜を設けた薄
膜磁気記録媒体をスパッタリング成膜により製造するに
際しては、Arガス二N2ガス=100:0.05〜2
のガス分圧比、もしくはArガス:N2ガス:02ガス
=100:0.05〜2:0.01〜0.1のガス分圧
比を有する混合ガス中でスパッタリング成膜を行うよう
にした。 この種のスパッタリング成膜において、基板上に、30
00λ厚さのCrよりなる下J#lFgと。 500ス厚さのCo基合金よりなる薄膜とをスパッタリ
ング成膜によって設けるにあたり、Arガス十N2ガス
の混合ガス(02ガス分圧く1×10−’Torr)中
でスパッタリング成膜を行い、この際のN2ガス分圧を
変化させたところ、第1図に示すように、高い保磁力(
He)が得られる適切なN2ガス分圧が存在することが
認められた。 また、Arガス十N2ガス+02ガスの混合ガス中でス
パッタリング成膜を行うに際し、02ガス分圧を5×1
0−?TOrrと一定にしてN2ガス分圧を変化させた
ところ、第2図に示すように、高い保磁力(Hc)が得
られる適切なN2ガス分圧が存在することが認められた
。 さらに、Arガス十N2ガス+02ガスの混合ガス中で
スパッタリング成膜を行うに際し、N2ガス分圧を3X
10=Torrと一足にしテ02ガス分圧を変化させた
ところ、第3図に示すように、高い保磁力(Hc)が得
られる適切な02ガス分圧が存在することが認められた
。 そして、種々の実験の結果、混合ガスとしてArガス十
N2ガスを用いる場合には、Arガス二N2ガス=10
0:0.05〜2の範囲のガス分圧比とすることが望ま
しく、混合ガスとしてArガス十N2ガス+02ガスを
用いる場合には、Arガス二N2ガス=02ガス=10
0:0.05〜2:0.01〜0.1の範囲のガス分圧
比とすることが望ましいことが認められた。 そして、このようなスパッタリング成膜を行う実施態様
においては、CrまたはCr基合金の下地膜を形成する
ためのCrまたはCr基合金のターゲットと、Coまた
はCo基合金の薄膜を形成するためのCoまたはCo基
合金のターゲットとを前記所定のガス分圧比とした混合
ガス中に設け、前記混合ガス中で前記CrまたはCr基
合金のターゲットに対峙して前記CrまたはCr基合金
の下地膜をスパッタリング成膜したのち前記Coまたは
Co基合金のターゲットに対峙して前記CoまたはCo
基合金の薄膜をスパッタリング成膜するべく前記基板を
移動可能とした二元スパッタリングによりスパッタリン
グ成膜を行うようになすことも必要に応じて望ましい。 (発明の作用) 本発明に係わる磁気記録媒体の製造方法では、基板に、
CrまたはCr基合金の下地膜を介してCoまたはCo
基合金の薄膜を設けた薄膜磁気記録媒体をスパッタリン
グ成膜により製造するに際し、Arガス二N2ガス=1
00:0.05〜2のガス分圧比、もしくはArガス:
N2ガス:02ガス=100:0.05〜2:0.01
〜0.1のガス分圧比を有する混合ガス中でスパッタリ
ング成膜を行う構成としたから、磁気記録媒体の保磁力
(Hc)を高めるに際して、従来のように基板の温度を
250℃以上に高めたり、成膜後に高温での熱処理を行
ったりする格別の手段を必らずしも採用しなくとも、高
い保磁力の磁気記録媒体が製造されるようになる。 °(¥施例) 基板としてスライドガラスを用い、下地膜素材として純
Crを用い、磁気薄膜素材としてCo−30%Ni−7
,5%Cr(原子%)よりなるCo基合金を用いた。 そして、スパッタリング装置のチャンバー内において基
板を回転体に保持させ、前記回転体の一方の位置で前記
基板と対峙する位置に前記純Crよりなるターゲットが
位置するようにして、前記純Crをターゲットとするス
パッタリング成膜を行うことにより純Crよりなる下地
膜が形成されるようにし、次いで前記回転体を180°
回転させた他方の位lで前記基板と対峙する位aに前記
Co基合金よりなるターゲットが位置するようにして、
前記Co基合金をターゲットとするスパッタリング成膜
