JPH03184318A - 図形データの分割変換に対する誤差処理回路 - Google Patents

図形データの分割変換に対する誤差処理回路

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JPH03184318A
JPH03184318A JP1323268A JP32326889A JPH03184318A JP H03184318 A JPH03184318 A JP H03184318A JP 1323268 A JP1323268 A JP 1323268A JP 32326889 A JP32326889 A JP 32326889A JP H03184318 A JPH03184318 A JP H03184318A
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谷野 寿一
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/30Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
    • H01J37/302Controlling tubes by external information, e.g. programme control
    • H01J37/3023Programme control
    • H01J37/3026Patterning strategy
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/30Electron or ion beam tubes for processing objects
    • H01J2237/317Processing objects on a microscale
    • H01J2237/3175Lithography
    • H01J2237/31761Patterning strategy

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ この発明は、荷電粒子ビーム描画装置において、マスク
などの図形データを荷電粒子ビームで露光できる大きさ
まで小さく分割変換する場合の誤差処理回路についての
ものである。
[従来の技術] 荷電粒子ビーム描画装置は、ウェハ上に荷電粒子ビーム
を直接当てて露光する装置である。
荷電粒子ビーム描画装置の入力図形データが荷電粒子ビ
ームで一度に露光できる大きさは小さいので、大きい図
面データを露光する場合には、データを複数の部分に分
割して露光をする。
次に、入力図形データを複数のブロックに分割した状態
図を第3図により説明する。
第3図の21が入力図形、22が分割図形のひとつであ
る。入力図形21は実線で示されており、分割図形22
は鎖線で示されている。
入力図形21を分割する場合、境界線での誤差を最小限
にするため、必要とする値以下の単位までを計算し、l
&終的に必要とする分解能で四捨五入する。
例えば、第3図の分割後の図形23と図形24の境界部
分を第4図と第5図により説明する。
第4図の縦線の間隔は図形データの最小分解能L0であ
る。
分割の結果、図形23の座標点及び辺の長さが最小分解
能L0未満の誤差を含んでいるとき、データを必要最小
分解能り。に一致させるように、丸め処理として単に四
捨五入をすると、図形23と図形24の間に隙間、重な
りが生じる。
例えば、第4図でX座標データだけを考えると、図形2
3の始点の座標がX11、X11の座標データの最小分
解能L0未満の誤差がり1、辺の長さがL11図形23
の終点の座標がX12、図形24の始点の座標がX12
、X、2の座標データの最小分解能L0未満の誤差がL
3である。
また、L 1< L o / 2、L3≧Lo/2、I
、−Ll<L。とする。
ここで丸めの処理をすると、図形23の始点の座標の誤
差り、は四捨五入で切り捨てられて、第4図つに示すよ
うに座標X1となる。
したがって、新しい座標点から辺の長さを考えると、図
形23の辺の終点の座標x、2はLlだけ小さくなり、
X13となる。辺の長さの誤差(L3−L1)はり。7
2未満のため、四捨五入をすると切り捨てられて、第4
図工に示すように、図形23の終点座標x1□は座標X
4となる。
図形24の始点の座標X、2は誤差L3の値がLO/2
以上のため四捨五入で切り上げられ、第4図才の座標点
X5となる。
また、第5図に示すように、L1≧Lo/2、L3<r
−o/2、(LOLL)+L3≧Lo/2の場合、丸め
処理をすると、図形23の始点の座標の誤差り、は四捨
五入で切り上げられて、第5図つに示すように、座標X
2となる。
したがって、新しい座標点からの辺の長さを考えると、
図形23の終点の座標X、2はり。−L。
だけ大きくなり、X、3となる。
辺の長さの誤差L3+Lo−L、はLo/2以上なので
、四捨五入すると切り上げられて、図形23の終点座標
X13は、第5図工に示すようにX5となる。
図形24の始点座標X、2は、誤差L3がり。/2であ
るため、四捨五入で切り捨てられ、第5図才の座標点X
、となる。
[発明が解決しようとする問題点] 第4図の図形23と図形24の間には最小分解能L0の
隙間が生じる。
第5図の図形23と図形24の間には最小分解11旨L
0の重なりか生じる。
電子ビームによる描画装置など、サブミクロン領域を描
画する装置では、描画パターンが微少なために、入力図
形データを分割する場合、分割データに隙間や重なりが
あると、露光した結果、図形の周辺部にへこみ、出っ張
りがあられれるという問題がある。
この発明は、図形データを描画できる大きさの図形デー