を行うことによりCo基合金よるなる磁気薄膜が形成さ
れるように、第1表に示すスパッタリング成膜条件によ
り前記純CrとCo基合金との二元スパッタリングを行
い、これによって、基板に厚さ30001の純Crより
なる下地1便を形成したのちさらに厚さ500スのCo
基合金よりなる磁気薄膜を形成した磁気記録媒体を製造
した。 そして、このスパッタリング成膜に際しては。 第2表に示すように、Arガス分圧+N2ガス分圧、0
□ガス分圧を変えて実施し、これにより得られたそれぞ
れの磁気記録媒体の保磁力(He)および角形比を調べ
た。この結果を同じく第2表に示す。 第 表 第2表に示した結果より明らかなように、スパッタリン
グ成膜を行うに際してArガス分圧。 N2ガス分圧、02ガス分圧を適切に制御することによ
って、基板温度を250°C以上に高めたり、成膜後に
高温での熱処理を施したりしなくとも、従来と同程度な
いしは従来をかなり上回る高い保磁力が得られると同時
に角形比も良好なる磁気記録媒体を製造できることが確
かめられた。
Cr基合金の下地膜を介してCoまたはCo基合金の薄
膜を設けた薄膜磁気記録媒体をスパッタリング成膜によ
り製造するに際し、Arガス二N2ガス=100:0.
05〜2のガス分圧比、もしくはArガス二N2ガス=
02ガス=100二〇、05〜2:0.01〜0.1の
ガス分圧比を有する混合ガス中でスノ(+7タリング成
膜を行う構成としたことを特徴としており、このような
磁気記録媒体の製造方法の構成を前述した従来の課題を
解決するための手段としている。 本発明に係わる磁気記録媒体の製造方法において、基板
としては、A文、A交−Mg、Si、ガラス、セラミッ
クス(AIL203など)等々の各種のものの中から選
んで使用されるが、とくに限定はされない。 また、下地膜となるCrまたはCr基合金のう−ちCr
基合金としては各種の二元系(Cr−Ag、Cr−Zr
等々)ないしは三元系以上(Cr−Ag−Y 、Cr−
Zn−3n等々)の合金が使用されるが、とくに限定は
されない。 さらに、薄膜となるCoまたはCo基合金のうちCo基
合金としては各種の二元系(Co−Ni、Co−Cr等
々)ないしは三元系以上(Co−Ni−Cr、Co−C
r−Ta等々)の合金が使用されるが、とくに限定はさ
れない。 そして、前記基板に、前記CrまたはCr基合金の下地
膜を介して前記CoまたはCo基合金の薄膜を設けた薄
膜磁気記録媒体をスパッタリング成膜により製造するに
際しては、Arガス二N2ガス=100:0.05〜2
のガス分圧比、もしくはArガス:N2ガス:02ガス
=100:0.05〜2:0.01〜0.1のガス分圧
比を有する混合ガス中でスパッタリング成膜を行うよう
にした。 この種のスパッタリング成膜において、基板上に、30
00λ厚さのCrよりなる下J#lFgと。 500ス厚さのCo基合金よりなる薄膜とをスパッタリ
ング成膜によって設けるにあたり、Arガス十N2ガス
の混合ガス(02ガス分圧く1×10−’Torr)中
でスパッタリング成膜を行い、この際のN2ガス分圧を
変化させたところ、第1図に示すように、高い保磁力(
He)が得られる適切なN2ガス分圧が存在することが
認められた。 また、Arガス十N2ガス+02ガスの混合ガス中でス
パッタリング成膜を行うに際し、02ガス分圧を5×1
0−?TOrrと一定にしてN2ガス分圧を変化させた
ところ、第2図に示すように、高い保磁力(Hc)が得
られる適切なN2ガス分圧が存在することが認められた
。 さらに、Arガス十N2ガス+02ガスの混合ガス中で
スパッタリング成膜を行うに際し、N2ガス分圧を3X
10=Torrと一足にしテ02ガス分圧を変化させた
ところ、第3図に示すように、高い保磁力(Hc)が得
られる適切な02ガス分圧が存在することが認められた
。 そして、種々の実験の結果、混合ガスとしてArガス十
N2ガスを用いる場合には、Arガス二N2ガス=10
0:0.05〜2の範囲のガス分圧比とすることが望ま
しく、混合ガスとしてArガス十N2ガス+02ガスを
用いる場合には、Arガス二N2ガス=02ガス=10
0:0.05〜2:0.01〜0.1の範囲のガス分圧
比とすることが望ましいことが認められた。 そして、このようなスパッタリング成膜を行う実施態様
においては、CrまたはCr基合金の下地膜を形成する
ためのCrまたはCr基合金のターゲットと、Coまた
はCo基合金の薄膜を形成するためのCoまたはCo基
合金のターゲットとを前記所定のガス分圧比とした混合
ガス中に設け、前記混合ガス中で前記CrまたはCr基
合金のターゲットに対峙して前記CrまたはCr基合金
の下地膜をスパッタリング成膜したのち前記Coまたは
Co基合金のターゲットに対峙して前記CoまたはCo
基合金の薄膜をスパッタリング成膜するべく前記基板を
移動可能とした二元スパッタリングによりスパッタリン
グ成膜を行うようになすことも必要に応じて望ましい。 (発明の作用) 本発明に係わる磁気記録媒体の製造方法では、基板に、
CrまたはCr基合金の下地膜を介してCoまたはCo
基合金の薄膜を設けた薄膜磁気記録媒体をスパッタリン
グ成膜により製造するに際し、Arガス二N2ガス=1
00:0.05〜2のガス分圧比、もしくはArガス:
N2ガス:02ガス=100:0.05〜2:0.01
〜0.1のガス分圧比を有する混合ガス中でスパッタリ
ング成膜を行う構成としたから、磁気記録媒体の保磁力
(Hc)を高めるに際して、従来のように基板の温度を
250℃以上に高めたり、成膜後に高温での熱処理を行
ったりする格別の手段を必らずしも採用しなくとも、高
い保磁力の磁気記録媒体が製造されるようになる。 °(¥施例) 基板としてスライドガラスを用い、下地膜素材として純
Crを用い、磁気薄膜素材としてCo−30%Ni−7
,5%Cr(原子%)よりなるCo基合金を用いた。 そして、スパッタリング装置のチャンバー内において基
板を回転体に保持させ、前記回転体の一方の位置で前記
基板と対峙する位置に前記純Crよりなるターゲットが
位置するようにして、前記純Crをターゲットとするス
パッタリング成膜を行うことにより純Crよりなる下地
膜が形成されるようにし、次いで前記回転体を180°
回転させた他方の位lで前記基板と対峙する位aに前記
Co基合金よりなるターゲットが位置するようにして、
前記Co基合金をターゲットとするスパッタリング成膜
を行うことによりCo基合金よるなる磁気薄膜が形成さ
れるように、第1表に示すスパッタリング成膜条件によ
り前記純CrとCo基合金との二元スパッタリングを行
い、これによって、基板に厚さ30001の純Crより
なる下地1便を形成したのちさらに厚さ500スのCo
基合金よりなる磁気薄膜を形成した磁気記録媒体を製造
した。 そして、このスパッタリング成膜に際しては。 第2表に示すように、Arガス分圧+N2ガス分圧、0
□ガス分圧を変えて実施し、これにより得られたそれぞ
れの磁気記録媒体の保磁力(He)および角形比を調べ
た。この結果を同じく第2表に示す。 第 表 第2表に示した結果より明らかなように、スパッタリン
グ成膜を行うに際してArガス分圧。 N2ガス分圧、02ガス分圧を適切に制御することによ
って、基板温度を250°C以上に高めたり、成膜後に
高温での熱処理を施したりしなくとも、従来と同程度な
いしは従来をかなり上回る高い保磁力が得られると同時
に角形比も良好なる磁気記録媒体を製造できることが確
かめられた。
本発明に係わる磁気記録媒体の製造方法では、基板にC
rまたはCr基合金の下地膜を介してCoまたはCo基
合金の薄膜を設けた薄膜磁気記録媒体をスパッタリング
成膜により製造するに際し、Arガス二N2ガス=10
0:0.05〜2のガス分圧比、もしくはArガス二N
2ガス:02ガス=100:0.05〜2:0.01〜
0.1のガス分圧比を有する混合ガス中でスパッタリン
グ成膜を行う構成としたから、従来のようにスパッタリ