タに分割変換する場合、個々の図形データを偏向系の最
小分解能り。に合わせて丸めるときに発生する隣どうし
の図形の隙間、重なりをなくすことを目的とする。
王課題を解決するための手段] この目的を遠戚するため、この発明では、原点(X1)
から距離り、(7)第1の座標(X1t)を入力とし、
第1の座標(X11)に最小分解能L0の1/2を加算
し、この第1の加算値に対して最小分解能L0未満を切
り捨て、出力を原点(X、)にする第1の演算器(1)
と、第1の座標(Xt1)を入力とし、第1の座標(x
 i 、)から第1の演算器(1)の出力を減算する減
算器(2)と、減算器(2)の出力と辺の長さ(L1)
を加算し、この第2の加算値を出力とする加算器(3)
と、第2の加算値と最小分解能L0の1/2を加算し、
この第3の加算値に対して最小分解能L0未満を切り捨
てる第2の演算器(4)とを備える。
次に、この発明による図形データの分割変換に対する誤
差処理回路の構成国を第1図により説明する。
第1図の上は演W、器、2は減算器、3は加算器、4は
演算器である。
演算器1は、原点X、から距離L1の座標X、。
を入力とし、座標X1.に最小分解能L0の1/2を加
算し、この加算値に対して小数点以下を切り捨て、出力
を原点X1にする。
減算器2は、座標X、1を入力とし、座標x1.から演
算器上の出力を減算する。
加算器3は、減算器2の出力と辺の長さL2を加算し、
この加算値を出力とする。
演算器4は、この加算値と最小分解能L0の1/2を加
算し、この第3の加算値に対して最小分解能未満を切り
捨てる。
[作用] 次に、第1図の作用を第2図により説明する。
第1図はX座標の回路なので、Y軸についても同じ回路
が必要になる。
第2図の図形23の始点座標データX、1は演算器1に
よりり。/2を加算して、最小分解能り。
未満を切り捨てることにより、第2図つに示すように、
補正された始点座標データX、を出力する。
減算器2は、補正された始点データX1と補正前の始点
データX1.の差をとり、加算器3で図形23の辺の長
さL2に加える。
図形23の始点の座標データの誤差L1を辺の長さL2
に加えると、図形23の辺の終点の座標は、第2図才に
示すように、座標データの四捨五入によって変化せず、
x1□となる。
次に、演算器4で、演算器1と同様に゛終点座標x12
にり。/2を加算して、最小分解能L0未満を切り捨て
る。
辺の長さの誤差はL3のままで、四捨五入することによ
り、図形23の終点の座標はX5となり、図形24の始
点座標もx5となって、隙間は生じない。
以上のようにして、第2図の図形23の終点の座標x5
を得る。
[発明の効果] この発明によれば、分割した図形データを最終的に必要
な最小分解能に四捨五入する処理をする場合に、図形デ
ータの始点で生じた誤差を補正してからその補正分を図
形データの辺の長さに加算し、終点座標を四捨五入する
ことにより、隣どうしの図形の隙間、重なりをなくすこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による図形データの分割変換に対する
誤差処理回路の構成図、第2図は第1図の作用説明図、
第3図は入力図形データを複数のブロックに分割した状
態図、第4図と第5図は第3図の図形23と図形24の
境界線の拡大図である。 工・・・・・・演算器、 2・・・・・・減算器、 3
・・・・・・加算器、4・・・・・・演算器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、原点(X_1)から距離L_1の第1の座標(X_
    1_1)を入力とし、第1の座標(X_1_1)に最小
    分解能L_0の1/2を加算し、この第1の加算値に対
    して最小分解能L_0未満を切り捨て、出力を原点(X
    _1)にする第1の演算器(1)と、 第1の座標(X_1_1)を入力とし、第1の座標(X
    _1_1)から第1の演算器(1)の出力を減算する減
    算器(2)と、 減算器(2)の出力と辺の長さ(L_2)を加算し、こ
    の第2の加算値を出力とする加算器(3)と、 第2の加算値と最小分解能L_0の1/2を加算し、こ
    の第3の加算値に対して最小分解能L_0未満を切り捨
    てる第2の演算器(4)とを備えることを特徴とする図
    形データの分割変換に対する誤差処理回路。
JP1323268A 1989-12-13 1989-12-13 図形データの分割変換に対する誤差処理回路 Expired - Lifetime JPH0821537B2 (ja)

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US07/625,271 US5177692A (en) 1989-12-13 1990-12-10 Method and apparatus for processing errors occurring upon division of pattern to be transferred
DE4039667A DE4039667A1 (de) 1989-12-13 1990-12-12 Verfahren und vorrichtung zum verarbeiten von fehlern, die beim unterteilen eines zu uebertragenden musters auftreten

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JPH0821537B2 (ja) 1996-03-04
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