ング成膜に際して基板温度を250℃以上の高い温度に
したり、成膜後に高温での熱処理を施したりする手段を
必らずしも採用しなくとも、従来程度ないしはそれ以上
の高い保磁力(He)を有すると共に優れた角形比を有
する磁気記録媒体を製造することが可能であり、基板温
度を従来はど高める必要がないため基板の制約がより少
なくなると共に、基板を加熱したり熱処理を施したりす
るための加熱時間や手間を省くことが可能であり、また
、高温で熱処理する必要が必ずしもないため基板と薄膜
との間で反応を生ずるおそれがないので、下地膜を薄く
することが可能であり、下地膜として用いるCrまたは
Cr基合金の使用量を少なくすることができ、さらには
、従来よりも保磁力を向上させることができることから
同じ保磁力とする場合には磁性薄膜の厚さを小さくする
ことが可能であって成膜時間も少なくてすむなどの著し
く潰れた効果がもたらされる。
rまたはCr基合金の下地膜を介してCoまたはCo基
合金の薄膜を設けた薄膜磁気記録媒体をスパッタリング
成膜により製造するに際し、Arガス二N2ガス=10
0:0.05〜2のガス分圧比、もしくはArガス二N
2ガス:02ガス=100:0.05〜2:0.01〜
0.1のガス分圧比を有する混合ガス中でスパッタリン
グ成膜を行う構成としたから、従来のようにスパッタリ
ング成膜に際して基板温度を250℃以上の高い温度に
したり、成膜後に高温での熱処理を施したりする手段を
必らずしも採用しなくとも、従来程度ないしはそれ以上
の高い保磁力(He)を有すると共に優れた角形比を有
する磁気記録媒体を製造することが可能であり、基板温
度を従来はど高める必要がないため基板の制約がより少
なくなると共に、基板を加熱したり熱処理を施したりす
るための加熱時間や手間を省くことが可能であり、また
、高温で熱処理する必要が必ずしもないため基板と薄膜
との間で反応を生ずるおそれがないので、下地膜を薄く
することが可能であり、下地膜として用いるCrまたは
Cr基合金の使用量を少なくすることができ、さらには
、従来よりも保磁力を向上させることができることから
同じ保磁力とする場合には磁性薄膜の厚さを小さくする
ことが可能であって成膜時間も少なくてすむなどの著し
く潰れた効果がもたらされる。
第1図はArガス十N2ガスの混合ガス中でスパッタリ
ング成膜を行うことにより磁気記録媒体を製造した場合
のN2ガス分圧比を変化させたことによる保磁力(Hc
)への影響を調べた結果を例示するグラフ、第2図はA
rガス十N2ガス+02ガスの混合ガス中でスパッタリ
ング成膜を行うことにより磁気記録媒体を製造した場合
の02ガス分圧一定でかつN2ガス分圧を変化させたこ
とによる保磁力(He)への影響を調べた結果を例示す
るグラフ、i3図はArガス十N2ガス+02ガスの混
合ガス中でスパッタリング成膜を行うことにより磁気記
録媒体を製造した場合のN2ガス分圧一定でかつ02ガ
ス分圧を変化させたことによる保磁力(He)への影響
を調べた結果を例示するグラフである。
ング成膜を行うことにより磁気記録媒体を製造した場合
のN2ガス分圧比を変化させたことによる保磁力(Hc
)への影響を調べた結果を例示するグラフ、第2図はA
rガス十N2ガス+02ガスの混合ガス中でスパッタリ
ング成膜を行うことにより磁気記録媒体を製造した場合
の02ガス分圧一定でかつN2ガス分圧を変化させたこ
とによる保磁力(He)への影響を調べた結果を例示す
るグラフ、i3図はArガス十N2ガス+02ガスの混
合ガス中でスパッタリング成膜を行うことにより磁気記
録媒体を製造した場合のN2ガス分圧一定でかつ02ガ
ス分圧を変化させたことによる保磁力(He)への影響
を調べた結果を例示するグラフである。
Claims (4)
- (1)基板に、CrまたはCr基合金の下地膜を介して
CoまたはCo基合金の薄膜を設けた薄膜磁気記録媒体
をスパッタリング成膜により製造するに際し、Arガス
:N_2ガス=100:0.05〜2のガス分圧比を有
する混合ガス中でスパッタリング成膜を行うことを特徴
とする磁気記録媒体の製造方法。 - (2)基板に、CrまたはCr基合金の下地膜を介して
CoまたはCo基合金の薄膜を設けた薄膜磁気記録媒体
をスパッタリング成膜により製造するに際し、Arガス
:N_2ガス:O_2ガス=100:0.05〜2:0
.01〜0.1のガス分圧比を有する混合ガス中でスパ
ッタリング成膜を行うことを特徴とする磁気記録媒体の
製造方法。 - (3)スパッタリング成膜時における基板 温度を200℃以下とする請求項第(1)項または第(
2)項に記載の磁気記録媒体の製造方法。 - (4)CrまたはCr基合金の下地膜を形成するための
CrまたはCr基合金のターゲットと、CoまたはCo
基合金の薄膜を形成するためのCoまたはCo基合金の
ターゲットとを混合ガス中に設け、前記混合ガス中で前
記CrまたはCr基合金のターゲットに対峙して前記C
rまたはCr基合金の下地膜をスパッタリング成膜した
のち前記CoまたはCo基合金のターゲットに対峙して
前記CoまたはCo基合金の薄膜をスパッタリング成膜
するべく前記基板を移動可能とした二元スパッタリング
によりスパッタリング成膜を行う請求項第(1)項、第
(2)項または第(3)項に記載の磁気記録媒体の製造
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1334081A JP3018360B2 (ja) | 1989-12-22 | 1989-12-22 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1334081A JP3018360B2 (ja) | 1989-12-22 | 1989-12-22 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03194727A true JPH03194727A (ja) | 1991-08-26 |
JP3018360B2 JP3018360B2 (ja) | 2000-03-13 |
Family
ID=18273307
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1334081A Expired - Lifetime JP3018360B2 (ja) | 1989-12-22 | 1989-12-22 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3018360B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1605442A1 (en) * | 2003-03-17 | 2005-12-14 | Fujitsu Limited | Magnetic recording medium and its production method |
-
1989
- 1989-12-22 JP JP1334081A patent/JP3018360B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1605442A1 (en) * | 2003-03-17 | 2005-12-14 | Fujitsu Limited | Magnetic recording medium and its production method |
EP1605442A4 (en) * | 2003-03-17 | 2006-03-22 | Fujitsu Ltd | MAGNETIC RECORDING MEDIUM AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3018360B2 (ja) | 2000-03-13 |
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